【課題】ハードディスクの電流を容易に測定することができるハードディスク電流のテストシステム及びこの測定を補佐するアダプターボードを提供すること。
【解決手段】本発明に係るハードディスク電流のテストシステムは、ハードディスク、アダプターボード、テスト装置、第一ケーブル、第二ケーブル及び２つのクリップオン電流計を備える。前記アダプターボードは、第一ポート、第二ポート、第一コネクター、第二コネクター及び１つのバスラインを備える。前記テスト装置は、前記第二ポート、前記バスライン及び前記第一ポートを介して前記ハードディスクと情報を交換して、前記ハードディスクに対するテストを行う。その過程において、２つの前記クリップオン電流計のクリップで、それぞれ前記第一ケーブル及び前記第二ケーブルを挟み、当該第一ケーブル及び第二ケーブルを流れる電流を測定する。 （もっと読む）

【課題】筐体内において電子部品を搭載した基板に流れる雑音電流を抑制し、電子装置の誤動作を防止する。
【解決手段】電子部品を搭載した基板１０３と筐体１０２とが金属スペーサー１０８およびネジ１０４によって固定されている。金属スペーサー１０８と基板１０３の間には絶縁物を基材とした雑音抑制部材１００が配置されている。雑音抑制部材１００の金属スペーサー側には第１の導電膜が形成され、雑音抑制部材１００の基板側には第２の導電膜が形成され、第１の導電膜と第２の導電膜の間には抵抗部材１０１が配置されている。この抵抗部材によって筐体から基板に流れ込む雑音電流を抑制することが出来る。 （もっと読む）

【課題】動作検証対象のハードウェアに任意のタイミングで動作障害を発生させる装置検査システムを提供する。
【解決手段】ハードウェア５０の状態を示す装置状態情報と、ハードウェア５０の動作を前記装置状態情報の時間的な状態変化として記述した状態変化情報と、この状態変化の条件を示す状態変化条件情報とを保持するデータテーブル１２０を備え、ハードウェア５０の動作検証を行う解析手段２２０が、データテーブル１２０の保持する情報に基づき前記対象装置の動作状態を更新設定するまでの更新設定シナリオを生成して、この更新設定シナリオに基づきハードウェア５０の動作状態の更新設定を行う。 （もっと読む）

記憶装置試験システム（１００）は床表面（１０）に実質的に垂直な第１の軸（２０５）を規定する少なくとも１つのロボットアーム（２００）を具備する。ロボットアームは、第１の軸の周囲を所定の円弧で回転することができ、第１の軸から半径方向に延びる。ロボットアームによってサービスされるために、複数の棚（３００）がロボットアームの周囲に配置される。試験のために記憶装置（５００）を運ぶように構成される記憶装置転送部（５５０）をそれぞれが受け取るように構成される複数の試験スロット（３１０）が、それぞれの棚に収納される。転送ステーション（４００）は、ロボットアームによってサービスされるために配置される。転送ステーションは、それぞれが記憶装置運搬部（４５０）を受け取るように構成される複数の運搬収納部（４２０）を具備する。 （もっと読む）

格納装置（６００）を搬送し、格納装置をテストスロット（５００、５００ｂ）内に載置する格納装置搬送器（４００、４００ｂ、４００ｃ）は、格納装置を受け取りサポートするように構成されたフレーム（４１０、４１０ｂ、４１０ｃ）を含む。フレームは、その間に格納装置を受け取るように構成され、格納装置と共にテストスロット中に挿入されるようなサイズを持つ側壁（４１８、４２５ａ、４２５ｂ、４２９ａ、４２９ｂ）を含む。フレームはまた、側壁の少なくとも一つと動作的に関連付けられているクランプ機構（４５０）を含む。クランプ機構は、第一の係合エレメント（４７６、７００、７５０）と、第一の係合エレメントの動きを始動するように動作し得る第一のアクチュエータ（４５４、７１０、７６０）を含む。第一のアクチュエータは、フレームによってサポートされている格納装置がテストスロット中のテスト位置に配置された後に、第一の係合エレメントをテストスロットと係合するよう動かすように動作し得る。
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記憶装置試験システム（１０）は、１以上の試験架台（１００）と、この１以上の試験架台によって収容された１以上の試験用スロット（５００、５００ａ、５００ｂ、５４０）とを具え、各試験用スロットは、試験のために記憶装置（６００）を運ぶ記憶装置運搬装置（４００）を受けて支持するように構成される。当該記憶装置試験システムは、試験されるべき記憶装置を供給するための搬送ステーション（２００）をも具える。この１以上の試験架台および搬送ステーションは、動作領域（３１８）を少なくとも部分的に画定する。当該記憶装置試験システムはまた、その動作領域内に配置され、かつ搬送ステーションと１以上の試験用スロットとの間で記憶装置を移すように構成されている自動化された機械装置（３００）と、この動作領域を少なくとも部分的に囲み、これにより動作領域と試験架台を取り囲む環境との間の空気の入れ替えを少なくとも部分的に抑制するカバー（３２０）とを具えることができる。
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記憶装置（５００）を記憶装置試験システム（１００）へと供給する方法は、複数の記憶装置（５００）を運ぶ記憶装置トート（６００）を、前記記憶装置試験システムの自動運搬装置（２００）にアクセス可能な提示位置で置く工程を含む。この方法は、この自動運搬装置を作動させて、記憶装置トートから記憶装置のうちの１つを回収する工程と、自動運搬装置を作動させて、回収された記憶装置を記憶装置試験システムの試験用スロット（３１０）へと届け、その記憶装置をその試験用スロットに挿入する工程とを含む。
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記憶装置試験システム（１００）内で記憶装置（５００）を移す方法は、自動運搬装置（２００）を作動させて、試験のために提示された複数の記憶装置を回収する工程と、この自動運搬装置を作動させて、各回収された記憶装置をこの記憶装置試験システムのそれぞれの試験用スロット（３１０）へと届け、各記憶装置をそれぞれの試験用スロットに挿入する工程とを含む。
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記憶装置試験システム（１００）内で記憶装置（５００）を移す方法は、自動運搬装置（２００）を作動させて、試験のために提示された複数の記憶装置（５００）を実質的に同時に回収する工程と、この自動運搬装置を作動させて、各回収された記憶装置をこの記憶装置試験システムのそれぞれの試験用スロット（３１０）へと実質的に同時に届け、かつ各記憶装置をそのそれぞれの試験用スロットの中に実質的に同時に挿入する工程と、を含む。
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