セミフィニッシュトブランクの測定方法及び加工方法
【課題】表裏いずれか一方の面に被覆部材が装着されたセミフィニッシュトブランクにおいて、被覆部材を取り外さなくとも所定の光学特性の値を算出でき、その算出結果に基づいて加工条件を充足しているかどうかをチェックすることが可能なセミフィニッシュトブランクの測定方法及びその加工条件のチェック方法を提供すること。
【解決手段】凸面側にアロイ１２によってブロックピース１３を取り付けたセミフィニッシュトブランク１１に対して凹面側から凸面側に向けて光を照射し凹面側で取得した反射光の測定値に基づいて当該セミフィニッシュトブランク１１のプリズム量を算出するようにした。
【解決手段】凸面側にアロイ１２によってブロックピース１３を取り付けたセミフィニッシュトブランク１１に対して凹面側から凸面側に向けて光を照射し凹面側で取得した反射光の測定値に基づいて当該セミフィニッシュトブランク１１のプリズム量を算出するようにした。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はセミフィニッシュトブランクの表裏いずれかの面を加工してレンズを作製する際の処方に応じた加工条件で加工されているかどうかを測定するための測定方法及び測定結果に基づいて加工する加工方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
装用者の処方に応じたプラスチックレンズを加工する場合においては、ごく一般的な処方パターンであれば処方に応じた形状のガラス型枠を使用して前もってレンズを成形し、常備品として確保しておいて適宜提供するようにするのが一般的である。しかし、装用者の細かい処方に応じたり特殊な処方が必要である場合にはそれら処方に応じたレンズを個々に作製しなければならない。そのような場合にはセミフィニッシュトブランクを用意し、この凹面側あるいは凸面側のいずれかを加工して半オーダーメード的にレンズを作製するようにしている。セミフィニッシュトブランクは常備品と同様にガラス型枠で前もって成形するレンズの前駆体であり、一般に加工装置で凹面側あるいは凸面側のいずれかを加工する。このようなセミフィニッシュトブランクを加工して半オーダーメード的にレンズを作製する先行技術として一例として特許文献１を示す。
【０００３】
凹面側が加工面であるセミフィニッシュトブランクを加工する場合には切削工具あるいは研削工具方向に加工すべき凹面側を向くように加工装置にセミフィニッシュトブランクを固定しなければならない。そのためセミフィニッシュトブランクの凸面側に加工装置に固定させるための連結部材としてのブロックピースを装着する必要がある。ブロックピースは加工装置に装着してセミフィニッシュトブランクを所定位置に固定させる一種のコネクタである。この際、ブロックピースはレンズを傷つけず、なおかつ凸面上にしっかりと取り付けられなくてはいけない。そのための固定手段として一般に低融点のアロイ（合金）や熱可塑性樹脂、あるいはワックス等を介してブロックピースはセミフィニッシュトブランクに固定される。このような固定手段を一般にブロッキングと称している。ブロッキングされたセミフィニッシュトブランクにブロックピースがブロッキングされた状態を説明する先行技術の一例として特許文献２を挙げる。また、セミフィニッシュトブランクの周囲を所定間隔で一種のクランプで把持し、クランプにブロックピースを配設することも可能である。このような固定手段を一般にチャッキングと称している。
セミフィニッシュトブランクをブロッキング又はチャッキングし、加工が完了すると完成したレンズが所定の加工条件を充足しているかどうかをチェックしなければならない。例えばプリズムやレンズ度数等の光学特性を測定装置によって測定し、加工条件に対応した光学特性が得られているかどうかをチェックするわけである。この場合において、光学特性はレンズを透過する光線の屈折量に基づいて測定されるため、一旦測定の邪魔となるブロッキング又はチャッキングに係る部品を取り外してレンズ単独の状態で測定する必要があった。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平１０−１７５１４９号公報
【特許文献２】特開２００４−２０２６７９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところが、測定した結果予定した加工条件とならず、もう少し切削して修正しなければならないような場合がある。その場合には再度ブロッキング又はチャッキングを行って当該レンズを加工装置に固定する必要があるわけであるが、ブロッキングする場合には上記のように再びレンズの凸面をアロイや樹脂で覆うので、その熱の影響で凸面のカーブが微妙に変わってしまう。つまり、レンズが微妙に変形してしまっており当初とは異なる条件でブロックピースを連結することとなり、修正量が正しく再度の加工に反映されないという課題が生じていた。また、一旦ブロッキングを行った後で、これを解除し再度行った場合にはブロックピースを連結する位置と傾きに微妙な誤差が生じるため、やはり当初とは異なる条件でブロックピースを連結することとなる。これはレンズ縁を把持するチャッキングにおいても同様に生じるもので、把持する位置や強さの微妙な違いによってレンズの変形量が当初とは変わってしまう。このようなことから一旦ブロッキング又はチャッキングに係る部品を取り外してしまうと、加工条件を処方値となるように加工することが困難となっていた。特に凸面側に累進面をもつ外面累進屈折力レンズにおいてはレンズ面が一様ではないためブロックピースと凸面のあたり具合が一定ではなく当初と同じ状態で固定することが非常に難しいため、現実的には修正することは困難であった。
また、セミフィニッシュトブランクを加工装置に固定するためのブロッキングやチャッキングという手段以外にもセミフィニッシュトブランク（レンズ）の移送・運搬の必要のために一方の面側を覆うように把持する場合もあり、そのような場合にも上記と同様の課題が生じる。
本発明は、このような課題に着目してなされたものである。その目的とするところは、表裏いずれか一方の面に被覆部材が装着されたセミフィニッシュトブランクにおいて、被覆部材を取り外さなくとも所定の光学特性の値を算出でき、その算出結果に基づいて加工条件を充足しているかどうかをチェックすることが可能なセミフィニッシュトブランクの測定方法及び加工方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記の目的を達成するために請求項１に記載の発明では、凸面と凹面の表裏面を有するセミフィニッシュトブランクであって、その表裏いずれか一方の第１の面に同第１の面を覆う被覆部材が装着された前記セミフィニッシュトブランクに対して前記被覆部材が装着されていない第２の面側から前記第１の面側に向けて光を照射し前記第２の面側で取得した反射光の測定値に基づいて所定の光学特性の値を算出することをその要旨とする。
また、請求項２の発明では請求項１に記載の発明の構成に加え、前記所定の光学特性とはプリズムであることをその要旨とする。
また、請求項３の発明では請求項１に記載の発明の構成に加え、前記所定の光学特性とはレンズ度数であることをその要旨とする。
また、請求項４の発明では請求項１〜３のいずれかに記載の発明の構成に加え、前記セミフィニッシュトブランクの前記第２の面上には照射光の前記第２の面での反射を防止する反射防止膜が形成されていることをその要旨とする。
また、請求項５の発明では請求項３に記載の発明の構成に加え、前記第２の面に反射膜を形成させて、前記第２の面に対して光を照射し前記第２の面から取得した反射光に基づいて前記第２の面の第１のカーブの値を算出する一方、前記第２の面に反射膜のない状態で前記第２の面に対して光を照射し前記第１の面から取得した反射光に基づいて前記第１の面の第２のカーブの値を算出し、前記第１及び第２のカーブの値に基づいて前記レンズ度数を算出するようにしたことをその要旨とする。
また、請求項６の発明では請求項５に記載の発明の構成に加え、前記第１の面の第２のカーブの値を算出する際には前記セミフィニッシュトブランクの前記第２の面上には照射光の前記第２の面での反射を防止する反射防止膜を形成することをその要旨とする。
【０００７】
また、請求項７の発明では請求項１〜６のいずれかに記載の発明の構成に加え、前記セミフィニッシュトブランクの前記第１の面上には照射光を鏡面反射させるための前記第１の面の形状に沿った反射手段が形成されていることをその要旨とする。
また、請求項８の発明では請求項１〜７のいずれかに記載の発明の構成に加え、前記被覆部材とは加工装置に連結するために固定手段によって連結部材を前記第１の面の中央領域を覆うように固定された連結部材であることをその要旨とする。
また、請求項９の発明では請求項８に記載の発明の構成に加え、前記連結部材は前記セミフィニッシュトブランクの前記凸面側に装着されていることをその要旨とする。
また、請求項１０の発明では請求項１〜９のいずれかに記載の発明の構成に加え、レンズの広範囲に渡って第２の面側から複数の光線を照射させ、各光線ごとに反射光を取得してその測定値に基づいて所定の光学特性の値を算出することをその要旨とする。
また、請求項１１の発明では請求項１〜１０のいずれかに記載の発明の構成に加え、前記反射光の測定において波面を測定し、その測定結果に基づいて前記所定の光学特性を算出することをその要旨とする。
【０００８】
また、請求項１２の発明では請求項１〜１１のいずれかの測定方法において算出された所定の光学特性の値に基づいて前記第２の面側を加工するようにしたことをその要旨とする。
また、請求項１３の発明では請求項１〜１１のいずれかの測定方法において算出された所定の光学特性の値をチェックして加工条件に応じた必要な補正を加えるようにしたことをその要旨とする。
また、請求項１４の発明では請求項１２又は１３の測定方法において、前記セミフィニッシュトブランクは前記凸面側に累進屈折面が形成され、作製されるレンズは外面累進屈折力レンズであることをその要旨とする。
また、請求項１５の発明では請求項１２〜１４のいずれかの測定方法において、前記反射光の測定は前記セミフィニッシュトブランクの前記凹面側を加工した後に行うことをその要旨とする。
また、請求項１６の発明では請求項１２〜１５のいずれかの測定方法において、前記凹面側の加工を予定の厚さとなる前に一旦中止し、その段階で前記連結部材が装着された状態の前記セミフィニッシュトブランクに対して前記凹面側から前記凸面側に向けて光を照射し前記凹面側で取得した反射光の測定値に基づいて所定の光学特性を算出し、その算出結果をチェックして加工条件に応じた必要な補正を加えて再度加工するようにしたことをその要旨とする。
【０００９】
このような構成では、第１の面を覆う被覆部材が装着された状態のセミフィニッシュトブランクに対して凹面側を加工する際に、加工前、あるいは加工途中や加工後における任意の段階で第２の面側から第１の面側に向けて光を照射する。そして、第２の面側で取得した反射光を測定し所定の光学特性の値を算出する。更に、光学特性の算出された値をチェックして加工条件に応じた必要な補正を加えることが可能である。
反射光はセミフィニッシュトブランクを第２の面→第１の面→第２の面という経路で第２の面側に反射する光線（以下、主反射光とする）と、セミフィニッシュトブランク内に透過せず第２の面で反射する光線（以下、副反射光とする）の両方の成分を含む。本発明では本来第２の面→第１の面という２つの界面を透過する光線を測定して分析するところを、その代わりに第２の面→第１の面→第２の面という経路で３つの界面を透過する主反射光を照射側で測定し所定の光学特性の値を算出するものであり、算出された値に基づいて第２の面側を加工することが可能である。また、その所定の光学特性の値をチェックして加工条件に応じた必要な補正を加えることも可能である。主反射光のみを測定しても副反射光を含んだ状態の光を測定してもよいが、主反射光のみを測定する場合にはなるべく副反射光が発生しないことが好ましい。
光線の種類としては単純にプリズムを測定する場合では、１本の光線でもよいが、複数の本数であればより複雑な測定が可能である。例えば、乱視度数を測定する場合には少なくとも４本が必要である。更に面に対してリング状に交叉する光線、つまり円筒状に照射される光線であればより、高精度の測定が可能であり、更に面に対して円形に交叉する領域すべてを埋め尽くすような光束であれば更に測定精度は向上する。
更にレンズの広範囲に渡って第２の面側から複数の光線を照射させ、各光線ごとに反射光を取得してその測定値に基づいて所定の光学特性の値を算出するようにしてもよい。
測定する所定の光学特性としては、代表的なものとしてプリズムとレンズ度数が挙げられる。
【００１０】
セミフィニッシュトブランクの第１の面上には照射光を反射させるための第１の面の形状に沿った反射手段が形成されていることが好ましい。できれば鏡面化することが正確な第１の面の形状を把握し、反射率を大きくするために好ましい。反射手段としては第１の面に接する固定手段としてのアロイを滑面としたり、反射膜を貼着したりすることが考えられる。
