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Fターム[5F053DD05]の内容

半導体装置を構成する物質の液相成長 (5,002) | 成長物質 (682) | GaAlAs (24)

Fターム[5F053DD05]に分類される特許

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【課題】チップサイズ6.5mil(165μm)に対応するLED用エピタキシャルウェハの製造方法を提供する。
【解決手段】原料ホルダ1とその下方に配置された回収ホルダ2との間にスライダー3をスライド自在に設け、そのスライダー3に原料ホルダ1の原料溶液溜4から原料溶液が供給されると共に回収ホルダ2の溶液収納槽5へ原料溶液を排出する基板ホルダ部6を形成し、その基板ホルダ部6内に基板8を縦に複数枚保持させた後、スライダー3をスライドさせて基板ホルダ部6内に原料溶液を供給し、基板8上にエピタキシャル層を液相エピタキシャル成長させた後、スライダー3をスライドさせて基板ホルダ部6内の原料溶液を排出するLED用エピタキシャルウェハの製造方法において、基板8を基板ホルダ部6内に保持させる際に、隣り合う基板8,8間のメルト幅13を3mm以下とし、LED用エピタキシャルウェハの総厚を190μm以下とする。 (もっと読む)


【課題】特性を向上できる赤外LED用のエピタキシャルウエハおよび赤外LEDを提供する。
【解決手段】赤外LED用のエピタキシャルウエハ1cは、主表面11aと、主表面11aと反対側の裏面11bとを有するAlxGa(1-x)As層(0≦x≦1)を含むAlyGa(1-y)As基板(0≦y≦1)と、AlxGa(1-x)As層の主表面11a上に形成され、かつ活性層を含むエピタキシャル層20とを備える。AlxGa(1-x)As層において、主表面11aのAlの組成比xは、裏面11bのAlの組成比xよりも低い。AlxGa(1-x)As層において、主表面11aの不純物濃度は、裏面11bの不純物濃度よりも高い。 (もっと読む)


【課題】原料メルト内の温度を均一にして対流の発生を防止でき、これにより、ウェハ面内の膜厚を均一に成長できるエピタキシャルウェハの製造方法を提供する。
【解決手段】原料メルト2を収容する溶液溜め3を有する原料ホルダー4と、基板5を収容する基板ホルダー部6を有すると共に、基板5を溶液溜め3の底部に位置させるように、原料ホルダー4に対して相対的にスライド自在なスライダー7と、を備えたグラファイト製のグラファイト治具1を用いて、基板5上にエピタキシャル層を成長させるエピタキシャルウェハの製造方法において、溶液溜め3内の中央部に、溶液溜め3内の原料メルト2に浸るように対流防止部材8を設け、溶液溜め3内の原料メルト2の対流を防止し、原料メルト2内の温度を均一にして、ウェハ面内の膜厚を均一に成長させる方法である。 (もっと読む)


【課題】メルト析出物によるエピタキシャル層の表面欠陥の低減を図った発光ダイオード用エピタキシャルウエハの製造方法を提供する。
【解決手段】一方の面側に基板2を保持した基板ホルダー3上に、前記一方の面側に対向して原料溶液La,Lbを収納した原料ホルダー5を設け、基板ホルダー3をスライドして原料溶液La,Lbに基板2を接触させ、基板2上にエピタキシャル層を成長させる発光ダイオード用エピタキシャルウエハの製造方法において、基板ホルダー3の前記一方の面側であり基板ホルダー3に保持した基板2のスライド方向に、原料溶液La,Lbが降温中に基板ホルダー3との界面に析出した析出物を除去する析出物除去溝7a,7bを形成し、降温を開始した後、基板ホルダー3をスライドし、析出物除去溝7a,7bに析出物を落として除去した後、基板2上にエピタキシャル層を成長させる方法である。 (もっと読む)


【課題】コストを低減し、かつ反りを低減したAlGaAs支持基板の製造方法、エピタキシャルウエハの製造方法、LEDの製造方法、AlGaAs支持基板、エピタキシャルウエハおよびLEDを提供する。
【解決手段】AlGaAs支持基板10は、主表面11aと、主表面11aと反対側の裏面11bとを有するGaAs基板11と、GaAs基板11の主表面11a側に形成された第1のAlxGa(1-x)As層12と、GaAs基板11の裏面11b側に形成された第2のAlyGa(1-y)As層13とを備えている。AlGaAs支持基板10の製造方法は、以下の工程を備えている。GaAs基板11を準備する。主表面11a側に、液相成長法により第1のAlxGa(1-x)As層12を形成する。裏面11b側に、液相成長法により第2のAlyGa(1-y)As層13を形成する。 (もっと読む)


