【課題】浸出によって部品の表面の表面欠陥を検出する据付装置のパラメータを診断または判定する方法である。
【解決手段】据付装置に標準テストピースを通過させることであって、テストピースが、検査される欠陥のタイプを表す少なくとも１つのパターンを有する表面を有することと、テストピースの表面に指示物質を含む浸透組成物を塗布することと、洗浄することと、乾燥させることと、テストピースの表面に発現剤を含む組成物を塗布することと、１つまたはそれぞれのパターンの発現像を形成し、そこから据付装置の動作の品質についての指示を推定できるように、任意の残存する指示物質を照射するようにテストピースの表面を照射することと、を備える。据付装置に通過される前に、標準テストピースは、乳化剤を含む槽内への浸漬と、加圧下での最初のすすぎと、乾燥と、パターンの位置への発現剤の塗布と、加圧下での二回目のすすぎとを備える準備処理を受ける。 （もっと読む）

【課題】紫外線発光による蛍光磁粉模様を基に探傷する検査に際して必要な装置全部を容易に携帯可能にして、肉体的な負担を一層軽減して作業効率をさらに向上させ得る携帯型磁粉探傷装置を提供する。
【解決手段】励磁コイルＬ１が巻回され、かつ先端部が検査対象物の表面にセットされる一対の磁極ヘッド１ａとして形成されたコアを備えた磁化器１と、それぞれバッテリ５１を電源として磁化用励磁電圧を励磁コイルＬ１に出力する磁化用励磁回路及び励磁電流レベルを漸次減少させる交流の脱磁用励磁電圧を出力する脱磁用励磁回路としてのインバータ５２及び励磁モード選択スイッチＳ３を収納するコントロールボックス５と、磁化領域に紫外線を照射する紫外線光源２とを備える。磁化器１、コントロールボックス５及び紫外線光源２は、一体もしくは別体で携帯可能に構成される。
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【課題】 複雑な形状をした被検体の全面を死角なしに短時間に全面検査ができ、被検体以外の領域からの影響を受けずに微細な傷を高いＳ／Ｎ比で検出でき、傷の大きさと被検体上の位置を容易に特定できる蛍光探傷装置および蛍光探傷方法を提供する。
【解決手段】 蛍光探傷装置１０は、旋回装置１１、暗室装置１４、ブラックライト１６、白色ストロボ１８、ロングパスフィルタ２０、撮影カメラ２２及び画像処理装置２４を備える。暗室内で、被検体１を旋回させ検査位置に静置する被検体１に蛍光探傷用の近紫外線２を照射し、ロングパスフィルタ２０を通して複数の位置から被検体１を撮影し複数の蛍光静止画像５を取得する。また、同じ被検体１に可視光３を照射し、同じ複数の位置から被検体１を撮影し複数の可視静止画像６を取得する。さらに蛍光静止画像５と可視静止画像６を画像処理によりそれぞれ重ね合わせて複数の重合せ画像７を表示する。また蛍光部分を抽出し蛍光部分の位置と大きさを算出する。 （もっと読む）

【課題】 多種多様な被検体を位置決めすることなく短時間に検査でき、被検体以外の領域からの蛍光の影響を受けずに被検体の微細な傷を高いＳ／Ｎ比で容易に検出でき、かつ検出した傷の大きさと被検体上の位置を容易に特定できる蛍光探傷装置および蛍光探傷方法を提供する。
【解決手段】 蛍光探傷装置１０は、暗室１４、ブラックライト１６、白色ストロボ１８、ロングパスフィルタ２０、撮影カメラ２２及び画像処理装置２４を備える。暗室内で、検査位置に静置した被検体１に蛍光探傷用の近紫外線２を照射し、ロングパスフィルタ２０を通して被検体を撮影して蛍光静止画像５を取得する。また、時間をずらして同一位置から、被検体１に可視光３を照射し、ロングパスフィルタ２０を通して被検体１を撮影して可視静止画像６を取得する。さらに蛍光静止画像５と可視静止画像６を画像処理により重ね合わせて重合せ画像７を表示する。 （もっと読む）

【課題】画像による目視検査での欠陥候補の確認をし易くし、欠陥の見逃しなどをなくして欠陥検査の信頼性を高める。
【解決手段】ここでは、試験体１に紫外線を照明し、割れ欠陥２ａで蛍光を発光させる磁粉探傷法による欠陥検査であるが、かかる試験体１の表面を、紫外線カットフィルタ５を介して、カラーテレビカメラ３で撮像する。カラービデオカメラ３から出力されるＲ，Ｇ，Ｂ信号による原画像は、画像メモリ７に一旦格納される。この原画像はカラーモニタ９で表示されるとともに、コンピュータ８はＧ画像を処理して欠陥候補を検出し、カラーモニタ９に表示される原画像中の欠陥候補毎に欠陥候補マーカを付加表示させる。検査者は、この欠陥候補マーカでもって原画像中の欠陥候補を知り、この欠陥候補に対して真の割れ欠陥か擬似欠陥かを目視確認する。原画像と検査結果はデータ記憶装置１１に格納される。 （もっと読む）