Fターム[5F152CC07]の内容
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Si (483)
Fターム[5F152CC07]に分類される特許
201 - 202 / 202
スタック状テンプレート層の局部的なアモルファス化及び再結晶化によって形成される、選択された半導体結晶配向を有するプレーナ型基板
【課題】 異なる配向の半導体が共通のBOX層上に配置された、プレーナ型ハイブリッド配向半導体基板構造体を形成するための、より簡単で優れた方法を提供すること。
【解決手段】 異なる結晶配向の半導体層を有するプレーナ型基板を製造するための、スタック状テンプレート層の局部的なアモルファス化及び再結晶化を用いる方法が提供される。本発明の方法を用いて構築されるハイブリッド配向半導体基板構造体、及び、デバイスの性能を高めるために異なる表面配向上に配置された少なくとも2つの半導体デバイスを含む種々のCMOS回路と一体化されたこうした構造体が提供される。
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半導体基板を作製する方法
【課題】絶縁体上歪み半導体(SSOI)基板を作製する方法が提供される。
【解決手段】この方法で、歪み半導体は、あらかじめ形成された絶縁体上半導体基板の絶縁体層の上に直接配置された50nm未満の厚さを有する薄い半導体層である。本発明のSSOI基板を形成する際に、ウエハボンディングは使用されない。
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201 - 202 / 202
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