セミフィニッシュトブランクの第２の面上には照射光の凹面での反射を防止する反射防止膜が貼着されていることが好ましい。これによって第２の面上で光を反射させず、高い透過率でセミフィニッシュトブランク内に光を入射させることができる。これは特に副反射光を必要としない場合には有効である。一般に反射防止膜は透明フィルムに膜体を形成させこれを貼着することが考えられるが、その場合に膜側を外方（つまり照射側）に向けて配置して貼着させる必要がある。また、透明フィルムの屈折率はセミフィニッシュトブランクの基材屈折率と同じあるいは近いことが望ましい。
【００１１】
セミフィニッシュトブランクの第２の面に反射膜を形成させて、第２の面に対して光を照射しその第２の面から取得した反射光に基づいて第２の面の第１のカーブの値を算出する一方、第２の面に反射膜のない状態で前記第２の面に対して光を照射し前記第１の面から取得した反射光に基づいて第１の面の第２のカーブの値を算出し、それら第１及び第２のカーブの値に基づいてレンズ度数を算出することが考えられる。つまり、第２の面の第１のカーブの値と第１の面の第２のカーブの値をそれぞれ別個に取得し、その値に基づいてレンズ度数を算出するわけである。ここでは、第１の面の第２のカーブの値を取得するためには少なくとも第２の面に反射膜のない状態での測定が必要である。その場合に更に高効率で第１の面方向に射出光を透過させるためには第２の面上に照射光の第２の面での反射を防止する反射防止膜を形成することが好ましい。
【００１２】
被覆部材としては、加工装置に連結するために固定手段によって連結部材を前記第１又は第２のいずれかの面の中央領域を覆うように固定された連結部材であってもよい。固定手段としては例えば上記ブロッキング又はチャッキングが考えられるが、連結部材をセミフィニッシュトブランクの凸面側に固定できるのであれば、特に限定されるものではない。一般的なセミフィニッシュトブランクでは連結部材は凸面側に装着されているが多く、その場合には凸面側が第１の面とされる。
反射光の測定において波面を測定し、その測定結果に基づいて前記所定の光学特性を算出するものであってもよい。波面を測定することで、主反射光と副反射光が混ざった状態でも良好に測定が可能である。また、レンズ度数を測定するためには凹面と凸面の反射が必要であるため、主反射光と副反射光の混ざった波面を測定することでレンズ度数を測定することが可能である。また、同時にプリズムの測定も行うことが可能である。理想的な波面と測定される実波面とのズレは波面収差として認識され、一般にはこの波面収差を評価対象とする。
【００１３】
本発明ではセミフィニッシュトブランクは凸面側に累進屈折面が形成され、作製されるレンズが外面累進屈折力レンズに適用する場合に特に有利である。凸面側が球面又は非球面ではなく累進屈折面である場合には凸面が球面又は非球面の場合に比べて複雑となり一様な形状ではないため、一旦装着した被覆部材を再度装着しても同じような装着状態とはなりにくい。そのため、被覆部材を取り外すことなく加工条件をチェックできる意義は大きい。
【００１４】
上記のように本発明では被覆部材を取り外すことがないため、加工後において予定した加工条件で加工されているかどうかをチェックするだけではなく、加工前、あるいは加工途中においても適宜チェックが可能である。加工途中では予定の厚さとなる前に一旦加工を中止し、チェックをするようにすれば、補正が必要な場合でも必要ではない場合でもその段階で予定の厚さになるまで加工をすることで、ちょうど予定の厚さの装用者の処方のレンズを得ることが可能である。
【発明の効果】
【００１５】
上記各請求項の発明では、セミフィニッシュトブランクの表裏いずれか一方の面側を加工してレンズを作製する際に、セミフィニッシュトブランクのいずれか他方側に装着された被覆部材を一旦取り外さなくとも反射光の測定値に基づいて所定の光学特性の値を算出することが可能であるため、その算出値に基づいて加工条件に対応した光学特性が得られているかどうかをチェックすることが可能となる。その結果、作業効率が向上し、レンズの良品率も向上することとなる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の実施の形態を説明するセミフィニッシュトブランクにアロイによってブロックピースが固着されている状態を説明する説明図。
【図２】（ａ）はブロックピースの一部断面図、（ｂ）は底面側からの斜視図。
【図３】セミフィニッシュトブランクへのブロックピースの装着工程を説明する図であって（ａ）は各部材の配置状態を説明する分解図、（ｂ）は各部材を配置し終わってアロイを導入する直前の状態を説明する説明図。
【図４】（ａ）及び（ｂ）はブロックピースが固着されているセミフィニッシュトブランクの光学特性の測定方法を説明する説明図。
【図５】図４において測定装置からの照射光の光跡を説明する説明図。
【図６】実施の形態２において（ａ）は凸面側の反射光を取得する際のセミフィニッシュトブランクの側面方向の説明図、（ｂ）は凹面側の反射光を取得する際のセミフィニッシュトブランクの平面方向の説明図。
【図７】実施の形態２において凹面のカーブの測定方法を説明する説明図。
【図８】実施の形態２において凸面のカーブの測定方法を説明する説明図。
【図９】実施の形態３において光源からの光がセミフィニッシュトブランクの凸面と凹面に反射して測定装置に取得される状態を説明する説明図。
【図１０】実施の形態４においてセミフィニッシュトブランクの凹面側に波面測定装置を配置した状態を説明する説明図。
【図１１】実施の形態４における電気的構成を説明するブロック図。
【図１２】波面収差を個々の収差成分で示したカラーコードマップ図。
【図１３】波面収差において高次収差を３次元化して説明する説明図。
【図１４】波面収差において高次収差の３次元化して説明する説明図。
【図１５】実施の形態５においてセミフィニッシュトブランクの凹面側に度数分布測定装置を配置した状態を説明する説明図。
【図１６】実施の形態５における電気的構成を説明するブロック図。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、本発明のセミフィニッシュトブランクの加工条件の測定方法及び加工方法を具体化した実施の形態を図面に基づいて説明する。
（実施の形態１）
図１はセミフィニッシュトブランク（以下、ブランクとする）１１の凸面側に固定手段としてのアロイ１２を用いて連結部材としてのブロックピース１３を装着した状態である。ブランク１１は平面形状円形に構成されたプラスチック製の透明体であって、外観上厚みの大きいメニスカス形状のレンズ状を呈する。ブランク１１の直径は本実施の形態１では７０ｍｍとされている。ブランク１１の凸面（表面）は球面、非球面あるいは累進屈折面とされ切削加工は施されず、凹面（裏面）は被加工面とされる。凹面は特に特定のカーブを意図するものではないため、ここでは適当なカーブの球面とされている。
ブランク１１の凸面側には透明フィルムに金属酸化物を蒸着させた反射膜１４が貼着されている。反射膜１４は直径１５ｍｍの円形形状の薄膜体であって、その中心とブランク１１の幾何中心０が一致されている。反射膜１４を覆うようにアロイ１２が配設され、アロイ１２の中央位置にブロックピース１３が溶着されている。アロイ１２が固化した状態では凹面側からブランク１１の幾何中心０を含む半径１５ｍｍの領域にアロイ１２を背景として反射膜１４の蒸着面側が目視されることとなる。測定精度を高めるためには反射膜１４は蒸着面側がブランク１１側を向くように貼着させることが好ましい。
また、ブランク１１の凹面側には誘電体多層膜を透明フィルムに蒸着させた反射防止膜１５が貼着されている。反射防止膜１５は直径１５ｍｍの円形形状の薄膜体であって、その中心とブランク１１の幾何中心０が一致されている。同様に測定精度を高めるためには反射防止膜１５は誘電体多層膜側が外方（つまり照射側）に向いて貼着させることが好ましい。
【００１８】
ブロックピース１３は図２（ａ）及び（ｂ）に示すように中央に上下に連通する連通孔１６が形成された円形リング状の本体１７と、本体１７と一体的に形成され軸方向に延出するテーパ状の挿入部１８から構成されている。挿入部１８には１８０度対向する２か所に切り欠き１９が形成されている。
ブロックピース１３は次のように固着される。図３（ａ）及び（ｂ）に示すように、斜状に構成された設置面２１には凹部２２が形成されている。ブロックピース１３をこの凹部２２内に収納し、アロイ成形用のリングとしてブロックリング２３をこの凹部２２を包囲するように位置決めブロック２４に沿って配置する。ブロックリング２３にはアロイ１２を注入する注入口２５が形成されており、この注入口２５が斜面の最も上部位置となるように配置する。そして、ブロックピース１３の中心とブランク１１の幾何中心０とが一致するようにブランク１１をブロックリング２３上に載置する。本実施の形態ではブランク１１にはこの載置の前段階で既に上記反射膜１４と反射防止膜１５がそれぞれ凸面側と凹面側に貼着されている。この状態で注入口２５から溶融状態のアロイ１２を注入していく。ブランク１１とブロックリング２３とブロックピース１３によって包囲された内部空間にアロイ１２が充填され、最も高い位置にある注入口２４まで達した状態で静置して冷却・固化させることでアロイ１２によってブランク１１にブロックピース１３が固着されることとなる。
【００１９】
このようなブロックピース１３が固着されたブランク１１について、加工前、あるいは加工途中や加工後における任意の段階で本発明を適用してプリズム測定を行うものとする。本実施の形態１では図示しない加工装置にブロックピース１３を介してブランク１１を装着し、わずかに予定したレンズ厚に達する手前で一旦加工装置から取り外して、このブランク１１を測定するものとする。
本実施の形態１では図４（ａ）に示すような反射式測定装置２８を使用する。反射式測定装置２８は照射光をレンズの対向する面に反射させその反射光の入射光に対する角度のずれに基づいて測定して面のカーブ又は傾きを測定する測定装置である。反射式測定装置２８はある１つの面のみに照射光を反射させ、その反射光を測定することでその面のカーブ又は傾きを測定するものである。
図４（ａ）に示すように、ブランク１１を反射式測定装置２８の測定端子２９上に照射光が凹面と直交して入射するように配置する。本実施の形態１では測定位置はブランク１１の幾何中心０と一致させる。そして、ブランク１１を測定端子２９上に載置した状態で図４（ｂ）に示すように、クランプ３０によってブロックピース１３と測定端子２９を挟み、ブランク１１が動かないように固定して測定を実行する。
【００２０】
次にプリズム測定の理論について説明する。
プリズムは凹面に対する凸面の傾きで評価される。そのため、本実施の形態１では凹面の幾何中心０位置を水平面とみなし、幾何中心０における凸面の傾きをもってプリズム量が加工条件通りであるかどうかをチェックするものとする。そのため、反射式測定装置２８を使用してブランク１１の凸面の傾きを凹面側からの照射光によって測定する。
そのためには、ブランク１１内に入射される照射光を凹面で極力反射させずに入射させ、また、入射される照射光が最初に透過する界面である凹面に直交し屈折せずに凸面まで達することが必要である。本実施の形態１では反射防止膜１５によって凹面で反射されずに界面を透過してブランク１１内に入射した光線は凸面に沿って貼着された反射膜１４によって凸面の傾きに従って入射方向に対して所定の反射角をもって反射される。この反射光の角度を算出することでプリズムが測定できる。但し、その反射光は凹面から出射する際にスネルの法則に従って屈折するため、それを考慮して計算する必要がある。図５に示すように、凹面から出射した屈折光は屈折しないと想定した方向（破線の矢印）に対して素材屈折率に応じた所定の傾きとなる（尚、図５の反射角度は若干誇張して図示されている）。
【００２１】
上記のような構成の実施の形態１において実施した具体的な実施例について説明する。（１）レンズの条件
・外面累進屈折力レンズ（累進帯長１３ｍ、素材屈折率１．６、遠用度数０．００Ｄ、加入度２．００Ｄ）
・ダウンプリズムを０．８プリズムディオプター設定
（２）測定結果と補正
このような条件のブランク１１について測定した。上記のようにスネルの法則に従って凹面から出射した屈折光は得られた値は屈折しないと想定した方向に対して素材屈折率に対応した傾斜角度で傾く（ここでは素材屈折率１．６なので１．６倍）ため、ダウン方向に０．８×１．６＝１．２８プリズムディオプター（△）という測定結果を得れば、このブランク１１は所定のプリズムを得られているわけである。ところが、実際に測定した結果、ダウン１．１２△、イン０．３２△という測定結果を得た。
このブランク１１の実際の特性は１．６で除することで、ダウン方向０．７０△、イン０．２０△であることがわかる。つまり、ダウン方向に０．１０△足らず、イン方向に不要なプリズムが０．２０△が誤差としてあるわけである。
