光ディスクの信号評価装置及び信号評価方法
【課題】 光ディスクに記録されている評価対象となる信号を効率的に抽出して再生信号の評価に必要な時間を短縮する。
【解決手段】 評価対象パルス特定回路５４は、再生信号を２値化信号生成回路５２及び遅延回路５３を介して入力し、評価対象となるパルス幅ごとに検出パルスを出力する。ディジタル再生信号生成回路６０は、再生信号を所定のレートでサンプリングしてディジタル再生信号に変換して、評価対象パルス特定回路５４に供給される２値化信号よりも所定量だけ遅延させてスイッチ回路６１〜６４に供給する。スイッチ回路６１〜６４は、検出パルスに応答して、ディジタル再生信号を所定時間にわたって振幅計算回路６５〜６８に供給する。振幅計算回路６４〜６８は、供給されたディジタル再生信号を記憶し、再生信号の特徴値を計算してコントローラ７０に再生信号の評価のために供給する。
【解決手段】 評価対象パルス特定回路５４は、再生信号を２値化信号生成回路５２及び遅延回路５３を介して入力し、評価対象となるパルス幅ごとに検出パルスを出力する。ディジタル再生信号生成回路６０は、再生信号を所定のレートでサンプリングしてディジタル再生信号に変換して、評価対象パルス特定回路５４に供給される２値化信号よりも所定量だけ遅延させてスイッチ回路６１〜６４に供給する。スイッチ回路６１〜６４は、検出パルスに応答して、ディジタル再生信号を所定時間にわたって振幅計算回路６５〜６８に供給する。振幅計算回路６４〜６８は、供給されたディジタル再生信号を記憶し、再生信号の特徴値を計算してコントローラ７０に再生信号の評価のために供給する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＣＤ，ＤＶＤなどの光ディスクに記録された複数種類のパルス幅を有する一連のパルスからなる信号のうちで、評価対象となるパルス幅の再生信号を評価する光ディスクの信号評価装置及び信号評価方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、複数種類のパルス幅をもつ一連のパルスからなるディジタル信号を記録したＣＤ，ＤＶＤなどの光ディスク、光ディスクに記録された同ディジタル信号をアナログ再生するための光ピックアップなどの再生装置、光ディスクへのデータの記録条件、又は光ディスクに記録されたデータの再生条件を評価するために、光ディスクに記録されているディジタル信号のうちで、評価対象となるパルス幅の再生信号を評価することはよく知られている。
【０００３】
この種の再生信号の評価項目には、ジッタ、変調振幅、アシンメトリなどがある。ジッタは、再生信号を２値化した際のパルス幅のばらつきで評価される。変調振幅は、例えば、パルス幅が最長である信号の振幅と、パルス幅が最短である信号の振幅との比で評価される。アシンメトリは、例えば、パルス幅が最長である信号の中心レベルと、パルス幅が最短である信号の中心レベルとのずれで評価される。このような再生信号の評価においては、光ディスクに順次記録されているディジタル信号の中から評価対象となるパルス幅の再生信号を正確に抽出して評価する必要がある。
【０００４】
例えば、下記特許文献１に示される光ディスクの信号評価装置においては、検査対象である光ディスクに記録されているディジタル信号のうち、評価対象であるパルス幅の信号、具体的には、最長のパルス幅の信号を抽出するとともに、同抽出した信号のジッタを評価して光ディスクの検査を行っている。この場合、光ディスクの１回転ごとに１つの評価対象であるパルス幅の信号の抽出及び評価が行われる。これは、ある評価対象であるパルス幅の信号の抽出及び評価を実行している間に、他の評価対象であるパルス幅の信号が発生して同他の評価対象であるパルス幅の信号の評価ができなないことを防止するため、評価対象であるパルス幅の信号の抽出及び評価に光ディスクの１回転分の時間を確保したものである。
【特許文献１】特開平１１−３２８８６５号公報
【０００５】
しかしながら、上記した光ディスクの信号評価装置においては、光ディスクの１つのトラック上に評価対象となるパルス幅の信号が複数存在する場合でも、同評価対象となる信号の数だけ光ディスクを回転させて同信号の抽出及び評価をしなければならず、同信号の抽出及び評価に評価対象となる信号の数に応じた光ディスクの回転時間が必要となる。このため、１枚の光ディスクの検査に多くの時間を要するという問題がある。