【課題】エピタキシャル成長に寄与しなかった原料溶液を原料溶液受けに落下させる際の落下速度をコントロールすることで、基板表面に残る原料溶液を減らし、結晶欠陥部を少なくすることが可能な発光ダイオード用エピタキシャルウェハの成長方法を提供する。
【解決手段】エピタキシャル層を成長させた後、原料溶液溜4a,4bの上方から加重ブロック9a,9bにて原料溶液La,Lbに下方向の力を加えつつ基板5をスライドさせ、メルト落下穴7を通じて原料溶液La,Lbを落下させるようにした。 (もっと読む)


【課題】エピタキシャル層原料に含まれる酸素を効果的に除去し、成長溶液中の酸素濃度を低減することによって、エピタキシャル層中の酸素不純物が少なく発光特性が良好なLED用エピタキシャルウエハを高い歩留りで製造する。
【解決手段】p型GaAs基板上に、所望する発光波長に必要なAl混晶比のp型GaAlAs活性層、 n型GaAlAsクラッド層を有するエピタキシャルウエハを液相エピタキシー法により製造する方法であって、成長溶液の調合におけるドーパント材料および/またはアルミニウム材料の混合は、成長装置内で前記材料を所定の温度に加熱した状態で成長溶液に投入して行われ、前記所定の温度T〔単位:K〕を前記材料の融点T〔単位:K〕に対して0.8T≦T≦0.99Tの範囲とする。 (もっと読む)


【課題】面内膜厚の均一なウェハが得られるエピタキシャルウェハの製造方法を提供する。
【解決手段】基板2を収納するための基板ホルダー3の上部に、原料溶液Lを収納するための溶液ホルダー5を対向して設け、基板ホルダー3あるいは溶液ホルダー5をスライドして原料溶液Lに基板2を接触させ、基板2上に半導体結晶を成長させるエピタキシャルウェハの製造方法において、原料溶液Lに基板2側面の上部を接触させる製造方法である。 (もっと読む)


【課題】輝度低下要因の一つであるカーボン混入を低減させ、高輝度の発光素子(例えば、赤色LED)を作製するためのエピタキシャルウエハの製造方法を提供する。
【解決手段】基板上に、活性層、クラッド層を含むエピタキシャル層を液相エピタキシャル成長法により順次成長させるエピタキシャルウエハの製造方法において、上記エピタキシャル層を成長させる際、上記エピタキシャル層内に取り込まれるカーボン量を3〜6×1017atoms/ccの範囲とすべく、最高到達温度での保持時間を1.25〜2hrとし、その後降温させ、降温中に上記エピタキシャル層を成長させる方法である。 (もっと読む)


【課題】液相エピタキシャル成長において、装置構成が複雑にならずに、不要な多結晶析出物が原因であるウェハー表面の結晶薄膜の成長不良を抑えることができ、歩留り良く半導体単結晶薄膜を成長させるようにする。
【解決手段】原料溶液1に満たされた成長容器2内で半導体ウェハー3上に結晶薄膜を成長させる液相エピタキシャル成長方法において、半導体ウェハー3表面に付着してエピタキシャル成長を阻害する大きさの多結晶体が入り込まないように、半導体ウェハー3を平行に間隔をおいて配置する。 (もっと読む)


【課題】輝度低下要因の一つである不要な不純物の混入を低減させ、高輝度な発光素子が得られるエピタキシャルウエハの製造方法を提供する。
【解決手段】基板2上に、半導体層を液相エピタキシャル法により順次形成するエピタキシャルウエハの製造方法において、基板2を収納するための成長治具3と原料溶液Lを収納するための溶液フォルダ5との互いに接触する面3u,5dを、予め鏡面研磨加工しておく方法である。 (もっと読む)


【課題】1回の成長操作で複数枚のエピタキシャルウェハを作製して、成長効率を向上できること。
【解決手段】溶液ホルダ12と2段の基板ホルダ13A、13Bとを備えた成長治具11の上記溶液ホルダ12には、基板ホルダ13A、13Bのそれぞれに対応して原料溶液を収容する溶液溜15A及び16Aと、15B及び16Bとがそれぞれ設けられ、各基板ホルダには、溶液溜内の原料溶液に接触可能に基板17を載置する基板載置部18が形成され、溶液ホルダ12に対して基板ホルダ13A、13Bを同時にスライドさせて原料溶液を基板に接触させることにより、基板ホルダ13A及び13Bに載置された2枚の基板にエピタキシャル層を同時に成長させるものである。 (もっと読む)


【課題】原料溶液中の酸化物を減少して、作製されるエピタキシャルウェハの上記酸化物起因の欠陥を低減させること。
【解決手段】溶液ホルダ12と基板ホルダ13とを備えた成長治具11の上記溶液ホルダ12には、原料溶液19A、19Bを収容する溶液溜15A、15Bが設けられ、上記基板ホルダ13には、上記溶液溜15A、15B内の原料溶液19A、19Bに接触可能に基板16を載置する基板載置部17が設けられ、上記溶液ホルダ12と上記基板ホルダ13をスライドさせて上記原料溶液を上記基板16に接触させることにより、当該基板16にエピタキシャル層を成長させる液相成長装置10であって、上記溶液溜15A、15Bの内壁面20の表面粗さが、Ra=1.0〜3.0μmに設定されて構成されたものである。 (もっと読む)


