ディスク検査装置
【課題】ハードウェアの微調整等を行うことなく、装置間での検査結果のばらつきを抑え得るディスク検査装置を提供する。
【解決手段】ディスクを検査するディスク検査装置は、ディスクに再生用レーザ光を照射した際に得られる反射光の強度に基づいてＲＦ信号を取得する光ピックアップ等からなるＲＦ信号取得手段と、入力されたＲＦ信号をエラー訂正しつつ復号し訂正後の復号データおよびエラーレートを出力する復号部４０と、ＲＦ信号取得手段により取得されるとともに復号部４０に入力される前のＲＦ信号のＳ／Ｎ比を、品質が既知の基準ディスクを検査した際に前記復号部４０から出力される特定のジッター値におけるエラーレートが規定の範囲内に収まるような値に劣化可能なＳ／Ｎ比調整部４２と、を備える。
【解決手段】ディスクを検査するディスク検査装置は、ディスクに再生用レーザ光を照射した際に得られる反射光の強度に基づいてＲＦ信号を取得する光ピックアップ等からなるＲＦ信号取得手段と、入力されたＲＦ信号をエラー訂正しつつ復号し訂正後の復号データおよびエラーレートを出力する復号部４０と、ＲＦ信号取得手段により取得されるとともに復号部４０に入力される前のＲＦ信号のＳ／Ｎ比を、品質が既知の基準ディスクを検査した際に前記復号部４０から出力される特定のジッター値におけるエラーレートが規定の範囲内に収まるような値に劣化可能なＳ／Ｎ比調整部４２と、を備える。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ディスクを検査するディスク検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、レーザ光を照射することによりデータの記録再生が可能な光ディスクなどの記録媒体ディスクが広く知られている。かかるディスクにおいては、経年劣化などにより、データの記録品質が劣化し、場合によっては、データの再生が困難になり、情報が損失する場合がある。ディスクで各種情報を記録保管しているディスクアーカイブにおいては、こうしたディスクの劣化による情報損失は、大きな問題となる。そのため、ディスクアーカイブにおいては、定期的に保管されている大量のディスクの品質を検査することが求められる。また、ディスクの貸し出しや販売を行うディスクのレンタルショップや中古販売店においても、当該光ディスクの貸し出し・販売に先立って、当該ディスクの品質を検査することが求められる。
【０００３】
こうした問題を受け、ディスクの良否を高速に検査するための装置が従来から多数提案されている。こうした検査装置の多くは、通常のディスク再生装置と同様のディスクドライブを備えている。そして、検査装置の多くは、このディスクドライブでディスクを再生した際の再生品質、例えば、エラーレートなどに基づいてディスクの品質を検査している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平１０−３０２４１２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、このエラー検出量は、各検査装置に搭載されているオプティカルパワーユニットや、データ処理のハードウェアに依存しており、同一ディスクを検査した場合であっても、検査装置によって、結果が異なることがあった。その結果、検査装置ごとに、検査結果のばらつきが生じてしまい、正確に品質を検査できないという問題があった。もちろん、ＯＰＵやデータ処理のハードウェアの特性を揃えるように、これら部品を交換したり、微調整したりすることで、こうした問題は低減できる。しかし、各種ハードウェアの交換や微調整は、コスト増加や手間増加といった新たな問題を生じる。
【０００６】
なお、特許文献１には、ビタビ復号処理で用いるパスメモリ長を変更することで、エラーレートを向上させる技術が開示されているが、かかる技術では、エラー感度が過度に低い検査装置のエラー感度を適正値に修正することはできなかった。
【０００７】
そこで、本発明では、ハードウェアの微調整等を行うことなく、装置間での検査結果のばらつきを抑え得るディスク検査装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明のディスク検査装置は、ディスクを検査するディスク検査装置であって、ディスクに再生用レーザ光を照射した際に得られる反射光の強度に基づいて、ＲＦ信号を取得するＲＦ信号取得手段と、入力されたＲＦ信号をエラー訂正しつつ復号し、訂正後の復号データおよびエラーレートを出力する復号手段と、前記ＲＦ信号取得手段により取得されるとともに復号手段に入力される前のＲＦ信号のＳ／Ｎ比を、品質が既知の基準ディスクを検査した際に前記復号手段から出力される特定のジッター値におけるエラーレートが規定の範囲内に収まるような値に劣化可能なＳ／Ｎ比調整手段と、を備えることを特徴とする。
【０００９】
好適な態様では、前記Ｓ／Ｎ比調整手段は、前記復号手段に入力される前のＲＦ信号に対して、ホワイトノイズを付加することで、Ｓ／Ｎ比を劣化させる。他の好適な態様では、前記Ｓ／Ｎ比劣化手段は、前記復号手段に入力される前のＲＦ信号を、前記基準ディスクを検査した際に前記復号手段から出力される特定のジッター値におけるエラーレートと、予め規定された基準値と、の差が最小になるような値に劣化させる。
【００１０】
他の好適な態様では、さらに、前記復号手段から出力されたエラーレートに対して係数を乗算し、当該係数乗算後のエラーレートを当該ディスク検査装置での検査結果として出力する係数乗算手段を含み、前記係数は、前記基準ディスクを検査した際に特定のジッター値において得られるエラーレートが予め規定された基準値になるような値に調整可能である。
【００１１】
他の好適な態様では、前記復号手段は、前記ノイズ付加後の信号に対してビタビ復号を行うビタビ復号手段と、前記ビタビ復号手段から出力されたデータをエラー訂正しつつ復号し、訂正後の復号データおよびエラーレートを出力する主復号手段と、を含み、さらに、前記基準ディスクを検査した際に前記復号手段から出力される特定のジッター値におけるエラーレートが前記規定の範囲内に収まる値になるように、前記ビタビ復号手段のエラー訂正能力を調整可能なビタビ調整手段を備える。この場合、前記ビタビ調整手段は、ビタビ訂正処理で用いるパスメモリのメモリ長を変化させることで訂正能力を調整する、ことが望ましい。
【００１２】
他の本発明であるディスク検査装置の調整方法は、ディスクを再生した際に得られるＲＦ信号をエラーを訂正しつつ復号し、訂正後の復号データおよびエラーレートを出力する復号手段を備えたディスク検査装置の調整方法であって、前記復号手段に入力されるＲＦ信号のＳ／Ｎ比を、品質が既知の基準ディスクを検査した際に前記復号手段から出力される特定のジッター値におけるエラーレートが規定の範囲内に収まる値に劣化させるＳ／Ｎ比調整ステップを含む、ことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、ＲＦ信号のＳ／Ｎ比が一定範囲内に劣化可能であるため、エラー感度が過度に低い検査装置であっても、基準検査装置に近いエラー感度に調整することが可能となる。その結果、ハードウェアの微調整等を行うことなく、装置間での検査結果のばらつきを抑えることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明の実施形態であるディスク検査装置の構成を示すブロック図である。
【図２】復号ユニットの詳細構成を示すブロック図である。
【図３】装置ごとのエラー感度の違いを示すグラフである。
【図４】エラー感度調整の流れを示すフローチャートである。
【図５】ノイズ強度・メモリ長調整の流れを示すフローチャートである。
【図６】補正係数の算出・設定の流れを示すフローチャートである。
【図７】検査装置Ａ，Ｂにノイズ強度・メモリ長調整を施した結果を示すグラフである。
【図８】検査装置Ａに係数乗算を施した結果を示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。図１は、本発明の実施形態であるディスク検査装置１０の構成ブロック図である。このディスク検査装置１０は、ディスク１００（例えば、ＤＶＤやＣＤ、ブルーレイディスクなど）の再生を困難にする不具合（欠陥）の有無を検査する装置である。以下、このディスク検査装置１０について詳説する。
【００１６】
検査対象であるＣＤやＤＶＤ等のディスク１００はスピンドルモータ（ＳＰ）１２により回転駆動される。スピンドルモータ１２は、ＳＰドライバ１４で駆動され、ＳＰドライバ１４はサーボプロセッサ３０により所望の回転速度となるようにサーボ制御される。
