【課題】蛍光体ペースト塗工直後に塗工装置の状態を検査することで不具合を迅速に発見し、不良基板数を最小限に抑え、速やかに工程を復旧させることを可能にするディスプレイパネルの検査方法および検査装置並びにそれらを用いた製造方法を提供する。
【解決手段】基板に設けられた溝内に液状材料が塗工された塗工基板１０に、照明手段６３から光を照射し、前記該塗工基板からの反射光を撮像手段６２により撮像して、該反射光の光量を輝度情報として１次元または２次元状に取得し、該取得した輝度情報を信号処理して、前記液状材料の塗工不良箇所を検出する検査方法であって、前記溝の長手方向６８と垂直に交わる平面と、前記照明手段と撮像手段間の入射光軸と正反射光軸を含み、かつ前記溝の底面に垂直な平面とがなす小さい方の角度を４０°から８０°の間で保持して、前記輝度情報を取得する。 （もっと読む）

【課題】低コストかつ短時間で基板上の突起欠陥の形状を検出し合否を判定する方法を提供する。
【解決手段】対象基板上方から拡散光を照射し前記対象基板表面からの反射光の光量を光学センサーにより検出する工程と、前記光学センサーによって検出された信号を階調分布に変換する工程と、前記階調分布から欠陥候補部を抽出する工程と、前記階調分布の極大値と最小値の差分から前記欠陥候補部の形状を算出する工程と、前記欠陥候補部の形状から前記欠陥候補部を合否判定する工程を備えた。 （もっと読む）

【課題】撮像素子の感知する光の強さを高精度に算出可能な応答特性モデルを生成する。
【解決手段】異なる露光時間にて撮像された撮像データの中から選択された選択撮像データにおいて、等しい撮像素子出力値を有する画素の画素位置を画素位置設定部１１によりグループ化する。次いで、選択撮像データおよび選択撮像データとは異なる露光時間による撮像データの双方において、前記グループ化によって得られた各グループの画素位置での撮像素子出力値から、選択撮像データおよび選択撮像データとは異なる露光時間での撮像データにおける各グループの撮像素子出力代表値を撮像素子（ＣＣＤセンサ）出力代表値算出部１２により算出する。これら各露光時間での撮像データにおける各グループの撮像素子出力代表値を用いて、撮像素子出力値と光エネルギとの対応関係を撮像素子出力値（ＣＣＤセンサ出力値）と光エネルギとの関係テーブル算出部１３によって算出する。 （もっと読む）

【課題】隣接するピクセルあるいはサブピクセル間の輝度ばらつきが5％以下、さらに望ましくは1％以下にするために必要な、ピクセルあるいはサブピクセル当たりのエミッションサイト数を、統計的手法を用いて明確にし、それを実現するための手法を確立することを課題とする。
【解決手段】エミッション電流密度の分布特性を測定し、その平均値avと標準偏差divから統計的手法を用いて、ピクセルあるいはサブピクセル当たりに必要なエミッションサイト数を見積もる。 （もっと読む）

【課題】グリッド電極を通してリークする微小リーク電流を高精度に測定する。
【解決手段】アノード電圧を分圧し、分圧した電圧をクリッド電極１１８に印加する抵抗分圧回路１、該抵抗分圧回路１に直列に接続される第一の固定抵抗（ブリッジ回路バランス抵抗２）、抵抗分圧回路１とほぼ同等の抵抗値を有する第二の固定抵抗（ブリッジ回路比較抵抗３）および第二の固定抵抗と直列に接続される可変抵抗（ブリッジ回路バランス用可変抵抗４）によって構成されるブリッジ回路と、抵抗分圧回路１と第一の固定抵抗が直列に接続された第一の直列接続体と第二の固定抵抗と可変抵抗が直列に接続された第二の直列接続体の両端にアノード電圧を印加するアノード電圧印加用電源５と、抵抗分圧回路１と第一の固定抵抗の接続部と第二の固定抵抗と可変抵抗の接続部の間に配置される検流計６とを備える。 （もっと読む）