【課題】原料融液溜と融液中心部側との熱交換を促進する。
【解決手段】 原料融液溜8(9,10)にエピタキシャル成長原料を投入してこの原料融液溜8(9,10)の加熱により溶融した後、原料融液溜8(9,10)の融液に基板7の成長面を接触させてエピタキシャル成長させるようにしたエピタキシャルウエハの製造方法において、前記原料融液溜8(9,10)の融液に接する表面を原料融液溜の中心部側に拡大して、融液中心部側と前記原料融液溜との熱交換を促進する。 (もっと読む)


【課題】サイリスタ不良の発生を大幅に減少できるエピタキシャルウエハの製造方法及び発光ダイオードの製造方法を提供する。
【解決手段】液相エピタキシャル成長装置内に設置したp型GaAs基板1上に、p型GaAlAs活性層2、n型GaAlAsクラッド層3を順次、液相エピタキシャル成長させた後、そのまま液相エピタキシャル成長装置内で再度温度を上昇させる熱処理を施してエピタキシャルウエハを作製する。エピタキシャル成長後、再度温度を上昇させる熱処理により、p型GaAlAs活性層2との組成界面付近のn型GaAlAsクラッド層3に含まれる炭素のピーク濃度が下がるため、組成界面付近でp型変換層が発生せず、サイリスタ不良が発生しないエピタキシャルウエハが得られる。 (もっと読む)


【課題】 不純物である酸素を低減させ、赤色発光ダイオードを高輝度かつ高い歩留りで製造できるLED用エピタキシャルウェハの製造方法及びLED用エピタキシャルウェハを提供する。
【解決手段】 基板上に、AlGaAs活性層、AlGaAsクラッド層を液相エピタキシャル法により順次形成するシングルヘテロ接合構造のエピタキシャルウェハを製造する方法において、エピタキシャル層成長前に成長炉内温度を250℃程度に約2時間保持し、その間に真空引き及びH2 パージを連続的に行うことで原料溶液及びグラファイト成長治具の純化を行った後、成長させるようにしたものである。 (もっと読む)


【課題】 基板を水平面内で回転させることにより、液相エピタキシャル成長におけるウェハ面内の特性の均一性を向上させるLED用エピタキシャルウェハの製造方法を提供する。
【解決手段】 円形基板4を水平面内で回転しながら、上方のメルト部5に貯留されている原料融液6又は上方から供給される原料融液に接触させることにより、目的とするAlGaAs層、GaP層、GaAsP層などの化合物半導体層を液相で成長する。 (もっと読む)


【課題】 ガリウム砒素からなる基板の裏面からの砒素が抜けることを防止して、不良発生率の少ない発光ダイオードを製造することができる液相成長装置を提供すること。
【解決手段】 ガリウム砒素からなる基板を収容するための基板収納載置凹部16を設けたスライダ12と、原料溶液溜15を摺動方向に2以上有する原料溶液ホルダ13とを、互いに対向させて相対的に摺動可能とし、原料溶液に基板1を接触させて基板1上に化合物半導体からなる半導体層を成長する液相成長装置において、上記スライダ12の基板収納載置凹部16の底面に、基板1の底面を下方から部分的に支持する基板ホルダ部17を形成する。 (もっと読む)


【課題】 冷却過程において原料溶液を撹拌する機構を備えることによって原料溶液の温度を均質化し、これにより、大面積の基板上でも、その上に成長されるエピタキシャル層の膜厚が周辺と中央とで差が生じないようにした液相成長装置を提供することにある。
【解決手段】 基板ホルダ1を有するスライダー2と、原料溶液溜を形成する原料溶液ホルダ3を有する原料溶液ホルダ保持体11とを、互いに対向させて相対的に摺動可能とし、所定の温度から冷却しながら原料溶液6又は7に基板5を接触させて、基板5上に半導体のエピタキシャル層を成長する液相成長装置において、上記原料溶液ホルダ3に、原料溶液を基板5に接触させた後の冷却過程において原料溶液6、7を撹拌する羽根9を原料溶液溜中に有する撹拌機構10を設ける。 (もっと読む)


【課題】 基板表面の酸化膜及び不純物を最小限に除去できる液相エピタキシャル成長方法を提供することにある。
【解決手段】 GaAs基板4上にAlGaAs層を液相エピタキシャル法によりエピタキシャル成長するに際し、上記AlGaAs層の成長開始温度をAl及びAsが飽和溶解する温度よりも1〜10℃高めることで、基板4の表面を溶解しながら成長させる。 (もっと読む)


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