【００１７】
光ピックアップ１６は、レーザ光をディスク１００に照射するためのレーザダイオード（ＬＤ）やディスク１００からの反射光を受光して電気信号に変換するフォトディテクタを含み、ディスク１００に対向配置される。光ピックアップ１６はスレッドモータ（ＳＬＤ）１８によりディスク１００の半径方向に駆動され、スレッドモータ１８はＳＬＤドライバ２０で駆動される。ＳＬＤドライバ２０は、ＳＰドライバ１４と同様にサーボプロセッサ３０によりサーボ制御される。また、光ピックアップ１６のレーザダイオードはＬＤドライバ２２により駆動され、ＬＤドライバ２２は、オートパワーコントロール回路（ＡＰＣ）２４により、駆動電流が所望の値となるように制御される。ＡＰＣ２４及びＬＤドライバ２２は、システムコントローラ３２からの指令によりレーザダイオードの発光量を制御する。なお、図ではＬＤドライバ２２は光ピックアップ１６と別個に設けられているが、ＬＤドライバ２２を光ピックアップ１６に搭載してもよい。また、光ピックアップ１６には、対物レンズを駆動するアクチュエータ（ＡＣＴ）が設けられており、当該アクチュエータは、ＡＣＴドライバ２５で駆動される。このＡＣＴドライバ２５は、サーボプロセッサ３０により所望の駆動量となるようにサーボ制御される。
【００１８】
ディスク１００の検査に当たっては、ディスク１００に記録されたデータを再生するが、当該再生を実行する際には、光ピックアップ１６のレーザダイオードから再生パワーのレーザ光が照射され、その反射光がフォトディテクタで電気信号に変換されてＲＦ信号として出力される。
【００１９】
光ピックアップ１６からのＲＦ信号はＲＦ回路２６に供給される。ＲＦ回路２６は、ＲＦ信号からフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号を生成し、サーボプロセッサ３０に供給する。サーボプロセッサ３０は、これらのエラー信号に基づいて光ピックアップ１６をサーボ制御し、光ピックアップ１６をオンフォーカス状態及びオントラック状態に維持する。また、ＲＦ回路２６は、ＲＦ信号に含まれるアドレス信号を２値化回路３４を介してアドレスデコード回路２８に供給する。アドレスデコード回路２８は２値化されたアドレス信号からディスク１００のアドレスデータを復調し、サーボプロセッサ３０やシステムコントローラ３２に供給する。
【００２０】
また、ＲＦ回路２６は、ＲＦ信号を２値化回路３４を介して復号ユニット３６にも供給する。復号ユニット３６では、２値化されたＲＦ信号を復号するとともに、当該ディスク１００のエラーレートを出力する。ディスク検査装置１０では、この復号ユニット３６で算出されるエラーレートに基づいて、ディスク１００の良否を判定するが、この復号ユニット３６の詳細については、後に詳説する。
【００２１】
システムコントローラ３２は、システム全体の動作を制御する部位である。本実施形態のシステムコントローラ３２は、ディスク１００の装填が検出された場合には、当該ディスク１００の良否、具体的には、再生を困難にし得る程度のディスク１００の不具合、すなわち、欠陥の有無を判定するディスク１００検査処理を実行するべく、各部位の動作を制御する。そして、最終的には、復号ユニット３６から出力されたエラーレートに基づいて、ディスク１００の良否を判定し、その判定結果をインターフェース回路（Ｉ／Ｆ）４２を介してユーザに提示する。また、このシステムコントローラ３２は、ユーザからの指示に応じて、適宜、復号ユニット３６のエラー感度の調整動作も実行するが、これについては、後に詳説する。
【００２２】
ところで、こうしたディスク検査装置１０での検査結果は、すべての検査装置で同等であることが望まれる。すなわち、ある基準ディスクを検査した場合に得られるエラーレートは、いずれの検査装置でも同等であることが望まれる。しかしながら、エラーレート、ひいては、エラー検出量は、光ピックアップ１６などからなるオプティカルパワーユニット（ＯＰＵ）や、データ検出のハードウェアに依存し、同一種類の検査装置であっても、ばらつきが多く発生していた。その結果、同じディスク１００を検査した場合であっても、ある検査装置では、良品と判定され、他の検査装置では不良品と判定されることもあり、ユーザがディスク１００の品質を正確に判断できないという問題があった。
【００２３】
こうした問題を避けるために、基準の検査装置と同等の感度になるように、各検査装置ごとに得られたエラーレートを補正することも考えられる。すなわち、一つの基準ディスクを基準検査装置および補正が必要な検査装置の両方で検査し、基準検査装置で得られるエラーレートと同じ値になるように、検査装置で得られるエラーレートを補正するなどの手法が考えられる。しかし、Ｓ／Ｎ比とエラーレートとの関係は指数関数的であるため、装置間の検出エラーの差異が大きい場合には、上述した手法では補正しきれない場合があった。これについて、図３を参照して説明する。
【００２４】
図３は、基準検査装置と他の検査装置Ａ，Ｂで、品質が既知の基準ディスクを検査した結果を示すグラフである。図３において横軸はジッターを、縦軸は検出されたエラーレートを示している。また、図３において、白丸は基準検査装置での検査結果を、黒三角は検査装置Ａでの検査結果を、黒四角は検査装置Ｂでの検査結果をそれぞれ示している。
【００２５】
本来であれば、検査装置Ａ，Ｂのいずれででも、基準検査装置と同等のエラーレートが検出されることが望ましい。しかし、ＯＰＵやデータ検出のハードウェアの差異に起因して、検査装置Ａのように、Ｋ付近（ＤＶＤ企画ではＰＩ−ＳＵＭ８＝２８０Ｌｉｎｅ．２８０／１６６４≒０．１７付近）のエラーレートが検出されてしかるべきジッター１３％付近においても、殆どエラーが検出されず、検出エラー数がほぼゼロになる場合があった。この検査装置Ａのように検出エラー数がほぼゼロの場合、如何なる数値を乗算したとしても、当該エラーレートを基準装置と同等の値に補正することは困難となる。
【００２６】
逆に、検査装置Ｂのように、エラー感度が高く、ジッター１３％付近において、エラー検出の限界値を超えるような場合には、得られた検出エラー数が意味を持たない数値になる。こうした意味のない数値に対して何らかの係数を乗算する補正を行ったとしても、基準検査装置と同等のエラーレートを得ることは無理である。つまり、検査装置Ａ，Ｂのように、基準検査装置に比べて、エラー感度が大幅に異なる場合には、得られたエラーレートに係数を乗算して補正するだけでは、基準検査装置と同等のエラー感度に調整することは困難であった。
【００２７】
そこで、本実施形態では、検査装置のエラー感度を調整可能とするべく、復号ユニット３６の構成を特殊なものとしている。以下、復号ユニット３６の構成について詳説していく。
【００２８】
図２は、復号ユニット３６の詳細ブロック図である。復号ユニット３６は、既述したとおり、ＲＦ信号を復号するとともに、当該ディスク１００のエラーレートを出力するもので、復号部４０、Ｓ／Ｎ比調整部４２、ビタビ調整部４４、および、係数乗算部４６を有している。
【００２９】
復号部４０は、ＲＦ信号をエラー訂正しつつ復号し、訂正後の復号データおよびエラーレートＬｎを出力する。この復号部４０は、ＡＤ変換器４８、適応フィルタ５０、ビタビ復号器５２、エラー訂正器５４を備えている。ＡＤ変換器４８は、入力されたアナログ信号をデジタル信号に変換する。適応フィルタ５０は、後段で行う復号処理のために、入力されたＲＦ信号に対して、後段にある復号器に適した周波数特性に波形等価処理を施す。本実施形態では、復号器としてビタビ復号器５２を用いているため、適応フィルタは、入力されたＲＦ信号に対して、ＰＲ（Ｐａｒｔｉａｌ Ｒｅｓｐｏｎｓｅ）特性に波形等価処理が施される。
【００３０】
ビタビ復号器５２は、適応フィルタ５０から出力された信号に基づいて、ビタビ復号方法によって復号データを生成する。ビタビ復号方法は、考えられる復号データ値の中から最も確からしい、すなわち、最尤な復号データ値を選択し、復号データ系列を生成する復号方法である。かかるビタビ復号器５２を設けることにより、エラーレート限界を改善することができる。すなわち、図３で例示した検査装置Ｂのように、ジッターが低い段階で、エラー検出限界を超えることを防止できる。ただし、ビタビ復号によるエラー訂正能力が高すぎる場合には、図３で例示した検査装置Ａのように、ジッターが高くても、エラーが殆ど検出されない恐れがある。そこで、本実施形態では、ビタビ復号器５２のパスメモリ長を調整可能としている。すなわち、ビタビ復号器５２は、通常、チャンネルクロックｎ個分のパスメモリを有している。そして、このパスメモリのメモリ長を長くするほど復号データの確度が増す一方で、ディスク欠陥の影響を受けやすくなったり、復号による遅延が大きくなったりといった問題が生じやすくなることが知られている。本実施形態では、好適なディスク検査を可能とするために、このパスメモリ長をビタビ調整部４４により可変可能としているが、これについては、後述する。