【０００６】
また、光ディスクの反射率は一定でないために、比較的長い時間に渡って計測した再生信号は、光ディスクに記録されたデータ（ピット又はマーク）による変化に加えて、その中心値が時間経過に従ってゆっくりと変動する。図１２(Ａ)は、この中心値のゆっくりとした時変動を示すために、比較的長い時間にわたる再生信号を誇張して示している。そして、このような中心値の変動する再生信号をそのまま取り込んで評価に用いると、この中心値の変動のために、再生信号を高精度で評価することができない。この中心値の変動分を除去するためには、下記特許文献２に示すように、再生信号路にハイパスフィルタを挿入することが考えられる。再生信号をハイパスフィルタ処理することで、図１２(Ｂ)に示すように、中心値の変動を除去できるが、このハイパスフィルタ処理した再生信号は、グランドレベルを中心に正負に変化する信号となるので、信号レベルを含めた再生信号の評価が不能になるという問題がある。
【特許文献２】特開昭６３−４４６２号公報
【発明の開示】
【０００７】
本発明は上記問題に対処するためなされたもので、その目的は、光ディスクに記録されている評価対象となる信号を効率的に抽出して再生信号の評価に必要な時間を短縮することが可能な光ディスクの信号評価装置を提供することにある。また、中心値の変動分を除去したうえで、信号レベルをも含めて再生信号を評価可能とする光ディスクの信号評価装置を提供することにもある。なお、後述の括弧内の記載は、本発明の実施形態の要素に対応する。
【０００８】
上記目的を達成するため、本発明は、光ディスクにレーザ光を照射して光ディスクからの反射光を受光する光ピックアップ（光ピックアップ２０）から出力された電気信号に基づいて生成された再生信号を評価する光ディスクの信号評価装置において、前記生成された再生信号をハイレベルとローレベルとからなる２値化信号に変換して出力する２値化信号生成手段（２値化信号生成回路５２）と、前記変換された２値化信号の各パルスの信号長に基づいて一連のパルス列の中から評価対象となるパルス幅の信号をそれぞれ検出して、評価対象となるパルス幅ごとに検出信号を出力する評価対象パルス検出手段（評価対象パルス特定回路５４）と、前記再生信号を所定のレートでサンプリングしてディジタル再生信号に変換し、前記ディジタル再生信号を前記２値化信号よりも所定量だけ遅延させて出力するディジタル再生信号生成手段（ディジタル再生信号生成回路６０）と、前記評価対象パルス検出手段からの検出信号に応答して、前記ディジタル再生信号生成手段から出力された所定時間にわたるディジタル再生信号を前記検出信号の属するパルス幅ごとに記憶するとともに、前記記憶したディジタル再生信号に基づいて前記再生信号の特徴値を評価対象となるパルス幅ごとに計算する信号特徴値計算手段（スイッチ回路６１〜６４及び振幅計算回路６５〜６８）と、前記計算された再生信号の特徴値を用いて、前記再生信号を評価する評価手段（コントローラ７０）とを備えたことにある。この場合、前記信号特徴値計算手段は、例えば、評価対象のパルス幅に属するディジタル再生信号のボトム値又はピーク値を前記再生信号の特徴値として計算する。
【０００９】
前記本発明においては、２値化信号生成手段、評価対象パルス検出手段、ディジタル再生信号生成手段及び信号特徴値計算手段により、信号特徴値計算手段には、評価対象となるパルス幅ごとに、必要な量のディジタル再生信号が記憶される。そして、信号特徴値計算手段は、前記記憶したディジタル再生信号を用いてディジタル再生信号の信号特徴値を評価対象のパルス幅ごとに計算し、評価手段はこの評価対象のパルス幅ごとの信号特徴値を用いて再生信号を評価する。このように、評価対象のパルス幅のディジタル再生信号の取り込みは、信号特徴値の計算とは独立して行われる。その結果、光ディスクの１つのトラック上に評価対象となるパルス幅の信号が複数存在する場合には、光ディスクの１回転で複数の評価対象となるパルス幅のディジタル再生信号が信号特徴値計算手段に取り込まれ、その後に、前記取り込まれたディジタル再生信号が信号特徴値の計算に利用され得るので、再生信号の評価に対するトータル時間を大幅に減縮できる。
【００１０】
