【課題】分光装置における補正の煩雑さを軽減する。
【解決手段】 光ファイバ２１８と、光ファイバ２１８からの信号光を平行光とするコリメート光学系２３１と、コリメート光学系２３１により平行光に変換された信号光を分光する分光素子２３６と、分光素子２３６により分光された信号光を受光する、少なくとも波長分散方向に複数の受光素子２３７ａが並んだ受光器２３７と、分光素子２３７からの信号光を受光器２３７の受光面に結像させる集光光学系２３６と、を有する。集光光学系２３６は、信号光を、受光器２３７の受光面に結像される信号光のスポット径が、受光素子２３７の配置ピッチより小さくすること、および、コリメート光学系２３１の開口数が光ファイバ２１８の開口数より大きく設定されている。 （もっと読む）

【課題】波長測定精度を向上したＭＥＭＳ光スペクトラムアナライザを提供する。
【解決手段】回折格子１と、ＭＥＭＳスキャナ６０と、受光素子２と、既知波長の第１の基準光を出射する波長基準光源３と、第１の基準光の波長と異なる既知波長の第２の基準光を出射する波長基準光源４と、被測定光、第１及び第２の基準光を受けて合波して回折格子１に出射する光合波手段５と、上記電気信号をディジタル値に変換するＡ／Ｄ変換器６と、このディジタル値を受けて順次所定のアドレスに記憶するメモリ７と、メモリ７の上記所定のアドレスに記憶されているディジタル値を読み出して、第１及び第２の基準光がそれぞれ記憶されている第１及び第２のアドレスを検出し、検出したこの第１及び第２のアドレス並びに第１及び第２の基準光のそれぞれの既知波長から所定の関数を導き、この関数を用いて被測定光が記憶されているアドレスを波長に変換する処理手段８とを備えた。 （もっと読む）

【課題】 波長変化に対して透過光量変化の大きいサンプルの分光特性測定における測定精度を向上させ、且つ、測定時間を短縮すること。
【解決手段】 光束を放射する光源２と、光束を分光する分光器３と、該分光器３により分光された光束の光強度を検出する第１の検出器４とを備え、被測定物の分光特性を測定するものであって、第１の検出器４が検出する光強度を予め検出する第２の検出器５と、該第２の検出器５により検出した光強度に基づいて、第１の検出器４の感度を調整する感度調整手段６とを備えている分光光度計１を提供する。 （もっと読む）

【課題】 放射光の損失を伴うことなくかつ簡易な構成で放射光の偏光を可能とした赤外光放射装置を提供する。
【解決手段】 パルス励起光が照射されて光キャリアを生成する光伝導膜２２と、光伝導膜２２上に間隙３２を介して形成され、赤外光を放射する一対の第１アンテナ電極膜２１ａと、第１アンテナ電極膜２１ａに対して角度を有しかつ間隙３２を介して光伝導膜２２上に形成された、赤外光を放射する一対の第２アンテナ電極膜２１ｂと、第１アンテナ電極膜２１ａおよび第２アンテナ電極膜２１ｂに対して、それぞれ独立に電圧を印加する制御部とを備えていることを特徴とする。第１アンテナ電極膜２１ａに印加する電圧と、第２アンテナ電極膜２１ｂに印加する電圧は、それぞれ選択的に異なる時刻に印加することとしても良く、あるいは、同時に異なる位相で印加することとしても良い。 （もっと読む）

【課題】 基板の吸収による影響を受けずに広帯域の計測が可能な赤外光放射装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 パルス励起光が照射されて光キャリアを生成する光伝導膜２２と、光伝導膜２２の一側面上に形成され、その先端間に間隙２１ａを介して配置された、赤外光を放射する一対のアンテナ電極膜２１と、光伝導膜２２の他側面側でかつ少なくとも間隙２１ａに対応する領域に形成され、遠赤外光を透過する赤外光透過部材２４とを備えている。赤外光透過部材２４としては、ダイヤモンド・ライク・カーボンが好適に用いられる。 （もっと読む）

【課題】光源の光量変動を補償し、良好なＳ／Ｎ比で高精度な分光測定を行なうことができる分光光度計及び分光方法を提供すること。
【解決手段】光を供給する光源１０１と、光源１０１からの光のうち、試料１０６ａを透過または反射した光、または試料１０６ａへ入射する光を分光する回折格子１０３と、試料１０６ａを透過または反射し、かつ分光された光を受光する光検出器１０７と、光源１０１からの光のうち特定の波長λ１の光を透過または反射する干渉膜１１２と、干渉膜１１２を透過または反射した特定の波長λ１の光を受光する光検出器１１３と、光検出器１０７の検出結果と光検出器１１３の検出結果とに基づいて試料１０６ａの分光特性を算出するＣＰＵ１１０とを有する。 （もっと読む）

【課題】 機構的にスリット幅を狭くすることなく、光スペクトルの測定精度の向上を図る。
【解決手段】 回折格子１４は、被測定光を波長分散して分光し、一定方向に回転して選択した波長の回折光を生成する。集光レンズ１３は、回折光を集光して集光ビームを生成する。スリット制御部１５は、スリット幅の開閉を一定のスキャン速度で可動し、集光ビームの透過帯域幅を可変にする。受光測定部１６は、スリットからの透過光を受光して、光周波数の変化によって変動する受光パワーのレベルを表すレベル関数を求めた後、レベル関数をスキャン速度で微分して、被測定光のスペクトル形状を再現する。 （もっと読む）

本発明は干渉情報を試料の化学的および／または物理学的特性に相関させる代替ストラテジーを提供する。このストラテジーは方法およびシステムで実行することができ、それは干渉分光学に基づく当該分野の技術の状態を超える実質的な技術的および商業的な利点を提供する。本発明は、さらに、干渉計を標準化する方法、ならびに標準化した干渉計を用いた方法およびシステムを提供する。
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