国際特許分類[H01L21/203]の内容
電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 半導体装置,他に属さない電気的固体装置 (445,984) | 半導体装置または固体装置またはそれらの部品の製造または処理に特に適用される方法または装置 (183,847) | 半導体装置またはその部品の製造または処理 (125,986) | 少なくとも一つの電位障壁または表面障壁,例.PN接合,空乏層,キャリア集中層,を有する装置 (97,574) | 不純物,例.ドーピング材料,を含むまたは含まない周期律表第IV族の元素またはA↓I↓I↓IB↓V化合物から成る半導体本体を有する装置 (83,040) | 基板上への半導体材料の析出,例.エピタキシャル成長 (11,073) | 物理的析出を用いるもの,例.真空蒸着,スパッタリング (536)
国際特許分類[H01L21/203]に分類される特許
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イオンビームミキシング方法
【目的】 イオンビームミキシング方法で基板上に成膜する場合、成膜速度、膜質、基板と膜の付着力の改善を目的とする。
【構成】 ミキシングチャンバー17内のターゲット7にAr+ イオンビーム6を入射させてスパッタ原子8を放出せしめ、一方基板11にはN2 + イオンビーム9を走査しながら照射すると共に、ミキシングチャンバー17内には反応ガス15を導入し、かつ光源13から光13a(主として紫外線)を基板11の表面、反応ガス15及びスパッタ原子8に照射して基板11上にスパッタ原子8による成膜と同時にミキシングされたミキシング膜16を成長させるように構成したものである。
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細線形成方法
【目的】 簡易で、再現性の良い細線形成方法を得る。
【構成】 半絶縁性GaAs基板を、第1の溶液でエッチングし、その後、第2の溶液で処理し、基板/エピ界面の不純物の偏析現象が変わることを利用して、1回のエピタキシャル成長を施すことにより、細線を形成する。
【効果】 細線形成を簡易に再現性良く実施できる。
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窒化ガリウムアルミニウム半導体の結晶成長方法。
【目的】 結晶性に優れた窒化ガリウムアルミニウムの混晶膜が得られる結晶成長方法を提供することにより、シングルヘテロ、ダブルヘテロ構造の発光ダイオード、レーザーダイオードを実現する。
【構成】 薄膜のGaN層と薄膜のAlN層とを交互に成長させた多層膜層を成長させ、さらにその多層膜層のGaN層とAlN層のそれぞれの総膜厚の比が窒化ガリウムアルミニウム半導体のモル比に対応しているように、GaN層とAlN層とを成長させる。
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分子線結晶成長装置
【目的】 分子線結晶成長装置に関し、分子線源セル用シャッタ板に付着した分子線が液状に蓄積し、これが落下または飛散しても分子線源セル用シャッタ板駆動手段や基板ホルダ位置調節手段に設けられた気密保持用のベローズが損傷を受けることのないようにされてなる分子線結晶成長装置を提供することを目的とする。
【構成】 分子線源セル用シャッタ板駆動手段15が気密的に真空容器11を貫通することを許す第1のベローズ5と、基板ホルダ位置調節手段18が気密的に真空容器11を貫通することを許す第2のベローズ5とを有する分子線結晶成長装置において、第1及び第2のベローズ5の下部には、少なくともベローズ5の伸縮可能長さに対応する高さを有する基部7が設けられ、少なくとも第1及び第2のベローズ5の伸長時の長さに対応する長さを有する外筒8がベローズ5を包囲してベローズ5の上端に接続されるように構成される。
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分子線源用るつぼおよびそれを用いた分子線エピタキシャル成長膜の形成方法
縦型熱処理装置
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