トランスポンダ検査システム
【課題】恒温槽、専用試験器及び制御器の制御をシステム化し、温度サイクル試験を効率的に実施することが可能なトランスポンダ検査システムを提供する。
【解決手段】制御器１１は、恒温槽制御器１３１に対して温度フローを設定する。制御器１１は、所定のタイミングで専用試験器１２にトランスポンダ２０−１〜２０−３の応答性能試験を実施させ、トランスポンダ２０−１〜２０−３にＢＩＴ制御を実施させる。
【解決手段】制御器１１は、恒温槽制御器１３１に対して温度フローを設定する。制御器１１は、所定のタイミングで専用試験器１２にトランスポンダ２０−１〜２０−３の応答性能試験を実施させ、トランスポンダ２０−１〜２０−３にＢＩＴ制御を実施させる。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、例えば温度サイクル試験時においてトランスポンダの応答性能を検査するトランスポンダ検査システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、航空機は、受信信号に応答した応答信号を送信するトランスポンダを搭載する。航空機は、低温環境及び恒温環境下を飛行する。このため、トランスポンダは、このような環境下であっても正常に動作しなくてはならない。
ところで、飛行中の航空機内のトランスポンダの周囲の環境を模擬的に構築する温度サイクル試験がある。温度サイクル試験では、低温及び恒温時の苛酷な温度環境を作り出し、この環境下でトランスポンダの正常起動及び応答性能に不良が発生していないか否かを測定する。温度サイクル試験は、低温又は恒温環境を作り出す恒温槽にトランスポンダを入れ、制御器によりトランスポンダの応答性能を検査する専用試験器を制御することにより行われる。このとき、温度サイクル試験の実施者は、恒温槽の温度フローを手動で設定し、制御器、専用試験器及びトランスポンダに対する試験項目を手動で入力する。そして、測定者は、表示画面に測定値を表示させ、測定値が閾値の範囲内に収まっていることを常に確認するようにしていた。
【０００３】
なお、複数の測定器から試験結果データを自動的に取得し、取得した試験結果データを送信する自動試験システムが提案されている（例えば、特許文献１参照）。しかし、特許文献１では、試験環境を設定する恒温槽及び専用試験器の両方を制御して試験を行うようなシステムに関してはなんら記載されていない。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００６−１３２９９９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上述のように、従来では、温度サイクル試験を行う、恒温槽、専用試験器及び制御器は、システム化されていなかった。そのため、試験の設定に手間がかかるという問題がある。また、試験の実施者は測定値を常に監視していなければならず、負担が大きいという問題がある。なお、測定値が閾値の範囲内に収まっていない状態を放置してしまうと、トランスポンダが故障してしまい、大きな損害となる。
【０００６】
この発明は上記事情によりなされたもので、その目的は、恒温槽、専用試験器及び制御器の制御をシステム化し、温度サイクル試験を効率的に実施することが可能なトランスポンダ検査システムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するため、本発明に係るトランスポンダ検査システムは、複数のトランスポンダが内部に配置され、温度変化可能な恒温槽と、前記恒温槽の温度が指定された温度フローで周期的に変化するように、前記恒温槽の温度変化を制御する恒温槽制御器と、前記温度フロー下における前記複数のトランスポンダの応答性能の検査を、指定されたタイミングで開始する専用試験器と、前記恒温槽制御器に対して前記温度フローを設定する第１の制御と、前記温度フローにおけるピークの期間内で前記複数のトランスポンダの応答性能を検査するように、前記専用試験器に対して前記検査開始のタイミングを指定する第２の制御と、前記温度フローにおけるピークの期間内で前記複数のトランスポンダの自己診断機能を検査するように、前記複数のトランスポンダに対して前記自己診断機能の検査の開始のタイミングを指定する第３の制御とを行う制御器とを具備する。
【０００８】
上記構成によるトランスポンダ検査システムでは、制御器により、恒温槽制御器、専用試験器及びトランスポンダが制御されるようになっている。これにより、ユーザは、制御器に対する操作のみで、恒温槽に配置されたトランスポンダに対する応答性能試験及びＢＩＴ試験を自動的に行うことが可能となる。