【００３１】
エラー訂正器５４は、ビタビ復号器５２から出力されたデータを、エラー訂正しつつ復号し、訂正後の復号データおよびエラーレートを出力する主復号手段として機能するものである。より具体的には、エラー訂正器５４は、ビタビ復号器５２から出力された復号信号に対し、リードソロモン積符号方式を用いて、１６セクタから成る１ＥＣＣブロックを単位としてエラー訂正処理を行う。そして、エラー訂正器は、このエラー訂正処理で得られるエラーレートと、エラー訂正後の復号データを出力する。
【００３２】
Ｓ／Ｎ比調整部４２は、上述した復号部４０に入力されるＲＦ信号のＳ／Ｎ比を劣化させるもので、ノイズを発生するノイズ発生器５６と、当該ノイズ発生器５６から出力されたノイズを復号部４０に入力されるＲＦ信号に加算する加算器５８と、から構成される。ここで、付加するノイズとしては、全ての強度で同じ強度を持つホワイトノイズなどを用いることができる。また、劣化度合いは、ＲＦ信号の振幅と、加算するノイズの振幅と、の比率を変更することで調整される。したがって、加算するノイズの振幅を変更して劣化度合いを調整してもよいし、逆に、ＲＦ信号の振幅を変更して劣化度合いを調整してもよい。
【００３３】
いずれにしても、このようにノイズを加算してＲＦ信号のＳ／Ｎ比を劣化させることで、エラーが検出されやすくなり、図３において例示した検査装置Ａのように、エラーレートがほぼゼロになるという現象を防止できる。その結果、復号部４０から出力されたエラーレートＬｎに何らかの補正を加え、基準の検査装置とほぼ同等のエラーレートを出力することが可能となる。このＳ／Ｎ比調整部４２で調整するＳ／Ｎ比の劣化度合い（加算するノイズ強度）は、検査装置で基準ディスクを検査した際に得られるエラーレートに基づいて設定されるが、これについては後述する。
【００３４】
ビタビ調整部４４は、ビタビ復号器５２のエラー訂正能力を調整するものである。記述したように、ビタビ復号器５２は、チャンネルクロックのｎ個分のパスメモリを有しており、このパスメモリ長を調整することで復号データの確度が変わってくる。ビタビ調整部４４は、このパスメモリ長を変更するものである。このビタビ調整部４４で、パスメモリ長を長くすることにより、図３で例示した検査装置Ｂのように、早々にエラー検出限界を超える検査装置のエラー感度を下げることができる。また、逆に、パスメモリ長を短くすることにより、検査装置Ａのように、エラーが殆ど検出されないような検査装置のエラー感度を上げることができる。このビタビ調整部４４で調整するパスメモリ長の長さは、検査装置で基準ディスクを検査した際に得られるエラーレートに基づいて設定されるが、これについても後述する。
【００３５】
係数乗算部４６は、エラー訂正器から出力されたエラーレートＬｎに、所定の係数を乗算して補正する。この補正後のエラーレートＬｍが、当該検査装置での検査結果として取り扱われる。本実施形態では、一次関数Ｌｍ＝Ａ×Ｌｎを用いてエラーレートを補正する。ここで、Ｌｎは補正前のエラーレート、すなわちエラー訂正器５４から出力されるエラーレートであり、Ｌｍは補正後のエラーレート、すなわち、係数乗算部４６から出力され、当該検査装置での検査結果として取り扱われるエラーレートである。この一次関数における係数Ａ，Ｂの具体的数値も、検査装置で基準ディスクを検査した際に得られるエラーレートに基づいて設定されるが、これについても後述する。
【００３６】
次に、このディスク検査装置１０のエラー感度を調整する流れについて説明する。図４は、エラー感度調整の流れを示すフローチャートである。エラー感度の調整処理は、ノイズ強度・メモリ長の調整処理（Ｓ１０）と、補正計数Ａ，Ｂの算出処理（Ｓ１２）と、に大別される。図５，６は、この各処理Ｓ１０，Ｓ１２の詳細な流れを示すフローチャートである。以下、この図５、図６を参照して、各処理の流れについて詳説する。
【００３７】
はじめに図５を参照してノイズ強度・メモリ長の調整処理について説明する。この処理においては、調整対象の検査装置が、基準の検査装置のエラー閾値付近にエラー検出感度を持つように加算するノイズ強度と、ビタビ復号器５２のパスメモリ長を調整する。具体的には、特定のジッター値Ｇ１におけるエラーレートＬ１が規定の範囲に収まるようにする。ここで、特定のジッター値Ｇ１は、基準の検査装置で、基準エラーレートＫ１が測定されたジッター値である。エラー感度を調整する場合には、予め、基準の検査装置で、基準ディスクを測定し、この基準ジッター値Ｇ１の値を取得しておく。また、規定の範囲とは、後段に行う係数乗算により、基準検査装置と同等のエラー感度に調整可能な範囲である。すなわち、図３の検査装置Ａのように、エラーが殆ど検出されず、基準ジッター値Ｇ１におけるエラーレートＬ１がほぼゼロの状態では、後に如何なる係数を乗算しても、基準検査装置と同等のエラー感度を持たせることは難しい。逆に、図３の検査装置Ｂのように、基準ジッター値Ｇ１の段階で検出エラーが限界値を超えるような場合にも、後に如何なる係数を乗算しても、基準検査装置と同等のエラー感度を持たせることは難しい。そこで、本実施形態では、ＲＦ信号に加算するノイズ強度・ビタビ復号器５２で用いるパスメモリ長を調整して、復号部４０から出力されるエラーレートを後段に行う係数乗算により、基準検査装置と同等のエラー感度に補正可能な範囲にしている。
【００３８】
なお、本実施形態では、より好適な補正を可能にするために、調整対象の検査装置で、基準ディスクを検査した際に得られる基準ジッター値Ｇ１におけるエラーレートＬ１と、予め規定された基準エラーレートＫ１と、の差が最小になるように、ノイズ強度・パスメモリ長を設定している。以下、この処理の流れについて詳説する。
【００３９】
ノイズ強度・メモリ長を調整する場合には、まず、パラメータｉ，ｊを初期化し、ｉ＝０、ｊ＝０に設定する（Ｓ１６）。続いて、ビタビ復号器５２で用いるパスメモリ長をＰｉに、また、ノイズ発生器５６で発生させるノイズの強度をＮｊに設定する（Ｓ１８，Ｓ２０）。この状態で、調整対象の検査装置で、基準ディスクの検査を行い、基準ジッター値Ｇ１におけるエラーレートＬｎｊを取得し、得られたエラーレートＬｎｊをメモリに格納する（Ｓ２２，Ｓ２４）。一つのエラーレートが得られれば、パラメータｊが最大値Ｊ以下か否かを確認する（Ｓ２６）。ｊ≦Ｊの場合には、パラメータｊをインクリメントしたうえで、ノイズ強度を新たな値Ｎｊに設定する（Ｓ２８，Ｓ２０）。そして、再度、基準ディスクを検査し、基準ジッター値Ｇ１におけるエラーレートＬｎｊを取得・記憶する（Ｓ２２，Ｓ２４）。この処理を、ｊ＞Ｊになるまで繰り返せば、続いて、パラメータｉが最大値Ｉ以下か否かを確認する（Ｓ３０）。ｉ≦Ｉの場合には、パラメータｉをインクリメントしたうえで、パスメモリ長を新たな値Ｐｉに設定する（Ｓ３２，Ｓ１８）。そして、ｉ＞Ｉになるまで、上述の処理を繰り返す。
【００４０】
全ての処理が完了すれば、（Ｉ＋１）×（Ｊ＋１）個のエラーレートＬｎｊが得られることになる。システムコントローラ３２は、メモリに格納されている、これらエラーレートＬｎｊのうち、基準エラーレートＫ１との誤差が最小のエラーレートＬｎｊを特定する（Ｓ３４）。そして、この特定されたエラーレートＬｎｊを取得した際のノイズ強度Ｎｊ、パスメモリ長Ｐｉを、それぞれ、当該検査装置で用いるノイズ強度およびパスメモリ長として、Ｓ／Ｎ比調整部４２およびビタビ調整部４４に設定する（Ｓ３４）。
【００４１】
このようにノイズ強度・パスメモリ長を調整することで、検査装置で得られるエラーレートを、基準の検査装置のエラーレートに近づけることができる。その結果、ＯＰＵやデータ検出のハードウェアの交換や微調整を行わなくても、後に行う係数乗算での補正が可能になる。
【００４２】
図７は、このノイズ強度・メモリ長調整処理を検査装置Ａ，Ｂに施した結果を示すグラフである。図７において、白丸は、基準検査装置のエラーレートを、黒三角は検査装置Ａの調整前のエラーレートを、白三角は検査装置Ａの調整後のエラーレートを、黒四角は検査装置Ｂの調整前のエラーレートを、白四角は検査装置Ｂの調整後のエラーレートを、それぞれ示している。
