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Fターム[5F173AF40]の内容

Fターム[5F173AF40]に分類される特許

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【課題】光出力の低減を抑制しつつ比較的に低い閾値電圧で駆動可能な半導体レーザ素子と、この半導体レーザ素子の作製方法とを提供する。
【解決手段】端面発光型の半導体レーザ素子11であって、六方晶系半導体からなる支持基体1の主面1aの上に設けられた活性層3と、活性層3上に設けられたp型窒化物半導体領域4と、p型窒化物半導体領域4上に設けられたITO電極5aと、を備え、p型窒化物半導体領域4のp側クラッド層4cは、0.18μm以上0.22μm以下の範囲の膜厚を有し、ITO電極5aは、活性層3の発振波長の光に対し2.5×10cm−1以上3.0×10cm−1以下の光吸収係数を有する。 (もっと読む)


【課題】迷光を抑制し、かつ発光強度を向上させることができるリッジ型半導体レーザ素子を得る。
【解決手段】半導体基板1上に下クラッド層2、活性層3、及び上クラッド層4が順に積層されている。上クラッド層4にリッジ5が設けられ、リッジ5の両側に凹部6が設けられている。凹部6の底面に回折格子7が設けられている。リッジ5の上面にp電極9が接続されている。このp電極9は回折格子7の上方に延在している。 (もっと読む)


【課題】Inを含む化合物半導体とInを含まない化合物半導体とのへテロ界面におけるInの拡散/偏析による変成層を少なくする。
【解決手段】この発明に係るLD40は、n−半導体基板12と、このn−半導体基板12上に配設され、n−AlGaInPまたはn−GaInPで形成された第1n−クラッド層42aと、この第1n−クラッド層42aの上に配設された、n−AlGaAsの第2n−クラッド層42bと、この第2n−クラッド層42bと第1n−クラッド層42aとの間に介在し、第1n−クラッド層42aに対応してn−AlGaAsPで形成され、III属元素のAl、Gaは第2n−クラッド層42bと同じ組成で、V属元素のAsとPの組成はPよりもAsを多くした挿入層42cと、を備えたものである。 (もっと読む)


【課題】外形が円形状であり、十分なレーザ発振特性を有する半導体レーザを提供する。
【解決手段】半導体レーザ10では、半導体層11は外形がリング状であり、活性層12と、活性層12の両側に形成された第1および第2クラッド層14a、14bと、第1および第2クラッド層14a、14b上に形成された第1および第2コンタクト層15a、15bと、第1および第2クラッド層14a、14bの外周側壁および内周側壁が選択的に改質され、第1および第2クラッド層14a、14bの屈折率より低い屈折率を有する第1および第2改質層14c、14dを含んでいる。第1および第2電極17、19が、第1および第2コンタクト層15a、15bに電気的に接続されている。 (もっと読む)


【課題】高出力化を図ることが可能な窒化物系半導体レーザ素子を提供する。
【解決手段】この窒化物系半導体レーザ素子は、窒化物系半導体からなる活性層5と、その活性層5上に形成され、窒化物系半導体からなるp型クラッド層8とを備えている。そして、p型クラッド層8内の活性層5側の領域の屈折率がp型クラッド層8内の活性層5側とは反対側の領域の屈折率よりも低くなっている。 (もっと読む)


【課題】発光効率の低下を抑制することのできる半導体レーザおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】主面101aを有する窒化物半導体基板と、主面101a上に形成された第1導電型クラッド層と、第1導電型クラッド層上に形成された活性層105と、活性層105上に形成された第2導電型クラッド層と、第1導電型クラッド層と活性層105との間、活性層105と第2導電型クラッド層との間、第1導電型クラッド層中、および第2導電型クラッド層中のいずれかに形成された電流狭窄層109とを備えている。窒化物半導体基板の主面100aは、{0001}面から傾斜した面であり、第2導電型クラッド層は、超格子構造を有する超格子層111を含む。 (もっと読む)


【課題】キャリア密度の精密な制御が可能な半導体装置を提供する。
【解決手段】単結晶基板105と、対称性6mmの六方晶系結晶から構成され、単結晶基板105上に形成された半導体層101と、半導体層101上に形成されたソース電極102、ドレイン電極103及びゲート電極104とを備え、半導体層101を構成するGaN層106及びAlGaN層107の主面は六方晶系結晶のC軸を面内に含み、半導体層101内のチャネル領域101aの長手方向は六方晶系結晶のC軸と平行である。 (もっと読む)