【発明の効果】
【０００９】
この発明によれば、恒温槽、専用試験器及び制御器の制御をシステム化し、温度サイクル試験を効率的に実施することが可能なトランスポンダ検査システムを提供するができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明の一実施形態に係るトランスポンダ検査システムの構成を示すブロック図である。
【図２】図１の制御器の機能構成を示すブロック図である。
【図３】図１のトランスポンダ検査システムにおける処理を示すシーケンス図である。
【図４】図１の制御器へ温度フローに合わせて入力された試験項目及び順序の一例を示す模式図である。
【図５】図１の表示部で表示される試験結果の一例を示す模式図である。
【図６】図１の制御器へ温度フローに合わせて入力された試験項目及び順序の異なる例を示す模式図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、図面を参照しながら本発明に係るトランスポンダ検査システムの実施の形態について詳細に説明する。
図１は、本発明の一実施形態に係るトランスポンダ検査システム１０の機能構成を示すブロック図である。図１におけるトランスポンダ検査システム１０は、制御器１１、専用試験器１２、恒温槽１３、表示部１４及び電源部１５を具備する。
【００１２】
恒温槽１３は、恒温槽１３の温度変化を制御する恒温槽制御器１３１を有する。また、恒温槽１３内には、トランスポンダ２０−１〜２０−３が配置される。
制御器１１は、専用試験器１２、恒温槽制御機１３１、表示部１４、電源部１５及びトランスポンダ２０−１〜２０−３と接続する。制御器１１は、電源部１５から電力を受け、専用試験器１２、恒温槽制御器１３１及びトランスポンダ２０−１〜２０−３へ電力を供給する。また、制御器１１は、信号リレー部１６を介して、トランスポンダ２０−１〜２０−３と接続する。
【００１３】
制御器１１は、例えばマイクロプロセッサからなるＣＰＵ１１１（Central Processing Unit）、タイマ１１２及びメモリ１１３を備える。制御器１１は、ＣＰＵ１１１、タイマ１１２及びメモリ１１３の処理により、図２に示す機能を実現する。すなわち、制御器１１は、温度フロー設定機能１１４、応答性能試験制御機能１１５及びＢＩＴ（Built-In Test：自己診断）試験制御機能１１６を備える。
【００１４】
制御器１１は、温度フロー設定機能１１４により、恒温槽制御器１３１に対して温度フローを設定する。このとき、制御器１１は、ユーザから入力された各種パラメータに基づいて温度フローの設定をする。ここで、各種パラメータとは、恒温槽制御器１３１に対して温度フローを決定するためのパラメータであり、恒温槽の温度、温度がピークの状態で温度変化を停止させる停止時間及び温度変化の周期等である。システムのユーザは、ここで設定した温度フローに基づいて試験項目等を決定することが可能である。決定された試験項目等は、メモリ１１３に記録される。
【００１５】
また、制御器１１は、応答性能試験制御機能１１５により、専用試験器１２に対して、トランスポンダ２０−１〜２０−３のうちいずれかのトランスポンダの応答性能（必要に応じて受信性能も含む）の確認試験を開始するように指示を出す。
また、制御器１１は、ＢＩＴ試験制御機能１１６により、トランスポンダ２０−１〜２０−３のうちいずれかのトランスポンダに対して、ＢＩＴ機能の確認試験を開始するように指示を出す。このとき、制御器１１は、システムのユーザが指定する順序でトランスポンダ２０−１〜２０−３のＢＩＴ試験を行うように、信号リレー部１６を介して、トランスポンダ２０−１〜２０−３を制御する。
【００１６】
専用試験器１２は、トランスポンダ２０−１〜２０−３の応答性能を試験するための専用の機器を備える。例えば、専用試験器１２は、トランスポンダ２０−１〜２０−３からの応答信号の周波数を測定する周波数測定器（図示せず）及び応答信号の受信感度を測定する受信感度測定器（図示せず）等を備える。
【００１７】
専用試験器１２は、制御器１１からの応答性能試験開始信号を受けると、トランスポンダ２０−１〜２０−３のうちいずれかの応答性能の試験を開始する。このとき、専用試験器１２は、システムのユーザが指定する順序でトランスポンダ２０−１〜２０−３の応答性能試験を行うように信号リレー部１７を制御し、トランスポンダ２０−１〜２０−３のうちいずれかの応答性能試験を開始させる。
【００１８】
専用試験器１２は、応答性能試験において、予め指定された周波数の送信信号を指定されたトランスポンダへ送信する。専用試験器１２は、このトランスポンダからの応答信号を受信し、周波数測定器で周波数を測定し、受信感度測定器で受信感度を測定する。専用試験器１２は、試験結果を制御器１１へ送信する。