【００４３】
この図７から明らかなように、ノイズ強度・メモリ長を調整することにより、調整前には、ほぼゼロであった検査装置Ａのエラーレートが、基準検査装置のエラーレートに近づいていることが分かる。また、同様に、調整前には、限界値を超えていた検査装置Ｂのエラーレートも、ノイズ強度・メモリ長を調整することで基準検査装置のエラーレートに近づいていることが分かる。
【００４４】
なお、図５に示す処理を実行することにより、検査装置Ａのように、エラー感度が過度に低い検査装置の場合は、加算するノイズ強度は強くし、かつ、ビタビ復号器５２で用いるパスメモリ長は短く設定される。また、検査装置Ｂのように、エラー感度が過度に高い検査装置では、加算するノイズ強度はゼロに、かつ、ビタビ復号器５２で用いるパスメモリ長は長く設定される。
【００４５】
こうしたノイズ強度・メモリ長の調整処理が終了すれば、続いて、補正係数の算出・設定（Ｓ１２）が実行される。図６は、この補正係数算出・設定処理の詳細な流れを示すフローチャートである。係数乗算部４６で用いる補正係数Ａ，Ｂを算出する場合には、まず、調整対象の検査装置で、基準ディスクを検査し、基準ジッター値Ｇ１，Ｇ２におけるエラーレートＬ１，Ｌ２を取得する（Ｓ４０）。ここで、基準ジッター値Ｇ１，Ｇ２は、基準検査装置で基準ディスクを検査した際に、基準エラーレートＫ１，Ｋ２が測定されたジッター値である。
【００４６】
基準ジッター値Ｇ１，Ｇ２におけるエラーレートＬ１，Ｌ２が取得できれば、続いて、基準エラーレートＫ１，Ｋ２と、得られたエラーレートＬ１，Ｌ２を以下の式１，２に代入し、係数乗算部４６で用いる一次関数Ｌｍ＝Ａ×Ｌｎ＋Ｂの補正係数Ａ，Ｂを算出する（Ｓ４２）。
【００４７】
なお、この式１、式２は、次の連立方程式の解である。この式１，２により求めた補正係数Ａ，Ｂで測定エラーレートを補正することにより、基準ジッター値Ｇ１，Ｇ２における補正後のエラーレートが、基準エラーレートＫ１，Ｋ２と等しくなることになる。
【００４８】
補正係数Ａ，Ｂの値が求まれば、システムコントローラ３２は、この得られた補正係数Ａ，Ｂを係数乗算部４６に設定する（Ｓ４４）。そして、以降は、この補正係数Ａ，Ｂで補正されたエラーレートが、当該検査装置での検査結果値として取り扱われることになる。
【００４９】
なお、本実施形態では、補正後のエラーレートＬｍがマイナスになることを防止するために、エラーレートＬ１以下の測定値については、Ｌｍ＝（Ｋ１／Ｌ１）Ｌｎで補正する。また、エラーレートＬ１以上の測定値であっても、補正値Ｌｍがマイナスになった場合には、補正値をゼロに固定してもよい。
【００５０】
図８は、この係数乗算部４６で検査装置Ａを補正した結果を示すグラフである。図８において、白丸は基準検査装置でのエラーレートを、白三角は検査装置Ａの補正前のエラーレート（ノイズ加算、パスメモリ長調整のみがされた状態のエラーレート）を、実線は上述の一次関数で補正された検査装置Ａのエラーレートを、それぞれ示している。
【００５１】
図８から明らかなとおり、一次関数で補正することにより、基準検査装置に比較的近い値のエラーレートを得られており、エラー感度が基準検査装置に近づいていることが分かる。その結果、本来、エラー感度が非常に低い検査装置Ａであっても、基準検査装置と同様のエラーレートを出力することができる。このように、係数乗算により補正を施すことにより、検査装置の出力を、基準検査装置に近づけることができ、装置ごとの検査結果のバラツキを低減できる。
【００５２】
なお、本実施形態では、一次関数を用いてエラーレートの補正を行っているが、より、多次の関数を用いてエラーレートの補正を行ってもよい。例えば、二次関数Ｌｍ＝Ａｘ2＋Ｂｘ＋Ｃを用いてエラーレートの補正を行ってもよい。ここで、ｘ＝Ｌｎ−Ｌ１、Ｂ＝Ｋ１／Ｌ１、Ｃ＝Ｋ１とし、二次関数にＬｍ＝Ｋ２、Ｌｎ＝Ｌ２を代入すると、
Ｋ２＝Ａ（Ｌ２−Ｌ１）2＋Ｂ（Ｌ２−Ｌ１）＋Ｋ１
となり、二次関数の係数Ａは、
となる。なお、二次関数Ｌｍ＝Ａｘ2＋Ｂｘ＋Ｃを用いて補正を行う場合であっても、エラーレートＬ１以下の測定値は、Ｌｍ＝（Ｋ１／Ｌ１）Ｌｎで補正することが望ましい。
【００５３】
図８における破線は、検査装置Ａを、この二次関数で補正した結果を示している。この図８から明らかなとおり、二次関数を用いてエラーレートを補正することにより、補正後のエラーレートを、基準の検査装置のエラーレートに、より近づけることができる。その結果、装置ごとの検査結果のバラツキをより低減できる。
【００５４】
以上の説明から明らかなとおり、本実施形態では、各検査装置ごとに、エラー感度を調整することができる。その結果、ＯＰＵやデータ検出のハードウェアによって微妙に変化するエラー感度の装置ごとの違いを吸収することができる。換言すれば、本実施形態によれば、エラー感度を調整するために、ＯＰＵやデータ検出のハードウェア等を交換や微調整する必要がなくなる。その結果、比較的簡易な操作で、検査結果のバラツキを低減できる。
【符号の説明】
【００５５】
１０ ディスク検査装置、１２ スピンドルモータ、１６ 光ピックアップ、１８ スレッドモータ、１８ ＳＰドライバ、２０ ＳＬＤドライバ、２２ ＬＤドライバ、２５ ＡＣＴドライバ、２６ ＲＦ回路、２８ アドレスデコード回路、３０ サーボプロセッサ、３２ システムコントローラ、３６ 復号ユニット、４０ 復号部、４２ Ｓ／Ｎ比調整部、４４ ビタビ調整部、４６ 係数乗算部、４８ ＡＤ変換器、５０ 適応フィルタ、５２ ビタビ復号器、５４ エラー訂正器、５６ ノイズ発生器、５８ 加算器、１００ ディスク。
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ディスクを検査するディスク検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、レーザ光を照射することによりデータの記録再生が可能な光ディスクなどの記録媒体ディスクが広く知られている。かかるディスクにおいては、経年劣化などにより、データの記録品質が劣化し、場合によっては、データの再生が困難になり、情報が損失する場合がある。ディスクで各種情報を記録保管しているディスクアーカイブにおいては、こうしたディスクの劣化による情報損失は、大きな問題となる。そのため、ディスクアーカイブにおいては、定期的に保管されている大量のディスクの品質を検査することが求められる。また、ディスクの貸し出しや販売を行うディスクのレンタルショップや中古販売店においても、当該光ディスクの貸し出し・販売に先立って、当該ディスクの品質を検査することが求められる。
【０００３】
こうした問題を受け、ディスクの良否を高速に検査するための装置が従来から多数提案されている。こうした検査装置の多くは、通常のディスク再生装置と同様のディスクドライブを備えている。そして、検査装置の多くは、このディスクドライブでディスクを再生した際の再生品質、例えば、エラーレートなどに基づいてディスクの品質を検査している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平１０−３０２４１２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、このエラー検出量は、各検査装置に搭載されているオプティカルパワーユニットや、データ処理のハードウェアに依存しており、同一ディスクを検査した場合であっても、検査装置によって、結果が異なることがあった。その結果、検査装置ごとに、検査結果のばらつきが生じてしまい、正確に品質を検査できないという問題があった。もちろん、ＯＰＵやデータ処理のハードウェアの特性を揃えるように、これら部品を交換したり、微調整したりすることで、こうした問題は低減できる。しかし、各種ハードウェアの交換や微調整は、コスト増加や手間増加といった新たな問題を生じる。
【０００６】
なお、特許文献１には、ビタビ復号処理で用いるパスメモリ長を変更することで、エラーレートを向上させる技術が開示されているが、かかる技術では、エラー感度が過度に低い検査装置のエラー感度を適正値に修正することはできなかった。
【０００７】