そのため、求める条件であるダウン方向０．８０△、イン０．００△とするために、改めてブランク１１を加工装置に装着し、装置の加工条件をダウン方向０．９０△、アウト０．２０△のレンズを作製するように設定して改めて予定の厚みまで加工して、求めるプリズム特性を得るようにする。
【００２２】
上記のような構成とすることで、実施の形態１では次のような効果が奏される。
（１）ブロックピース１３が固着されているため照射光を透過させることができないブランク１１について、ブロックピース１３を取り付けたままで凹面側から凸面側に向けて照射した光を凸面で反射させた反射光を使用してプリズム量を測定するようにしたため、加工前、あるいは加工途中や加工後における任意の段階で本発明を適用してプリズム測定を行うことができる。
（２）ブランク１１の凹面側に反射防止膜１５を貼着しているため入射する照射光が反射して測定の邪魔になることがない。また、凸面側には鏡面反射する反射膜１４を貼着しているため凸面に達した照射光が比較的減衰することなく、凸面形状に応じた正確な反射をすることとなる。
（３）照射光を最初に透過する界面である凹面に直交するように照射しているため、最初の界面である凹面の角度の影響を受けることなく、反射光のデータを入手できるため、計算が容易である。
【００２３】
（実施の形態２）
実施の形態２では上記と同じ反射式測定装置２８を使用してレンズ度数を測定する場合について説明する。図６（ａ）に示すように、測定対象となる加工途中のブランク１１は実施の形態１と同様に凸面側にアロイ１２によってブロックピース１３が固着されている。また実施の形態１と同様に凸面には反射膜１４が貼着され、凹面には反射防止膜１５が貼着されている。実施の形態２でも実施の形態１と同様に図示しない加工装置にブロックピース１３を介してブランク１１を装着し、わずかに予定したレンズ厚に達する手前で一旦加工装置から取り外して、このブランク１１を測定するものとする。そして実施の形態１と同様にブランク１１を反射式測定装置２８の測定端子２９上に配置し、クランプ３０によってブランク１１が動かないように固定して１回目の測定を実行する。
次いで、その測定が完了した後、一旦クランプ３０を解放し、ブランク１１を取り出し、図６（ｂ）に示すように、反射防止膜１５を剥がし、その位置に反射膜１４を貼着させる。この際に反射膜１４は蒸着面側がブランク１１側を向くように貼着させる。このように両面ともに反射膜１４が貼着されたブランク１１を上記同様に反射式測定装置２８の測定端子２９上に配置し、クランプ３０によってブランク１１が動かないように固定して２回目の測定を実行する。
【００２４】
次にレンズ度数測定の理論について説明する。
レンズ度数はレンズを透過する光線の収束あるいは発散する度合いであるので、レンズの表裏両方の面の状態がわからないと評価はできない。つまり、ここでは凸面と凹面の両方のレンズの状態を測定する必要がある。そのため、本実施の形態２では１回目の測定で凸面の反射光に基づいて凸面側のカーブの値を算出し、２回目の測定で凹面の反射光に基づいて凹面側のカーブの値を算出する。カーブの値を算出するためには単に傾きだけではなく少なくともある面上の２つの点の傾きからカーブを算出しなければならない。尚、凸面の反射光は実施の形態１と同様にスネルの法則に従って屈折するため、それを考慮して計算する必要がある。次いで得られた、凹面側のカーブと凸面側のカーブの値からレンズ度数を算出する。
具体的なカーブの測定方法の一例について説明する。乱視度数や累進面がある場合では複数の光線による複雑な計算が必要であるため、ここでは１本の光線で説明が可能な球面レンズを例にとって説明する。まず凹面側のカーブの計算について説明する。
図７に示すように、幾何中心からずれた位置において幾何中心を通る軸線と平行に凹面に１本の光線（測定光）を照射し、凹面で反射する反射光を測定する。ここに、幾何中心から照射位置との離間距離をＡとする。この値Ａは基本的な装置の設計値として既知の値である。今、凹面の曲率半径をＲ２とすると、測定装置は図７におけるθ２を測定することとなる。つまり、ｓｉｎθ２＝Ａ／Ｒ２の関係からＲ２を求めることができる。更に、実際の計算においては、特にレンズの厚さとＡに比較してレンズから測定部（センサ）までの距離と面の曲率半径が十分大きい場合にはｓｉｎθ２＝Ａ／Ｒ２をθ２＝Ａ／Ｒ２と近似させることも可能である。ここでは近似させて計算するものとする。尚、図７の反射角度は説明の都合上若干大きめに表現されている。
【００２５】
次に凸面側のカーブの計算について説明する。
図８に示すように、凹面での入射位置でまずスネルの法則に従って屈折する。ここで例えば素材屈折率１．６とすると、屈折角度は
α＝θ２−θ２／１．６・・・（１）
とされる。上記凹面側での計算でθ２は既知であるので、αが求まる。次いで、この光線が凸面で反射した場合について考える。図８に示すように、凸面反射位置と凹面射出位置に、それぞれ入射光線に平行な直線を補助線（図上では破線）Ｐ，Ｑとして描き入れる。
２つの平行な直線に対して１本の直線が斜めに交わるときにできる錯角は等しいので
α＋２β＝γ＋θ２・・・（２）
が成り立つ。ここにα＋βは凸面反射位置での法線Ｒ１と入射光線に平行な直線の間の角度であり、これをθ１とする。つまり、
α＋β＝θ１・・・（３）
幾何中心から照射位置との離間距離をＡは十分大きいと考えて、θ１＝Ａ／Ｒ１となる（θ１とＲ１は未知）。
さて、上記（２）より、γ＝α＋２β−θ２、上記（３）よりβ＝θ１−α なので、
γ＝α＋２（θ１−α）−θ２＝２θ１−θ２−α・・・（４−１）
が成り立つ。
更に、（１）よりα＝θ２−θ２／１．６ なので
γ＝２θ１−θ２−（θ２−θ２／１．６）＝２θ１−２θ２＋θ２／１．６・・・（４−２）
凹面の射出位置でスネルの法則を適用すると、射出光線の傾きは １．６γ＋θ２ であることがわかる。
（４−２）より、
１．６γ＋θ２＝１．６（２θ１−２θ２＋θ２／１．６）＋θ２＝３．２θ１−１．２θ２
つまり、測定装置によって「３．２θ１−１．２θ２」の値を得られるので、結果としてθ１、Ｒ１を求めることができることとなる。尚、図８の反射角度は説明の都合上若干大きめに表現されている。また、図８では作図の都合上法線Ｒ１，Ｒ２はレンズ近辺のみを図示している。
【００２６】
上記のような構成の実施の形態２において実施した具体的な実施例について説明する。（１）レンズの条件
・非球面力レンズ（素材屈折率１．６、Ｓ度数−１．００Ｄ、Ｃ度数０．００Ｄ）
凸面カーブを屈折率１．６換算で２カーブとする。曲率半径は（１．６−１）／２（ｍ-1）＝０．３ｍ＝３００ｍｍである。
凹面カーブを屈折率１．６換算で１カーブとする。曲率半径は（１．６−１）／１（ｍ-1）＝０．６ｍ＝６００ｍｍである。
従って、このレンズの度数は−１．００Ｄである。凹面カーブは、１．００カーブをねらって加工したところ、１．０３カーブになった。するとこのレンズの度数は−１．０３Ｄであることがわかる。
そのため、求める条件である−１．００Ｄとするために、改めてブランク１１を加工装置に装着し、装置の加工条件として０．９７カーブの凹面を加工するように設定して改めて予定の厚みまで加工して、求めるレンズ特性を得るようにする。
【００２７】
上記のような構成とすることで、実施の形態２では次のような効果が奏される。
（１）ブロックピース１３が固着されているため照射光を透過させることができないブランク１１について、ブロックピース１３を取り付けたままで凹面側から凸面側に向けて照射した光を凸面と凹面でそれぞれ反射させた反射光を使用してレンズ度数を測定するようにしたため、加工前、あるいは加工途中や加工後における任意の段階で本発明を適用してレンズ度数の測定を行うことができる。
（２）ブランク１１の凹面側に反射防止膜１５を貼着しているため入射する照射光が反射して測定の邪魔になることがない。また、凸面側には鏡面反射する反射膜１４を貼着しているため凸面に達した照射光が比較的減衰することなく、凸面形状に応じた正確な反射をすることとなる。
【００２８】
（実施の形態３）
実施の形態３では波面測定装置３１を使用してレンズ度数を測定する場合について説明する。実施の形態３では図９に示すような光学系を設定した。
実施の形態１と同じブランク１１の凸面側には実施の形態１及び２と同じ反射膜１４が蒸着面側がブランク１１側を向くように貼着されている。反射膜１４を覆うようにアロイ１２が配設され、アロイ１２の中央位置にブロックピース１３が溶着されている。本実施の形態３ではブランク１１の凹面が上面を向くようにブロックピース１３を水平な設置面３２上に載置する。凹面の上方位置にはハーフミラー３３を配置するとともに、ハーフミラー３３の上方位置には光源３５が設置されている。ハーフミラー３３の側方には波面測定装置３１が配設されている。
このような構成において、光源３５からブランク１１方向に照射された光はハーフミラー３３を透過してブランク１１に至る。そして、界面である凹面を透過して凸面に達し、反射してその反射光は再度凹面を透過し、ハーフミラー３３で反射されて波面測定装置３１方向に向かう。一方、光源３５からブランク１１方向に照射された光は一部が凹面で反射され更にハーフミラー３３で反射されて波面測定装置３１方向に向かう。つまり、波面測定装置３１には凸面と凹面の両方の面で反射された反射光の情報が取り込まれることとなる。波面測定装置３１は取り込まれた凸面と凹面の両方の成分を含んだ光に基づいて凸面と凹面のカーブを測定し、もってブランク１１のレンズ度数およびプリズムを測定する。
波面測定装置３１は取り込まれた凸面と凹面の両方の成分を含んだ光に基づいて凸面と凹面のカーブを測定し、もってブランク１１のレンズ度数およびプリズムを測定する。すなわち、凸面と凹面の両方の面で反射された２つの反射光の波面の傾きの差からプリズムを測定することが可能で、２つの反射光の波面の曲率の差から度数を測定することが可能となる。
上記のような構成とすることで、実施の形態３では次のような効果が奏される。
（１）ブロックピース１３が固着されているため照射光を透過させることができないブランク１１について、ブロックピース１３を取り付けたままで凹面側から凸面側に向けて照射した光を凸面と凹面でそれぞれ反射させた反射光を使用してレンズ度数を測定するようにしたため、加工前、あるいは加工途中や加工後における任意の段階で本発明を適用してレンズ度数の測定を行うことができる。
（２）波面測定装置３１を利用して凸面と凹面の両方の反射光のデータを入手できるため、レンズ度数だけでなくプリズム量も同時に測定することが可能である。
【００２９】
（実施の形態４）
実施の形態４では実施の形態３のより具体的な波面測定装置として波面センサーを使用した場合について説明する。実施の形態４では図１０のような光学系を設定した。
実施の形態１と同じブランク１１の凸面側には実施の形態１〜３と同じ反射膜１４が蒸着面側がブランク１１側を向くように貼着されている。反射膜１４を覆うようにアロイ１２が配設され、アロイ１２の中央位置にブロックピース１３が溶着されている。
実施の形態４では波面センサー４１がブランク１１の凹面側に配置されている。波面センサー４１は光源４２、プリズム４３、レンズアレイからなるハルトマンプレート４４及び撮像手段としてのＣＣＤカメラ４５を備えている。図１１に示すように、波面センサー４１は解析用コンピュータ４５に接続されて波面測定装置を構成する。解析用コンピュータ４５にはＣＰＵ（中央処理装置）からなる演算部４６と記憶手段としてのメモリ４７を備えている。メモリ４７内には各種プログラムや波面収差を解析する解析ソフトが記憶されている。演算部４６によって波面センサーから取得された波面収差が解析される。
解析用コンピュータ４５には出力手段としてのモニター４８と入力手段としてのキーボード４９が接続されている。尚、出力手段としてはモニター４８以外にプリンタや他の装置へデータを転送する出力手段等が挙げられる。また、入力手段としてはキーボード４９以外にバーコードのような２次元コードやＬＡＮ接続された他のコンピュータやデータ記憶装置等の他の装置から転送されたデータを入力する手段等が挙げられる。
【００３０】
このような構成において測定の際には、光源４２からプリズム４３方向に照射された複数の光線は反射面４３ａで９０度方向転換させられブランク１１方向に向かう。そして凹面を透過して凸面に達し、反射してその反射光は再度凹面を透過し、更にプリズム４３を透過してハルトマンプレート４４に達し、ＣＣＤカメラ４５で撮影される。ＣＤＤカメラ４５から取得した波面収差を解析することでブランク１１の評価が可能となる。特に、画像を解析することにより高次収差成分の計算が可能となるため、低次収差成分であるＳ度数やＣ度数（レンズ度数）及びプリズム量以外の収差を補正するために有効である。
ここで、波面測定の原理について説明する。