【００１９】
トランスポンダ２０−１〜２０−３は、予め指定された周波数の信号を受信すると、その周波数に応じた周波数の応答信号を送信する機能を有する。トランスポンダ２０−１〜２０−３は、応答性能試験において、専用試験器１２からの送信信号を受信すると、専用試験器１２へ応答信号を送信する。
【００２０】
また、トランスポンダ２０−１〜２０−３は、制御器１１からのＢＩＴ試験開始信号を受けると、自機のＢＩＴ試験を開始する。トランスポンダ２０−１〜２０−３は、ＢＩＴ試験の試験結果を制御器１１へ送信する。
表示部１４は、応答性能試験の結果及びＢＩＴ試験の結果を制御器１１から受け取り、これらを表示する。このとき、制御器１１は、応答性能試験の結果及びＢＩＴ試験の結果に対して数値判定を行い、その判定結果に基づいて処理を行った後、試験結果を表示部１４へ出力するようにしている。
【００２１】
次に、上記構成における動作を説明する。
図３は、本発明の一実施形態に係るトランスポンダ検査システムにおける処理を示すシーケンス図である。
まず、制御器１１は、恒温槽制御器１３１に対して温度フローを設定する（Ｓ３１）。恒温槽制御器１３は、温度フローの設定が完了すると、その旨を制御器１１へ通知する（Ｓ３２）。
【００２２】
ユーザは、設定された温度フローに基づいて、応答性能試験及びＢＩＴ試験を行う旨、及び、応答性能試験及びＢＩＴ試験を行うトランスポンダ２０−１〜２０−３の順序を決定する。ユーザは、決定した内容を制御器１１へ入力する。これにより、メモリ１１３に、試験項目及びトランスポンダの順序が記録される。ここで、応答性能試験及びＢＩＴ試験にかかる時間は既知である。このため、ＣＰＵ１１１は、メモリ１１３に記録された試験項目及びトランスポンダの順序と、タイマ１１２のカウント値とを参照して、応答性能試験開始信号及びＢＩＴ試験開始信号を適切なタイミングで生成することが可能となる。
【００２３】
図４は、温度フローに合わせて決定された試験項目及び順序の一例を示す模式図である。図４では、温度がピークで一定となる期間に、トランスポンダ２０−１，２０−２，２０−３の順序で応答性能試験及びＢＩＴ試験を行うようにしている。なお、以下では、図４の試験順序に従って図３のシーケンス図を説明する。
【００２４】
制御器１１は、タイマ１１２のカウントをスタートさせる（Ｓ３４）。制御器１１は、最初に設定されたトランスポンダ２０−１の応答性能試験及びＢＩＴ試験を行うように、トランスポンダ２０−１及び専用試験器１２へ選択指示を出す（Ｓ３５，Ｓ３６）。トランスポンダ２０−１は、Ｓ３４の選択指示を認識した場合、選択完了を制御器１１へ返す（Ｓ３７）。また、専用試験器１２は、Ｓ３５の選択指示を認識した場合、選択完了を制御器１１へ返す（Ｓ３８）。
【００２５】
制御器１１は、タイマ１１２のカウント値が所定の値となると、選択完了の返信のあった専用試験器１３に対して、応答性能試験開始信号を送信する（Ｓ３９）。専用試験器１２は、この開始信号に応じて、トランスポンダ２０−１の応答性能試験を開始する（Ｓ３１０）。専用試験器１３は、トランスポンダ２０−１の応答性能試験が終了すると、その試験結果を制御器１１へ送信する（Ｓ３１１）。
【００２６】
制御器１１は、応答性能試験の結果に対して数値判定を行った後、試験結果を表示部１４へ表示させる（Ｓ３１２）。
続いて、制御器１１は、タイマ１１２のカウント値が所定の値となると、選択完了の返信のあったトランスポンダ２０−１に対して、ＢＩＴ試験開始信号を送信する（Ｓ３１３）。トランスポンダ２０−１は、この開始信号に応じて、ＢＩＴ試験を開始する（Ｓ３１４）。トランスポンダ２０−１は、ＢＩＴ試験が終了すると、その試験結果を制御器１１へ送信する（Ｓ３１５）。
【００２７】
制御器１１は、ＢＩＴ試験の結果に対して数値判定を行った後、試験結果を表示部１４へ表示させる（Ｓ３１６）。
制御器１１は、以上のようにトランスポンダ２０−１に対する応答性能試験及びＢＩＴ試験が終了した場合、トランスポンダ２０−２に対する応答性能試験及びＢＩＴ試験を実施させる。そして、制御器１１は、図４で示される全ての試験が終了するまで、Ｓ３５からＳ３１６までの処理を繰り返す。制御器１１は、全工程が終了した場合、温度サイクル試験を終了する。
【００２８】