そこで、本発明では、ハードウェアの微調整等を行うことなく、装置間での検査結果のばらつきを抑え得るディスク検査装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明のディスク検査装置は、ディスクを検査するディスク検査装置であって、ディスクに再生用レーザ光を照射した際に得られる反射光の強度に基づいて、ＲＦ信号を取得するＲＦ信号取得手段と、入力されたＲＦ信号をエラー訂正しつつ復号し、訂正後の復号データおよびエラーレートを出力する復号手段と、前記ＲＦ信号取得手段により取得されるとともに復号手段に入力される前のＲＦ信号のＳ／Ｎ比を、品質が既知の基準ディスクを検査した際に前記復号手段から出力される特定のジッター値におけるエラーレートが規定の範囲内に収まるような値に劣化可能なＳ／Ｎ比調整手段と、を備えることを特徴とする。
【０００９】
好適な態様では、前記Ｓ／Ｎ比調整手段は、前記復号手段に入力される前のＲＦ信号に対して、ホワイトノイズを付加することで、Ｓ／Ｎ比を劣化させる。他の好適な態様では、前記Ｓ／Ｎ比劣化手段は、前記復号手段に入力される前のＲＦ信号を、前記基準ディスクを検査した際に前記復号手段から出力される特定のジッター値におけるエラーレートと、予め規定された基準値と、の差が最小になるような値に劣化させる。
【００１０】
他の好適な態様では、さらに、前記復号手段から出力されたエラーレートに対して係数を乗算し、当該係数乗算後のエラーレートを当該ディスク検査装置での検査結果として出力する係数乗算手段を含み、前記係数は、前記基準ディスクを検査した際に特定のジッター値において得られるエラーレートが予め規定された基準値になるような値に調整可能である。
【００１１】
他の好適な態様では、前記復号手段は、前記ノイズ付加後の信号に対してビタビ復号を行うビタビ復号手段と、前記ビタビ復号手段から出力されたデータをエラー訂正しつつ復号し、訂正後の復号データおよびエラーレートを出力する主復号手段と、を含み、さらに、前記基準ディスクを検査した際に前記復号手段から出力される特定のジッター値におけるエラーレートが前記規定の範囲内に収まる値になるように、前記ビタビ復号手段のエラー訂正能力を調整可能なビタビ調整手段を備える。この場合、前記ビタビ調整手段は、ビタビ訂正処理で用いるパスメモリのメモリ長を変化させることで訂正能力を調整する、ことが望ましい。
【００１２】
他の本発明であるディスク検査装置の調整方法は、ディスクを再生した際に得られるＲＦ信号をエラーを訂正しつつ復号し、訂正後の復号データおよびエラーレートを出力する復号手段を備えたディスク検査装置の調整方法であって、前記復号手段に入力されるＲＦ信号のＳ／Ｎ比を、品質が既知の基準ディスクを検査した際に前記復号手段から出力される特定のジッター値におけるエラーレートが規定の範囲内に収まる値に劣化させるＳ／Ｎ比調整ステップを含む、ことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、ＲＦ信号のＳ／Ｎ比が一定範囲内に劣化可能であるため、エラー感度が過度に低い検査装置であっても、基準検査装置に近いエラー感度に調整することが可能となる。その結果、ハードウェアの微調整等を行うことなく、装置間での検査結果のばらつきを抑えることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明の実施形態であるディスク検査装置の構成を示すブロック図である。
【図２】復号ユニットの詳細構成を示すブロック図である。
【図３】装置ごとのエラー感度の違いを示すグラフである。
【図４】エラー感度調整の流れを示すフローチャートである。
【図５】ノイズ強度・メモリ長調整の流れを示すフローチャートである。
【図６】補正係数の算出・設定の流れを示すフローチャートである。
【図７】検査装置Ａ，Ｂにノイズ強度・メモリ長調整を施した結果を示すグラフである。
【図８】検査装置Ａに係数乗算を施した結果を示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。図１は、本発明の実施形態であるディスク検査装置１０の構成ブロック図である。このディスク検査装置１０は、ディスク１００（例えば、ＤＶＤやＣＤ、ブルーレイディスクなど）の再生を困難にする不具合（欠陥）の有無を検査する装置である。以下、このディスク検査装置１０について詳説する。
【００１６】
検査対象であるＣＤやＤＶＤ等のディスク１００はスピンドルモータ（ＳＰ）１２により回転駆動される。スピンドルモータ１２は、ＳＰドライバ１４で駆動され、ＳＰドライバ１４はサーボプロセッサ３０により所望の回転速度となるようにサーボ制御される。
【００１７】
光ピックアップ１６は、レーザ光をディスク１００に照射するためのレーザダイオード（ＬＤ）やディスク１００からの反射光を受光して電気信号に変換するフォトディテクタを含み、ディスク１００に対向配置される。光ピックアップ１６はスレッドモータ（ＳＬＤ）１８によりディスク１００の半径方向に駆動され、スレッドモータ１８はＳＬＤドライバ２０で駆動される。ＳＬＤドライバ２０は、ＳＰドライバ１４と同様にサーボプロセッサ３０によりサーボ制御される。また、光ピックアップ１６のレーザダイオードはＬＤドライバ２２により駆動され、ＬＤドライバ２２は、オートパワーコントロール回路（ＡＰＣ）２４により、駆動電流が所望の値となるように制御される。ＡＰＣ２４及びＬＤドライバ２２は、システムコントローラ３２からの指令によりレーザダイオードの発光量を制御する。なお、図ではＬＤドライバ２２は光ピックアップ１６と別個に設けられているが、ＬＤドライバ２２を光ピックアップ１６に搭載してもよい。また、光ピックアップ１６には、対物レンズを駆動するアクチュエータ（ＡＣＴ）が設けられており、当該アクチュエータは、ＡＣＴドライバ２５で駆動される。このＡＣＴドライバ２５は、サーボプロセッサ３０により所望の駆動量となるようにサーボ制御される。
【００１８】
ディスク１００の検査に当たっては、ディスク１００に記録されたデータを再生するが、当該再生を実行する際には、光ピックアップ１６のレーザダイオードから再生パワーのレーザ光が照射され、その反射光がフォトディテクタで電気信号に変換されてＲＦ信号として出力される。
【００１９】
光ピックアップ１６からのＲＦ信号はＲＦ回路２６に供給される。ＲＦ回路２６は、ＲＦ信号からフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号を生成し、サーボプロセッサ３０に供給する。サーボプロセッサ３０は、これらのエラー信号に基づいて光ピックアップ１６をサーボ制御し、光ピックアップ１６をオンフォーカス状態及びオントラック状態に維持する。また、ＲＦ回路２６は、ＲＦ信号に含まれるアドレス信号を２値化回路３４を介してアドレスデコード回路２８に供給する。アドレスデコード回路２８は２値化されたアドレス信号からディスク１００のアドレスデータを復調し、サーボプロセッサ３０やシステムコントローラ３２に供給する。
【００２０】
また、ＲＦ回路２６は、ＲＦ信号を２値化回路３４を介して復号ユニット３６にも供給する。復号ユニット３６では、２値化されたＲＦ信号を復号するとともに、当該ディスク１００のエラーレートを出力する。ディスク検査装置１０では、この復号ユニット３６で算出されるエラーレートに基づいて、ディスク１００の良否を判定するが、この復号ユニット３６の詳細については、後に詳説する。
【００２１】
システムコントローラ３２は、システム全体の動作を制御する部位である。本実施形態のシステムコントローラ３２は、ディスク１００の装填が検出された場合には、当該ディスク１００の良否、具体的には、再生を困難にし得る程度のディスク１００の不具合、すなわち、欠陥の有無を判定するディスク１００検査処理を実行するべく、各部位の動作を制御する。そして、最終的には、復号ユニット３６から出力されたエラーレートに基づいて、ディスク１００の良否を判定し、その判定結果をインターフェース回路（Ｉ／Ｆ）４２を介してユーザに提示する。また、このシステムコントローラ３２は、ユーザからの指示に応じて、適宜、復号ユニット３６のエラー感度の調整動作も実行するが、これについては、後に詳説する。
【００２２】
ところで、こうしたディスク検査装置１０での検査結果は、すべての検査装置で同等であることが望まれる。すなわち、ある基準ディスクを検査した場合に得られるエラーレートは、いずれの検査装置でも同等であることが望まれる。しかしながら、エラーレート、ひいては、エラー検出量は、光ピックアップ１６などからなるオプティカルパワーユニット（ＯＰＵ）や、データ検出のハードウェアに依存し、同一種類の検査装置であっても、ばらつきが多く発生していた。その結果、同じディスク１００を検査した場合であっても、ある検査装置では、良品と判定され、他の検査装置では不良品と判定されることもあり、ユーザがディスク１００の品質を正確に判断できないという問題があった。
