【課題】ＡＰＤ測定器の動作状態を高精度に検査する。
【解決手段】検査装置４０は、ＡＰＤ測定器１の動作状態を検査するべく、被測定信号の中心周波数に合わせた検査信号を発生する検査信号発生部４１と、検査信号の振幅レベルをＡＰＤ測定器１のダイナミックレンジの範囲内でランダムに可変制御する制御部４２とを備える。ＡＰＤ測定器１は、検査装置４０から検査信号が入力されると、振幅レベルの可変に伴う検査信号の振幅ピーク値のカウントに基づいて作成されるＰＤＦヒストグラムと、検査信号によるＡＰＤデータと基準ＡＰＤデータとの差に基づいて算出される時間捕捉率とを、動作状態を示す検査結果として出力する。 （もっと読む）

【課題】ＡＰＤ測定におけるインターフェースの転送容量や記憶デバイスの記憶容量の大容量化を防止する。
【解決手段】所定のサンプリング周期で取得した前記測定対象信号の予め定められた各周波数帯域成分の信号レベルを対数変換部１８で分割された信号レベルとしたレベル軸と、サンプリング周期に応じた時間間隔に基づき分割した時間軸とで構成した周波数帯域成分毎の信号レベルの２次元マップを作成する。次に、作成された２次元マップにおける交点位置に対応した各エリアを包含するようブロック単位で分割し、分割したブロックを構成する各エリアの信号レベルに類似度が一番高いマスクパターンを選別する。そして、このマスクパターンに応じた符号を割り当て、第２データ転送部２５から転送ルール情報に則った所定の順序とタイミングでソフトウェア処理部３に転送する。 （もっと読む）

【課題】突発的な被測定信号の検出確度を高め、被測定信号が含まれる周波数帯域に対する高精度な検査の実施と被測定信号の発生源の特定を行う。
【解決手段】各トリガ入力端子２１からの各被測定信号Ｓｔを１つずつ順次選択して選択測定信号Ｓ１として出力する信号選択部２３と、信号Ｓ１を入力して、測定周波数帯域を分割した各分割帯域に含まれる各分割帯域内信号Ｓ１ａ〜Ｓ１ｃを並列的に検出するトリガ信号検出部３と、指定の分割帯域の周波数帯域幅で第１局発信号Ｓ３を掃引しつつ信号入力部４からの被測定信号Ｓ２とミキシングして生成した中間周波信号Ｓ４を検波し、指定の分割帯域内の被測定信号Ｓｉについての検波出力Ｖｄを生成する受信部５と、分割帯域内信号Ｓ１ａ〜Ｓ１ｃのうちのピーク値ＰＶが最大でかつしきい値以上の分割帯域内信号が検出された分割帯域を指定の分割帯域として受信部５に検波出力Ｖｄを生成させる処理部７とを備えた。 （もっと読む）

【課題】高周波ノイズを確実に検出する。
【解決手段】測定対象信号ＳｉをサンプリングしてデータＤａを出力するＡ／Ｄ変換部３と、測定対象信号Ｓｉに重畳する高周波ノイズの周波数を含む通過帯域に含まれる信号成分を表すデータＤｂを出力するフィルタ部４と、データＤｂに基づいて通過帯域に含まれる信号成分の実効値Ｄｅを出力する実効値算出部５と、実効値Ｄｅがしきい値Ｄｔｈ以上のときにトリガ信号Ｓｔを出力するトリガ生成部８と、データＤａを予め規定された数だけストレージデータＤｃとして記憶するバッファメモリ７と、トリガ信号Ｓｔの出力タイミングに同期してバッファメモリ７からデータＤｃを読み出すと共にデータＤｃに対してフーリエ変換処理を実行して、測定対象信号Ｓｉへの高周波ノイズの重畳時点を含む特定期間における測定対象信号Ｓｉに重畳している高周波ノイズを演算して出力するＦＦＴ演算部９とを備えている。 （もっと読む）

