Fターム[5F047BA04]の内容
Fターム[5F047BA04]に分類される特許
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電子部品モジュール
【課題】高温環境下における回路基板からの電子部品の剥離を抑制することによって、信頼性を高めた電子部品モジュールを提供する。
【解決手段】電子部品モジュール1は、セラミックス基板3の両面に第1および第2の金属板5、7が接合された回路基板2と、第1の金属板5に第1のろう材層8を介して接合され、少なくとも125℃で動作可能な電子部品9と、第2の金属板7に第2のろう材層10を介して接合されたベース板11とを具備する。第1のろう材層8は、電子部品9の使用温度より高く、かつ575〜730℃の範囲の融点を有するAg−Cu系ろう材またはAl系ろう材からなる。第2の金属板7の厚さに対する第1の金属板5の厚さの比は50〜200%の範囲である。
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n型半導体基板にダイボンド用金属層が設けられた構造体およびその製造方法
【課題】n型半導体基板との密着性およびオーミック特性の良好なダイボンド用金属層の構造を提供する。
【解決手段】まず、n型Si基板10上にAu層14を形成する。次に、n型Si基板10とのオーミック接触が良好なSnをAuに添加したAuSn層13を、Au層14上に形成する。AuSn層13を形成する時に熱加熱を行うか、或いは、AuSn層13を形成した後に熱処理を行うことにより、AuSn層13のSnがAu層14に拡散して、Au層14はSnが拡散したAu層12となる。
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はんだ付け方法及び装置
【課題】絶縁基板付き冷却器の基板に対して素子をはんだ付けする際、雰囲気室を減圧(気圧変動)したときに、冷却器内の異物を飛散させることなくはんだ付けを行うことができるはんだ付け方法及び装置を提供すること。
【解決手段】はんだ付け装置30にて絶縁基板付き冷却器10の基板12に対して半導体素子11をはんだ付けする際、冷却器16の出入口に対し、真空ポンプ33に接続された冷却器内排気配管34に取り付けられたカプラ36a,36bを装着した状態で、チャンバ31内をチャンバ内排気配管32を介して真空ポンプ33により減圧する。
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半田供給装置
【課題】ルツボに供給される半田ワイヤのルツボでの通路をシールでき、しかも、この半田ワイヤを滑らかにルツボに供給することが可能な半田供給装置を提供する。
【解決手段】ルツボ21に供給される半田ワイヤ61をこのルツボ21内で加熱して溶融し、ルツボ21に設けられたノズル22から溶融半田20を吐出する半田供給装置である。ルツボ21の半田ワイヤ挿入孔70を半田ワイヤ61のルツボ21内への供給を許容しつつ密封するシール部材71を備える。シール部材71に、半田ワイヤ61が通過する液体74を用いる。
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半導体装置
【課題】セラミックス基板上に金属板からなる回路基板を接合し、該金属回路基板の所要箇所に半導体素子を装着する構成の半導体装置で、氷点下から100℃以上の高温ヒートサイクルにも耐える高耐熱性を有した構成の提供。
【解決手段】半導体素子3の直下にMo材4aを配置しかつ当該素子の接合部にはCu材4bを配置した構成とすることで、金属回路基板2と半導体素子間において、Mo材は該素子に対してCu材の平面方向の膨張を抑制でき、接合面にはMo材に比べ柔らかいCu材があることで接合部に与える応力を緩和でき、高耐熱、高強度な実装が可能となり、また、同様の作用効果を有する応力緩和機構として、Mo材は該素子直下の接合部のCu材を拘束するように配置、筒形状のMo材を採用できる。
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はんだ材料およびその製造法ならびに接合構造体
【課題】高温域ではんだ付けが可能となる鉛フリーはんだ材料を安定供給する。
【解決手段】第1共晶合金と、第2共晶合金とを含み、第1共晶合金は、Zn−Al合金からなり、第2共晶合金は、Ge−Ni合金、Cu−Ge合金、Ag−Cu合金およびAg−Ge合金よりなる群から選ばれた少なくとも1種からなるはんだ材料。
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組み込み型半田ペースト検査を備える電子アセンブリマシン
ピックアンドプレースマシン(10、201)は、配置のために、部品(304)を解放可能に把持するように構成された配置ヘッド(206)を含む。ロボットシステムは、配置ヘッド(206)に結合されて、配置ヘッド(206)と工作物(203)との間の相対運動を生成する。画像取得システム(305)は、部品(304)が配置される前に、意図された部品(304)配置(352)位置の少なくとも一つの画像を取得するように構成される。制御部(298)は、画像取得システム(350)に動作可能に結合され、制御部(298)は、少なくとも一つの配置前画像を処理して、意図された配置位置(352)にデポジットされた半田(354、356)に関連する基準値を生成するように構成される。
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サブマウントおよび半導体装置
【課題】 サブマウントの実装信頼性を改善し、さらに半導体素子を正常に作動させることが可能な高性能のサブマウントを提供すること。
【解決手段】 一方の主面に半導体素子の搭載部を有する絶縁基板2と、絶縁基板2の一方の主面から他方の主面にかけて形成された貫通孔6と、貫通孔6の内壁に、絶縁基板2の一方の主面から他方の主面にかけて形成された配線導体層3とを有する。
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