図５は、表示部１４で表示される試験結果の一例を示す模式図である。図５において、送信周波数は、測定値が１０９１ＭＨｚであり、要求基準が１０９０±αＭＨｚの範囲である。測定値が、要求基準の範囲内であれば、図５のように、試験結果は「良好」であると判定される。また、受信感度は、測定値が５０ｄＢであり、要求基準が４０±βｄＢである。測定値が、要求基準の範囲外であれば、感度が不良であるため、図５のように試験結果は「否」であると判定される。試験結果が「否」と判定された場合、その項目は、視認できるように識別表示される。また、ＢＩＴ機能は、測定値が良好であり、要求基準が良好である。そのため、試験結果は「良好」であると判定される。なお、各要求基準は予め設定され、メモリ１１３に記憶されている。
【００２９】
なお、制御器１１は、試験結果を「否」と判定した場合は、試験に異常が発生したとして、強制的に試験を中止することが可能である。
以上のように、上記一実施形態では、制御器１１により、専用試験器１２、恒温槽制御器１３及びトランスポンダ２０−１〜２０−３を制御するようにしている。これにより、ユーザは、制御器１１に対する操作のみで、恒温槽１３に配置されたトランスポンダ２０−１〜２０−３に対する応答性能試験及びＢＩＴ試験を自動的に行うことが可能となる。すなわち、トランスポンダ検査システム１０は、試験実施時のユーザの負担を軽減することが可能となる。また、ユーザは、試験の測定値を常に監視する必要もなくなる。
【００３０】
また、上記一実施形態では、信号リレー部１６，１７により、試験が行われるトランスポンダを順次切り替えるようにしている。これにより、温度フローの１周期の間に複数のトランスポンダの試験を行うことが可能となる。
したがって、本発明に係るトランスポンダ検査システム１０は、恒温槽、専用試験器及び制御器のシステム化が実現でき、温度サイクル試験を効率的に実施することができる。
【００３１】
なお、この発明は上記一実施形態に限定されるものではない。例えば上記一実施形態では、専用試験器１２が１台の場合を例に説明したが、専用試験器１２の台数は、１台に限定される訳ではない。例えば、制御器１１と複数の専用試験器とを信号リレー部とを介して接続し、それぞれの専用試験器とトランスポンダとを信号リレー部を介して接続する場合であっても同様に実施可能である。
【００３２】
また、上記一実施形態では、恒温槽１３内にトランスポンダが３台配置される場合を例に説明したが、トランスポンダの台数は、３台に限定される訳ではない。
また、上記一実施形態では、図４に示す順序で試験を実施する場合を例に説明したが、試験を実施する順序は図４に示されるものに限定される訳ではない。例えば、図６に示す順序で試験を実施しても良い。すなわち、トランスポンダ２０−１の応答性能試験を実施している最中に、そのバックグラウンドでトランスポンダ２０−２のＢＩＴ試験を実施する。続いて、トランスポンダ２０−１のＢＩＴ試験を実施した後、トランスポンダ２０−２の応答性能試験を実施している最中に、そのバックグラウンドでトランスポンダ２０−３のＢＩＴ試験を実施する。そして、トランスポンダ２０−３の応答性能試験を実施するようにしても良い。これにより、温度サイクル試験をより効率的に行うことが可能となる。
【００３３】
さらに、この発明は上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。
【符号の説明】
【００３４】
１０…トランスポンダ検査システム
１１…制御器
１１１…ＣＰＵ
１１２…タイマ
１１３…メモリ
１１４…温度フロー設定機能
１１５…応答性能試験制御機能
１１６…ＢＩＴ試験制御機能
１２…専用試験器
１３…恒温槽
１３１…恒温槽制御器
１４…表示部
１５…電源部
１６，１７…信号リレー部
２０−１〜２０−３…トランスポンダ
【技術分野】
【０００１】
この発明は、例えば温度サイクル試験時においてトランスポンダの応答性能を検査するトランスポンダ検査システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、航空機は、受信信号に応答した応答信号を送信するトランスポンダを搭載する。航空機は、低温環境及び恒温環境下を飛行する。このため、トランスポンダは、このような環境下であっても正常に動作しなくてはならない。
ところで、飛行中の航空機内のトランスポンダの周囲の環境を模擬的に構築する温度サイクル試験がある。温度サイクル試験では、低温及び恒温時の苛酷な温度環境を作り出し、この環境下でトランスポンダの正常起動及び応答性能に不良が発生していないか否かを測定する。温度サイクル試験は、低温又は恒温環境を作り出す恒温槽にトランスポンダを入れ、制御器によりトランスポンダの応答性能を検査する専用試験器を制御することにより行われる。このとき、温度サイクル試験の実施者は、恒温槽の温度フローを手動で設定し、制御器、専用試験器及びトランスポンダに対する試験項目を手動で入力する。そして、測定者は、表示画面に測定値を表示させ、測定値が閾値の範囲内に収まっていることを常に確認するようにしていた。
