【課題】部品種類認識と収差測定基準認識との区別及び両立を可能とした光学素子及び金型を提供する。
【解決手段】光学素子（対物レンズＯＢＪ）を成形する金型１に、部品種類識別用のマークＭＫ２と、収差測定方向基準となるマークＭＫ１とを形成する凹部をフランジ部転写面に形成しておく。これらマークＭＫ１，ＭＫ２は成形により光学素子に転写される。収差自動測定をする場合には、収差測定方向基準だけを検出後、一定方向に配置後収差解析される。 （もっと読む）

【課題】多層型高記録密度光ディスク用の対物レンズの傾き角を調整するのに適した傾き角調整方法を提供すること。
【解決手段】所定の透明平行平板を介してのスポット品質を所定の規格に適合するように、複数の記録層を有する多層型光ディスク又は光情報記録再生装置の光軸に対する対物レンズの傾き角を決定する傾き角決定ステップ、決定された傾き角まで対物レンズを傾ける傾き角変化ステップ、を順に行う傾き角調整方法であり、所定の透明平行平板の厚みｔ１と、軸外光束が対物レンズに入射した時のコマ収差の発生が最も少ない設計上の保護層厚ｔ２とを所定の条件を満たすようにした。 （もっと読む）

【課題】ウェッジプリズムによりレーザ光を反射させて形成される干渉縞によりレーザ光の干渉性を評価するようにしても、レーザ光の光量損失が生ぜず、干渉縞を形成するための受光器や移動機構といった新たな設備を設ける必要がなくコストＵＰが抑制できるホログラム記録再生装置及びホログラム記録再生装置におけるレーザ光の干渉性評価方法を提供する。
【解決手段】レーザ照射装置からのレーザ光が照射されると共に反射したレーザ光がホログラム記録媒体に記録されたデータの再生で使用される受光器にて受光されるよう、テーブル又はテーブルの近傍に配置されたウェッジプリズムと、レーザ照射装置から出射されたレーザ光をウェッジプリズムに照射したとき、受光器が出力する受光器上に生成される干渉縞を表す信号に基づいて、レーザ照射装置の干渉性を評価するレーザ照射装置評価手段とを備える。 （もっと読む）

【課題】 フレキシブル基板に形成される雄側端子の数を増加させることなく、かつ接続状態が正常であるか異常であるかを容易に判定して、フレキシブル基板および光ピックアップ装置に含まれる電子部品の破損を防ぐことができるフレキシブル基板の配線構造、光ピックアップ装置、光情報処理装置、接続状態判定システムおよび接続状態判定方法を提供する。
【解決手段】 フレキシブル基板１ａには、複数の配線部２０が形成され、複数の配線部２０のうち、同じ種類の電気信号を伝送する配線部２０ａ〜２０ｃ間が、接続配線部２２によって、接続部２５で電気的に接続されている。フレキシブル基板１ａに形成される雄側端子２１の数を増加させることなく、フレキシブル基板１ａと外部機器とが接続されたとき、配線部２０ａ〜２０ｃを用いて、接続状態が正常であるか異常であるかを容易に判定することができる。 （もっと読む）

【課題】 追加の温度測定装置を設けることなく、温度変化による球面収差を補正することができる光ピックアップ装置、光ディスク装置、およびその球面収差補正方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 光源２１からの光を光ディスクの信号記録面に集光させる光学系１０と、コイル６８を有し、コイル６８に通電することで光学系１０を構成する光学素子３７を駆動させる駆動部２００と、光学素子のうち、第１の光学素子３７の温度変化に伴う球面収差を補正するため、光学素子のうち第２の光学素子３２を所定量移動するように駆動部２００を制御する球面収差補正部３００と、を備え、球面収差補正部３００は、コイル６８の電気特性に基づいて、第２の光学素子３２の移動量を算出するように構成した。 （もっと読む）

【課題】検査装置と検査対象である光ピックアップ装置との接続不良を回避して導通検査を確実に行い、かつ半導体レーザ部などの重要部の回路の破損を防ぐことができる光ピックアップ装置、それを搭載する電子機器、光ピックアップ装置の検査装置および検査方法を提供する。
【解決手段】光ピックアップ装置は、光ピックアップ本体と、接続端子１４と光ピックアップ本体とを接続する複数の配線部１６が隣接して形成されるフレキシブル基板１２とを含んでいる。配線部１６の隣接方向の幅が接続端子１４の隣接方向の幅より太い拡幅配線部１７が、各配線部１６の一部に形成されている。したがって、検査装置の複数の接続ピン２０が拡幅配線部１７と電気的に接続することによって、接続不良を回避して確実に導通検査を行い、かつ半導体レーザ部などの重要部の破損を防ぐことができる。 （もっと読む）