今、ハルトマンプレート４４上のある座標を（Ｘ，Ｙ）と置く。座標（Ｘ，Ｙ）がＣＣＤカメラ４５上において被験レンズ（ブランク１１）が無収差（理想的な波面）であると仮定した場合の集光点と、実際の到達点とのずれ量をΔｘ，Δｙとし、ハルトマンプレート４４とＣＣＤカメラ４５との距離をｆとすると、波面収差とずれ量をΔｘ，Δｙとは一般に以下の数式１及び数式２の偏微分方程式の関係が成り立つ。セミフィニッシュトレンズが理想的な平面レンズの場合、Δｘ及びΔｙの値は０となる。また一定の曲率半径を持つセミフィニッシュトレンズである場合は、前記曲率半径は既知である。そのため、レンズアレイ毎の集光点位置である理想的なΔｘ及びΔｙは、容易に計算が可能である。そのため、前記ΔｘとΔｙとのずれ量をＣＣＤカメラ４５から取得した画像より解析することにより波面収差成分の計算が可能となる。ずれ量Δｘ，Δｙはハルトマンプレート７を構成するレンズアレイの多数のマイクロレンズ毎に測定され、最終的に測点以外の部分は補間計算がされる。
【００３１】
【数１】
【００３２】
【数２】
【００３３】
波面収差成分はゼルニケ多項式を用いて各次数に収差を分解して評価し、各収差を補正することが可能である。ここにゼルニケ多項式とは光学分野でよく使われる数式であって、半径が１の単位円上の複素関数であり、極座標の引数（ｒ，θ）を有する。理論上は複素関数を用いるが実用的には実数関数として使用される。ゼルニケ多項式は、光学分野では主としてレンズの収差成分を解析するために使用されており、波面収差をゼルニケ多項式に分解することで収差成分を知ることが可能である。下記式において、Ｗ（Ｘ，Ｙ）は波面収差、Ｃｉ2j-iはゼルニケ多項式、Ｚｉ2j-iはゼルニケ係数を示す。
【００３４】
【数３】
【００３５】
ゼルニケ多項式は各項毎に異なるゼルニケ係数を伴う。このゼルニケ係数によって例えば図１２のような波面収差を個々の収差成分で示したカラーコードマップが得られる（実際はカラーであるが色の制限上から白黒で表示する）。カラーコードマップは１次次数において左方からＺ０１、Ｚ０２、２次次数において左方からＺ０３、Ｚ０４、Ｚ０５、３次次数において左方からＺ０６、Ｚ０７、Ｚ０８、Ｚ０９、４次次数において左方からＺ１０、Ｚ１１、Ｚ１２、Ｚ１３、Ｚ１４、・・・という順に配列されている。上記のようにここでは３次及び４次に含まれる項が測定用ターゲットの明瞭さに大きな影響がある収差部分となる。プリズム量、S度数及びC度数は１次や２次収差として現れ、その他のコマ収差、球面収差、あるいは局所的な変形などが３次以降の収差として現れる。
下記表１はレンズの高次の波面収差について収差のない理想的な場合（下段数値）と、ある収差が発生している場合（上段数値）の実測値である。ここでは３次と４次のＺ０６〜Ｚ１４の各項について取得した。５次以降の次数については収差量が非常に小さくなっているため、ここでは考慮に入れていない。図１３及び図１４はこの表１の値を用いて作成した高次収差の３次元図である。図１３は表１の下段の値に基づき、図１４は上段の値に基づく。３次元図が図１３のような平面状に表現される場合は波面収差がない状態であり、一方図１４のような凹凸がある３次元図である場合にはそのレンズは高次収差を有しているということである。高次収差の原因としてはあまり精度のよくない加工機（ＮＣ旋盤装置）によって凹面を切削加工した場合や、ブランク１１を成形する際のモールドの精度がよくない場合、若しくはブランク自体に形状誤差を持つ場合が考えられる。
ブランク１１が高次収差を有している場合には、ブランク１１の再加工を実施し、図１３に示すような収差のない（あるいは少ない）ブランク１１を製作するように加工補正を行う必要がある。解析用コンピュータ４５によって解析した結果、３次以上の高次の収差成分がある場合にこのような波面収差を補正するような加工データ、つまり一定の曲率を持つセミフィニッシュレンズである場合は、図１０にて示すレンズアレイ毎の集光点位置が理想的なΔx及びΔyになるように解析用コンピュータ４５によって設計し、その新たな加工データに基づいて図示しないＮＣ旋盤装置にブロックピース１３を介してブランク１１を装着し再加工させるようにする。実施の形態１と同様にわずかに予定したレンズ厚に達する手前で一旦加工装置から取り外し予定の厚みまで加工するようにする。
【００３６】
【表１】
【００３７】
このような構成とすることによって、実施の形態４では実施の形態３の効果に加えて、次のような効果が奏される。
（１）高次（３次以上）の波面収差に由来する変形が残存している場合に、それを判定して補正することができるため、より装用感のよいレンズ（ブランク１１）を提供することができる。
（２）従来の評価では判断できないようなレンズの局所的な変形なども客観的な収差成分として評価することができるため、この点でもより装用感のよいレンズ（ブランク１１）を提供することができる。
【００３８】
（実施の形態５）
実施の形態５ではレンズ（ブランク１１）の広範囲に渡って多数の光線を照射させ、その反射光を測定する場合について説明する。
図１５に示すように、実施の形態１と同じブランク１１の凸面側には実施の形態１〜４と同じ反射膜１４が蒸着面側がブランク１１側を向くように貼着されている。反射膜１４を覆うようにアロイ１２が配設され、アロイ１２の中央位置にブロックピース１３が溶着されている。実施の形態５では度数分布測定装置（レンズマッパー）５１がブランク１１の凹面側に配置されている。レンズマッパー５１は図１５に示すように光源５２、プリズム５３、ビームスプリッタ５４、スクリーン５５及び撮像手段としてのＣＣＤカメラ５６を備えている。
このような構成において測定の際には、光源５２からプリズム５３方向に照射された光線は反射面５３ａで９０度方向転換させられブランク１１方向に向かう。そして凹面を透過して凸面に達し、反射してその反射光は再度凹面を透過し、更にプリズム５３を透過してビームスプリッタ５４に達する。ビームスプリッタ５４には整然と等間隔に縦横に配置された多数の透孔が形成され、透孔を通過した光線（光束）はスクリーン５５上に投影される。この投影された光点がマッピングポイントとされる。ＣＣＤカメラ５６はスクリーン１２上に投影されたマッピングポイントの映像を取り込む。
図１６に示すように、レンズマッパー５１は解析用コンピュータ５７に接続されている。解析用コンピュータ５７はＣＣＤカメラ５６によって取り込まれた光線に対応する透孔との位置変位に基づいてすべてのマッピングポイントに対して屈折力を算出する。つまり、レンズ上にマッピングされたすべての位置について被験レンズ５の屈折力データ（Ｓ度数データ、Ｃ度数データ、乱視軸データ、プリズム量データ）を得ることができる。解析用コンピュータ５７内部には記憶手段としてのメモリ５８が配設され屈折力データを記憶する。
図１６に示すように、解析用コンピュータ５７は評価用コンピュータ５８に接続されている。評価用コンピュータ５８は解析用コンピュータ５７から入手した光学特性データに基づいてブランク１１の評価計算を行う。
【００３９】
このような構成とすることで、ブランク１１の広範囲に渡って屈折力データを得ることができるため、より広い範囲、例えばレンズ全面についてマッピングポイントのデータを使用してレンズ度数を測定することや上記実施の形態１や２のようにプリズムやカーブを測定することが可能となる。
【００４０】
尚、この発明は、次のように変更して具体化することも可能である。
・上記各実施の形態においては、凹面を平面として計算したが、これは１本の測定光線が入射・射出する位置がレンズの中心に近い領域であると想定したからであり、レンズの中心から離れた１本または複数の測定光線やある面積の光束を使用してレンズ度数を算出する際には凹面のカーブを考慮して計算してもよい。
・被覆部材として上記ではブロックピース１３を一例として挙げたが、その他の被覆部材を想定することも可能である。
・反射膜１４や反射防止膜１５の素材は上記に限定されるものではない。上記のようなテープ状の膜体を貼着する以外に蒸着やスパッタリング等でミラーコートをするように形成させる膜でもよい。
・実施の形態３〜５で反射防止膜１５をブランク１１の凹面に貼着するようにしてもよい。
・実施の形態５においてレンズマッパー５１ではなく干渉計を使用して広範囲の光学特性を取得するようにしてもよい。
・上記実施の形態ではいずれも切削面を凹面とした場合を挙げたが、ブロックピース１３を凹面に固着して凸面側を切削する(加工面とする）ことも可能である。
・上記ではブランク１１の凹面が所定の度数やプリズム等が設定されたレンズ面であり、これをチェックして必要な場合に補正をする、という実施の形態であったが、凹面がまだ度数等が未設定な段階であっても適用することが可能である。
・その他、本発明の趣旨を逸脱しない態様で実施することは自由である。
【符号の説明】
【００４１】
１１…セミフィニッシュトブランク、１２…被覆部材としてのアロイ、１３…被覆部材としてのブロックピース。
【技術分野】
【０００１】
本発明はセミフィニッシュトブランクの表裏いずれかの面を加工してレンズを作製する際の処方に応じた加工条件で加工されているかどうかを測定するための測定方法及び測定結果に基づいて加工する加工方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
装用者の処方に応じたプラスチックレンズを加工する場合においては、ごく一般的な処方パターンであれば処方に応じた形状のガラス型枠を使用して前もってレンズを成形し、常備品として確保しておいて適宜提供するようにするのが一般的である。しかし、装用者の細かい処方に応じたり特殊な処方が必要である場合にはそれら処方に応じたレンズを個々に作製しなければならない。そのような場合にはセミフィニッシュトブランクを用意し、この凹面側あるいは凸面側のいずれかを加工して半オーダーメード的にレンズを作製するようにしている。セミフィニッシュトブランクは常備品と同様にガラス型枠で前もって成形するレンズの前駆体であり、一般に加工装置で凹面側あるいは凸面側のいずれかを加工する。このようなセミフィニッシュトブランクを加工して半オーダーメード的にレンズを作製する先行技術として一例として特許文献１を示す。
【０００３】
凹面側が加工面であるセミフィニッシュトブランクを加工する場合には切削工具あるいは研削工具方向に加工すべき凹面側を向くように加工装置にセミフィニッシュトブランクを固定しなければならない。そのためセミフィニッシュトブランクの凸面側に加工装置に固定させるための連結部材としてのブロックピースを装着する必要がある。ブロックピースは加工装置に装着してセミフィニッシュトブランクを所定位置に固定させる一種のコネクタである。この際、ブロックピースはレンズを傷つけず、なおかつ凸面上にしっかりと取り付けられなくてはいけない。そのための固定手段として一般に低融点のアロイ（合金）や熱可塑性樹脂、あるいはワックス等を介してブロックピースはセミフィニッシュトブランクに固定される。このような固定手段を一般にブロッキングと称している。ブロッキングされたセミフィニッシュトブランクにブロックピースがブロッキングされた状態を説明する先行技術の一例として特許文献２を挙げる。また、セミフィニッシュトブランクの周囲を所定間隔で一種のクランプで把持し、クランプにブロックピースを配設することも可能である。このような固定手段を一般にチャッキングと称している。
セミフィニッシュトブランクをブロッキング又はチャッキングし、加工が完了すると完成したレンズが所定の加工条件を充足しているかどうかをチェックしなければならない。例えばプリズムやレンズ度数等の光学特性を測定装置によって測定し、加工条件に対応した光学特性が得られているかどうかをチェックするわけである。この場合において、光学特性はレンズを透過する光線の屈折量に基づいて測定されるため、一旦測定の邪魔となるブロッキング又はチャッキングに係る部品を取り外してレンズ単独の状態で測定する必要があった。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平１０−１７５１４９号公報
【特許文献２】特開２００４−２０２６７９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところが、測定した結果予定した加工条件とならず、もう少し切削して修正しなければならないような場合がある。その場合には再度ブロッキング又はチャッキングを行って当該レンズを加工装置に固定する必要があるわけであるが、ブロッキングする場合には上記のように再びレンズの凸面をアロイや樹脂で覆うので、その熱の影響で凸面のカーブが微妙に変わってしまう。つまり、レンズが微妙に変形してしまっており当初とは異なる条件でブロックピースを連結することとなり、修正量が正しく再度の加工に反映されないという課題が生じていた。また、一旦ブロッキングを行った後で、これを解除し再度行った場合にはブロックピースを連結する位置と傾きに微妙な誤差が生じるため、やはり当初とは異なる条件でブロックピースを連結することとなる。これはレンズ縁を把持するチャッキングにおいても同様に生じるもので、把持する位置や強さの微妙な違いによってレンズの変形量が当初とは変わってしまう。このようなことから一旦ブロッキング又はチャッキングに係る部品を取り外してしまうと、加工条件を処方値となるように加工することが困難となっていた。特に凸面側に累進面をもつ外面累進屈折力レンズにおいてはレンズ面が一様ではないためブロックピースと凸面のあたり具合が一定ではなく当初と同じ状態で固定することが非常に難しいため、現実的には修正することは困難であった。