【０００３】
なお、複数の測定器から試験結果データを自動的に取得し、取得した試験結果データを送信する自動試験システムが提案されている（例えば、特許文献１参照）。しかし、特許文献１では、試験環境を設定する恒温槽及び専用試験器の両方を制御して試験を行うようなシステムに関してはなんら記載されていない。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００６−１３２９９９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上述のように、従来では、温度サイクル試験を行う、恒温槽、専用試験器及び制御器は、システム化されていなかった。そのため、試験の設定に手間がかかるという問題がある。また、試験の実施者は測定値を常に監視していなければならず、負担が大きいという問題がある。なお、測定値が閾値の範囲内に収まっていない状態を放置してしまうと、トランスポンダが故障してしまい、大きな損害となる。
【０００６】
この発明は上記事情によりなされたもので、その目的は、恒温槽、専用試験器及び制御器の制御をシステム化し、温度サイクル試験を効率的に実施することが可能なトランスポンダ検査システムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するため、本発明に係るトランスポンダ検査システムは、複数のトランスポンダが内部に配置され、温度変化可能な恒温槽と、前記恒温槽の温度が指定された温度フローで周期的に変化するように、前記恒温槽の温度変化を制御する恒温槽制御器と、前記温度フロー下における前記複数のトランスポンダの応答性能の検査を、指定されたタイミングで開始する専用試験器と、前記恒温槽制御器に対して前記温度フローを設定する第１の制御と、前記温度フローにおけるピークの期間内で前記複数のトランスポンダの応答性能を検査するように、前記専用試験器に対して前記検査開始のタイミングを指定する第２の制御と、前記温度フローにおけるピークの期間内で前記複数のトランスポンダの自己診断機能を検査するように、前記複数のトランスポンダに対して前記自己診断機能の検査の開始のタイミングを指定する第３の制御とを行う制御器とを具備する。
【０００８】
上記構成によるトランスポンダ検査システムでは、制御器により、恒温槽制御器、専用試験器及びトランスポンダが制御されるようになっている。これにより、ユーザは、制御器に対する操作のみで、恒温槽に配置されたトランスポンダに対する応答性能試験及びＢＩＴ試験を自動的に行うことが可能となる。
【発明の効果】
【０００９】
この発明によれば、恒温槽、専用試験器及び制御器の制御をシステム化し、温度サイクル試験を効率的に実施することが可能なトランスポンダ検査システムを提供するができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明の一実施形態に係るトランスポンダ検査システムの構成を示すブロック図である。
【図２】図１の制御器の機能構成を示すブロック図である。
【図３】図１のトランスポンダ検査システムにおける処理を示すシーケンス図である。
【図４】図１の制御器へ温度フローに合わせて入力された試験項目及び順序の一例を示す模式図である。
【図５】図１の表示部で表示される試験結果の一例を示す模式図である。
【図６】図１の制御器へ温度フローに合わせて入力された試験項目及び順序の異なる例を示す模式図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、図面を参照しながら本発明に係るトランスポンダ検査システムの実施の形態について詳細に説明する。
図１は、本発明の一実施形態に係るトランスポンダ検査システム１０の機能構成を示すブロック図である。図１におけるトランスポンダ検査システム１０は、制御器１１、専用試験器１２、恒温槽１３、表示部１４及び電源部１５を具備する。
【００１２】
恒温槽１３は、恒温槽１３の温度変化を制御する恒温槽制御器１３１を有する。また、恒温槽１３内には、トランスポンダ２０−１〜２０−３が配置される。
制御器１１は、専用試験器１２、恒温槽制御機１３１、表示部１４、電源部１５及びトランスポンダ２０−１〜２０−３と接続する。制御器１１は、電源部１５から電力を受け、専用試験器１２、恒温槽制御器１３１及びトランスポンダ２０−１〜２０−３へ電力を供給する。また、制御器１１は、信号リレー部１６を介して、トランスポンダ２０−１〜２０−３と接続する。