また、本発明の他の特徴は、前記信号特徴値計算手段は、前記評価対象パルス検出手段からの検出信号に応答して、評価対象となるパルス幅のうちで最も長いパルス幅に相当する時間にわたって、前記ディジタル再生信号生成手段から出力されたディジタル再生信号を記憶する。これによれば、評価対象となる全てのパルス幅のディジタル再生信号を連続的に信号特徴値計算手段に取り込むことができるので、パルス幅ごとにディジタル再生信号の取り込み処理を行う必要がなくなり、前記再生信号の評価に対するトータル時間の減縮に有利となる。
【００１１】
また、本発明の他の特徴は、前記ディジタル再生信号を前記２値化信号よりも所定量だけ遅延させるために、前記ディジタル再生信号生成手段内にて前記ディジタル再生信号を遅延する第１遅延手段（遅延回路１０４）と、前記２値化信号を遅延する第２遅延手段（遅延回路５３）とのうちの少なくともいずれか一方の遅延手段を設けたことにある。この場合、ディジタル再生信号と遅延された２値化信号の評価対象となる両対応パルスに関し、ディジタル再生信号の最長の対応パルスが２値化信号の最長の対応パルスの終了後に出現するように前記所定量を設定し、前記少なくとも一方の遅延手段がディジタル再生信号を同所定量だけ２値化信号に対して遅らせるようにすればよい。好ましくは、遅延された２値化信号の最長の対応パルスの終了直後に、ディジタル再生信号の最長の対応パルスが出現するようにするとよい。これによれば、前記少なくともいずれか一方の遅延手段により、ディジタル再生信号が２値化信号よりも前記所定量だけ遅延されるので、評価対象パルス検出手段による評価対象のパルス幅である信号の検出後、適当なタイミングで、信号特徴値計算手段へのディジタル再生信号の取り込みを開始できるようになる。
【００１２】
また、本発明の他の特徴は、前記ディジタル再生信号生成手段からのディジタル再生信号と、前記評価対象パルス検出手段からの検出信号とに基づいて、前記ディジタル再生信号を前記２値化信号よりも所定量だけ遅延させるように、前記少なくともいずれか一方の遅延手段の遅延時間を設定する遅延時間設定手段（図５の第２遅延時間調整プログラム）を設けたことにある。これによれば、光ディスクの信号評価装置の状態にばらつきがあったり、同装置の状態が時間的に変化したりした場合でも、信号特徴値計算手段へのディジタル再生信号の取り込みタイミングが自動的に適切なタイミングに設定されるようになる。
【００１３】
また、本発明の他の特徴は、前記ディジタル再生信号生成手段を、前記再生信号に含まれる信号周波数成分を除去して光ディスク上におけるレーザ光の照射位置に依存した時変動を表す信号を出力するローパスフィルタ（ローパスフィルタ１０５）と、前記再生信号及び前記ローパスフィルタの出力信号をそれぞれ所定のサンプリングレートでサンプリングしてディジタル信号にＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器（Ａ／Ｄ変換器１０２，１０６）と、前記再生信号をＡ／Ｄ変換したディジタル信号を所定量遅延して、前記ローパスフィルタの出力信号の遅延を相殺する遅延回路（遅延回路１０４）と、前記遅延回路の出力ディジタル信号から前記ローパスフィルタの出力信号をＡ／Ｄ変換したディジタル信号を減算して、前記遅延回路の出力ディジタル信号から前記レーザ光の照射位置に依存した時変動成分を除去する減算器（減算器１０８）と、前記ローパスフィルタの出力信号をＡ／Ｄ変換したディジタル信号を積分して、前記レーザ光の照射位置に依存した時変動成分を除去する積分器（積分回路１０８）と、前記減算器の出力ディジタル信号と前記積分器の出力ディジタル信号を合算して、前記再生信号に含まれる直流成分を加味したディジタル再生信号を生成する加算器（加算器１１０）とで構成したことにある。
【００１４】
前記本発明の他の特徴においては、ローパスフィルタ、Ａ／Ｄ変換器、遅延回路及び減算器により、レーザ光の照射位置に依存した時変動成分を含むディジタル再生信号から前記時変動成分が除去されて、一旦、基準レベルを中心に変動するディジタル再生信号が抽出される。そして、ローパスフィルタ、Ａ／Ｄ変換器及び積分器により、時変動成分を除去した再生信号の直流成分が抽出される。そして、加算器により、前記基準レベルを中心に変動するディジタル再生信号と前記時変動成分を除去した再生信号の直流成分を合算したディジタル再生信号が信号特徴値計算手段に供給されることになる。これにより、光ディスクの位置の変化に起因した反射率の相違による時変動成分を除去したうえで、再生信号に含まれる直流成分（信号レベル）も含めて、再生信号が評価されるようになる。