【課題】チップ搭載前に画像表示パネルの端子部から視認不能もしくは困難な汚染物質を除去すること。
【解決手段】本発明の汚染物質の除去方法は、画像表示パネルの端子部に励起光を照射する照射工程により蛍光を発した有機物およびその有機物を溶質とする電解質を少なくとも端子に対する汚染物質として端子部から取り除く除去工程と行なう方法である。これにより、視認不能もしくは困難な汚染物質が自らその存在位置を発色して知らせるので、その汚染物質を容易かつ迅速に除去することができ、画像表示パネルの端子部が断線および短絡することを防止する。 （もっと読む）

【課題】異なるフィラメント間に生じる損失エネルギーの個体差に影響せず、定量的で正確に蛍光ランプの寿命を診断できる照明システムと、これを用いた蛍光ランプの寿命診断方法を提供する。
【解決手段】フィラメント(14)の抵抗値を算出する抵抗算出部(5)と、フィラメント(14)に流れた電流の時間積分値を算出する電流積算部(6)と、フィラメント(14)に供給した電気エネルギー値を算出する電気エネルギー算出部(7)と、フィラメント(14)の吸収熱エネルギー値を算出する吸収熱エネルギー算出部(8)と、吸収熱エネルギー値に基づいて蛍光ランプ(10)の寿命を診断する診断部(9)とを含み、吸収熱エネルギー算出部(8)が、少なくとも２つの異なる電気エネルギー値から吸収熱エネルギー値を算出することを特徴とする照明システム(1)とする。 （もっと読む）

【課題】電極および誘電体層の形成工程における焼成工程を簡略化でき、かつ、電極の検査および修正を好適に実施できるＰＤＰの製造方法を提供する。
【解決手段】ＰＤＰの製造方法は、電極パターン形成工程と、電極仮焼成工程と、電極本焼成工程とを含む。電極パターン形成工程では、前面基板上にバス電極に対応した電極パターンを形成する。電極仮焼成工程では電極パターンに対して３００℃〜３５０℃の温度で仮焼成を施す。電極本焼成工程では電極パターンに含まれるガラスフリットの軟化点近傍の温度にて電極パターンを焼成する。電極仮焼成工程における焼成を３００℃〜３５０℃の温度範囲内で実施するため、消費するエネルギー量を低減でき、電極仮焼成工程における焼成装置自体を小型化できる。電極仮焼成工程後の電極パターンに対してオープンショート検査およびリペア処理を問題なく実施できる。 （もっと読む）

【課題】不灯の放電セルなどの画面欠陥と区別して、完全点灯状態を高精度に検出し、プラズマディスプレイパネルの特性検査を効率よく行うことができるようにする。
【解決手段】一対の基板間に複数の放電セルを有し、各放電セルにおいて放電を発生させることにより画像表示を行うプラズマディスプレイパネルの特性検査方法において、プラズマディスプレイパネルの点灯条件を設定し、その点灯条件におけるプラズマディスプレイパネルの点灯状態を撮像手段により撮像する撮像ステップ（ステップ１、２）と、その撮像した画像を用いて前記画像の特徴を表す階調別ヒストグラムを求め、その階調別ヒストグラムより全ての放電セルが点灯しているか否かを判定する画像処理ステップ（ステップ３〜ステップ８）とを有し、点灯条件を変えながら撮像ステップと画像処理ステップとを行う。 （もっと読む）

【課題】プラズマディスプレイパネルの書込み放電における放電セルの放電遅れ時間を短時間に測定する。
【解決手段】駆動電圧波形の１周期は走査電極に走査パルスを印加するとともにデータ電極に書込みパルスを印加して放電セルに書込み放電を発生させるアドレス期間と、走査電極と維持電極とに交互に維持パルスを印加してアドレス期間において書込み放電の発生した放電セルを維持放電させる維持期間と、放電セルの放電を休止させる休止期間とを有し、放電セルの走査電極とデータ電極とにそれぞれ走査パルスと書込みパルスを同時に印加している書込み時間を可変し、維持放電に伴う発光輝度とそのときのアドレス期間における書込み時間とにもとづき放電遅れ時間を検査する。 （もっと読む）