【課題】周波数測定が高精度かつ短時間で行える周波数測定装置を提供すること。
【解決手段】実施形態の周波数測定装置は、入力される高周波信号を２分配する高周波分配器と、前記高周波分配器の第1の出力が、広帯域バンドパスフィルタを介して入力される広帯域周波数測定回路と、前記広帯域周波数測定回路の出力値を所定の周波数と対応させる周波数設定回路と、前記周波数設定部で設定される周波数で発振する局部発振器と、
前記局部発振器の出力信号および遅延回路を介して前記分配器の第２の出力を所定の遅延時間だけ遅延させた信号が入力される周波数混合器と、前記周波数混合器の出力信号が、狭帯域バンドパスフィルタを介して入力される狭帯域周波数測定回路と、を有する。 （もっと読む）

【課題】簡易な装置で短時間に周波数を計測する。
【解決手段】計測対象としての移動体によって反射されたマイクロ波を、電気信号に変換する。次に、この電気信号が増幅されることにより生成された電気信号を、第１出力回路１３を用いて、第１出力回路１３を構成するハイパスフィルタの減衰特性に応じた電圧レベルの直流信号ＳＤ１３に変換する。同時に、第２出力回路１４を用いて、第２出力回路１４を構成するローパスフィルタの減衰特性に応じた電圧レベルの直流信号ＳＤ１４に変換する。そして、直流信号ＳＤ１３の値と直流信号ＳＤ１４の値とを用いて、電気信号の周波数を算出する。 （もっと読む）

【課題】半導体回路への集積化に適する簡便なハードウエア構成で、周波数を高速に検出することができるようにする。
【解決手段】高域通過フィルタ１１の出力信号の半分を間引く間引き処理部１３の出力信号のレベルと低域通過フィルタ１２の出力信号の半分を間引く間引き処理部１４の出力信号のレベルを比較し、レベルが高い方の出力信号を選択して次段に出力する信号選択部などから構成されている単位フィルタ部１Ａ，１Ｂ，１Ｃが多段に従属接続されている可変フィルタ部１を設け、各段の単位フィルタ部１Ａ，１Ｂ，１Ｃの信号選択部における出力信号の選択結果から入力信号の周波数を検出する。 （もっと読む）

【課題】周波数、振幅及び時間の各次元で取得されたＡＰＤに基づいて、注視した次元の特定値を中心に、各種の次元のグラフを容易に切り替えて、観察できる技術を提供する。
【解決手段】ＡＰＤ部３００が出力する各周波数成分の振幅の振幅確率を時間経過に対応して記憶する記憶部４００に記憶しておき、グラフ生成部５１０は、記憶部から最新の記憶内容を得て、周波数、振幅、振幅確率及び時間のいずれか２つを次元とする座標に他の１つをパラメータとする第１のグラフを表示部に表示させ、指定マーカ生成部５２０は、表示されている第１のグラフ上の２つの次元又はパラメータのいずれかを特定値として指定する指定マーカを表示させ、画面制御部は、特定値を指定された前記２つの次元又はパラメータを該特定値に固定したときの、新たな組合せの次元及びパラメータについての第２のグラフをグラフ生成部に生成させて、表示させる構成とした。 （もっと読む）

【課題】測定対象の規格にあわせて、チャンネル数や分解能帯域幅ＲＢＷなどの測定条件を変更可能とすることで、様々な測定対象の測定を可能とし、かつ、あわせて測定機器の校正を可能とすることで、さらに高い測定確度で測定が可能な汎用的なＡＰＤ測定装置を提供する。
【解決手段】Ａ／Ｄ変換手段（１１０）と、周波数選択手段（１３０）と、ＡＰＤ部（３００）とでデータをサンプリングするクロック信号の周期を調整可能とすることで、測定時の分解能帯域幅やチャンネル数を柔軟に変更可能とする。あわせて、周波数選択手段（１３０）としてＦＦＴ型処理手段（１３１）と、フィルタバンク型処理手段（１３２）とを並列に備え、測定確度の高いフィルタバンク型処理手段（１３２）の出力をもとに、ＦＦＴ型処理手段（１３１）の出力を校正することで、より確度の測定を可能とする。 （もっと読む）