【課題】光ピックアップ、共焦点顕微鏡、レーザポインタ等のレンズと光センサや半導体レーザ等の光学部品とを具備した光学装置において、レンズと光学部品との位置関係の調整及び光学部品の状態を観察することのできる光学装置の検査方法を提供する。
【解決手段】レンズ及び光学部品を具備した光学装置の全体又は一部から成り、前記レンズ及び前記光学部品を具備した検査対象に、光学装置の運用時にレンズを透過する光と同じ広がり角でレンズに入射し、レンズの口径に一致する或いはそれ以上の口径を有する状態でレンズに入射する光を照射し、光学部品に照明光を当てて、光学部品を観察する。 （もっと読む）

【課題】光ピックアップ装置におけるＳ字カーブの分離性能（層間分離特性）を円滑に評価し得る評価方法およびそれに用いるテストディスクを提供する。
【解決手段】Ｓ字カーブＳ０とＳ字カーブＳ１の間に存在するフォーカスエラー信号の平坦区間の時間長Ｂを判定し、この時間長ＢとＳ字カーブＳ０、Ｓ１の時間間隔Ａの比率Ｂ／ＡからＳ字カーブＳ０、Ｓ１分離度を検出する。そして、この比率Ｂ／Ａが閾値α以上の場合に、光ピックアップ装置の層間分離特性が適正であると評価する。 （もっと読む）

【課題】高精度なサーボパラメータの検出を可能にする。
【解決手段】光ピックアップ検査装置３は、アクチュエータ駆動回路１６にデフォーカスオフセット量を変化させる指令を送出して各デフォーカスオフセット量を設定し、光ピックアップ装置１の再生信号生成回路１４からの再生信号に基づいて各デフォーカスオフセット量毎のジッタ値を算出する。そして、各デフォーカスオフセット量に対するジッタ値の２次近似曲線を求め、当該２次近似曲線と実測値との相関係数Ｒ²を算出する。この相関係数Ｒ²が閾値以下の場合には、上記デフォーカスオフセット量の設定と上記ジッタ値の算出とを再度実行し、上記閾値を超える場合には、上記２次近似曲線におけるジッタのボトム値に対応するデフォーカスオフセット量を、デフォーカスオフセット量の最適値として求める。したがって、誤差の少ない高精度な上記デフォーカスオフセット量の最適値を得ることができる。 （もっと読む）

【課題】ピックアップ装置の試験機を用いてピックアップ装置の耐久試験を実行させる。
【解決手段】ピックアップ装置１，２，３，４の耐久試験を実行可能なピックアップ装置１，２，３，４の試験機３００であって、複数のピックアップ装置１，２，３，４の耐久試験が同時に実行可能とされた。ピックアップ装置１，２，３，４の対物レンズ７から出射されるレーザ光の光軸方向Ｄｆに対し略直交する方向Ｄｔとされると共に、ピックアップ装置１，２，３，４を支持可能な長尺状の支持部材Ｓ１，Ｓ２の長手方向Ｄｒに対し略直交する方向Ｄｔに略沿って、ピックアップ装置１，２，３，４に側圧をかけることが可能とされた。複数のピックアップ装置１，２／３，４に側圧をかける弾性部材が装備可能とされた。ピックアップ装置１，２，３，４を構成するフレキシブル基板８の繰返し折曲げが実行可能とされた。 （もっと読む）

【課題】
レーザ光が通過するレンズに付着した塵埃の有無を容易に確かめることができるレーザ光投影装置及びレーザ光の投影方法を提供することにある。
【解決手段】
レンズに付着した塵埃の有無等を確かめるためのレーザ光投影装置において、レンズを通過したレーザ光を映し出す色付きの投影部を備え、レンズに付着した塵埃の影を該投影部に投影して目視可能とし、投影部の色がレーザ光の色の補色又はレーザ光の色と等色相差の関係又はレーザ光の色と類似色相の関係にあることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】光ピックアップの検査作業に係る作業工数を短縮しコストを削減する。
【解決手段】ディスク供給装置を備えた光ピックアップ検査装置１は、被検査光ピックアップ２と、信号処理部３と、ディスク供給装置としてのディスク供給部４及びディスク移動部５と、制御部６とを備えている。ディスク供給部４は、各光ディスクについてそれぞれの検査工程に際して連続的にスピンドルに対して供給すると共に、検査完了後にスピンドルから引き上げる。ディスク移動部５は、各光ディスクについてディスク供給部４により供給された所定位置から被検査光ピックアップ２の検査位置まで精度良く搬送する。 （もっと読む）