【００１３】
制御器１１は、例えばマイクロプロセッサからなるＣＰＵ１１１（Central Processing Unit）、タイマ１１２及びメモリ１１３を備える。制御器１１は、ＣＰＵ１１１、タイマ１１２及びメモリ１１３の処理により、図２に示す機能を実現する。すなわち、制御器１１は、温度フロー設定機能１１４、応答性能試験制御機能１１５及びＢＩＴ（Built-In Test：自己診断）試験制御機能１１６を備える。
【００１４】
制御器１１は、温度フロー設定機能１１４により、恒温槽制御器１３１に対して温度フローを設定する。このとき、制御器１１は、ユーザから入力された各種パラメータに基づいて温度フローの設定をする。ここで、各種パラメータとは、恒温槽制御器１３１に対して温度フローを決定するためのパラメータであり、恒温槽の温度、温度がピークの状態で温度変化を停止させる停止時間及び温度変化の周期等である。システムのユーザは、ここで設定した温度フローに基づいて試験項目等を決定することが可能である。決定された試験項目等は、メモリ１１３に記録される。
【００１５】
また、制御器１１は、応答性能試験制御機能１１５により、専用試験器１２に対して、トランスポンダ２０−１〜２０−３のうちいずれかのトランスポンダの応答性能（必要に応じて受信性能も含む）の確認試験を開始するように指示を出す。
また、制御器１１は、ＢＩＴ試験制御機能１１６により、トランスポンダ２０−１〜２０−３のうちいずれかのトランスポンダに対して、ＢＩＴ機能の確認試験を開始するように指示を出す。このとき、制御器１１は、システムのユーザが指定する順序でトランスポンダ２０−１〜２０−３のＢＩＴ試験を行うように、信号リレー部１６を介して、トランスポンダ２０−１〜２０−３を制御する。
【００１６】
専用試験器１２は、トランスポンダ２０−１〜２０−３の応答性能を試験するための専用の機器を備える。例えば、専用試験器１２は、トランスポンダ２０−１〜２０−３からの応答信号の周波数を測定する周波数測定器（図示せず）及び応答信号の受信感度を測定する受信感度測定器（図示せず）等を備える。
【００１７】
専用試験器１２は、制御器１１からの応答性能試験開始信号を受けると、トランスポンダ２０−１〜２０−３のうちいずれかの応答性能の試験を開始する。このとき、専用試験器１２は、システムのユーザが指定する順序でトランスポンダ２０−１〜２０−３の応答性能試験を行うように信号リレー部１７を制御し、トランスポンダ２０−１〜２０−３のうちいずれかの応答性能試験を開始させる。
【００１８】
専用試験器１２は、応答性能試験において、予め指定された周波数の送信信号を指定されたトランスポンダへ送信する。専用試験器１２は、このトランスポンダからの応答信号を受信し、周波数測定器で周波数を測定し、受信感度測定器で受信感度を測定する。専用試験器１２は、試験結果を制御器１１へ送信する。
【００１９】
トランスポンダ２０−１〜２０−３は、予め指定された周波数の信号を受信すると、その周波数に応じた周波数の応答信号を送信する機能を有する。トランスポンダ２０−１〜２０−３は、応答性能試験において、専用試験器１２からの送信信号を受信すると、専用試験器１２へ応答信号を送信する。
【００２０】
また、トランスポンダ２０−１〜２０−３は、制御器１１からのＢＩＴ試験開始信号を受けると、自機のＢＩＴ試験を開始する。トランスポンダ２０−１〜２０−３は、ＢＩＴ試験の試験結果を制御器１１へ送信する。
表示部１４は、応答性能試験の結果及びＢＩＴ試験の結果を制御器１１から受け取り、これらを表示する。このとき、制御器１１は、応答性能試験の結果及びＢＩＴ試験の結果に対して数値判定を行い、その判定結果に基づいて処理を行った後、試験結果を表示部１４へ出力するようにしている。
【００２１】
次に、上記構成における動作を説明する。
図３は、本発明の一実施形態に係るトランスポンダ検査システムにおける処理を示すシーケンス図である。
まず、制御器１１は、恒温槽制御器１３１に対して温度フローを設定する（Ｓ３１）。恒温槽制御器１３は、温度フローの設定が完了すると、その旨を制御器１１へ通知する（Ｓ３２）。
【００２２】
ユーザは、設定された温度フローに基づいて、応答性能試験及びＢＩＴ試験を行う旨、及び、応答性能試験及びＢＩＴ試験を行うトランスポンダ２０−１〜２０−３の順序を決定する。ユーザは、決定した内容を制御器１１へ入力する。これにより、メモリ１１３に、試験項目及びトランスポンダの順序が記録される。ここで、応答性能試験及びＢＩＴ試験にかかる時間は既知である。このため、ＣＰＵ１１１は、メモリ１１３に記録された試験項目及びトランスポンダの順序と、タイマ１１２のカウント値とを参照して、応答性能試験開始信号及びＢＩＴ試験開始信号を適切なタイミングで生成することが可能となる。
