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Fターム[2G088LL16]の内容

放射線の測定 (34,480) | 補正、補償、校正 (2,903) | 直線性 (28)

Fターム[2G088LL16]に分類される特許

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【課題】画質評価用パターンが形成されたファントムを放射線画像検出器により撮影して得られた放射線画像を用いて画質評価演算を行うとき、画質評価演算を行う対象領域に対してシェーディング補正を効率的に行うとともに、画質評価の精度を向上させる。
【解決手段】放射線画像中の画質評価用パターンのうち少なくとも1つが撮影された評価領域の周辺にある一様露光領域の画素値を用いて評価領域の画素値をシェーディング補正し、シェーディング補正した評価領域の画素値を用いて画質評価演算を行う。 (もっと読む)


【課題】被写体の像の情報を含む光・放射線を検出器により検出して被写体の像を表す画像を得、検出器の欠陥部位に対応する上記画像上の欠陥領域を特定し、当該欠陥領域を構成する複数の欠陥画素の画素値を補正する際に、より自然な濃淡となるように補正する。
【解決手段】補正対象の欠陥画素Qtと欠陥領域Btの周囲に隣接する各正常画素Nとの組合せ毎に、当該正常画素Nの画素値を補正対象の欠陥画素Qtと当該正常画素との間の距離Lが大きいほど小さくなる重み付け係数により重み付けして、複数の重み付き正常画素値を得る。当該複数の重み付き正常画素値の平均値を算出し、補正対象の欠陥画素Qtの画素値を上記算出された平均値を用いて補正する。この処理を各欠陥画素に対して行う。 (もっと読む)


【課題】 消費電力特性、ノイズ特性、ダイナミックレンジ特性を向上させることができる撮像装置を提供することを課題とする。
【解決手段】 光電変換素子(102)とスイッチ素子(103)とを有する画素が行及び列方向に複数配置されたセンサアレーと、列方向の複数の前記スイッチ素子に接続された信号配線(108)と、前記信号配線に接続された読み出し回路部(105)とを有し、ここで、前記読み出し回路部は、前記信号配線に接続された第1の増幅回路(201)を含む第1の動作領域(106)と、前記第1の動作領域の後段に接続された第2の増幅回路(211)を含む第2の動作領域(107)とを有し、前記第1の増幅回路の電源電圧範囲の最大値が、前記第2の増幅回路の電源電圧範囲の最大値より大きいことを特徴とする撮像装置が提供される。 (もっと読む)


【課題】ピーク間隔が狭くとも、効率よく被測定信号のピーク値を測定することができるピーク検出回路および放射線測定装置を実現することにある。
【解決手段】被測定信号のピーク値を検出するピーク検出回路に改良を加えたものである。本回路は、被測定信号の振幅がしきい値を超えたことを検出するしきい値検出回路と、被測定信号をサンプリングしてデジタルデータを出力するAD変換器と、しきい値検出回路がしきい値を超えたことを検出してから所定の時間の間にAD変換器によってサンプリングされたデジタルデータのなかから最大値を検出する最大値検出回路とを設けたことを特徴とするものである。 (もっと読む)


ガンマ放射線イベントは、検出器アレイ(18)の素子において個別に受け取られ、前記素子(P0)のうち少なくとも1つが欠陥をもつ。それぞれの検出器素子は、入射放射線を放射線イベント信号に変換し、放射線イベント信号は、アナログデジタル変換器(42)によって、検出器アレイの座標位置(x,y)及びエネルギー(z)にデジタル化される。イベント生成器(48)は、例えば最も近い近傍素子(P1−P8)のような、寄与する素子において受け取られる放射線イベントに基づいて、欠陥のある各素子に対する放射線イベント信号を生成する。好適な実施例において、寄与する素子の各々からの寄与は、寄与する素子の各々に対応するテーブル(54)の位置の間でトークン(56)をパスすることによって、ランダム化される。放射線イベントが、対応するテーブル位置がトークンを保有する寄与素子において受け取られるたびに、当該イベントは、欠陥のある素子に対するイベント信号も生成し、トークンがパスされる(58)。欠陥のある検出器素子に対する生成されたイベントのエネルギーが、例えば最下位ビットを乱数と置き換えることによって、ランダム化される(62)。
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【課題】光電子増倍管を用いて光子計数法で微弱光の強度を正確に測定する光測定方法及び装置を提供する。
【解決手段】ホトマル1から測定光の入射光量に応じて出力されるパルス電流が回路3で電流/電圧変換及び増幅されて出力信号とされ、それがパルス2値化回路4でしきい値電圧との比較によりデジタル信号に2値化される。そのデジタル信号に含まれる出力パルスの数がカウンタ6でカウントされ、単位時間当たりの出力パルス数が測定結果として表示部7で表示される。高圧電源回路2からホトマル1へ印加される印加電圧をボリュームVR1で調整すると共に、しきい値調整回路5のボリュームVR2で上記しきい値電圧を調整することでホトマル1への入射光量と出力パルス数を線形な関係にして微弱光を測定する。 (もっと読む)


直接放射線変換X線撮像カメラ及び高速画像プロセッサモジュールを含む較正された実時間高エネルギーX線撮像システムが開示される。高エネルギー撮像カメラはCd−Te又はCd−Zn−Te直接変換検出器基板を利用する。画像プロセッサは画像フレームの各画素に対して補正係数の時間関連シリーズを与えるために時間依存生デジタル画素データを分析するためのアルゴリズムを使用するソフトウェア駆動較正モジュールを含む。さらに画像プロセッサは毎秒10フレームを越えて毎秒100フレームまでのフレーム読出しレートで画像フレームを生成しうる高速画像フレームプロセッサモジュールを含む。画像プロセッサは実時間で正規化画像フレームを与えることができるか又は信号対ノイズ比の典型的な付随する劣化なしに実質的に極めて長い時間静的フレームデータを蓄積できる。 (もっと読む)


医療画像の利用可能性を自動的に改善する方法が開示されている。少なくとも1つの強度パラメータ、例えば輝度または強度を自動的に制御し、強度データのアレイのうちの少なくとも一部のエントロピーを大きくすることにより、強度データのアレイを含む入力医療画像を改善する。よって、特に軟質組織内の種々の部分の強度解像度の顕著な改善が達成される。
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