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Fターム[2H096KA09]の内容

感光性樹脂・フォトレジストの処理 (33,738) | 多層レジスト法 (807) | 感光層の種類 (525) | 下層レジストが露光済 (5)

Fターム[2H096KA09]に分類される特許

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【課題】ハンプのない半導体装置の製造方法と、半導体装置と、露光装置とを提供する。
【解決手段】被加工膜2の上に下層レジスト膜となる感光性のネガ型のレジスト材料が塗布される。下層レジスト材料膜に露光光を照射することにより酸を発生させる。ベーク処理を施すことによって下層レジスト膜3bが形成される。現像処理を施すことにより、架橋した下層レジスト膜3bを残して、未架橋の下層レジスト材料膜の部分が除去される。中間層レジスト膜となる感光性のネガ型のレジスト材料を塗布し、同様の露光処理と現像処理を施すことにより、架橋した中間層レジスト膜4bを残して、未架橋の中間層レジスト材料膜の部分が除去される。 (もっと読む)


【課題】製造工程が複雑になるのを抑制するとともに、製造が困難で製造に時間がかかるマスクを用いることなく、1回のリソグラフィ工程により接続孔および配線溝を形成するためのパターニングを行うことが可能な半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】この半導体装置の製造方法は、デュアルダマシン法により配線を形成する半導体装置の製造方法であって、配線3を覆うように絶縁膜4、レジスト5、および、感光性シリコンを含有するレジスト6を配置する工程と、クロムマスク20を用いてレジスト5および6を同時に露光する工程と、レジスト6の露光された部分をシリル化する工程と、現像液を用いてレジスト5の感光部5bを除去する工程と、レジスト6のシリル化部6aおよび6bをマスクとして絶縁膜4およびレジスト5の少なくとも一部を除去することにより、絶縁膜4に接続孔7と配線溝8とを形成する工程とを備える。 (もっと読む)


【課題】ポジ型のフォトレジスト適用下で、ランダム配置のホールパターンを、高裕度で形成することができるパターンの形成方法、電子デバイスの製造方法および電子デバイスを提供する。
【解決手段】被加工膜2上に、密集ホールパターンを有する第1のポジ型フォトレジスト3が形成される。複数のホールパターン3aの各々を埋め込むように第1のフォトレジスト3上に第2のポジ型フォトレジスト4が形成される。第2のフォトレジスト4に高透過ハーフトーン位相シフトマスク30の明暗反転像である暗点像が投影露光される。第2のフォトレジスト4の現像により、暗点像部に形成される第2のフォトレジスト4のドットパターンが複数のホールパターンのいずれかの内部に残される。第1、第2のフォトレジスト3、4をマスクとして、被加工膜2がパターニングされる。 (もっと読む)


【課題】
エッチャントとして特定のガスを使用して、その添加量を厳密に制御することなく、膜の加工両端部を基板から離間するにつれて両端部間の距離が短くなるようなテーパー形状とし、当該テーパーの角度を所望の角度とすることが可能な膜のパターン形成方法を提供すること。
【解決手段】
本発明に係る一の態様の膜のパターン形成方法は、基板上に膜4、5を形成し、膜4、5の上層に、第1マスキング層10とその上層の第2マスキング層11とを、当該第2マスキング層11が第1マスキング層10端から突出する庇部を有するようにパターン形成し、膜4、5の上層に第1マスキング層10及び第2マスキング層11のパターンが形成されている状態において、膜4、5をエッチングしてパターニングする。
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【課題】 下層に密パターンを形成し、上層に疎パターンを形成するレジストパターンの形成方法において、ミキシングを抑制できるネガ型レジスト組成物を提供する。
【解決手段】下記(i)〜(ii)の工程;(i)基板上に第1のレジスト組成物を用いて第1のレジスト層を形成し、該第1のレジスト層に密パターンを形成する選択的露光を施す工程;(ii)該第1のレジスト層の上に第2のレジスト組成物を用いて第2のレジスト層を形成し、該第2のレジスト層にパターンを形成する選択的露光を施す工程;を含むレジストパターンの形成において、前記第1又は第2のレジスト層に用いられるネガ型レジスト組成物であって、当該ネガ型レジスト組成物から形成されるレジスト層と接触する前記第1又は第2のレジスト層を溶解しない有機溶剤(D)として、アルコール系有機溶剤に溶解したことを特徴とするネガ型レジスト組成物。 (もっと読む)


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