【００２３】
図４は、温度フローに合わせて決定された試験項目及び順序の一例を示す模式図である。図４では、温度がピークで一定となる期間に、トランスポンダ２０−１，２０−２，２０−３の順序で応答性能試験及びＢＩＴ試験を行うようにしている。なお、以下では、図４の試験順序に従って図３のシーケンス図を説明する。
【００２４】
制御器１１は、タイマ１１２のカウントをスタートさせる（Ｓ３４）。制御器１１は、最初に設定されたトランスポンダ２０−１の応答性能試験及びＢＩＴ試験を行うように、トランスポンダ２０−１及び専用試験器１２へ選択指示を出す（Ｓ３５，Ｓ３６）。トランスポンダ２０−１は、Ｓ３４の選択指示を認識した場合、選択完了を制御器１１へ返す（Ｓ３７）。また、専用試験器１２は、Ｓ３５の選択指示を認識した場合、選択完了を制御器１１へ返す（Ｓ３８）。
【００２５】
制御器１１は、タイマ１１２のカウント値が所定の値となると、選択完了の返信のあった専用試験器１３に対して、応答性能試験開始信号を送信する（Ｓ３９）。専用試験器１２は、この開始信号に応じて、トランスポンダ２０−１の応答性能試験を開始する（Ｓ３１０）。専用試験器１３は、トランスポンダ２０−１の応答性能試験が終了すると、その試験結果を制御器１１へ送信する（Ｓ３１１）。
【００２６】
制御器１１は、応答性能試験の結果に対して数値判定を行った後、試験結果を表示部１４へ表示させる（Ｓ３１２）。
続いて、制御器１１は、タイマ１１２のカウント値が所定の値となると、選択完了の返信のあったトランスポンダ２０−１に対して、ＢＩＴ試験開始信号を送信する（Ｓ３１３）。トランスポンダ２０−１は、この開始信号に応じて、ＢＩＴ試験を開始する（Ｓ３１４）。トランスポンダ２０−１は、ＢＩＴ試験が終了すると、その試験結果を制御器１１へ送信する（Ｓ３１５）。
【００２７】
制御器１１は、ＢＩＴ試験の結果に対して数値判定を行った後、試験結果を表示部１４へ表示させる（Ｓ３１６）。
制御器１１は、以上のようにトランスポンダ２０−１に対する応答性能試験及びＢＩＴ試験が終了した場合、トランスポンダ２０−２に対する応答性能試験及びＢＩＴ試験を実施させる。そして、制御器１１は、図４で示される全ての試験が終了するまで、Ｓ３５からＳ３１６までの処理を繰り返す。制御器１１は、全工程が終了した場合、温度サイクル試験を終了する。
【００２８】
図５は、表示部１４で表示される試験結果の一例を示す模式図である。図５において、送信周波数は、測定値が１０９１ＭＨｚであり、要求基準が１０９０±αＭＨｚの範囲である。測定値が、要求基準の範囲内であれば、図５のように、試験結果は「良好」であると判定される。また、受信感度は、測定値が５０ｄＢであり、要求基準が４０±βｄＢである。測定値が、要求基準の範囲外であれば、感度が不良であるため、図５のように試験結果は「否」であると判定される。試験結果が「否」と判定された場合、その項目は、視認できるように識別表示される。また、ＢＩＴ機能は、測定値が良好であり、要求基準が良好である。そのため、試験結果は「良好」であると判定される。なお、各要求基準は予め設定され、メモリ１１３に記憶されている。
【００２９】
なお、制御器１１は、試験結果を「否」と判定した場合は、試験に異常が発生したとして、強制的に試験を中止することが可能である。
以上のように、上記一実施形態では、制御器１１により、専用試験器１２、恒温槽制御器１３及びトランスポンダ２０−１〜２０−３を制御するようにしている。これにより、ユーザは、制御器１１に対する操作のみで、恒温槽１３に配置されたトランスポンダ２０−１〜２０−３に対する応答性能試験及びＢＩＴ試験を自動的に行うことが可能となる。すなわち、トランスポンダ検査システム１０は、試験実施時のユーザの負担を軽減することが可能となる。また、ユーザは、試験の測定値を常に監視する必要もなくなる。
【００３０】
また、上記一実施形態では、信号リレー部１６，１７により、試験が行われるトランスポンダを順次切り替えるようにしている。これにより、温度フローの１周期の間に複数のトランスポンダの試験を行うことが可能となる。
したがって、本発明に係るトランスポンダ検査システム１０は、恒温槽、専用試験器及び制御器のシステム化が実現でき、温度サイクル試験を効率的に実施することができる。
【００３１】