【課題】劈開が容易で且つ微小リーク電流を抑制した窒化物半導体レーザ装置を実現できるようにする。
【解決手段】半導体レーザ装置は、基板101の上に順次積層されたn型クラッド層103、活性層105及びp型クラッド層108を含み、共振器を構成する半導体層積層体100を備えている。半導体層積層体100は、光を出射する前方端面108と前方端面108と反対側の後方端面109との間にストライプ状に延びるリッジ部110と、リッジ部110の両側方に形成された第1溝部112と、第1溝部112によりリッジ部110と分離された台座部113と、台座部113における前方端面108及び後方端面109を含む領域にそれぞれ形成され、第1溝部112と分離した第2溝部114とを有している。第2溝部114の深さは、第1溝部112よりも深い。 (もっと読む)


【課題】光モード形状の急激な変化による光の散乱ロスを低減することの可能な半導体レーザおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】高台部27がリッジ部25の両端部の両側面に接しており、その部分において、活性層22からリッジ部25の両側面に接する表面までの厚さが共振器端面側で厚く、リッジ部25の中央側で薄くなっている。これにより、共振器端面側の横方向屈折率分布の方が、リッジ部25の中央側の横方向屈折率分布よりも緩やかとなっている。高台部27の両端部において、共振器端面寄りの厚い部分からリッジ部25の中央寄りの薄い部分にかけて緩やかな傾斜面27Aが形成されており、厚さが連続的に変化している。これにより、横方向屈折率分布が、厚い部分から薄い部分にかけて、傾斜面27Aの緩やかさに応じた緩やかさで連続して変化しているので、横方向屈折率分布の、共振器方向の変化が緩やかとなる。 (もっと読む)


【課題】単一の基板上に集積される半導体光素子間の電気的な分離性能を緩和可能な構造を有する集積化半導体光素子を提供する。
【解決手段】集積化半導体光素子11では、第1のクラッド層15は第1導電型半導体からなる。第1の半導体光素子11aのための第1の活性層17は、主面13aの第1のエリア13c及び第1のクラッド層15上に設けられる。第2の半導体光素子11bのための第2の活性層19は、主面13aの第2のエリア13d及び第1のクラッド層15上に設けられる。第1の活性層17は第2の活性層19に突き当て接合されている。第2のクラッド層21は、第2の活性層19上に設けられ、第2導電型半導体からなる。第3のクラッド層23は、第1の活性層17上に設けられ、第1導電型半導体からなる。第2のクラッド層21及び第3のクラッド層23はpn接合27を構成する。 (もっと読む)


【課題】高い光閉じ込め及びキャリア閉じ込めを提供できるクラッド層を有するIII族窒化物半導体レーザダイオードを提供する。
【解決手段】(20−21)面GaN基板71上にn型Al0.08Ga0.92Nクラッド層72を格子緩和するように成長する。n型クラッド層72上にGaN光ガイド層73aを格子緩和するように成長する。光ガイド層73a上に活性層74、GaN光ガイド層73b、Al0.12Ga0.88N電子ブロック層75及びGaN光ガイド層73cを格子緩和しないように成長する。光ガイド層73c上にp型Al0.08Ga0.92Nクラッド層76を格子緩和するように成長する。p型クラッド層76上にp型GaNコンタクト層77を格子緩和しないように成長して、半導体レーザ11aを作製する。接合78a〜78cの転位密度は他の接合における転位密度より大きい。 (もっと読む)


【課題】非極性面上に形成される発光素子において光閉じ込め性を向上できると共に転位による光学ロスを低減できる窒化物半導体発光素子を提供する。
【解決手段】コア半導体領域15、第1クラッド領域17及び第2クラッド領域19はGaNの支持基体13の非極性の主面13a上に搭載される。コア半導体領域15は活性層21及びキャリアブロック層23を含む。第1クラッド領域17はn型AlGaNクラッド層25及びn型InAlGaNクラッド層26を含む。n型InAlGaNクラッド層26はn型AlGaNクラッド層25と活性層21との間に設けられる。界面27bにおけるミスフィット転位密度は界面27aにおけるミスフィット転位密度より大きい。AlGaNクラッド層25はGaN支持基体13に対して格子緩和し、InAlGaNクラッド層26はAlGaNクラッド層25に対して格子緩和している。 (もっと読む)


【課題】トレンチから基板の裏面にかけて連続的に金属膜を形成することなく、クラッド層の薄膜化と高Al組成化とを実現して、クラックフリーの半導体発光素子を提供する。
【解決手段】導電性基板1と、導電性基板1上に形成された窒化物半導体からなる第1導電型の第1クラッド層2と、第1クラッド層2上に形成された活性層4と、活性層4上に形成された第2導電型の第2クラッド層6とを備え、第2クラッド層6に光導波路7が形成される。光導波路7の少なくとも真下における導電性基板1には、導電性基板1を貫通する溝が形成される。 (もっと読む)