【００１５】
また、本発明の他の特徴は、前記ローパスフィルタの出力信号をＡ／Ｄ変換したディジタル信号と、前記遅延回路の出力ディジタル信号とに基づいて、前記遅延回路の遅延時間を設定する遅延時間設定手段（図４の第１遅延時間調整プログラム）を設けたことにある。これによれば、光ディスクの信号評価装置の状態にばらつきがあったり、同装置の状態が時間的に変化したりした場合でも、前記遅延回路の出力であってレーザ光の照射位置に依存した時変動成分を含むディジタル再生信号と、前記ローパスフィルタの出力信号をＡ／Ｄ変換した前記時変動成分を表すディジタル信号との遅延時間差を自動的になくすことができ、前記時変動成分を含むディジタル再生信号から時変動成分を的確に除去できるようになる。
【００１６】
また、本発明は装置の発明として実施できるばかりでなく、方法の発明としても実施できるものである。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、本発明に係る再生信号評価装置の一実施形態について図面を参照しながら説明する。図１は、ＣＤ，ＤＶＤなどの光ディスクＤＫを検査する光ディスク検査装置の全体概略図である。この光ディスク検査装置は、光ディスクＤＫを回転駆動する回転駆動装置１０と、光ディスクＤＫにレーザ光を照射するとともに同照射による光ディスクＤＫからの反射光を受光する光ピックアップ２０とを備えている。
【００１８】
回転駆動装置１０は、スピンドルモータ１１及びフィードモータ１２を備えている。スピンドルモータ１１は、その回転により回転軸１１ｂを回転させてターンテーブル１３を回転させる。ターンテーブル１３には、その上面に光ディスクＤＫが着脱可能に組み付けられるようになっている。また、スピンドルモータ１１内には、エンコーダ１１ａが組み込まれており、エンコーダ１１ａは、スピンドルモータ１１の回転を検出して同回転を表す回転検出信号をコントローラ７０に出力する。この回転検出信号は、ターンテーブル１３（光ディスクＤＫ）の回転位置が一つの基準回転位置に来るごとに発生されるインデックス信号INDEXと、所定の微小な回転角度ずつハイレベルとローレベルを繰返すパルス列信号からなるとともに互いにπ／２だけ位相のずれたＡ相信号φA及びＢ相信号φBとからなる。これらの回転検出信号のうち、インデックス信号INDEXは、コントローラ７０にてスピンドルモータ１１、すなわち光ディスクＤＫの回転数（例えば１回転）の検出に用いられ、パルス列信号φA，φBはスピンドルモータ制御回路１４にてスピンドルモータ１１すなわち光ディスクＤＫの回転速度の検出に用いられる。
【００１９】
スピンドルモータ１１の回転は、スピンドルモータ制御回路１４によって制御される。スピンドルモータ制御回路１４は、後述するウォブル信号取り出し回路４９からウォブル信号が出力されるときは同ウォブル信号を用いて、光ディスクＤＫ上の光スポットが常に線速度一定で同光ディスクＤＫに対して移動するように、スピンドルモータ１１の回転速度を制御する。また、光ディスクＤＫ上に光スポットが形成されていないため、ウォブル信号取り出し回路４９からウォブル信号が出力されないときは、エンコーダ１１ａが出力するパルス列信号φA，φBを用いて、光ディスクＤＫが回転速度一定で回転するようにスピンドルモータ１１の回転速度を制御する。フィードモータ１２は、その回転によりスクリューロッド１５及びナット（図示せず）からなるねじ送り機構を介してスピンドルモータ１１、同スピンドルモータ１１を固定支持する支持部材１６及びターンテーブル１３を光ディスクＤＫの径方向に変位させる。
【００２０】