なお、この発明は上記一実施形態に限定されるものではない。例えば上記一実施形態では、専用試験器１２が１台の場合を例に説明したが、専用試験器１２の台数は、１台に限定される訳ではない。例えば、制御器１１と複数の専用試験器とを信号リレー部とを介して接続し、それぞれの専用試験器とトランスポンダとを信号リレー部を介して接続する場合であっても同様に実施可能である。
【００３２】
また、上記一実施形態では、恒温槽１３内にトランスポンダが３台配置される場合を例に説明したが、トランスポンダの台数は、３台に限定される訳ではない。
また、上記一実施形態では、図４に示す順序で試験を実施する場合を例に説明したが、試験を実施する順序は図４に示されるものに限定される訳ではない。例えば、図６に示す順序で試験を実施しても良い。すなわち、トランスポンダ２０−１の応答性能試験を実施している最中に、そのバックグラウンドでトランスポンダ２０−２のＢＩＴ試験を実施する。続いて、トランスポンダ２０−１のＢＩＴ試験を実施した後、トランスポンダ２０−２の応答性能試験を実施している最中に、そのバックグラウンドでトランスポンダ２０−３のＢＩＴ試験を実施する。そして、トランスポンダ２０−３の応答性能試験を実施するようにしても良い。これにより、温度サイクル試験をより効率的に行うことが可能となる。
【００３３】
さらに、この発明は上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。
【符号の説明】
【００３４】
１０…トランスポンダ検査システム
１１…制御器
１１１…ＣＰＵ
１１２…タイマ
１１３…メモリ
１１４…温度フロー設定機能
１１５…応答性能試験制御機能
１１６…ＢＩＴ試験制御機能
１２…専用試験器
１３…恒温槽
１３１…恒温槽制御器
１４…表示部
１５…電源部
１６，１７…信号リレー部
２０−１〜２０−３…トランスポンダ
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のトランスポンダが内部に配置され、温度変化可能な恒温槽と、
前記恒温槽の温度が指定された温度フローで周期的に変化するように、前記恒温槽の温度変化を制御する恒温槽制御器と、
前記温度フロー下における前記複数のトランスポンダの応答性能の検査を、指定されたタイミングで開始する専用試験器と、
前記恒温槽制御器に対して前記温度フローを設定する第１の制御と、前記温度フローにおけるピークの期間内で前記複数のトランスポンダの応答性能を検査するように、前記専用試験器に対して前記検査開始のタイミングを指定する第２の制御と、前記温度フローにおけるピークの期間内で前記複数のトランスポンダの自己診断機能を検査するように、前記複数のトランスポンダに対して前記自己診断機能の検査の開始のタイミングを指定する第３の制御とを行う制御器と
を具備することを特徴とするトランスポンダ検査システム。
【請求項１】
複数のトランスポンダが内部に配置され、温度変化可能な恒温槽と、
前記恒温槽の温度が指定された温度フローで周期的に変化するように、前記恒温槽の温度変化を制御する恒温槽制御器と、
前記温度フロー下における前記複数のトランスポンダの応答性能の検査を、指定されたタイミングで開始する専用試験器と、
前記恒温槽制御器に対して前記温度フローを設定する第１の制御と、前記温度フローにおけるピークの期間内で前記複数のトランスポンダの応答性能を検査するように、前記専用試験器に対して前記検査開始のタイミングを指定する第２の制御と、前記温度フローにおけるピークの期間内で前記複数のトランスポンダの自己診断機能を検査するように、前記複数のトランスポンダに対して前記自己診断機能の検査の開始のタイミングを指定する第３の制御とを行う制御器と
を具備することを特徴とするトランスポンダ検査システム。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【公開番号】特開２０１１−６６６４２（Ｐ２０１１−６６６４２Ａ）
【公開日】平成２３年３月３１日（２０１１．３．３１）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００９−２１４９５７（Ｐ２００９−２１４９５７）
【出願日】平成２１年９月１６日（２００９．９．１６）
【出願人】（０００００１１２２）株式会社日立国際電気 (5,007)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２３年３月３１日（２０１１．３．３１）
【国際特許分類】
【出願日】平成２１年９月１６日（２００９．９．１６）
【出願人】（０００００１１２２）株式会社日立国際電気 (5,007)
【Ｆターム（参考）】
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