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Fターム[2F065QQ07]の内容

光学的手段による測長装置 (194,290) | 信号処理 (28,761) | A/D変換、多値化 (3,603) | 2値化 (1,922) | 微分又は差分2値化 (42)

Fターム[2F065QQ07]に分類される特許

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【課題】検査対象の表面特性によるノイズから生じる測定精度の劣化を回避できる光学的測定方法及び光学的測定装置を提供する。
【解決手段】検査対象GLに光を照射し、検査対象GLから得られる光を受光して最終的に2次元的な光強度信号S1に変換し、光強度信号S1のなかから、表面状態IBを測定するに際して必要な信号である注目信号SBと表面状態を測定するに際して不要な信号であるノイズ信号SNとを分離することにより注目信号SBのみを抽出し、抽出された注目信号SBと所定の閾値T1とを比較する。実質上、光強度信号S1とノイズ信号SNに追随した閾値とを比較していることになり、検査対象の表面特性によるノイズから生じる測定精度の劣化を回避できる。 (もっと読む)


基板上に堆積された物質の画像を分析する方法であって、画像は複数の画素を含み、この方法は、画像内で興味の対象となる領域を規定するステップと、第1および第2の垂直な軸に、興味の対象となる領域を関連付けるステップとを含み、画像内の1組の画素は、第1の軸に沿って位置し、この方法はさらに、興味の対象となる領域内の画素を、第1の軸にアライメントされかつ第2の軸に沿って突出する一次元アレイに変換するステップと、一次元アレイに少なくとも1つのしきい値を適用するステップとを含み、しきい値は、予め定められた限度に少なくとも部分的に基づく。
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