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Fターム[5F045DA65]の内容

気相成長(金属層を除く) (114,827) | 半導体成長層の構造 (3,415) | 半導体成長層の物性 (649) | 光導電率・暗導電率 (7)

Fターム[5F045DA65]に分類される特許

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【課題】SPV法により気相成長装置の清浄度を簡易に評価できる気相成長装置の清浄度評価方法を提供する。
【解決手段】Bがドーピングされたp型シリコンウェーハ5a上に、ドーパントを含まないシリコンエピタキシャル層9を、気相成長装置1内でエピタキシャル成長させ、SPV法によりシリコンエピタキシャル層9より下層のp型シリコンウェーハ5aで少数キャリアを発生させて少数キャリアの拡散長を測定することにより、p型シリコンウェーハ5a中のFeの不純物濃度を算出し、不純物濃度から気相成長装置1の清浄度を評価する。よって、Feの不純物濃度の指標で気相成長装置1の清浄度を把握できる。 (もっと読む)


【課題】緻密で良好な膜質の光応答性化合物半導体薄膜を安価にかつ簡便に製造する。
【解決手段】ガス中に化合物半導体の原料粒子を分散させたエアロゾルを基板に向けて噴射、衝突させて、基板上に化合物半導体薄膜を形成するエアロゾルデポジション法(AD法)により化合物半導体薄膜を製造する方法。AD法によれば、高真空、あるいはセレン化ないし硫化工程を経ることなく、化合物半導体の結晶構造やバンド構造が保持されたまま、室温において光応答性を有する、太陽電池用途に適した膜質の良好な緻密質膜を容易に形成することができる。 (もっと読む)


【課題】基材の導電層との密着性に優れた多孔質の酸化亜鉛膜を容易に、かつ、効率よく形成する。
【解決手段】酸化亜鉛膜形成装置1では、析出部2において電解析出により樹脂基板9の導電層上に酸化亜鉛を含む析出物が形成され、樹脂基板9は塗布部4へと搬送される。そして、導電層上に酸化亜鉛の微粒子および溶媒を含む液状またはペースト状の膜形成材料が塗布され、その後、導電層上の膜形成材料から溶媒が揮発により除去される。これにより、樹脂基板9の導電層との密着性に優れた多孔質の酸化亜鉛膜を容易に、かつ、効率よく形成することができる。 (もっと読む)


水素化シリコン系半導体合金は、1016cm−3未満の欠陥密度を有する。その合金は、水素化シリコン合金または水素化シリコンゲルマニウム合金を含み得る。合金の水素含有量は、一般に15%未満であり、或る例では11%未満である。その合金を組入れたタンデム光発電装置は、低いレベルの光劣化を示す。或る例では、その材料は高速VHF堆積プロセスで作製される。 (もっと読む)


【課題】触媒CVD法において、緻密で、膜質の良好な半導体層を有する電子写真感光体の形成が可能な堆積膜形成方法を提供する。
【解決手段】基体を収容する真空容器と、該真空容器内に原料ガスを供給するガス供給手段と、該ガス供給手段より供給される原料ガスに接触するように配置された触媒体と、を備えた触媒CVD装置を用いて、少なくとも水素及び/又はハロゲンを含む非単結晶シリコン膜を製造する堆積膜形成方法であって、前記原料ガスのうち、シリコン原子を含んだガス状の分子が前記真空容器内に導入されてから排出されるまでの間に、前記触媒体に衝突する回数が1回以上、4回以下となる条件下で堆積膜形成を行うことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】水素濃度を減らしながら、半導体素子を容易に得ることができる、製造方法およびその方法で製造された半導体素子を提供する。
【解決手段】InP基板1上にN含有InGaAs系層3をMBE法で成長させ、その後、600℃以上800℃未満の熱処理を施し、上記の熱処理により、N含有InGaAs系層3の平均水素濃度を2×1017個/cm以下とする。 (もっと読む)


【課題】比較的高い光の取り出し効率を維持しつつ、電気的特性の高い半導体基板、半導体素子、発光素子及び電子素子を提供すること。
【解決手段】シリコン基板上にZrNからなるバッファ層を設けた場合に、当該ZrNの結晶性が極めて高くなる。また、ZrNからなるバッファ層を設けた場合に、光反射率が65%を超える。そこで、Si(111)からなる基板2と、当該基板2上に設けられたバッファ層3と、バッファ層3上に設けられた半導体層4とを具備し、このバッファ層3がZrNからなることとしたので、比較的高い光の取り出し効率を維持しつつ、電気的特性の高い半導体基板1を得ることができる。 (もっと読む)


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