【課題】電子部品の品質評価および寿命時間評価を短時間で高効率に実行でき、かつ、信頼性が高く再現性のある評価結果を得ることができる技術を提供する。
【解決手段】評価装置１０は、複数のチャンバー（３１〜３５）を備える。複数のチャンバーは、市場で想定される複数の環境ストレスを複数のサンプルにそれぞれ印加する。複数のサンプルの入出力特性が測定部（１１〜１５）により測定されて、その測定データはデータ収集部２１により収集される。データ演算部２２は、その収集されたデータからサンプルの入出力特性を品質工学の動特性のＳＮ比を用いて評価する。さらに、データ演算部２２は、チャンバーに印加されるストレスと市場でのストレスとの対応関係から定められる加速係数を用いて、サンプルの寿命時間を評価する。 （もっと読む）

【課題】 ＬＥＤの輝度、電圧、電流を高度の悪環境下で逐次計測してＬＥＤの寿命を短期間で予測すること。
【解決手段】被試験ＬＥＤ７００をＨＡＳＴ装置５００内に配置し、このＨＡＳＴ装置５００がその試験条件に到達した後、被試験ＬＥＤ７００に外部から定電流を供給し,このＬＥＤの光量を光電素子９１０で受光し、その電流をＨＡＳＴ装置の外部に引き出して被試験ＬＥＤ７００の輝度を計測し、且つ、ＬＥＤ７００自体の電流と電圧との測定データをＨＡＳＴ装置５００の外部に引き出し、被試験ＬＥＤ７００の劣化傾向を予測する （もっと読む）

【課題】イオンマイグレーション現象を早期に検出することで、半導体デバイスの信頼性評価の試験期間を短縮することが可能な半導体デバイスの信頼性評価方法を実現する。
【解決手段】半導体デバイス１の信頼性評価方法は、半導体信頼性評価装置１１の絶縁抵抗計１３および導体抵抗計１４において、半導体デバイス１のカソード電極２とアノード電極３との間の絶縁抵抗を測定する絶縁抵抗測定工程と、測定された絶縁抵抗値が予め設定された絶縁抵抗リミット設定値以上であるか否かを判定する第１の判定工程と、第１の判定工程における判定結果に応じて、半導体デバイス１のアノード電極３の導体抵抗を測定する導体抵抗測定工程と、測定された導体抵抗値が予め設定された導体抵抗リミット設定値以下であるか否かを判定する第２の判定工程と、を含み、第２の判定工程における判定結果に応じて、半導体デバイス１の信頼性を評価するための出力を行う。 （もっと読む）

【課題】被試験体の周囲の温湿度を所定条件にする際のエネルギーロスを小さくしつつ精度の高い不要輻射波の測定を可能にする。
【解決手段】環境試験装置１は、温湿度調整手段が収容された空調室２５を有する筐体１２と、空調室２５に隣接した被試験体９を収容する試験室１４を構成するカバー１５とを含んでいる。筐体１２には、空調室２５と試験室１４とが連通する貫通孔５１，５２が形成されている。貫通孔５１，５２はそれぞれ金属メッシュ５３，５４に覆われており、筐体１２が電磁シールド構造となっている。そして、カバー１５が、試験室１４内の被試験体９の不要輻射波を測定することが可能な電磁透過性を有している。 （もっと読む）

【課題】試験運転中に停電しても、停電によって試料が損傷することのない改善された環境試験装置を実現し、提供する。
【解決手段】商用電源１３を用いて、試料Ｍの雰囲気状態を試験用環境に設定するとともにその設定された高温高湿の試験用環境にて試料Ｍの環境試験を行うよう構成された環境試験装置において、停電が生じたことを検出する停電検出手段と、バックアップ電源１５と、バックアップ電源１５を用いて試料Ｍの雰囲気状態を制御する保護制御手段２３とを有し、前記停電検出手段による停電の検出に伴って、前記保護制御手段２３が作動する制御装置１８を設ける。 （もっと読む）

【課題】被試験物に生じる温度ばらつきを再現し、実際の使用環境により近い状態で環境試験を行うことができる装置を開発する。
【解決手段】内部の環境を調節する恒温恒湿槽３に加えて、基板の温度ばらつきを監視するための温度ばらつき検知手段３５を備えている。温度ばらつき検知手段３５は、３個の温度センサー３６，３７，３８である。そして温度ばらつきが適正範囲に収まる様に送風機２０を制御し、送風量を増減する。温度ばらつきが小さいときは風速は下げる。 （もっと読む）

【課題】湿度が周期的に変化する環境に電子機器等の被試験物を置く環境試験装置を改良するものであり、環境試験に要する時間を短縮し、短時間で従来と同様の効果を得ることができる環境試験装置を開発する。
【解決手段】低湿度から高湿度へ移行する上昇側過渡期と、高湿度状態が安定する高湿度安定期と、高湿度から低湿度へ移行する下降側過渡期と、低湿度状態が安定する低湿度安定期とを繰り返す。ａ−ｂ間等の上昇側過渡期と、ｃ−ｄ間等の下降側過渡期に循環する風速が増大される。その結果、被試験物たる基板に接する風量が増大し、被試験物と外気間における水蒸気の移動が円滑に行われる。 （もっと読む）