【課題】溶融金属にガスを導入しながらレーザを照射することで溶融金属を励起して光を生じさせ、この光を分光分析するレーザ発光分光分析法において、精度の良い分析が行われるようにする。
【解決手段】レーザ発振器５からのレーザを筒状体３を介して分析面Ｍに照射して、溶融金属２を励起させる。この励起で生じた光を分光分析器９で分光分析する。レーザ照射の際に、筒状体３内にＡｒガスを導入し、Ａｒガスの分子数が分析面Ｍで一定になるようにＡｒガスの導入流量を調整する。 （もっと読む）

低分解能ラマン分光法を使用して体液試料中の分析物をインビトロで検出するための方法及び装置が開示される。体液分析器が、表面増強ラマン散乱を提供するために金ゾルゲルを含む目標領域上に体液の試料を受け取るための使い捨てストリップを含む。光源が、目標領域を照射して、散乱された電磁放射からなるラマン・スペクトルを発生し、このスペクトルが、分散要素によって様々な波長の成分に分離される。検出アレイが、散乱光の波長成分の少なくともいくつかを検出して、データを処理するためのプロセッサにデータを提供する。処理されたデータの結果が画面上に表示されて、体液試料中の分析物に関してユーザに情報提供する。
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本発明は、被検物質を検出するための化学的検知装置に関する。この装置は、光源、該光源により照射された時に発光可能であり、該発光が該被検物質により改変され、それによって、熱の発生を変化させることができ、該発熱変化が該被検物質の濃度に比例する、少なくとも一種の発光試薬、焦電もしくは圧電素子および電極を有し、熱の変化を電気信号に変換できる変換器、および電気信号を被検物質の濃度指示に変換することができる検出器を含んでなる。 （もっと読む）

【課題】従来よりも分析精度を大幅に向上させたレーザ発光分光分析法を提供する。
【解決手段】レーザ発光分光分析法により試料の成分分析を行うに際し、レーザパルス毎に分析対象元素と試料構成主要元素の発光強度比を算出して、それらの平均値および標準偏差σを求め、得られたデータのうち、次式
（発光強度比の平均値−α₁×σ）〜（発光強度比の平均値＋α₂×σ）
ただし、α₁，α₂は係数（0.2≦α₁≦2.0，0.2≦α₂≦2.0）
の範囲を満足する発光強度データのみを抽出し、この抽出したデータに基づいて分析対象元素の濃度を定量分析する。 （もっと読む）

【課題】ガス成分を排除して微粒子成分のみの分析を良好に行うことができるガス中の微粒子成分計測装置及び方法を提供する。
【解決方法】複数の減圧度の異なる第１の減圧室１１−１と第２の減圧室１１−２からなる減圧チャンバ１１と、減圧度の高い第１の減圧室１１−１に設けられ、微粒子成分を含むガス１２を導入するガス導入部１３と、減圧度の高い第１の減圧室１１−１と減圧度の低い第２の減圧室１１−２とを連通すると共に、導入されたガス成分１２ａと微粒子成分１２ｂとを分離する分離部１４と、減圧度の低い第２の減圧室１１−２内に導入された微粒子成分１２ｂをプラズマ化させるプラズマ化装置であるレーザ装置から照射されるレーザ光Ｌと、該プラズマ化装置１５により発生したプラズマ１６を計測する検出装置である光検出器１７とを具備してなる。 （もっと読む）

【課題】 ネブライザにより試料液が噴霧されるチャンバのドレン溜まりに滞留するドレン液を水素化物の発生のために活用することにより、簡素な構成でありながら霧化試料と気化試料とを併せて生成することを可能としたＩＣＰ発光分析用の試料導入装置を提供する。
【解決手段】 サイクロンチャンバ１の内部に試料液Ｓをネブライザ２により噴霧し、霧化成分をサイクロンチャンバ１の天面の送出口11を経て送出すると共に、ドレン液を底部のドレン溜まり13に回収する構成とした試料導入装置において、サイクロンチャンバ１の内部のドレン溜まり13の上位置に、ドレン液を一旦滞留する中間溜まり16を設け、この中間溜まり16に塩酸導入管17により塩酸を導入し、またドレン溜まり13に水素化剤導入管19により水素化剤を導入して、ドレン溜まり13の内部において、中間溜まり16から流下するドレン液と塩酸との混合液と水素剤とを反応させて水素化物を発生させる。 （もっと読む）

【課題】レーザ発光分光分析に際し、高い波長分解能と広い測定波長域を両立でき、しかも測定環境の変動が著しい機側分析に際しても、鉄鋼材料中の成分元素の濃度を、迅速かつ精度良く測定することができるレーザ発光分光分析法を提案する。
【解決手段】レーザ発光分光分析法により分析試料の成分元素を分析するに際し、分析を行う環境下において、分析に先立ち、少なくとも１つの励起光のピーク位置をＣＣＤ検出器上の画素位置として求め、この画素位置と、予め求めておいた該励起光のＣＣＤ検出器上における基本画素位置とを比較して、分析に用いる励起光の全てについて画素位置補正を行う。 （もっと読む）