【課題】再生系光ディスクシステムの光源に十分に使用可能な、安定した自励発振特性を有するIII族窒化物からなる半導体レーザ装置を実現できるようにする。
【解決手段】半導体レーザ装置は、基板11の上に形成され、AlGa1−xNからなるn型クラッド層13と、n型クラッド層13の上に形成されたMQW活性層15と、MQW活性層15の上に形成され、AlGa1−yNからなるp型クラッド層19と、p型クラッド層19の上に形成されたp型コンタクト層20と、基板11とn型クラッド層13の間に形成され、AlGa1−zNからなるn型反射抑制層12とを有している。n型クラッド層13におけるAl組成x、p型クラッド層19におけるAl組成y及びn型反射抑制層12におけるAl組成zは、x<zで且つy<zの関係を満たす。 (もっと読む)


【課題】素子抵抗の低減、結晶歪みの抑制およびサイドリーク電流の発生抑制を実現し得る半導体発光素子を提供する。
【解決手段】半導体発光素子10Aは、下部電極層11と、下部電極層11上に形成された下部クラッド層23と、下部クラッド層23上に形成された発光層24,25,27と、電流狭窄層18A,18Bと、これら電流狭窄層18A,18B上に形成された上部クラッド層28と、上部クラッド層28上に形成された上部電極層12Aとを備える。上部クラッド層28は、方向13の分極電界を有する第1電界層286と、逆方向14の分極電界を有する第2電界層285とを含む。 (もっと読む)


【課題】偏光方向が安定した面発光型半導体レーザーを提供する。
【解決手段】半導体基板の表面上に、下部反射鏡と、活性層と、選択酸化層と、上部反射鏡と、活性層と選択酸化層と上部反射鏡においてメサ構造が形成されており、上部電極と下部電極の間に電流を流すことにより、半導体基板面に対し垂直にレーザー光を発する面発光型半導体レーザーにおいて、半導体基板は、(100)面を傾斜させた面を表面とするものであって、活性層は、基板に対し圧縮歪みを有する量子井戸層と、スペーサ層により構成されており、スペーサ層は、InPに、Al、Ga、Asのうち1又は2以上の材料を加えた材料により構成されるものであって、半導体基板に対し圧縮歪みを有することを特徴とする面発光型半導体レーザーを提供することにより上記課題を解決する。 (もっと読む)


電気的励起レーザシステム及びその方法が開示される。システムは、シリコンのマイクロリング共振器を含む。III−V族半導体材料から形成された量子井戸は、マイクロリング共振器と光学的に結合されて光学利得を提供する。III−V族半導体材料から形成され、第1のタイプのキャリアでドーピングされた台形バッファが量子井戸に光学的に結合される。リング電極が台形バッファに結合される。台形バッファにより、リング電極がマイクロリング共振器の光学モードから実質的に分離されることが可能になる。 (もっと読む)


【課題】外周部分のクラッド層とコア層の屈折率差をフォトニックバンドギャップの形成に十分な大きさとし、活性部分のクラッド層の抵抗を下げた、波長が1.3μmおよび1.55μmの半導体レーザを提供する。
【解決手段】光を発生する活性部分と、発生した光からレーザ光を得るための共振器の外周部分とを同一基板上に形成する。基板11はInP基板である。活性部分は、AlInAsまたはAlGaInAsからなる第1導電型のクラッド層12と、AlGaInAsまたはInGaAsPからなる活性層を含むコア層21と、AlInAsまたはAlGaInAsからなる第2導電型のクラッド層17とを有する。外周部分は、第1導電型のクラッド層を酸化した第1のクラッド層22と、コア層27と、第2導電型のクラッド層を酸化した第2のクラッド層25とを有する。外周部分に、所定の周期で複数の空孔26が配列された2次元フォトニック結晶を形成する。 (もっと読む)


【課題】窒化物半導体を使って、発光効率が高く、スペクトル線幅の狭い青色乃至紫色発光ダイオードを提供する。
【解決手段】発光ダイオードは下側クラッド層と、前記下側クラッド層上に形成された窒化物半導体よりなる発光層と、前記発光層上に形成された上側クラッド層と、前記下側クラッド層に接触した下側オーミック電極と、前記上側クラッド層に接触し、光学窓を形成された上側オーミック電極と、を含み、前記下側クラッド層と前記発光層と前記上側クラッド層とは、マイクロキャビティを形成している。 (もっと読む)


【課題】p型AlGaN系超格子構造の低抵抗化を実現できる化合物半導体の製造方法、半導体レーザダイオード及びAlGaN系超格子構造を提供する。
【解決手段】ホールのド・ブロイ波長近傍の膜厚のAlGaN層とホールのド・ブロイ波長近傍の膜厚のGaN層とが交互に積層された、Mgを含有しp型導電性を示すAlGaN系超格子構造を備えた化合物半導体の製造方法において、前記AlGaN層の成長時にはMg原料を供給せず、前記GaN層の成長時に供給するMg原料の供給時間tMgを前記GaN層の成長時間tよりも短く設定する。 (もっと読む)


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