また、セミフィニッシュトブランクを加工装置に固定するためのブロッキングやチャッキングという手段以外にもセミフィニッシュトブランク（レンズ）の移送・運搬の必要のために一方の面側を覆うように把持する場合もあり、そのような場合にも上記と同様の課題が生じる。
本発明は、このような課題に着目してなされたものである。その目的とするところは、表裏いずれか一方の面に被覆部材が装着されたセミフィニッシュトブランクにおいて、被覆部材を取り外さなくとも所定の光学特性の値を算出でき、その算出結果に基づいて加工条件を充足しているかどうかをチェックすることが可能なセミフィニッシュトブランクの測定方法及び加工方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記の目的を達成するために請求項１に記載の発明では、凸面と凹面の表裏面を有するセミフィニッシュトブランクであって、その表裏いずれか一方の第１の面に同第１の面を覆う被覆部材が装着された前記セミフィニッシュトブランクに対して前記被覆部材が装着されていない第２の面側から前記第１の面側に向けて光を照射し前記第２の面側で取得した反射光の測定値に基づいて所定の光学特性の値を算出することをその要旨とする。
また、請求項２の発明では請求項１に記載の発明の構成に加え、前記所定の光学特性とはプリズムであることをその要旨とする。
また、請求項３の発明では請求項１に記載の発明の構成に加え、前記所定の光学特性とはレンズ度数であることをその要旨とする。
また、請求項４の発明では請求項１〜３のいずれかに記載の発明の構成に加え、前記セミフィニッシュトブランクの前記第２の面上には照射光の前記第２の面での反射を防止する反射防止膜が形成されていることをその要旨とする。
また、請求項５の発明では請求項３に記載の発明の構成に加え、前記第２の面に反射膜を形成させて、前記第２の面に対して光を照射し前記第２の面から取得した反射光に基づいて前記第２の面の第１のカーブの値を算出する一方、前記第２の面に反射膜のない状態で前記第２の面に対して光を照射し前記第１の面から取得した反射光に基づいて前記第１の面の第２のカーブの値を算出し、前記第１及び第２のカーブの値に基づいて前記レンズ度数を算出するようにしたことをその要旨とする。
また、請求項６の発明では請求項５に記載の発明の構成に加え、前記第１の面の第２のカーブの値を算出する際には前記セミフィニッシュトブランクの前記第２の面上には照射光の前記第２の面での反射を防止する反射防止膜を形成することをその要旨とする。
【０００７】
また、請求項７の発明では請求項１〜６のいずれかに記載の発明の構成に加え、前記セミフィニッシュトブランクの前記第１の面上には照射光を鏡面反射させるための前記第１の面の形状に沿った反射手段が形成されていることをその要旨とする。
また、請求項８の発明では請求項１〜７のいずれかに記載の発明の構成に加え、前記被覆部材とは加工装置に連結するために固定手段によって連結部材を前記第１の面の中央領域を覆うように固定された連結部材であることをその要旨とする。
また、請求項９の発明では請求項８に記載の発明の構成に加え、前記連結部材は前記セミフィニッシュトブランクの前記凸面側に装着されていることをその要旨とする。
また、請求項１０の発明では請求項１〜９のいずれかに記載の発明の構成に加え、レンズの広範囲に渡って第２の面側から複数の光線を照射させ、各光線ごとに反射光を取得してその測定値に基づいて所定の光学特性の値を算出することをその要旨とする。
また、請求項１１の発明では請求項１〜１０のいずれかに記載の発明の構成に加え、前記反射光の測定において波面を測定し、その測定結果に基づいて前記所定の光学特性を算出することをその要旨とする。
【０００８】
また、請求項１２の発明では請求項１〜１１のいずれかの測定方法において算出された所定の光学特性の値に基づいて前記第２の面側を加工するようにしたことをその要旨とする。
また、請求項１３の発明では請求項１〜１１のいずれかの測定方法において算出された所定の光学特性の値をチェックして加工条件に応じた必要な補正を加えるようにしたことをその要旨とする。
また、請求項１４の発明では請求項１２又は１３の測定方法において、前記セミフィニッシュトブランクは前記凸面側に累進屈折面が形成され、作製されるレンズは外面累進屈折力レンズであることをその要旨とする。
また、請求項１５の発明では請求項１２〜１４のいずれかの測定方法において、前記反射光の測定は前記セミフィニッシュトブランクの前記凹面側を加工した後に行うことをその要旨とする。
また、請求項１６の発明では請求項１２〜１５のいずれかの測定方法において、前記凹面側の加工を予定の厚さとなる前に一旦中止し、その段階で前記連結部材が装着された状態の前記セミフィニッシュトブランクに対して前記凹面側から前記凸面側に向けて光を照射し前記凹面側で取得した反射光の測定値に基づいて所定の光学特性を算出し、その算出結果をチェックして加工条件に応じた必要な補正を加えて再度加工するようにしたことをその要旨とする。
【０００９】
このような構成では、第１の面を覆う被覆部材が装着された状態のセミフィニッシュトブランクに対して凹面側を加工する際に、加工前、あるいは加工途中や加工後における任意の段階で第２の面側から第１の面側に向けて光を照射する。そして、第２の面側で取得した反射光を測定し所定の光学特性の値を算出する。更に、光学特性の算出された値をチェックして加工条件に応じた必要な補正を加えることが可能である。
反射光はセミフィニッシュトブランクを第２の面→第１の面→第２の面という経路で第２の面側に反射する光線（以下、主反射光とする）と、セミフィニッシュトブランク内に透過せず第２の面で反射する光線（以下、副反射光とする）の両方の成分を含む。本発明では本来第２の面→第１の面という２つの界面を透過する光線を測定して分析するところを、その代わりに第２の面→第１の面→第２の面という経路で３つの界面を透過する主反射光を照射側で測定し所定の光学特性の値を算出するものであり、算出された値に基づいて第２の面側を加工することが可能である。また、その所定の光学特性の値をチェックして加工条件に応じた必要な補正を加えることも可能である。主反射光のみを測定しても副反射光を含んだ状態の光を測定してもよいが、主反射光のみを測定する場合にはなるべく副反射光が発生しないことが好ましい。
光線の種類としては単純にプリズムを測定する場合では、１本の光線でもよいが、複数の本数であればより複雑な測定が可能である。例えば、乱視度数を測定する場合には少なくとも４本が必要である。更に面に対してリング状に交叉する光線、つまり円筒状に照射される光線であればより、高精度の測定が可能であり、更に面に対して円形に交叉する領域すべてを埋め尽くすような光束であれば更に測定精度は向上する。
更にレンズの広範囲に渡って第２の面側から複数の光線を照射させ、各光線ごとに反射光を取得してその測定値に基づいて所定の光学特性の値を算出するようにしてもよい。
測定する所定の光学特性としては、代表的なものとしてプリズムとレンズ度数が挙げられる。
【００１０】
セミフィニッシュトブランクの第１の面上には照射光を反射させるための第１の面の形状に沿った反射手段が形成されていることが好ましい。できれば鏡面化することが正確な第１の面の形状を把握し、反射率を大きくするために好ましい。反射手段としては第１の面に接する固定手段としてのアロイを滑面としたり、反射膜を貼着したりすることが考えられる。
セミフィニッシュトブランクの第２の面上には照射光の凹面での反射を防止する反射防止膜が貼着されていることが好ましい。これによって第２の面上で光を反射させず、高い透過率でセミフィニッシュトブランク内に光を入射させることができる。これは特に副反射光を必要としない場合には有効である。一般に反射防止膜は透明フィルムに膜体を形成させこれを貼着することが考えられるが、その場合に膜側を外方（つまり照射側）に向けて配置して貼着させる必要がある。また、透明フィルムの屈折率はセミフィニッシュトブランクの基材屈折率と同じあるいは近いことが望ましい。
【００１１】
セミフィニッシュトブランクの第２の面に反射膜を形成させて、第２の面に対して光を照射しその第２の面から取得した反射光に基づいて第２の面の第１のカーブの値を算出する一方、第２の面に反射膜のない状態で前記第２の面に対して光を照射し前記第１の面から取得した反射光に基づいて第１の面の第２のカーブの値を算出し、それら第１及び第２のカーブの値に基づいてレンズ度数を算出することが考えられる。つまり、第２の面の第１のカーブの値と第１の面の第２のカーブの値をそれぞれ別個に取得し、その値に基づいてレンズ度数を算出するわけである。ここでは、第１の面の第２のカーブの値を取得するためには少なくとも第２の面に反射膜のない状態での測定が必要である。その場合に更に高効率で第１の面方向に射出光を透過させるためには第２の面上に照射光の第２の面での反射を防止する反射防止膜を形成することが好ましい。
【００１２】
被覆部材としては、加工装置に連結するために固定手段によって連結部材を前記第１又は第２のいずれかの面の中央領域を覆うように固定された連結部材であってもよい。固定手段としては例えば上記ブロッキング又はチャッキングが考えられるが、連結部材をセミフィニッシュトブランクの凸面側に固定できるのであれば、特に限定されるものではない。一般的なセミフィニッシュトブランクでは連結部材は凸面側に装着されているが多く、その場合には凸面側が第１の面とされる。
反射光の測定において波面を測定し、その測定結果に基づいて前記所定の光学特性を算出するものであってもよい。波面を測定することで、主反射光と副反射光が混ざった状態でも良好に測定が可能である。また、レンズ度数を測定するためには凹面と凸面の反射が必要であるため、主反射光と副反射光の混ざった波面を測定することでレンズ度数を測定することが可能である。また、同時にプリズムの測定も行うことが可能である。理想的な波面と測定される実波面とのズレは波面収差として認識され、一般にはこの波面収差を評価対象とする。
【００１３】
本発明ではセミフィニッシュトブランクは凸面側に累進屈折面が形成され、作製されるレンズが外面累進屈折力レンズに適用する場合に特に有利である。凸面側が球面又は非球面ではなく累進屈折面である場合には凸面が球面又は非球面の場合に比べて複雑となり一様な形状ではないため、一旦装着した被覆部材を再度装着しても同じような装着状態とはなりにくい。そのため、被覆部材を取り外すことなく加工条件をチェックできる意義は大きい。
【００１４】
上記のように本発明では被覆部材を取り外すことがないため、加工後において予定した加工条件で加工されているかどうかをチェックするだけではなく、加工前、あるいは加工途中においても適宜チェックが可能である。加工途中では予定の厚さとなる前に一旦加工を中止し、チェックをするようにすれば、補正が必要な場合でも必要ではない場合でもその段階で予定の厚さになるまで加工をすることで、ちょうど予定の厚さの装用者の処方のレンズを得ることが可能である。
【発明の効果】
【００１５】
上記各請求項の発明では、セミフィニッシュトブランクの表裏いずれか一方の面側を加工してレンズを作製する際に、セミフィニッシュトブランクのいずれか他方側に装着された被覆部材を一旦取り外さなくとも反射光の測定値に基づいて所定の光学特性の値を算出することが可能であるため、その算出値に基づいて加工条件に対応した光学特性が得られているかどうかをチェックすることが可能となる。その結果、作業効率が向上し、レンズの良品率も向上することとなる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の実施の形態を説明するセミフィニッシュトブランクにアロイによってブロックピースが固着されている状態を説明する説明図。
【図２】（ａ）はブロックピースの一部断面図、（ｂ）は底面側からの斜視図。
【図３】セミフィニッシュトブランクへのブロックピースの装着工程を説明する図であって（ａ）は各部材の配置状態を説明する分解図、（ｂ）は各部材を配置し終わってアロイを導入する直前の状態を説明する説明図。
【図４】（ａ）及び（ｂ）はブロックピースが固着されているセミフィニッシュトブランクの光学特性の測定方法を説明する説明図。
【図５】図４において測定装置からの照射光の光跡を説明する説明図。
【図６】実施の形態２において（ａ）は凸面側の反射光を取得する際のセミフィニッシュトブランクの側面方向の説明図、（ｂ）は凹面側の反射光を取得する際のセミフィニッシュトブランクの平面方向の説明図。
【図７】実施の形態２において凹面のカーブの測定方法を説明する説明図。
【図８】実施の形態２において凸面のカーブの測定方法を説明する説明図。
【図９】実施の形態３において光源からの光がセミフィニッシュトブランクの凸面と凹面に反射して測定装置に取得される状態を説明する説明図。