フィードモータ１２内にも、前記エンコーダ１１ａと同様なエンコーダ１２ａが組み込まれている。このエンコーダ１２ａは、フィードモータ１２の回転を検出して同回転を表す回転検出信号をフィードモータ制御回路１７及びコントローラ７０に出力する。フィードモータ制御回路１７は、コントローラ７０による指示により、エンコーダ１２ａから出力される回転検出信号に加えて、後述するトラッキングサーボ信号の直流成分を用いてフィードモータ１２の回転を制御して、スピンドルモータ１１、ターンテーブル１３及び支持部材１６の光ディスクＤＫの径方向への変位を制御する。また、フィードモータ制御回路１７は、コントローラ７０から半径値が入力されると、エンコーダ１２ａから出力される回転検出信号を用いて計算した半径値が、入力された半径値になるまでフィードモータ１２を回転させる。
【００２１】
光ピックアップ２０は、レーザ光源２１、コリメートレンズ２２、偏光ビームスプリッタ２３、１／４波長板２４、対物レンズ２５、凸レンズ２６、シリンドリカルレンズ２７及びフォトディテクタ２８を備えている。この光ピックアップ２０においては、レーザ光源２１からのレーザ光を、コリメートレンズ２２、偏光ビームスプリッタ２３、１／４波長板２４及び対物レンズ２５を介して、光ディスクＤＫに集光させ、光ディスクＤＫ上に光スポットを形成する。また、この光ディスクＤＫに形成された光スポットからの反射光は、対物レンズ２５、１／４波長板２４、偏光ビームスプリッタ２３、凸レンズ２６及びシリンドリカルレンズ２７を介して、フォトディテクタ２８に導かれて受光される。フォトディテクタ２８は、分割線で区切られた４つの同一正方形状の受光素子からなる４分割受光素子によって構成されており、各受光素子は受光量に比例した電気信号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄをそれぞれ検出信号として出力する。なお、検出信号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄは、左上から時計回りに配置された各受光素子の受光量を表している。
【００２２】
また、この光ピックアップ２０は、フォーカスアクチュエータ３１及びトラッキングアクチュエータ３２も備えている。フォーカスアクチュエータ３１は、対物レンズ２５をレーザ光の光軸方向（光ディスクＤＫの盤面と垂直方向）に駆動して光スポットを光軸方向に微動させる。トラッキングアクチュエータ３２は、対物レンズ２５を光ディスクＤＫの径方向に駆動して光スポットを光ディスクＤＫの径方向に微動させる。また、この光ピックアップ２０のレーザ光源２１には、レーザ光源２１の作動を制御するため、レーザ駆動回路４１が接続されている。
【００２３】
フォトディテクタ２８には、ＨＦ信号増幅回路４２が接続されている。ＨＦ信号増幅回路４２は、フォトディテクタ２８から出力された検出信号Ａ〜Ｄをそれぞれ増幅して、フォーカスエラー信号生成回路４３、トラッキングエラー信号生成回路４６及び再生信号生成回路５１にそれぞれ出力する。
【００２４】
フォーカスエラー信号生成回路４３は、ＨＦ信号増幅回路４２を介してフォトディテクタ２８から出力される検出信号Ａ〜Ｄを用いた演算（具体的には、非点収差法の場合は(Ａ＋Ｃ)−(Ｂ＋Ｄ)の演算）により、フォーカスエラー信号を生成して、フォーカスサーボ回路４４に出力する。フォーカスサーボ回路４４は、フォーカスエラー信号に基づいてフォーカスサーボ信号を生成し、同フォーカスサーボ信号を用いてドライブ回路４５を介してフォーカスアクチュエータ３１を駆動制御することにより、対物レンズ２５を光軸方向に変位させてフォーカスサーボ制御する。これにより、レーザ光の焦点、すなわち光スポットが光ディスクＤＫの記録層に追従するように制御される。
【００２５】
トラッキングエラー信号生成回路４６は、ＨＦ信号増幅回路４２を介してフォトディテクタ２８から出力される検出信号Ａ〜Ｄを用いた演算（具体的には、プッシュプル法の場合は(Ａ＋Ｄ)−(Ｂ＋Ｃ)の演算）により、トラッキングエラー信号を生成して、トラッキングサーボ回路４７に出力する。トラッキングサーボ回路４７は、トラッキングエラー信号に基づいてトラッキングサーボ信号を生成し、同トラッキングサーボ信号を用いてドライブ回路４８を介してトラッキングアクチュエータ３２を駆動制御することにより、対物レンズ２５を光ディスクＤＫの径方向に変位させてトラッキングサーボ制御する。これにより、光スポットが光ディスクＤＫのトラック中心を追従するように制御される。
【００２６】
