国際特許分類[G01Q30/00]の内容
物理学 (1,541,580) | 測定;試験 (294,940) | 走査プローブ技術または装置;走査プローブ技術の応用,例.走査プローブ型顕微鏡[SPM] (274) | 走査プローブ技術または装置の補助または改良に資する補助的手段,例.表示装置またはデータ処理装置 (46)
国際特許分類[G01Q30/00]の下位に属する分類
非SPM分析装置,例.SEM[走査型電子顕微鏡],分光計または光学顕微鏡 (9)
表示装置またはデータ処理装置 (8)
サンプルチェンバー内に所望の環境条件を確立し調節するための手段 (20)
外部の環境条件または影響からサンプルチェンバーの内部を保護しあるいは隔離するための手段 (2)
試料の取扱装置または手段 (7)
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