【００２３】
こうした問題を避けるために、基準の検査装置と同等の感度になるように、各検査装置ごとに得られたエラーレートを補正することも考えられる。すなわち、一つの基準ディスクを基準検査装置および補正が必要な検査装置の両方で検査し、基準検査装置で得られるエラーレートと同じ値になるように、検査装置で得られるエラーレートを補正するなどの手法が考えられる。しかし、Ｓ／Ｎ比とエラーレートとの関係は指数関数的であるため、装置間の検出エラーの差異が大きい場合には、上述した手法では補正しきれない場合があった。これについて、図３を参照して説明する。
【００２４】
図３は、基準検査装置と他の検査装置Ａ，Ｂで、品質が既知の基準ディスクを検査した結果を示すグラフである。図３において横軸はジッターを、縦軸は検出されたエラーレートを示している。また、図３において、白丸は基準検査装置での検査結果を、黒三角は検査装置Ａでの検査結果を、黒四角は検査装置Ｂでの検査結果をそれぞれ示している。
【００２５】
本来であれば、検査装置Ａ，Ｂのいずれででも、基準検査装置と同等のエラーレートが検出されることが望ましい。しかし、ＯＰＵやデータ検出のハードウェアの差異に起因して、検査装置Ａのように、Ｋ付近（ＤＶＤ企画ではＰＩ−ＳＵＭ８＝２８０Ｌｉｎｅ．２８０／１６６４≒０．１７付近）のエラーレートが検出されてしかるべきジッター１３％付近においても、殆どエラーが検出されず、検出エラー数がほぼゼロになる場合があった。この検査装置Ａのように検出エラー数がほぼゼロの場合、如何なる数値を乗算したとしても、当該エラーレートを基準装置と同等の値に補正することは困難となる。
【００２６】
逆に、検査装置Ｂのように、エラー感度が高く、ジッター１３％付近において、エラー検出の限界値を超えるような場合には、得られた検出エラー数が意味を持たない数値になる。こうした意味のない数値に対して何らかの係数を乗算する補正を行ったとしても、基準検査装置と同等のエラーレートを得ることは無理である。つまり、検査装置Ａ，Ｂのように、基準検査装置に比べて、エラー感度が大幅に異なる場合には、得られたエラーレートに係数を乗算して補正するだけでは、基準検査装置と同等のエラー感度に調整することは困難であった。
【００２７】
そこで、本実施形態では、検査装置のエラー感度を調整可能とするべく、復号ユニット３６の構成を特殊なものとしている。以下、復号ユニット３６の構成について詳説していく。
【００２８】
図２は、復号ユニット３６の詳細ブロック図である。復号ユニット３６は、既述したとおり、ＲＦ信号を復号するとともに、当該ディスク１００のエラーレートを出力するもので、復号部４０、Ｓ／Ｎ比調整部４２、ビタビ調整部４４、および、係数乗算部４６を有している。
【００２９】
復号部４０は、ＲＦ信号をエラー訂正しつつ復号し、訂正後の復号データおよびエラーレートＬｎを出力する。この復号部４０は、ＡＤ変換器４８、適応フィルタ５０、ビタビ復号器５２、エラー訂正器５４を備えている。ＡＤ変換器４８は、入力されたアナログ信号をデジタル信号に変換する。適応フィルタ５０は、後段で行う復号処理のために、入力されたＲＦ信号に対して、後段にある復号器に適した周波数特性に波形等価処理を施す。本実施形態では、復号器としてビタビ復号器５２を用いているため、適応フィルタは、入力されたＲＦ信号に対して、ＰＲ（Ｐａｒｔｉａｌ Ｒｅｓｐｏｎｓｅ）特性に波形等価処理が施される。
【００３０】
ビタビ復号器５２は、適応フィルタ５０から出力された信号に基づいて、ビタビ復号方法によって復号データを生成する。ビタビ復号方法は、考えられる復号データ値の中から最も確からしい、すなわち、最尤な復号データ値を選択し、復号データ系列を生成する復号方法である。かかるビタビ復号器５２を設けることにより、エラーレート限界を改善することができる。すなわち、図３で例示した検査装置Ｂのように、ジッターが低い段階で、エラー検出限界を超えることを防止できる。ただし、ビタビ復号によるエラー訂正能力が高すぎる場合には、図３で例示した検査装置Ａのように、ジッターが高くても、エラーが殆ど検出されない恐れがある。そこで、本実施形態では、ビタビ復号器５２のパスメモリ長を調整可能としている。すなわち、ビタビ復号器５２は、通常、チャンネルクロックｎ個分のパスメモリを有している。そして、このパスメモリのメモリ長を長くするほど復号データの確度が増す一方で、ディスク欠陥の影響を受けやすくなったり、復号による遅延が大きくなったりといった問題が生じやすくなることが知られている。本実施形態では、好適なディスク検査を可能とするために、このパスメモリ長をビタビ調整部４４により可変可能としているが、これについては、後述する。
【００３１】
エラー訂正器５４は、ビタビ復号器５２から出力されたデータを、エラー訂正しつつ復号し、訂正後の復号データおよびエラーレートを出力する主復号手段として機能するものである。より具体的には、エラー訂正器５４は、ビタビ復号器５２から出力された復号信号に対し、リードソロモン積符号方式を用いて、１６セクタから成る１ＥＣＣブロックを単位としてエラー訂正処理を行う。そして、エラー訂正器は、このエラー訂正処理で得られるエラーレートと、エラー訂正後の復号データを出力する。
【００３２】
Ｓ／Ｎ比調整部４２は、上述した復号部４０に入力されるＲＦ信号のＳ／Ｎ比を劣化させるもので、ノイズを発生するノイズ発生器５６と、当該ノイズ発生器５６から出力されたノイズを復号部４０に入力されるＲＦ信号に加算する加算器５８と、から構成される。ここで、付加するノイズとしては、全ての強度で同じ強度を持つホワイトノイズなどを用いることができる。また、劣化度合いは、ＲＦ信号の振幅と、加算するノイズの振幅と、の比率を変更することで調整される。したがって、加算するノイズの振幅を変更して劣化度合いを調整してもよいし、逆に、ＲＦ信号の振幅を変更して劣化度合いを調整してもよい。
【００３３】
いずれにしても、このようにノイズを加算してＲＦ信号のＳ／Ｎ比を劣化させることで、エラーが検出されやすくなり、図３において例示した検査装置Ａのように、エラーレートがほぼゼロになるという現象を防止できる。その結果、復号部４０から出力されたエラーレートＬｎに何らかの補正を加え、基準の検査装置とほぼ同等のエラーレートを出力することが可能となる。このＳ／Ｎ比調整部４２で調整するＳ／Ｎ比の劣化度合い（加算するノイズ強度）は、検査装置で基準ディスクを検査した際に得られるエラーレートに基づいて設定されるが、これについては後述する。
【００３４】
ビタビ調整部４４は、ビタビ復号器５２のエラー訂正能力を調整するものである。記述したように、ビタビ復号器５２は、チャンネルクロックのｎ個分のパスメモリを有しており、このパスメモリ長を調整することで復号データの確度が変わってくる。ビタビ調整部４４は、このパスメモリ長を変更するものである。このビタビ調整部４４で、パスメモリ長を長くすることにより、図３で例示した検査装置Ｂのように、早々にエラー検出限界を超える検査装置のエラー感度を下げることができる。また、逆に、パスメモリ長を短くすることにより、検査装置Ａのように、エラーが殆ど検出されないような検査装置のエラー感度を上げることができる。このビタビ調整部４４で調整するパスメモリ長の長さは、検査装置で基準ディスクを検査した際に得られるエラーレートに基づいて設定されるが、これについても後述する。
【００３５】
係数乗算部４６は、エラー訂正器から出力されたエラーレートＬｎに、所定の係数を乗算して補正する。この補正後のエラーレートＬｍが、当該検査装置での検査結果として取り扱われる。本実施形態では、一次関数Ｌｍ＝Ａ×Ｌｎを用いてエラーレートを補正する。ここで、Ｌｎは補正前のエラーレート、すなわちエラー訂正器５４から出力されるエラーレートであり、Ｌｍは補正後のエラーレート、すなわち、係数乗算部４６から出力され、当該検査装置での検査結果として取り扱われるエラーレートである。この一次関数における係数Ａ，Ｂの具体的数値も、検査装置で基準ディスクを検査した際に得られるエラーレートに基づいて設定されるが、これについても後述する。
【００３６】
次に、このディスク検査装置１０のエラー感度を調整する流れについて説明する。図４は、エラー感度調整の流れを示すフローチャートである。エラー感度の調整処理は、ノイズ強度・メモリ長の調整処理（Ｓ１０）と、補正計数Ａ，Ｂの算出処理（Ｓ１２）と、に大別される。図５，６は、この各処理Ｓ１０，Ｓ１２の詳細な流れを示すフローチャートである。以下、この図５、図６を参照して、各処理の流れについて詳説する。
【００３７】