また、トラッキングエラー信号生成回路４６にて生成されたトラッキングエラー信号は、バンドパスフィルタからなるウォブル信号取り出し回路４９にも出力される。ウォブル信号取り出し回路４９は、トラッキングエラー信号からウォブル信号を取り出してスピンドルモータ制御回路１４に出力する。また、トラッキングサーボ回路４７にて生成されたトラッキングサーボ信号は、フィードモータ制御回路１７にも出力される。フィードモータ制御回路１７においては、トラッキングサーボ信号から直流成分が抽出されて、同抽出された直流成分がフィードモータ１２の制御に用いられる。
【００２７】
再生信号生成回路５１は、ＨＦ信号増幅回路４２から出力される検出信号Ａ〜Ｄに基づいて再生信号（フォトディテクタ２８からの検出信号Ａ〜Ｄの合算信号Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋ＤからなるＳＵＭ信号）を生成して２値化信号生成回路５２及びディジタル再生信号生成回路６０に出力する。この再生信号生成回路５１から出力される再生信号が本発明の再生信号に対応するもので、この再生信号は光ディスクＤＫに記録されている複数種類のパルス幅をもつ一連のパルスからなる信号を表すものである。２値化信号生成回路５２は、波形等価回路及び２値化回路を含む。波形等価回路は、再生信号の振幅を信号長ごとに調整する。２値化回路は、再生信号の瞬時値が再生信号の中心付近に定められたスライスレベルより大きいか小さいかでハイレベルとローレベルの２値化信号を生成して出力する。これに代えて、２値化信号生成回路５２を、ＰＲＭＬ(Partial Response and Maximum Likelihood)回路で構成する。そして、ＰＲＭＬ回路が、ＰＲ等化回路により再生信号からＰＲ等化信号を生成し、ビタビ復号回路によりハイレベルとローレベルの２値化信号を生成して出力するようにしてもよい。
【００２８】
このようにして生成された２値化信号は、ＣＤであれば３Ｔ〜１１Ｔ、ＤＶＤであれば３Ｔ〜１４Ｔ、ＢＤ(Blu-ray Disc)であれば２Ｔ〜８Ｔの信号長を有し、ハイレベルとローレベルの複数種類のパルスを含むパルス列信号である。光ディスクＤＫはいかなる種類のものでもよいが、以下の説明では、光ディスクＤＫはＢＤであり、２値化信号の信号長は２Ｔ〜８Ｔであるものとする。
【００２９】
２値化信号生成回路５２から出力される２値化信号は、遅延回路５３に供給される。遅延回路５３は、後述する評価対象パルス特定回路５４によって制御されるスイッチ回路６１〜６４による、ディジタル再生信号生成回路６０から振幅計算回路６５〜６８へのディジタル再生信号の取り込みタイミングを調整するためのものである。遅延回路５３は、後述するコントローラ７０の第２時間調整プログラムの実行により制御されて、コントローラ７０によって設定された時間だけ入力した２値化信号を遅延して評価対象パルス特定回路５４に出力する。詳しくは後述するが、遅延回路５３の出力がディジタル再生信号に対して図６の破線で示すタイミング関係になるように、遅延時間が設定される。評価対象パルス特定回路５４は、基準クロック信号発生回路を内蔵しており、入力した２値化信号の各パルスのパルス幅（信号長）とパルスの正負の向きを計測して、同計測結果に基づいて評価対象パルスを検出し、検出した評価対象パルスごとに同パルスの終了直後に検出パルスを出力する。評価対象パルスの種類はいかなるパルスでもよいが、本実施形態においては、信号長を２Ｔ及び８Ｔとする正負の４種類のパルスである。
【００３０】
具体的には、評価対象パルス特定回路５４は、信号長２Ｔのパルスに関し、信号長が２Ｔ±ΔＴ１（ΔＴ１は、予め決められた微小値である）の範囲にある正及び負のパルスを検出する。そして、正のパルスであれば、同正のパルスのトレーリングエッジのタイミングでスイッチ回路６１に検出パルス２Ｔ＋を出力する。負のパルスであれば、同負のパルスのトレーリングエッジのタイミングでスイッチ回路６２に検出パルス２Ｔ−を出力する。また、評価対象パルス特定回路５４は、信号長８Ｔのパルスに関し、信号長が８Ｔ±ΔＴ２（ΔＴ２は予め決められた微小値である）の範囲にある正及び負のパルスを検出する。そして、正のパルスであれば、同正のパルスのトレーリングエッジのタイミングでスイッチ回路６３に検出パルス８Ｔ＋を出力する。負のパルスであれば、同負のパルスのトレーリングエッジのタイミングでスイッチ回路６４に検出パルス８Ｔ−を出力する。図７は、これらの検出パルスを、再生信号及び２値化信号と共にタイムチャートにより示している。