【図１０】実施の形態４においてセミフィニッシュトブランクの凹面側に波面測定装置を配置した状態を説明する説明図。
【図１１】実施の形態４における電気的構成を説明するブロック図。
【図１２】波面収差を個々の収差成分で示したカラーコードマップ図。
【図１３】波面収差において高次収差を３次元化して説明する説明図。
【図１４】波面収差において高次収差の３次元化して説明する説明図。
【図１５】実施の形態５においてセミフィニッシュトブランクの凹面側に度数分布測定装置を配置した状態を説明する説明図。
【図１６】実施の形態５における電気的構成を説明するブロック図。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、本発明のセミフィニッシュトブランクの加工条件の測定方法及び加工方法を具体化した実施の形態を図面に基づいて説明する。
（実施の形態１）
図１はセミフィニッシュトブランク（以下、ブランクとする）１１の凸面側に固定手段としてのアロイ１２を用いて連結部材としてのブロックピース１３を装着した状態である。ブランク１１は平面形状円形に構成されたプラスチック製の透明体であって、外観上厚みの大きいメニスカス形状のレンズ状を呈する。ブランク１１の直径は本実施の形態１では７０ｍｍとされている。ブランク１１の凸面（表面）は球面、非球面あるいは累進屈折面とされ切削加工は施されず、凹面（裏面）は被加工面とされる。凹面は特に特定のカーブを意図するものではないため、ここでは適当なカーブの球面とされている。
ブランク１１の凸面側には透明フィルムに金属酸化物を蒸着させた反射膜１４が貼着されている。反射膜１４は直径１５ｍｍの円形形状の薄膜体であって、その中心とブランク１１の幾何中心０が一致されている。反射膜１４を覆うようにアロイ１２が配設され、アロイ１２の中央位置にブロックピース１３が溶着されている。アロイ１２が固化した状態では凹面側からブランク１１の幾何中心０を含む半径１５ｍｍの領域にアロイ１２を背景として反射膜１４の蒸着面側が目視されることとなる。測定精度を高めるためには反射膜１４は蒸着面側がブランク１１側を向くように貼着させることが好ましい。
また、ブランク１１の凹面側には誘電体多層膜を透明フィルムに蒸着させた反射防止膜１５が貼着されている。反射防止膜１５は直径１５ｍｍの円形形状の薄膜体であって、その中心とブランク１１の幾何中心０が一致されている。同様に測定精度を高めるためには反射防止膜１５は誘電体多層膜側が外方（つまり照射側）に向いて貼着させることが好ましい。
【００１８】
ブロックピース１３は図２（ａ）及び（ｂ）に示すように中央に上下に連通する連通孔１６が形成された円形リング状の本体１７と、本体１７と一体的に形成され軸方向に延出するテーパ状の挿入部１８から構成されている。挿入部１８には１８０度対向する２か所に切り欠き１９が形成されている。
ブロックピース１３は次のように固着される。図３（ａ）及び（ｂ）に示すように、斜状に構成された設置面２１には凹部２２が形成されている。ブロックピース１３をこの凹部２２内に収納し、アロイ成形用のリングとしてブロックリング２３をこの凹部２２を包囲するように位置決めブロック２４に沿って配置する。ブロックリング２３にはアロイ１２を注入する注入口２５が形成されており、この注入口２５が斜面の最も上部位置となるように配置する。そして、ブロックピース１３の中心とブランク１１の幾何中心０とが一致するようにブランク１１をブロックリング２３上に載置する。本実施の形態ではブランク１１にはこの載置の前段階で既に上記反射膜１４と反射防止膜１５がそれぞれ凸面側と凹面側に貼着されている。この状態で注入口２５から溶融状態のアロイ１２を注入していく。ブランク１１とブロックリング２３とブロックピース１３によって包囲された内部空間にアロイ１２が充填され、最も高い位置にある注入口２４まで達した状態で静置して冷却・固化させることでアロイ１２によってブランク１１にブロックピース１３が固着されることとなる。
【００１９】
このようなブロックピース１３が固着されたブランク１１について、加工前、あるいは加工途中や加工後における任意の段階で本発明を適用してプリズム測定を行うものとする。本実施の形態１では図示しない加工装置にブロックピース１３を介してブランク１１を装着し、わずかに予定したレンズ厚に達する手前で一旦加工装置から取り外して、このブランク１１を測定するものとする。
本実施の形態１では図４（ａ）に示すような反射式測定装置２８を使用する。反射式測定装置２８は照射光をレンズの対向する面に反射させその反射光の入射光に対する角度のずれに基づいて測定して面のカーブ又は傾きを測定する測定装置である。反射式測定装置２８はある１つの面のみに照射光を反射させ、その反射光を測定することでその面のカーブ又は傾きを測定するものである。
図４（ａ）に示すように、ブランク１１を反射式測定装置２８の測定端子２９上に照射光が凹面と直交して入射するように配置する。本実施の形態１では測定位置はブランク１１の幾何中心０と一致させる。そして、ブランク１１を測定端子２９上に載置した状態で図４（ｂ）に示すように、クランプ３０によってブロックピース１３と測定端子２９を挟み、ブランク１１が動かないように固定して測定を実行する。
【００２０】
次にプリズム測定の理論について説明する。
プリズムは凹面に対する凸面の傾きで評価される。そのため、本実施の形態１では凹面の幾何中心０位置を水平面とみなし、幾何中心０における凸面の傾きをもってプリズム量が加工条件通りであるかどうかをチェックするものとする。そのため、反射式測定装置２８を使用してブランク１１の凸面の傾きを凹面側からの照射光によって測定する。
そのためには、ブランク１１内に入射される照射光を凹面で極力反射させずに入射させ、また、入射される照射光が最初に透過する界面である凹面に直交し屈折せずに凸面まで達することが必要である。本実施の形態１では反射防止膜１５によって凹面で反射されずに界面を透過してブランク１１内に入射した光線は凸面に沿って貼着された反射膜１４によって凸面の傾きに従って入射方向に対して所定の反射角をもって反射される。この反射光の角度を算出することでプリズムが測定できる。但し、その反射光は凹面から出射する際にスネルの法則に従って屈折するため、それを考慮して計算する必要がある。図５に示すように、凹面から出射した屈折光は屈折しないと想定した方向（破線の矢印）に対して素材屈折率に応じた所定の傾きとなる（尚、図５の反射角度は若干誇張して図示されている）。
【００２１】
上記のような構成の実施の形態１において実施した具体的な実施例について説明する。（１）レンズの条件
・外面累進屈折力レンズ（累進帯長１３ｍ、素材屈折率１．６、遠用度数０．００Ｄ、加入度２．００Ｄ）
・ダウンプリズムを０．８プリズムディオプター設定
（２）測定結果と補正
このような条件のブランク１１について測定した。上記のようにスネルの法則に従って凹面から出射した屈折光は得られた値は屈折しないと想定した方向に対して素材屈折率に対応した傾斜角度で傾く（ここでは素材屈折率１．６なので１．６倍）ため、ダウン方向に０．８×１．６＝１．２８プリズムディオプター（△）という測定結果を得れば、このブランク１１は所定のプリズムを得られているわけである。ところが、実際に測定した結果、ダウン１．１２△、イン０．３２△という測定結果を得た。
このブランク１１の実際の特性は１．６で除することで、ダウン方向０．７０△、イン０．２０△であることがわかる。つまり、ダウン方向に０．１０△足らず、イン方向に不要なプリズムが０．２０△が誤差としてあるわけである。
そのため、求める条件であるダウン方向０．８０△、イン０．００△とするために、改めてブランク１１を加工装置に装着し、装置の加工条件をダウン方向０．９０△、アウト０．２０△のレンズを作製するように設定して改めて予定の厚みまで加工して、求めるプリズム特性を得るようにする。
【００２２】
上記のような構成とすることで、実施の形態１では次のような効果が奏される。
（１）ブロックピース１３が固着されているため照射光を透過させることができないブランク１１について、ブロックピース１３を取り付けたままで凹面側から凸面側に向けて照射した光を凸面で反射させた反射光を使用してプリズム量を測定するようにしたため、加工前、あるいは加工途中や加工後における任意の段階で本発明を適用してプリズム測定を行うことができる。
（２）ブランク１１の凹面側に反射防止膜１５を貼着しているため入射する照射光が反射して測定の邪魔になることがない。また、凸面側には鏡面反射する反射膜１４を貼着しているため凸面に達した照射光が比較的減衰することなく、凸面形状に応じた正確な反射をすることとなる。
（３）照射光を最初に透過する界面である凹面に直交するように照射しているため、最初の界面である凹面の角度の影響を受けることなく、反射光のデータを入手できるため、計算が容易である。
【００２３】
（実施の形態２）
実施の形態２では上記と同じ反射式測定装置２８を使用してレンズ度数を測定する場合について説明する。図６（ａ）に示すように、測定対象となる加工途中のブランク１１は実施の形態１と同様に凸面側にアロイ１２によってブロックピース１３が固着されている。また実施の形態１と同様に凸面には反射膜１４が貼着され、凹面には反射防止膜１５が貼着されている。実施の形態２でも実施の形態１と同様に図示しない加工装置にブロックピース１３を介してブランク１１を装着し、わずかに予定したレンズ厚に達する手前で一旦加工装置から取り外して、このブランク１１を測定するものとする。そして実施の形態１と同様にブランク１１を反射式測定装置２８の測定端子２９上に配置し、クランプ３０によってブランク１１が動かないように固定して１回目の測定を実行する。
次いで、その測定が完了した後、一旦クランプ３０を解放し、ブランク１１を取り出し、図６（ｂ）に示すように、反射防止膜１５を剥がし、その位置に反射膜１４を貼着させる。この際に反射膜１４は蒸着面側がブランク１１側を向くように貼着させる。このように両面ともに反射膜１４が貼着されたブランク１１を上記同様に反射式測定装置２８の測定端子２９上に配置し、クランプ３０によってブランク１１が動かないように固定して２回目の測定を実行する。
【００２４】
次にレンズ度数測定の理論について説明する。
レンズ度数はレンズを透過する光線の収束あるいは発散する度合いであるので、レンズの表裏両方の面の状態がわからないと評価はできない。つまり、ここでは凸面と凹面の両方のレンズの状態を測定する必要がある。そのため、本実施の形態２では１回目の測定で凸面の反射光に基づいて凸面側のカーブの値を算出し、２回目の測定で凹面の反射光に基づいて凹面側のカーブの値を算出する。カーブの値を算出するためには単に傾きだけではなく少なくともある面上の２つの点の傾きからカーブを算出しなければならない。尚、凸面の反射光は実施の形態１と同様にスネルの法則に従って屈折するため、それを考慮して計算する必要がある。次いで得られた、凹面側のカーブと凸面側のカーブの値からレンズ度数を算出する。
具体的なカーブの測定方法の一例について説明する。乱視度数や累進面がある場合では複数の光線による複雑な計算が必要であるため、ここでは１本の光線で説明が可能な球面レンズを例にとって説明する。まず凹面側のカーブの計算について説明する。
図７に示すように、幾何中心からずれた位置において幾何中心を通る軸線と平行に凹面に１本の光線（測定光）を照射し、凹面で反射する反射光を測定する。ここに、幾何中心から照射位置との離間距離をＡとする。この値Ａは基本的な装置の設計値として既知の値である。今、凹面の曲率半径をＲ２とすると、測定装置は図７におけるθ２を測定することとなる。つまり、ｓｉｎθ２＝Ａ／Ｒ２の関係からＲ２を求めることができる。更に、実際の計算においては、特にレンズの厚さとＡに比較してレンズから測定部（センサ）までの距離と面の曲率半径が十分大きい場合にはｓｉｎθ２＝Ａ／Ｒ２をθ２＝Ａ／Ｒ２と近似させることも可能である。ここでは近似させて計算するものとする。尚、図７の反射角度は説明の都合上若干大きめに表現されている。
【００２５】
次に凸面側のカーブの計算について説明する。
図８に示すように、凹面での入射位置でまずスネルの法則に従って屈折する。ここで例えば素材屈折率１．６とすると、屈折角度は
α＝θ２−θ２／１．６・・・（１）
とされる。上記凹面側での計算でθ２は既知であるので、αが求まる。次いで、この光線が凸面で反射した場合について考える。図８に示すように、凸面反射位置と凹面射出位置に、それぞれ入射光線に平行な直線を補助線（図上では破線）Ｐ，Ｑとして描き入れる。
２つの平行な直線に対して１本の直線が斜めに交わるときにできる錯角は等しいので
α＋２β＝γ＋θ２・・・（２）
が成り立つ。ここにα＋βは凸面反射位置での法線Ｒ１と入射光線に平行な直線の間の角度であり、これをθ１とする。つまり、
α＋β＝θ１・・・（３）
幾何中心から照射位置との離間距離をＡは十分大きいと考えて、θ１＝Ａ／Ｒ１となる（θ１とＲ１は未知）。
さて、上記（２）より、γ＝α＋２β−θ２、上記（３）よりβ＝θ１−α なので、
γ＝α＋２（θ１−α）−θ２＝２θ１−θ２−α・・・（４−１）