はじめに図５を参照してノイズ強度・メモリ長の調整処理について説明する。この処理においては、調整対象の検査装置が、基準の検査装置のエラー閾値付近にエラー検出感度を持つように加算するノイズ強度と、ビタビ復号器５２のパスメモリ長を調整する。具体的には、特定のジッター値Ｇ１におけるエラーレートＬ１が規定の範囲に収まるようにする。ここで、特定のジッター値Ｇ１は、基準の検査装置で、基準エラーレートＫ１が測定されたジッター値である。エラー感度を調整する場合には、予め、基準の検査装置で、基準ディスクを測定し、この基準ジッター値Ｇ１の値を取得しておく。また、規定の範囲とは、後段に行う係数乗算により、基準検査装置と同等のエラー感度に調整可能な範囲である。すなわち、図３の検査装置Ａのように、エラーが殆ど検出されず、基準ジッター値Ｇ１におけるエラーレートＬ１がほぼゼロの状態では、後に如何なる係数を乗算しても、基準検査装置と同等のエラー感度を持たせることは難しい。逆に、図３の検査装置Ｂのように、基準ジッター値Ｇ１の段階で検出エラーが限界値を超えるような場合にも、後に如何なる係数を乗算しても、基準検査装置と同等のエラー感度を持たせることは難しい。そこで、本実施形態では、ＲＦ信号に加算するノイズ強度・ビタビ復号器５２で用いるパスメモリ長を調整して、復号部４０から出力されるエラーレートを後段に行う係数乗算により、基準検査装置と同等のエラー感度に補正可能な範囲にしている。
【００３８】
なお、本実施形態では、より好適な補正を可能にするために、調整対象の検査装置で、基準ディスクを検査した際に得られる基準ジッター値Ｇ１におけるエラーレートＬ１と、予め規定された基準エラーレートＫ１と、の差が最小になるように、ノイズ強度・パスメモリ長を設定している。以下、この処理の流れについて詳説する。
【００３９】
ノイズ強度・メモリ長を調整する場合には、まず、パラメータｉ，ｊを初期化し、ｉ＝０、ｊ＝０に設定する（Ｓ１６）。続いて、ビタビ復号器５２で用いるパスメモリ長をＰｉに、また、ノイズ発生器５６で発生させるノイズの強度をＮｊに設定する（Ｓ１８，Ｓ２０）。この状態で、調整対象の検査装置で、基準ディスクの検査を行い、基準ジッター値Ｇ１におけるエラーレートＬｎｊを取得し、得られたエラーレートＬｎｊをメモリに格納する（Ｓ２２，Ｓ２４）。一つのエラーレートが得られれば、パラメータｊが最大値Ｊ以下か否かを確認する（Ｓ２６）。ｊ≦Ｊの場合には、パラメータｊをインクリメントしたうえで、ノイズ強度を新たな値Ｎｊに設定する（Ｓ２８，Ｓ２０）。そして、再度、基準ディスクを検査し、基準ジッター値Ｇ１におけるエラーレートＬｎｊを取得・記憶する（Ｓ２２，Ｓ２４）。この処理を、ｊ＞Ｊになるまで繰り返せば、続いて、パラメータｉが最大値Ｉ以下か否かを確認する（Ｓ３０）。ｉ≦Ｉの場合には、パラメータｉをインクリメントしたうえで、パスメモリ長を新たな値Ｐｉに設定する（Ｓ３２，Ｓ１８）。そして、ｉ＞Ｉになるまで、上述の処理を繰り返す。
【００４０】
全ての処理が完了すれば、（Ｉ＋１）×（Ｊ＋１）個のエラーレートＬｎｊが得られることになる。システムコントローラ３２は、メモリに格納されている、これらエラーレートＬｎｊのうち、基準エラーレートＫ１との誤差が最小のエラーレートＬｎｊを特定する（Ｓ３４）。そして、この特定されたエラーレートＬｎｊを取得した際のノイズ強度Ｎｊ、パスメモリ長Ｐｉを、それぞれ、当該検査装置で用いるノイズ強度およびパスメモリ長として、Ｓ／Ｎ比調整部４２およびビタビ調整部４４に設定する（Ｓ３４）。
【００４１】
このようにノイズ強度・パスメモリ長を調整することで、検査装置で得られるエラーレートを、基準の検査装置のエラーレートに近づけることができる。その結果、ＯＰＵやデータ検出のハードウェアの交換や微調整を行わなくても、後に行う係数乗算での補正が可能になる。
【００４２】
図７は、このノイズ強度・メモリ長調整処理を検査装置Ａ，Ｂに施した結果を示すグラフである。図７において、白丸は、基準検査装置のエラーレートを、黒三角は検査装置Ａの調整前のエラーレートを、白三角は検査装置Ａの調整後のエラーレートを、黒四角は検査装置Ｂの調整前のエラーレートを、白四角は検査装置Ｂの調整後のエラーレートを、それぞれ示している。
【００４３】
この図７から明らかなように、ノイズ強度・メモリ長を調整することにより、調整前には、ほぼゼロであった検査装置Ａのエラーレートが、基準検査装置のエラーレートに近づいていることが分かる。また、同様に、調整前には、限界値を超えていた検査装置Ｂのエラーレートも、ノイズ強度・メモリ長を調整することで基準検査装置のエラーレートに近づいていることが分かる。
【００４４】
なお、図５に示す処理を実行することにより、検査装置Ａのように、エラー感度が過度に低い検査装置の場合は、加算するノイズ強度は強くし、かつ、ビタビ復号器５２で用いるパスメモリ長は短く設定される。また、検査装置Ｂのように、エラー感度が過度に高い検査装置では、加算するノイズ強度はゼロに、かつ、ビタビ復号器５２で用いるパスメモリ長は長く設定される。
【００４５】
こうしたノイズ強度・メモリ長の調整処理が終了すれば、続いて、補正係数の算出・設定（Ｓ１２）が実行される。図６は、この補正係数算出・設定処理の詳細な流れを示すフローチャートである。係数乗算部４６で用いる補正係数Ａ，Ｂを算出する場合には、まず、調整対象の検査装置で、基準ディスクを検査し、基準ジッター値Ｇ１，Ｇ２におけるエラーレートＬ１，Ｌ２を取得する（Ｓ４０）。ここで、基準ジッター値Ｇ１，Ｇ２は、基準検査装置で基準ディスクを検査した際に、基準エラーレートＫ１，Ｋ２が測定されたジッター値である。
【００４６】
基準ジッター値Ｇ１，Ｇ２におけるエラーレートＬ１，Ｌ２が取得できれば、続いて、基準エラーレートＫ１，Ｋ２と、得られたエラーレートＬ１，Ｌ２を以下の式１，２に代入し、係数乗算部４６で用いる一次関数Ｌｍ＝Ａ×Ｌｎ＋Ｂの補正係数Ａ，Ｂを算出する（Ｓ４２）。
【００４７】
なお、この式１、式２は、次の連立方程式の解である。この式１，２により求めた補正係数Ａ，Ｂで測定エラーレートを補正することにより、基準ジッター値Ｇ１，Ｇ２における補正後のエラーレートが、基準エラーレートＫ１，Ｋ２と等しくなることになる。
【００４８】
補正係数Ａ，Ｂの値が求まれば、システムコントローラ３２は、この得られた補正係数Ａ，Ｂを係数乗算部４６に設定する（Ｓ４４）。そして、以降は、この補正係数Ａ，Ｂで補正されたエラーレートが、当該検査装置での検査結果値として取り扱われることになる。
【００４９】
なお、本実施形態では、補正後のエラーレートＬｍがマイナスになることを防止するために、エラーレートＬ１以下の測定値については、Ｌｍ＝（Ｋ１／Ｌ１）Ｌｎで補正する。また、エラーレートＬ１以上の測定値であっても、補正値Ｌｍがマイナスになった場合には、補正値をゼロに固定してもよい。
【００５０】
図８は、この係数乗算部４６で検査装置Ａを補正した結果を示すグラフである。図８において、白丸は基準検査装置でのエラーレートを、白三角は検査装置Ａの補正前のエラーレート（ノイズ加算、パスメモリ長調整のみがされた状態のエラーレート）を、実線は上述の一次関数で補正された検査装置Ａのエラーレートを、それぞれ示している。
【００５１】
図８から明らかなとおり、一次関数で補正することにより、基準検査装置に比較的近い値のエラーレートを得られており、エラー感度が基準検査装置に近づいていることが分かる。その結果、本来、エラー感度が非常に低い検査装置Ａであっても、基準検査装置と同様のエラーレートを出力することができる。このように、係数乗算により補正を施すことにより、検査装置の出力を、基準検査装置に近づけることができ、装置ごとの検査結果のバラツキを低減できる。
【００５２】
なお、本実施形態では、一次関数を用いてエラーレートの補正を行っているが、より、多次の関数を用いてエラーレートの補正を行ってもよい。例えば、二次関数Ｌｍ＝Ａｘ2＋Ｂｘ＋Ｃを用いてエラーレートの補正を行ってもよい。ここで、ｘ＝Ｌｎ−Ｌ１、Ｂ＝Ｋ１／Ｌ１、Ｃ＝Ｋ１とし、二次関数にＬｍ＝Ｋ２、Ｌｎ＝Ｌ２を代入すると、
Ｋ２＝Ａ（Ｌ２−Ｌ１）2＋Ｂ（Ｌ２−Ｌ１）＋Ｋ１
となり、二次関数の係数Ａは、
となる。なお、二次関数Ｌｍ＝Ａｘ2＋Ｂｘ＋Ｃを用いて補正を行う場合であっても、エラーレートＬ１以下の測定値は、Ｌｍ＝（Ｋ１／Ｌ１）Ｌｎで補正することが望ましい。
【００５３】
図８における破線は、検査装置Ａを、この二次関数で補正した結果を示している。この図８から明らかなとおり、二次関数を用いてエラーレートを補正することにより、補正後のエラーレートを、基準の検査装置のエラーレートに、より近づけることができる。その結果、装置ごとの検査結果のバラツキをより低減できる。
