本発明は、層（１）に対して異なる入射角（５）で偏光を通過させて、層（１）を通過した際の偏光状態の変化を測定、評価する、透明又は部分的に透明な層の屈折率と場合によっては層厚を三次元により測定するための方法及び装置に関する。この方法は、層（１）を間に挟み込んだ液浸媒体（３）を通過させる形で測定を行うことを特徴とする。この方法により、三つの空間方向すべてにおいて、異方性の薄い層の屈折率を高精度に測定することが可能となる。
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【課題】 表面プラズモン共鳴測定装置等の、全反射減衰を利用した測定装置に用いられる測定チップにおいて、その樹脂製誘電体ブロックの薄膜層が形成される一面の平面度を高く保ち、また、樹脂の合流面ができることによる強度低下を防止する。
【解決手段】 誘電体ブロックを樹脂を用いて射出成形する際に、薄膜層が形成される一面を規定する型面４ａに対向する位置に樹脂導入用ゲートＧを配して射出成形する。 （もっと読む）

【課題】 液晶表示パネルのイオン密度を非破壊で測定できるようにする。液晶表示パネルのイオン密度分布を把握できるようにする。
【解決手段】 １Ｈｚ程度の低い周波数の矩形波を印加して、フリッカーを観測する（ステップＳ３０３）。観測されたフリッカーの振幅又はフリッカー面積を測定する（ステップＳ３０８）。予め求めてある検量線（フリッカーの振幅又は面積とイオン密度との相関関係を示す線図）から液晶パネル内のイオン密度を算出する（ステップＳ３０９）。 （もっと読む）

【課題】 液晶分子が存在する液晶層のみのリタデーション（ｄＬＣ・△ｎ）を求めることができ、セル厚を求めることができる液晶表示装置、そのセル厚測定装置及び測定法並びに位相差板を提供する。
【解決手段】 液晶領域中の液晶分子が電圧無印加時に略垂直に配向する液晶層と、液晶層を挾持する１対の基板と、を備える液晶表示装置の液晶セル５の厚さを測定するセル厚測定装置において、面内にリタデーションを有する１対の１軸性位相差板をその遅相軸方向をそろえて両外側表面に取付けた液晶セルを搭載するステージ１と、偏光子２３を有し、かつ、位相差板の遅相軸方向に対して方位角方向４４°〜４６°の偏光光を出射する光源２と、偏光光に対して偏光子とクロスニコルに配設された検光子３１を有し、かつ、偏光光の透過光量を検出する光検出器３と、位相差板に垂直な方向から偏光光の極角方向入射角を変化させる回転装置４と、を備える。 （もっと読む）