が成り立つ。
更に、（１）よりα＝θ２−θ２／１．６ なので
γ＝２θ１−θ２−（θ２−θ２／１．６）＝２θ１−２θ２＋θ２／１．６・・・（４−２）
凹面の射出位置でスネルの法則を適用すると、射出光線の傾きは １．６γ＋θ２ であることがわかる。
（４−２）より、
１．６γ＋θ２＝１．６（２θ１−２θ２＋θ２／１．６）＋θ２＝３．２θ１−１．２θ２
つまり、測定装置によって「３．２θ１−１．２θ２」の値を得られるので、結果としてθ１、Ｒ１を求めることができることとなる。尚、図８の反射角度は説明の都合上若干大きめに表現されている。また、図８では作図の都合上法線Ｒ１，Ｒ２はレンズ近辺のみを図示している。
【００２６】
上記のような構成の実施の形態２において実施した具体的な実施例について説明する。（１）レンズの条件
・非球面力レンズ（素材屈折率１．６、Ｓ度数−１．００Ｄ、Ｃ度数０．００Ｄ）
凸面カーブを屈折率１．６換算で２カーブとする。曲率半径は（１．６−１）／２（ｍ-1）＝０．３ｍ＝３００ｍｍである。
凹面カーブを屈折率１．６換算で１カーブとする。曲率半径は（１．６−１）／１（ｍ-1）＝０．６ｍ＝６００ｍｍである。
従って、このレンズの度数は−１．００Ｄである。凹面カーブは、１．００カーブをねらって加工したところ、１．０３カーブになった。するとこのレンズの度数は−１．０３Ｄであることがわかる。
そのため、求める条件である−１．００Ｄとするために、改めてブランク１１を加工装置に装着し、装置の加工条件として０．９７カーブの凹面を加工するように設定して改めて予定の厚みまで加工して、求めるレンズ特性を得るようにする。
【００２７】
上記のような構成とすることで、実施の形態２では次のような効果が奏される。
（１）ブロックピース１３が固着されているため照射光を透過させることができないブランク１１について、ブロックピース１３を取り付けたままで凹面側から凸面側に向けて照射した光を凸面と凹面でそれぞれ反射させた反射光を使用してレンズ度数を測定するようにしたため、加工前、あるいは加工途中や加工後における任意の段階で本発明を適用してレンズ度数の測定を行うことができる。
（２）ブランク１１の凹面側に反射防止膜１５を貼着しているため入射する照射光が反射して測定の邪魔になることがない。また、凸面側には鏡面反射する反射膜１４を貼着しているため凸面に達した照射光が比較的減衰することなく、凸面形状に応じた正確な反射をすることとなる。
【００２８】
（実施の形態３）
実施の形態３では波面測定装置３１を使用してレンズ度数を測定する場合について説明する。実施の形態３では図９に示すような光学系を設定した。
実施の形態１と同じブランク１１の凸面側には実施の形態１及び２と同じ反射膜１４が蒸着面側がブランク１１側を向くように貼着されている。反射膜１４を覆うようにアロイ１２が配設され、アロイ１２の中央位置にブロックピース１３が溶着されている。本実施の形態３ではブランク１１の凹面が上面を向くようにブロックピース１３を水平な設置面３２上に載置する。凹面の上方位置にはハーフミラー３３を配置するとともに、ハーフミラー３３の上方位置には光源３５が設置されている。ハーフミラー３３の側方には波面測定装置３１が配設されている。
このような構成において、光源３５からブランク１１方向に照射された光はハーフミラー３３を透過してブランク１１に至る。そして、界面である凹面を透過して凸面に達し、反射してその反射光は再度凹面を透過し、ハーフミラー３３で反射されて波面測定装置３１方向に向かう。一方、光源３５からブランク１１方向に照射された光は一部が凹面で反射され更にハーフミラー３３で反射されて波面測定装置３１方向に向かう。つまり、波面測定装置３１には凸面と凹面の両方の面で反射された反射光の情報が取り込まれることとなる。波面測定装置３１は取り込まれた凸面と凹面の両方の成分を含んだ光に基づいて凸面と凹面のカーブを測定し、もってブランク１１のレンズ度数およびプリズムを測定する。
波面測定装置３１は取り込まれた凸面と凹面の両方の成分を含んだ光に基づいて凸面と凹面のカーブを測定し、もってブランク１１のレンズ度数およびプリズムを測定する。すなわち、凸面と凹面の両方の面で反射された２つの反射光の波面の傾きの差からプリズムを測定することが可能で、２つの反射光の波面の曲率の差から度数を測定することが可能となる。
上記のような構成とすることで、実施の形態３では次のような効果が奏される。
（１）ブロックピース１３が固着されているため照射光を透過させることができないブランク１１について、ブロックピース１３を取り付けたままで凹面側から凸面側に向けて照射した光を凸面と凹面でそれぞれ反射させた反射光を使用してレンズ度数を測定するようにしたため、加工前、あるいは加工途中や加工後における任意の段階で本発明を適用してレンズ度数の測定を行うことができる。
（２）波面測定装置３１を利用して凸面と凹面の両方の反射光のデータを入手できるため、レンズ度数だけでなくプリズム量も同時に測定することが可能である。
【００２９】
（実施の形態４）
実施の形態４では実施の形態３のより具体的な波面測定装置として波面センサーを使用した場合について説明する。実施の形態４では図１０のような光学系を設定した。
実施の形態１と同じブランク１１の凸面側には実施の形態１〜３と同じ反射膜１４が蒸着面側がブランク１１側を向くように貼着されている。反射膜１４を覆うようにアロイ１２が配設され、アロイ１２の中央位置にブロックピース１３が溶着されている。
実施の形態４では波面センサー４１がブランク１１の凹面側に配置されている。波面センサー４１は光源４２、プリズム４３、レンズアレイからなるハルトマンプレート４４及び撮像手段としてのＣＣＤカメラ４５を備えている。図１１に示すように、波面センサー４１は解析用コンピュータ４５に接続されて波面測定装置を構成する。解析用コンピュータ４５にはＣＰＵ（中央処理装置）からなる演算部４６と記憶手段としてのメモリ４７を備えている。メモリ４７内には各種プログラムや波面収差を解析する解析ソフトが記憶されている。演算部４６によって波面センサーから取得された波面収差が解析される。
解析用コンピュータ４５には出力手段としてのモニター４８と入力手段としてのキーボード４９が接続されている。尚、出力手段としてはモニター４８以外にプリンタや他の装置へデータを転送する出力手段等が挙げられる。また、入力手段としてはキーボード４９以外にバーコードのような２次元コードやＬＡＮ接続された他のコンピュータやデータ記憶装置等の他の装置から転送されたデータを入力する手段等が挙げられる。
【００３０】
このような構成において測定の際には、光源４２からプリズム４３方向に照射された複数の光線は反射面４３ａで９０度方向転換させられブランク１１方向に向かう。そして凹面を透過して凸面に達し、反射してその反射光は再度凹面を透過し、更にプリズム４３を透過してハルトマンプレート４４に達し、ＣＣＤカメラ４５で撮影される。ＣＤＤカメラ４５から取得した波面収差を解析することでブランク１１の評価が可能となる。特に、画像を解析することにより高次収差成分の計算が可能となるため、低次収差成分であるＳ度数やＣ度数（レンズ度数）及びプリズム量以外の収差を補正するために有効である。
ここで、波面測定の原理について説明する。
今、ハルトマンプレート４４上のある座標を（Ｘ，Ｙ）と置く。座標（Ｘ，Ｙ）がＣＣＤカメラ４５上において被験レンズ（ブランク１１）が無収差（理想的な波面）であると仮定した場合の集光点と、実際の到達点とのずれ量をΔｘ，Δｙとし、ハルトマンプレート４４とＣＣＤカメラ４５との距離をｆとすると、波面収差とずれ量をΔｘ，Δｙとは一般に以下の数式１及び数式２の偏微分方程式の関係が成り立つ。セミフィニッシュトレンズが理想的な平面レンズの場合、Δｘ及びΔｙの値は０となる。また一定の曲率半径を持つセミフィニッシュトレンズである場合は、前記曲率半径は既知である。そのため、レンズアレイ毎の集光点位置である理想的なΔｘ及びΔｙは、容易に計算が可能である。そのため、前記ΔｘとΔｙとのずれ量をＣＣＤカメラ４５から取得した画像より解析することにより波面収差成分の計算が可能となる。ずれ量Δｘ，Δｙはハルトマンプレート７を構成するレンズアレイの多数のマイクロレンズ毎に測定され、最終的に測点以外の部分は補間計算がされる。
【００３１】
【数１】
【００３２】
【数２】
【００３３】
波面収差成分はゼルニケ多項式を用いて各次数に収差を分解して評価し、各収差を補正することが可能である。ここにゼルニケ多項式とは光学分野でよく使われる数式であって、半径が１の単位円上の複素関数であり、極座標の引数（ｒ，θ）を有する。理論上は複素関数を用いるが実用的には実数関数として使用される。ゼルニケ多項式は、光学分野では主としてレンズの収差成分を解析するために使用されており、波面収差をゼルニケ多項式に分解することで収差成分を知ることが可能である。下記式において、Ｗ（Ｘ，Ｙ）は波面収差、Ｃｉ2j-iはゼルニケ多項式、Ｚｉ2j-iはゼルニケ係数を示す。
【００３４】
【数３】
【００３５】
ゼルニケ多項式は各項毎に異なるゼルニケ係数を伴う。このゼルニケ係数によって例えば図１２のような波面収差を個々の収差成分で示したカラーコードマップが得られる（実際はカラーであるが色の制限上から白黒で表示する）。カラーコードマップは１次次数において左方からＺ０１、Ｚ０２、２次次数において左方からＺ０３、Ｚ０４、Ｚ０５、３次次数において左方からＺ０６、Ｚ０７、Ｚ０８、Ｚ０９、４次次数において左方からＺ１０、Ｚ１１、Ｚ１２、Ｚ１３、Ｚ１４、・・・という順に配列されている。上記のようにここでは３次及び４次に含まれる項が測定用ターゲットの明瞭さに大きな影響がある収差部分となる。プリズム量、S度数及びC度数は１次や２次収差として現れ、その他のコマ収差、球面収差、あるいは局所的な変形などが３次以降の収差として現れる。
下記表１はレンズの高次の波面収差について収差のない理想的な場合（下段数値）と、ある収差が発生している場合（上段数値）の実測値である。ここでは３次と４次のＺ０６〜Ｚ１４の各項について取得した。５次以降の次数については収差量が非常に小さくなっているため、ここでは考慮に入れていない。図１３及び図１４はこの表１の値を用いて作成した高次収差の３次元図である。図１３は表１の下段の値に基づき、図１４は上段の値に基づく。３次元図が図１３のような平面状に表現される場合は波面収差がない状態であり、一方図１４のような凹凸がある３次元図である場合にはそのレンズは高次収差を有しているということである。高次収差の原因としてはあまり精度のよくない加工機（ＮＣ旋盤装置）によって凹面を切削加工した場合や、ブランク１１を成形する際のモールドの精度がよくない場合、若しくはブランク自体に形状誤差を持つ場合が考えられる。
ブランク１１が高次収差を有している場合には、ブランク１１の再加工を実施し、図１３に示すような収差のない（あるいは少ない）ブランク１１を製作するように加工補正を行う必要がある。解析用コンピュータ４５によって解析した結果、３次以上の高次の収差成分がある場合にこのような波面収差を補正するような加工データ、つまり一定の曲率を持つセミフィニッシュレンズである場合は、図１０にて示すレンズアレイ毎の集光点位置が理想的なΔx及びΔyになるように解析用コンピュータ４５によって設計し、その新たな加工データに基づいて図示しないＮＣ旋盤装置にブロックピース１３を介してブランク１１を装着し再加工させるようにする。実施の形態１と同様にわずかに予定したレンズ厚に達する手前で一旦加工装置から取り外し予定の厚みまで加工するようにする。
【００３６】
【表１】
【００３７】
このような構成とすることによって、実施の形態４では実施の形態３の効果に加えて、次のような効果が奏される。
（１）高次（３次以上）の波面収差に由来する変形が残存している場合に、それを判定して補正することができるため、より装用感のよいレンズ（ブランク１１）を提供することができる。
（２）従来の評価では判断できないようなレンズの局所的な変形なども客観的な収差成分として評価することができるため、この点でもより装用感のよいレンズ（ブランク１１）を提供することができる。
【００３８】
（実施の形態５）
実施の形態５ではレンズ（ブランク１１）の広範囲に渡って多数の光線を照射させ、その反射光を測定する場合について説明する。
図１５に示すように、実施の形態１と同じブランク１１の凸面側には実施の形態１〜４と同じ反射膜１４が蒸着面側がブランク１１側を向くように貼着されている。反射膜１４を覆うようにアロイ１２が配設され、アロイ１２の中央位置にブロックピース１３が溶着されている。実施の形態５では度数分布測定装置（レンズマッパー）５１がブランク１１の凹面側に配置されている。レンズマッパー５１は図１５に示すように光源５２、プリズム５３、ビームスプリッタ５４、スクリーン５５及び撮像手段としてのＣＣＤカメラ５６を備えている。
