【課題】電子部品の品質評価および寿命時間評価を短時間で高効率に実行でき、かつ、信頼性が高く再現性のある評価結果を得ることができる技術を提供する。
【解決手段】評価装置１０は、複数のチャンバー（３１〜３５）を備える。複数のチャンバーは、市場で想定される複数の環境ストレスを複数のサンプルにそれぞれ印加する。複数のサンプルの入出力特性が測定部（１１〜１５）により測定されて、その測定データはデータ収集部２１により収集される。データ演算部２２は、その収集されたデータからサンプルの入出力特性を品質工学の動特性のＳＮ比を用いて評価する。さらに、データ演算部２２は、チャンバーに印加されるストレスと市場でのストレスとの対応関係から定められる加速係数を用いて、サンプルの寿命時間を評価する。 （もっと読む）

【課題】実使用環境下により近い状態で発光装置の信頼性を検査し、より確実に不具合品を早く検出し易くする試験装置および試験方法を提供する。
【解決手段】試験装置１は、恒温恒湿槽１０内に設置された発光装置７０外の雰囲気の温度及び湿度を制御する第１の制御手段（制御部４０）と、この雰囲気に晒された発光装置７０を断続的な通電により発熱させるために、発光装置７０に通電させる電流の電流値及び時間を制御する第２の制御手段（制御部２０）と、を備えている。そして、試験装置１を用いて、恒温恒湿槽１０内に設置された発光装置７０の雰囲気の温度及び湿度を制御しながら、発光装置７０を断続的な通電により発熱させるために、発光装置７０に通電させる電流の電流値及び時間を制御しながら、発光装置７０の加速寿命試験を行う。 （もっと読む）

【課題】イオンマイグレーション現象を早期に検出することで、半導体デバイスの信頼性評価の試験期間を短縮することが可能な半導体デバイスの信頼性評価方法を実現する。
【解決手段】半導体デバイス１の信頼性評価方法は、半導体信頼性評価装置１１の絶縁抵抗計１３および導体抵抗計１４において、半導体デバイス１のカソード電極２とアノード電極３との間の絶縁抵抗を測定する絶縁抵抗測定工程と、測定された絶縁抵抗値が予め設定された絶縁抵抗リミット設定値以上であるか否かを判定する第１の判定工程と、第１の判定工程における判定結果に応じて、半導体デバイス１のアノード電極３の導体抵抗を測定する導体抵抗測定工程と、測定された導体抵抗値が予め設定された導体抵抗リミット設定値以下であるか否かを判定する第２の判定工程と、を含み、第２の判定工程における判定結果に応じて、半導体デバイス１の信頼性を評価するための出力を行う。 （もっと読む）

【課題】試験運転中に停電しても、停電によって試料が損傷することのない改善された環境試験装置を実現し、提供する。
【解決手段】商用電源１３を用いて、試料Ｍの雰囲気状態を試験用環境に設定するとともにその設定された高温高湿の試験用環境にて試料Ｍの環境試験を行うよう構成された環境試験装置において、停電が生じたことを検出する停電検出手段と、バックアップ電源１５と、バックアップ電源１５を用いて試料Ｍの雰囲気状態を制御する保護制御手段２３とを有し、前記停電検出手段による停電の検出に伴って、前記保護制御手段２３が作動する制御装置１８を設ける。 （もっと読む）

【課題】被試験物に生じる温度ばらつきを再現し、実際の使用環境により近い状態で環境試験を行うことができる装置を開発する。
【解決手段】内部の環境を調節する恒温恒湿槽３に加えて、基板の温度ばらつきを監視するための温度ばらつき検知手段３５を備えている。温度ばらつき検知手段３５は、３個の温度センサー３６，３７，３８である。そして温度ばらつきが適正範囲に収まる様に送風機２０を制御し、送風量を増減する。温度ばらつきが小さいときは風速は下げる。 （もっと読む）

【課題】湿度が周期的に変化する環境に電子機器等の被試験物を置く環境試験装置を改良するものであり、環境試験に要する時間を短縮し、短時間で従来と同様の効果を得ることができる環境試験装置を開発する。
【解決手段】低湿度から高湿度へ移行する上昇側過渡期と、高湿度状態が安定する高湿度安定期と、高湿度から低湿度へ移行する下降側過渡期と、低湿度状態が安定する低湿度安定期とを繰り返す。ａ−ｂ間等の上昇側過渡期と、ｃ−ｄ間等の下降側過渡期に循環する風速が増大される。その結果、被試験物たる基板に接する風量が増大し、被試験物と外気間における水蒸気の移動が円滑に行われる。 （もっと読む）

【課題】高湿度の環境を長時間維持させる環境試験装置を改良するものであり、消費電力が低く、且つ送風に起因する諸問題を解決することができ、且つ実験データの信頼性が高い環境試験装置を開発する。
【解決手段】被試験物の吸湿状態を監視する吸湿状況検知手段３５を備えている。また制御装置４は、吸湿状況検知手段３５から出力される電流の変化率Ｒ（単位時間当たりの変化量）が一定の閾値以下となるか否かを判断する判定部を備える。吸湿状況検知手段３５が検知する基板３０のリーク電流の変化率が一定の閾値以下となれば、送風機２０の送風量を低下させる信号を発する。即ち基板３０の吸湿量が飽和状態となれば、ステップ６で送風量を減少させる。 （もっと読む）

【課題】環境試験における半導体デバイスの接続部を簡易に検査する。
【解決手段】検査システムは、接続端子部に接続される抵抗回路網４と、定電流源装置５と、電圧モニタ装置６とを備える。抵抗回路網４は、観測端Ｐから見込んだ抵抗値が接続端子部毎の短絡開放に応じて変化して開放した接続端子部が同定可能となるように構成される。また、定電流源装置５は、観測端Ｐに接続され、観測端Ｐに所定の電流を供給する。さらに、電圧モニタ装置６は、観測端Ｐに接続され、観測端Ｐでの電圧値の変化を測定することで、どの接続端子部が開放したかを判別する。環境試験槽９に入れた状態における半導体デバイス１の各接続端子部と、抵抗回路網４を介して２本の配線（１本は接地線である）で定電流源装置５および電圧モニタ装置６とが接続される。 （もっと読む）