【００３１】
時間計測回路５５は、基準クロック信号発生回路を内蔵し、コントローラ７０による時間計測開始の指示に応答して時間計測を開始する。そして、評価対象パルス特定回路５４から検出パルス８Ｔ＋が出力されるごとに、前記計測開始からの経過時間をコントローラ７０に供給する。
【００３２】
ディジタル再生信号生成回路６０は、再生信号生成回路５１からの再生信号を所定のサンプリングレートでサンプリングしてＡ／Ｄ変換し、かつ再生信号の中心値のゆっくりとした時変動を除去してスイッチ回路６１〜６４に出力する。ディジタル再生信号生成回路６０は、図２に詳細に示されているように、ローパスフィルタ１０１，１０５をそれぞれ介装した２つの信号系列を有する。ローパスフィルタ１０１は、光ディスクＤＫに記録されている信号の周波数よりも高い周波数信号（すなわち、光ディスクＤＫに記録されている信号に含まれる高周波ノイズ）を除去して、Ａ／Ｄ変換器１０２に出力する。このローパスフィルタ１０１のカットオフ周波数は、光ディスクＤＫに記録されている信号の周波数よりも高い周波数、例えば５０ＭＨｚに設定されている。
【００３３】
Ａ／Ｄ変換器１０２は、クロック信号発生回路１０３からクロック信号が供給されると、このクロック信号を用いて、ローパスフィルタ１０１によってフィルタリングされた再生信号を所定の周期でサンプリングするとともに、Ａ／Ｄ変換して遅延回路１０４に出力する。Ａ／Ｄ変換器１０２のサンプリング周期は、例えば１／２００ＭＨｚであり、このサンプリング周期は信号長１Ｔに相当する時間（１／６６ＭＨｚ）の約１／３に相当する。クロック信号発生回路１０３は、コントローラ７０によりクロック信号の発生が制御される。遅延回路１０４は、ローパスフィルタ１０１を含む信号系列のディジタル再生信号の遅れと、ローパスフィルタ１０５を含む信号系列のディジタル再生信号の遅れとを合わせるために、すなわち両ローパスフィルタ１０１，１０５によるディジタル再生信号の遅延時間のずれをなくすために、Ａ／Ｄ変換器１０２から出力されたディジタル再生信号を設定された時間だけ遅延するものである。具体的には、ローパスフィルタ１０５のカットオフ周波数は、ローパスフィルタ１０１のカットオフ周波数より低く、ローパスフィルタ１０５を含む信号系列のディジタル再生信号の遅れはローパスフィルタ１０１を含む信号系列のディジタル再生信号の遅れより大きくなるので、この遅れを解消する時間だけＡ／Ｄ変換器１０２からのディジタル再生信号を遅延する。この遅延回路１０４による遅延時間は、後述するコントローラ７０の第１遅延時間調整プログラムにより設定される。詳しくは後述するが、図８は、遅延回路１０４及びＡ／Ｄ変換器１０６の各出力を示す波形図であり、遅延時間調整前の遅延回路１０４の出力波形を実線で表し、遅延時間調整後の遅延回路１０４の出力波形を破線で示している。
【００３４】
ローパスフィルタ１０５は、光ディスクＤＫに記録されている信号を除去して、ゆっくり時変動する再生信号の中心値を取り出し、Ａ／Ｄ変換器１０６に出力する。このゆっくり時変動する再生信号の中心値は、光ディスクＤＫのレーザ照射位置の反射率の違いに基づくものである。このローパスフィルタ１０５のカットオフ周波数は、光ディスクＤＫに記録されている信号の周波数よりも低い周波数、例えば５ＭＨｚに設定されている。図９(Ａ)はローパスフィルタ１０１の出力波形を示し、図９(Ｂ)はローパスフィルタ１０５の出力波形を示している。Ａ／Ｄ変換器１０６は、クロック信号発生回路１０７からクロック信号が供給されると、このクロック信号を用いて、ローパスフィルタ１０５によってフィルタリングされた再生信号を所定の周期でサンプリングするとともに、Ａ／Ｄ変換する。Ａ／Ｄ変換器１０６のサンプリング周期は、Ａ／Ｄ変換器１０２のサンプリング周期と同程度でもよいが、信号に含まれる周波数成分が低いので、Ａ／Ｄ変換器１０２のサンプリング周期よりも長くてよい。このサンプリング周期を、例えば１／１０ＭＨｚまで長くしても問題ない。クロック信号発生回路１０７は、コントローラ７０によりクロック信号の発生が制御される。
【００３５】