【００５４】
以上の説明から明らかなとおり、本実施形態では、各検査装置ごとに、エラー感度を調整することができる。その結果、ＯＰＵやデータ検出のハードウェアによって微妙に変化するエラー感度の装置ごとの違いを吸収することができる。換言すれば、本実施形態によれば、エラー感度を調整するために、ＯＰＵやデータ検出のハードウェア等を交換や微調整する必要がなくなる。その結果、比較的簡易な操作で、検査結果のバラツキを低減できる。
【符号の説明】
【００５５】
１０ ディスク検査装置、１２ スピンドルモータ、１６ 光ピックアップ、１８ スレッドモータ、１８ ＳＰドライバ、２０ ＳＬＤドライバ、２２ ＬＤドライバ、２５ ＡＣＴドライバ、２６ ＲＦ回路、２８ アドレスデコード回路、３０ サーボプロセッサ、３２ システムコントローラ、３６ 復号ユニット、４０ 復号部、４２ Ｓ／Ｎ比調整部、４４ ビタビ調整部、４６ 係数乗算部、４８ ＡＤ変換器、５０ 適応フィルタ、５２ ビタビ復号器、５４ エラー訂正器、５６ ノイズ発生器、５８ 加算器、１００ ディスク。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ディスクを検査するディスク検査装置であって、
ディスクに再生用レーザ光を照射した際に得られる反射光の強度に基づいて、ＲＦ信号を取得するＲＦ信号取得手段と、
入力されたＲＦ信号をエラー訂正しつつ復号し、訂正後の復号データおよびエラーレートを出力する復号手段と、
前記ＲＦ信号取得手段により取得されるとともに復号手段に入力される前のＲＦ信号のＳ／Ｎ比を、品質が既知の基準ディスクを検査した際に前記復号手段から出力される特定のジッター値におけるエラーレートが規定の範囲内に収まるような値に劣化可能なＳ／Ｎ比調整手段と、
を備えることを特徴とするディスク検査装置。
【請求項２】
請求項１に記載のディスク検査装置であって、
前記Ｓ／Ｎ比調整手段は、前記復号手段に入力される前のＲＦ信号に対して、ホワイトノイズを付加することで、Ｓ／Ｎ比を劣化させる、ことを特徴とするディスク検査装置。
【請求項３】
請求項１または２に記載のディスク検査装置であって、さらに、
前記Ｓ／Ｎ比劣化手段は、前記復号手段に入力される前のＲＦ信号を、前記基準ディスクを検査した際に前記復号手段から出力される特定のジッター値におけるエラーレートと、予め規定された基準値と、の差が最小になるような値に劣化させる、ことを特徴とするディスク検査装置。
【請求項４】
請求項１から３のいずれか１項に記載のディスク検査装置であって、さらに、
前記復号手段から出力されたエラーレートに対して係数を乗算し、当該係数乗算後のエラーレートを当該ディスク検査装置での検査結果として出力する係数乗算手段を含み、
前記係数は、前記基準ディスクを検査した際に特定のジッター値において得られるエラーレートが予め規定された基準値になるような値に調整可能である、
ことを特徴とするディスク検査装置。
【請求項５】
請求項１から４のいずれか１項に記載のディスク検査装置であって、
前記復号手段は、
前記ノイズ付加後の信号に対してビタビ復号を行うビタビ復号手段と、
前記ビタビ復号手段から出力されたデータをエラー訂正しつつ復号し、訂正後の復号データおよびエラーレートを出力する主復号手段と、
を含み、さらに、
前記基準ディスクを検査した際に前記復号手段から出力される特定のジッター値におけるエラーレートが前記規定の範囲内に収まる値になるように、前記ビタビ復号手段のエラー訂正能力を調整可能なビタビ調整手段を備える、
ことを特徴とするディスク検査装置。
【請求項６】
請求項５に記載のディスク検査装置であって、
前記ビタビ調整手段は、ビタビ訂正処理で用いるパスメモリのメモリ長を変化させることで訂正能力を調整する、ことを特徴とするディスク検査装置。
【請求項７】
ディスクを再生した際に得られるＲＦ信号をエラーを訂正しつつ復号し、訂正後の復号データおよびエラーレートを出力する復号手段を備えたディスク検査装置の調整方法であって、
前記復号手段に入力されるＲＦ信号のＳ／Ｎ比を、品質が既知の基準ディスクを検査した際に前記復号手段から出力される特定のジッター値におけるエラーレートが規定の範囲内に収まる値に劣化させるＳ／Ｎ比調整ステップを含む、
ことを特徴とするディスク検査装置。
【請求項１】
ディスクを検査するディスク検査装置であって、
ディスクに再生用レーザ光を照射した際に得られる反射光の強度に基づいて、ＲＦ信号を取得するＲＦ信号取得手段と、
入力されたＲＦ信号をエラー訂正しつつ復号し、訂正後の復号データおよびエラーレートを出力する復号手段と、
前記ＲＦ信号取得手段により取得されるとともに復号手段に入力される前のＲＦ信号のＳ／Ｎ比を、品質が既知の基準ディスクを検査した際に前記復号手段から出力される特定のジッター値におけるエラーレートが規定の範囲内に収まるような値に劣化可能なＳ／Ｎ比調整手段と、
を備えることを特徴とするディスク検査装置。
【請求項２】
請求項１に記載のディスク検査装置であって、
前記Ｓ／Ｎ比調整手段は、前記復号手段に入力される前のＲＦ信号に対して、ホワイトノイズを付加することで、Ｓ／Ｎ比を劣化させる、ことを特徴とするディスク検査装置。
【請求項３】
請求項１または２に記載のディスク検査装置であって、さらに、
前記Ｓ／Ｎ比劣化手段は、前記復号手段に入力される前のＲＦ信号を、前記基準ディスクを検査した際に前記復号手段から出力される特定のジッター値におけるエラーレートと、予め規定された基準値と、の差が最小になるような値に劣化させる、ことを特徴とするディスク検査装置。
【請求項４】
請求項１から３のいずれか１項に記載のディスク検査装置であって、さらに、
前記復号手段から出力されたエラーレートに対して係数を乗算し、当該係数乗算後のエラーレートを当該ディスク検査装置での検査結果として出力する係数乗算手段を含み、
前記係数は、前記基準ディスクを検査した際に特定のジッター値において得られるエラーレートが予め規定された基準値になるような値に調整可能である、
ことを特徴とするディスク検査装置。
【請求項５】
請求項１から４のいずれか１項に記載のディスク検査装置であって、
前記復号手段は、
前記ノイズ付加後の信号に対してビタビ復号を行うビタビ復号手段と、
前記ビタビ復号手段から出力されたデータをエラー訂正しつつ復号し、訂正後の復号データおよびエラーレートを出力する主復号手段と、
を含み、さらに、
前記基準ディスクを検査した際に前記復号手段から出力される特定のジッター値におけるエラーレートが前記規定の範囲内に収まる値になるように、前記ビタビ復号手段のエラー訂正能力を調整可能なビタビ調整手段を備える、
ことを特徴とするディスク検査装置。
【請求項６】
請求項５に記載のディスク検査装置であって、
前記ビタビ調整手段は、ビタビ訂正処理で用いるパスメモリのメモリ長を変化させることで訂正能力を調整する、ことを特徴とするディスク検査装置。
【請求項７】
ディスクを再生した際に得られるＲＦ信号をエラーを訂正しつつ復号し、訂正後の復号データおよびエラーレートを出力する復号手段を備えたディスク検査装置の調整方法であって、
前記復号手段に入力されるＲＦ信号のＳ／Ｎ比を、品質が既知の基準ディスクを検査した際に前記復号手段から出力される特定のジッター値におけるエラーレートが規定の範囲内に収まる値に劣化させるＳ／Ｎ比調整ステップを含む、
ことを特徴とするディスク検査装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【公開番号】特開２０１２−３３２２５（Ｐ２０１２−３３２２５Ａ）
【公開日】平成２４年２月１６日（２０１２．２．１６）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１０−１７１２０７（Ｐ２０１０−１７１２０７）
【出願日】平成２２年７月２９日（２０１０．７．２９）
【出願人】（０００００３６７６）ティアック株式会社 (339)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２４年２月１６日（２０１２．２．１６）
【国際特許分類】
【出願日】平成２２年７月２９日（２０１０．７．２９）
【出願人】（０００００３６７６）ティアック株式会社 (339)
【Ｆターム（参考）】
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