【課題】増幅部のテストおよび受光素子間のリーク電流のテストを行う、チップサイズの小さいテスト回路を提供する。
【解決手段】本発明に係るテスト回路は、複数の受光素子１０１〜１０４と、受光素子１０１〜１０４からの光電流をそれぞれ電圧に変換する増幅部１１１〜１１４と、受光素子１０１〜１０４および増幅部１１１〜１１４に電流を供給する電流供給部１２１および１２２とを備え、電流供給部１２１および１２２は、複数の受光素子１０１〜１０４のうち行および列方向に互いに隣接しない複数の受光素子１０１および１０３、および、受光素子１０１および１０３に行および列方向に隣接する複数の受光素子１０２および１０４に対して選択的に電流を供給する。 （もっと読む）

【課題】 導電部材を介して電気的に接続されるフレキシブルプリント基板の導電層の接続部分が、それぞれのフレキシブルプリント基板上にその位置および大きさが略等しく形成され、フレキシブルプリント基板同士の接続強度を高めるとともに、接続部分付近での導電層の折損を防止できるフレキシブルプリント基板の製造方法を提供する。
【解決手段】 第１フレキシブルプリント基板（ＦＰＣ）１２の導電層１３のパターンと、第２ＦＰＣ１４の導電層１５のパターンとを、一の基層１１上に形成し、その後導電層１３，１５のパターンが形成された基層１１を、たとえば分割線１６において、第１ＦＰＣ１２と第２ＦＰＣ１４とに分割することにより、各ＦＰＣの導電層の接続部分の幅およびピッチを略等しく形成することができ、はんだ付けなどによるＦＰＣの接続が容易になるとともに、接続強度を高めることができる。 （もっと読む）

【課題】 ビーム走査方向とは異なる方向のビームプロファイルを測定できるとともに、一つのディスクによって種々の光ピックアップのビームプロファイルを円滑に測定できる光ディスクおよびビームプロファイル測定方法を提供する。
【解決手段】 ディスク１００は径方向に３つのエリア（エリアＡ、Ｂ、Ｃ）に分割されている。各エリアには同図（ｂ）に示すパターンにて反射部１０１と非反射部１０２が周方向（ビーム走査方向）に形成されている。すなわち、エリアＡには反射部１０１と非反射部１０２の境界が周方向に垂直となるようにして反射部１０１と非反射部１０２が形成されている。また、エリアＢおよびＣには、それぞれ反射部１０１と非反射部１０２の境界が周方向に対して反時計方向および時計方向に４５度傾くようにして反射部１０１と非反射部１０２が形成されている。 （もっと読む）

【課題】実際の光ディスクを使用せずに、光ディスクの特性に影響されることなく、適正に光ピックアップの特性を検出し評価することができる光ピックアップの検査方法及び装置を提供すること。
【解決手段】被測定物である光ピックアップの検査のために、該光ピックアップのレーザを所望パターンの波形信号で制御し、該所望パターンの波形信号で制御したときの該光ピックアップの出力信号を計測し、該計測結果を分析することにより前記光ピックアップの検査結果を得ることで上記課題を解決できる。 （もっと読む）

【課題】 対物レンズの交換に際し、フォーカシング及びトラッキングの駆動機構へ機械的外力が掛からず、耐久性及び検査の信頼性を確保すると共に、容易で迅速な対物レンズの交換を可能として、短時間に効率的に対物レンズの検査を行うことできる光ピックアップ用対物レンズの検査装置を得る。
【解決手段】 対物レンズを押圧保持する押圧部材を有するホルダと、ホルダを光軸に平行な方向と直交する方向とに変位させる駆動手段と、を有し、対物レンズを交換可能な対物レンズ検査装置において、ホルダと離間した第１の位置と、ホルダと係合した第２の位置とに相対移動可能なホルダ固定部材を備えた対物レンズ検査装置とする。 （もっと読む）

【課題】 本発明は、半導体レーザの発振波長がパワーの変化によって変動することを利用することにより、高温測定する環境と等価な状態を作り、半導体レーザが高温環境で動作した場合と同じ信号レベルの変動を、室温環境下で高温動作時の評価を検出できるようにした光ピックアップ用光集積装置の検査方法を提供するものである。
【解決手段】 本発明の光ピックアップ用光集積装置１の検査方法は、発光素子４と、該発光素子４からの出射光を反射・透過させるハーフミラー面７を有するプリズム５と、該プリズム５下の複数の受光素子６［６α、６Ｉ、６Ｊ］とを備えた光ピックアップ用光集積装置１の検査方法であって、室温下で、前記発光素子４から高出力で出射光を出射し、前段と後段の前記受光素子で検出される光量の比で定義される戻り光の前後光量比Ｋｆにより、高温環境下の動作時と同等の良否判定を行うことを特徴とする。 （もっと読む）