このような構成において測定の際には、光源５２からプリズム５３方向に照射された光線は反射面５３ａで９０度方向転換させられブランク１１方向に向かう。そして凹面を透過して凸面に達し、反射してその反射光は再度凹面を透過し、更にプリズム５３を透過してビームスプリッタ５４に達する。ビームスプリッタ５４には整然と等間隔に縦横に配置された多数の透孔が形成され、透孔を通過した光線（光束）はスクリーン５５上に投影される。この投影された光点がマッピングポイントとされる。ＣＣＤカメラ５６はスクリーン１２上に投影されたマッピングポイントの映像を取り込む。
図１６に示すように、レンズマッパー５１は解析用コンピュータ５７に接続されている。解析用コンピュータ５７はＣＣＤカメラ５６によって取り込まれた光線に対応する透孔との位置変位に基づいてすべてのマッピングポイントに対して屈折力を算出する。つまり、レンズ上にマッピングされたすべての位置について被験レンズ５の屈折力データ（Ｓ度数データ、Ｃ度数データ、乱視軸データ、プリズム量データ）を得ることができる。解析用コンピュータ５７内部には記憶手段としてのメモリ５８が配設され屈折力データを記憶する。
図１６に示すように、解析用コンピュータ５７は評価用コンピュータ５８に接続されている。評価用コンピュータ５８は解析用コンピュータ５７から入手した光学特性データに基づいてブランク１１の評価計算を行う。
【００３９】
このような構成とすることで、ブランク１１の広範囲に渡って屈折力データを得ることができるため、より広い範囲、例えばレンズ全面についてマッピングポイントのデータを使用してレンズ度数を測定することや上記実施の形態１や２のようにプリズムやカーブを測定することが可能となる。
【００４０】
尚、この発明は、次のように変更して具体化することも可能である。
・上記各実施の形態においては、凹面を平面として計算したが、これは１本の測定光線が入射・射出する位置がレンズの中心に近い領域であると想定したからであり、レンズの中心から離れた１本または複数の測定光線やある面積の光束を使用してレンズ度数を算出する際には凹面のカーブを考慮して計算してもよい。
・被覆部材として上記ではブロックピース１３を一例として挙げたが、その他の被覆部材を想定することも可能である。
・反射膜１４や反射防止膜１５の素材は上記に限定されるものではない。上記のようなテープ状の膜体を貼着する以外に蒸着やスパッタリング等でミラーコートをするように形成させる膜でもよい。
・実施の形態３〜５で反射防止膜１５をブランク１１の凹面に貼着するようにしてもよい。
・実施の形態５においてレンズマッパー５１ではなく干渉計を使用して広範囲の光学特性を取得するようにしてもよい。
・上記実施の形態ではいずれも切削面を凹面とした場合を挙げたが、ブロックピース１３を凹面に固着して凸面側を切削する(加工面とする）ことも可能である。
・上記ではブランク１１の凹面が所定の度数やプリズム等が設定されたレンズ面であり、これをチェックして必要な場合に補正をする、という実施の形態であったが、凹面がまだ度数等が未設定な段階であっても適用することが可能である。
・その他、本発明の趣旨を逸脱しない態様で実施することは自由である。
【符号の説明】
【００４１】
１１…セミフィニッシュトブランク、１２…被覆部材としてのアロイ、１３…被覆部材としてのブロックピース。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
凸面と凹面の表裏面を有するセミフィニッシュトブランクであって、その表裏いずれか一方の第１の面に同第１の面を覆う被覆部材が装着された前記セミフィニッシュトブランクに対して前記被覆部材が装着されていない第２の面側から前記第１の面側に向けて光を照射し前記第２の面側で取得した反射光の測定値に基づいて所定の光学特性の値を算出することを特徴とするセミフィニッシュトブランクの測定方法。
【請求項２】
前記所定の光学特性とはプリズムであることを特徴とする請求項１に記載のセミフィニッシュトブランクの測定方法。
【請求項３】
前記所定の光学特性とはレンズ度数であることを特徴とする請求項１に記載のセミフィニッシュトブランクの測定方法。
【請求項４】
前記セミフィニッシュトブランクの前記第２の面上には照射光の前記第２の面での反射を防止する反射防止膜が形成されていることを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載のセミフィニッシュトブランクの測定方法。
【請求項５】
前記第２の面に反射膜を形成させて、前記第２の面に対して光を照射し前記第２の面から取得した反射光に基づいて前記第２の面の第１のカーブの値を算出する一方、前記第２の面に反射膜のない状態で前記第２の面に対して光を照射し前記第１の面から取得した反射光に基づいて前記第１の面の第２のカーブの値を算出し、前記第１及び第２のカーブの値に基づいて前記レンズ度数を算出するようにしたことを特徴とする請求項３に記載のセミフィニッシュトブランクの測定方法。
【請求項６】
前記第１の面の第２のカーブの値を算出する際には前記セミフィニッシュトブランクの前記第２の面上には照射光の前記第２の面での反射を防止する反射防止膜を形成することを特徴とする請求項５に記載のセミフィニッシュトブランクの測定方法。
【請求項７】
前記セミフィニッシュトブランクの前記第１の面上には照射光を鏡面反射させるための前記第１の面の形状に沿った反射手段が形成されていることを特徴とする請求項１〜６のいずれかに記載のセミフィニッシュトブランクの測定方法。
【請求項８】
前記被覆部材とは加工装置に連結するために固定手段によって連結部材を前記第１の面の中央領域を覆うように固定された連結部材であることを特徴とする請求項１〜７のいずれかに記載のセミフィニッシュトブランクの測定方法。
【請求項９】
前記連結部材は前記セミフィニッシュトブランクの前記凸面側に装着されていることを特徴とする請求項８に記載のセミフィニッシュトブランクの測定方法。
【請求項１０】
レンズの広範囲に渡って第２の面側から複数の光線を照射させ、各光線ごとに反射光を取得してその測定値に基づいて所定の光学特性の値を算出することを特徴とする請求項１〜９のいずれかに記載のセミフィニッシュトブランクの測定方法。
【請求項１１】
前記反射光の測定において波面を測定し、その測定結果に基づいて前記所定の光学特性を算出することを特徴とする請求項１〜１０のいずれかに記載のセミフィニッシュトブランクの測定方法。
【請求項１２】
請求項１〜１１のいずれかの測定方法において算出された所定の光学特性の値に基づいて前記第２の面側を加工することを特徴とするセミフィニッシュトブランクの加工方法。
【請求項１３】
請求項１〜１１のいずれかの測定方法において算出された所定の光学特性の値をチェックして加工条件に応じた必要な補正を加えるようにしたことを特徴とするセミフィニッシュトブランクの加工方法。
【請求項１４】
前記セミフィニッシュトブランクは前記凸面側に累進屈折面が形成され、作製されるレンズは外面累進屈折力レンズであることを特徴とする請求項１２又は１３に記載のセミフィニッシュトブランクの加工方法。
【請求項１５】
前記反射光の測定は前記セミフィニッシュトブランクの前記凹面側を加工した後に行うことを特徴とする請求項１２〜１４のいずれかに記載のセミフィニッシュトブランクの加工方法。
【請求項１６】
前記凹面側の加工を予定の厚さとなる前に一旦中止し、その段階で前記連結部材が装着された状態の前記セミフィニッシュトブランクに対して前記凹面側から前記凸面側に向けて光を照射し前記凹面側で取得した反射光の測定値に基づいて所定の光学特性を算出し、その算出結果をチェックして加工条件に応じた必要な補正を加えて再度加工するようにしたことを特徴とする請求項１２〜１５のいずれかに記載のセミフィニッシュトブランクの加工方法。
【請求項１】
凸面と凹面の表裏面を有するセミフィニッシュトブランクであって、その表裏いずれか一方の第１の面に同第１の面を覆う被覆部材が装着された前記セミフィニッシュトブランクに対して前記被覆部材が装着されていない第２の面側から前記第１の面側に向けて光を照射し前記第２の面側で取得した反射光の測定値に基づいて所定の光学特性の値を算出することを特徴とするセミフィニッシュトブランクの測定方法。
【請求項２】
前記所定の光学特性とはプリズムであることを特徴とする請求項１に記載のセミフィニッシュトブランクの測定方法。
【請求項３】
前記所定の光学特性とはレンズ度数であることを特徴とする請求項１に記載のセミフィニッシュトブランクの測定方法。
【請求項４】
前記セミフィニッシュトブランクの前記第２の面上には照射光の前記第２の面での反射を防止する反射防止膜が形成されていることを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載のセミフィニッシュトブランクの測定方法。
【請求項５】
前記第２の面に反射膜を形成させて、前記第２の面に対して光を照射し前記第２の面から取得した反射光に基づいて前記第２の面の第１のカーブの値を算出する一方、前記第２の面に反射膜のない状態で前記第２の面に対して光を照射し前記第１の面から取得した反射光に基づいて前記第１の面の第２のカーブの値を算出し、前記第１及び第２のカーブの値に基づいて前記レンズ度数を算出するようにしたことを特徴とする請求項３に記載のセミフィニッシュトブランクの測定方法。
【請求項６】
前記第１の面の第２のカーブの値を算出する際には前記セミフィニッシュトブランクの前記第２の面上には照射光の前記第２の面での反射を防止する反射防止膜を形成することを特徴とする請求項５に記載のセミフィニッシュトブランクの測定方法。
【請求項７】
前記セミフィニッシュトブランクの前記第１の面上には照射光を鏡面反射させるための前記第１の面の形状に沿った反射手段が形成されていることを特徴とする請求項１〜６のいずれかに記載のセミフィニッシュトブランクの測定方法。
【請求項８】
前記被覆部材とは加工装置に連結するために固定手段によって連結部材を前記第１の面の中央領域を覆うように固定された連結部材であることを特徴とする請求項１〜７のいずれかに記載のセミフィニッシュトブランクの測定方法。
【請求項９】
前記連結部材は前記セミフィニッシュトブランクの前記凸面側に装着されていることを特徴とする請求項８に記載のセミフィニッシュトブランクの測定方法。
【請求項１０】
レンズの広範囲に渡って第２の面側から複数の光線を照射させ、各光線ごとに反射光を取得してその測定値に基づいて所定の光学特性の値を算出することを特徴とする請求項１〜９のいずれかに記載のセミフィニッシュトブランクの測定方法。
【請求項１１】
前記反射光の測定において波面を測定し、その測定結果に基づいて前記所定の光学特性を算出することを特徴とする請求項１〜１０のいずれかに記載のセミフィニッシュトブランクの測定方法。
【請求項１２】
請求項１〜１１のいずれかの測定方法において算出された所定の光学特性の値に基づいて前記第２の面側を加工することを特徴とするセミフィニッシュトブランクの加工方法。
【請求項１３】
請求項１〜１１のいずれかの測定方法において算出された所定の光学特性の値をチェックして加工条件に応じた必要な補正を加えるようにしたことを特徴とするセミフィニッシュトブランクの加工方法。
【請求項１４】
前記セミフィニッシュトブランクは前記凸面側に累進屈折面が形成され、作製されるレンズは外面累進屈折力レンズであることを特徴とする請求項１２又は１３に記載のセミフィニッシュトブランクの加工方法。
【請求項１５】
前記反射光の測定は前記セミフィニッシュトブランクの前記凹面側を加工した後に行うことを特徴とする請求項１２〜１４のいずれかに記載のセミフィニッシュトブランクの加工方法。
【請求項１６】
前記凹面側の加工を予定の厚さとなる前に一旦中止し、その段階で前記連結部材が装着された状態の前記セミフィニッシュトブランクに対して前記凹面側から前記凸面側に向けて光を照射し前記凹面側で取得した反射光の測定値に基づいて所定の光学特性を算出し、その算出結果をチェックして加工条件に応じた必要な補正を加えて再度加工するようにしたことを特徴とする請求項１２〜１５のいずれかに記載のセミフィニッシュトブランクの加工方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【公開番号】特開２０１１−２４８３４８（Ｐ２０１１−２４８３４８Ａ）
【公開日】平成２３年１２月８日（２０１１．１２．８）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−９８８９９（Ｐ２０１１−９８８９９）
【出願日】平成２３年４月２７日（２０１１．４．２７）
【出願人】（０００２１９７３８）東海光学株式会社 (112)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２３年１２月８日（２０１１．１２．８）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年４月２７日（２０１１．４．２７）
【出願人】（０００２１９７３８）東海光学株式会社 (112)
【Ｆターム（参考）】
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