【課題】応力印加状態での磁気特性を評価を可能とする。
【解決手段】試料片を中央部とこれから放射方向に延びる６以上の偶数個の延出部とを有する形状とし、直径方向にある各組の延出部を通る軸を応力印加軸とする。この試料片に対して少なくとも３軸方向より応力を応力印可手段により印加する。その後、応力を印可した状態にて試料片の磁気特性を測定する。圧縮、引張方向だけでなくせん断方向の応力の作用させた状態で磁気特性を評価することができる。 （もっと読む）

本発明は、磁場センサー（１００）に関連し、磁場センサー（１００）は、磁気手段（１１２）を備えた本体部（１０８）であり、磁気手段は検出すべき外部磁場の作用によって本体部に印加されるトルクを生成することができる、本体部（１０８）と、検出すべき磁場の方向に垂直な軸を有する少なくとも１つのピボットリンクによってセンサーのインレー部分（１１４）に本体部を機械的に連結する、本体部から分離されている、連結手段（１１６）と、連結手段から分離され、インレー部分に機械的に連結されている第１の部分（１２３）と、本体部に機械的に連結されている第２の部分（１２５）と、第１の部分と第２の部分との間に備えられ、インレー部分と本体部との間に吊り下げられている第３の部分（１２７）とを有する、少なくとも１つの吊り下げられている応力ゲージ（１２４）を備える、トルクにより本体部上に印加される応力を検出するための手段とを具備する。
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【課題】 磁気抵抗エレメントの磁気ひずみ定数を直接測定するための方法を提供する。
【解決手段】 この方法は、１）１つまたは複数の磁気抵抗エレメントを担持する基板を用意するステップと、２）前記基板を曲げ治具に挿入するステップと、３）前記基板に平行なＤＣ磁界を加えるステップと、４）前記基板に垂直で前記エレメントの磁気抵抗層に平行な交番磁界を加えるステップと、５）前記エレメントからの信号を測定するステップと、６）前記基板を曲げることにより、前記基板に平行な機械的応力を加えるステップと、７）前記機械的応力を加える前に測定された信号に到達するまで、前記ＤＣ磁界を変化させるステップとから構成される。
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