説明

Fターム[5F140BK19]の内容

絶縁ゲート型電界効果トランジスタ (137,078) | ソース・ドレイン領域、電極及びSD近傍領域の製造 (13,929) | ソース・ドレイン領域形成後の処理 (2,202)

Fターム[5F140BK19]の下位に属するFターム

熱処理 (1,739)
イオン注入 (288)
エッチング (134)

Fターム[5F140BK19]に分類される特許

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【課題】本発明は、半導体デバイスの製造方法及び半導体デバイスを含む集積回路の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の半導体デバイス(100)を製造する方法は、とりわけ、基板(110)上にゲート構造(120)を形成するステップオ、及びゲート構造(120)の近くの基板(110)にソース/ドレイン領域(190)を形成するステップを含む。本方法は、更に、ゲート構造(120)及び基板(110)をドライエッチングするステップ、及びゲート構造(120)及び基板(110)をドライエッチングするステップに続いて、ソース/ドレイン領域にフッ素を配置して、フッ化したソース/ドレインを形成するステップを含む。その後、本方法は、ゲート構造(120)とフッ化したソース/ドレインに金属スイサイド領域(510,520)を形成するステップを含む。 (もっと読む)


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