遅延回路１０４及びＡ／Ｄ変換器１０６の両出力は、それぞれコントローラ７０に供給されるとともに、減算器１０８に供給される。減算器１０８は、遅延回路１０４からのディジタル信号からＡ／Ｄ変換器１０６からのディジタル信号を減算して、加算器１１０に出力する。積分回路１０９は、Ａ／Ｄ変換器１０６からのディジタル信号を積分して、前記時変動する再生信号の中心値を平均化して、再生信号の直流成分を導出する。加算器１１０は、減算器１１０からのディジタル信号に積分回路１０９からのディジタル信号を加算して、スイッチ回路６１〜６４に出力する。図９(Ｃ)は減算器１０８の出力値を示し、図９(Ｄ)は積分回路１０９の出力値を示し、図９(Ｅ)は加算器１１０の出力値を示している。その結果、再生信号の中心値のゆっくりした時変動成分を除外し、かつ再生信号に含まれる直流成分（再生信号の平均的な信号レベル）を加味したディジタル信号が、ディジタル再生信号としてスイッチ回路６１〜６４に供給されることになる。
【００３６】
スイッチ回路６１〜６４は、それぞれ評価対象パルス特定回路５４から検出パルスを入力すると、最長信号長に相当する時間だけ、ディジタル再生信号生成回路６０からのディジタル再生信号を振幅計算回路６５〜６８に出力する。本実施形態においては、前記最長信号長に相当する時間は信号長８Ｔに対応する時間であり、例えば８／６６ＭＨｚの時間である。したがって、前記ディジタル再生信号生成回路６０内のＡ／Ｄ変換器１０２のサンプリング周期１／２００ＭＨｚを考慮すると、評価対象パルス特定回路５４からの検出パルスの出力後、約２４個のディジタル再生信号のサンプリング値が振幅計算回路６５〜６８に供給されることになる。図１０(Ａ)は、信号長が８Ｔ＋の場合において、振幅計算回路６７に供給されるディジタル再生信号の２４個のサンプリングを示している。図１０(Ｂ)は、信号長が２Ｔ＋の場合において、振幅計算回路６５に供給されるディジタル再生信号の２４個のサンプリングを示している。
【００３７】
振幅計算回路６５〜６８は、図３に詳細に示すように、コントローラ７０により制御されて、ディジタル再生信号生成回路６０からスイッチ回路６１〜６４を介して供給される所定数（本実施形態では２４個）のサンプリング値を１組として、複数組のサンプリングデータ群を一時的にメモリ６５ａ〜６８ａ内にそれぞれ一時記憶する。振幅計算回路６５は、“２Ｔ＋”のディジタル再生信号の最大値（ピーク値）を計算するもので、スイッチ回路６１からの複数組のサンプリングデータ群Ｘ11〜Ｘ241，Ｘ12〜Ｘ242・・をメモリ６５ａに記憶する。次に、振幅計算回路６５は、前記複数組のサンプリングデータ群Ｘ11〜Ｘ241，Ｘ12〜Ｘ242・・のうち、各組ごとに最後に記憶した６個のサンプリングデータ群Ｘ191〜Ｘ241，Ｘ192〜Ｘ242・・中の最大値Ｘmax1，Ｘmax2・・を抽出してメモリ６５ｂにそれぞれ一時記憶する。最後に記憶した６個のサンプリングデータ群だけを用いるのは、次の振幅計算回路６６の場合も同様であるが、各組の２４個のサンプリングデータのうちで信号長２Ｔに関係したサンプリングデータは最後に記憶した６個だけであるからである。そして、振幅計算回路６５は、前記メモリ６５ｂに一時記憶した最大値Ｘmax1，Ｘmax2・・の平均値を計算して、同平均値を“２Ｔ＋”のディジタル再生信号の最大値（ピーク値）を表すデータとしてコントローラ７０に供給する。
【００３８】
振幅計算回路６６は、“２Ｔ−”のディジタル再生信号の最小値（ボトム値）を計算するもので、スイッチ回路６２からの複数組のサンプリングデータ群Ｘ11〜Ｘ241，Ｘ12〜Ｘ242・・をメモリ６６ａに記憶する。次に、振幅計算回路６６は、前記複数組のサンプリングデータ群Ｘ11〜Ｘ241，Ｘ12〜Ｘ242・・のうち、各組ごとに最後に記憶した６個のサンプリングデータ群Ｘ191〜Ｘ241，Ｘ192〜Ｘ242・・中の最小値Ｘmin1，Ｘmin2・・を抽出してメモリ６６ｂにそれぞれ一時記憶する。そして、振幅計算回路６６は、前記メモリ６６ｂに一時記憶した最小値Ｘmin1，Ｘmin2・・の平均値を計算して、同平均値を“２Ｔ−”のディジタル再生信号の最小値（ボトム値）を表すデータとしてコントローラ７０に供給する。
【００３９】
振幅計算回路６７は、“８Ｔ＋”のディジタル再生信号の最大値（ピーク値）を計算するもので、スイッチ回路６３からの複数組のサンプリングデータ群Ｘ11〜Ｘ241，Ｘ12〜Ｘ242・・をメモリ６７ａに記憶する。次に、振幅計算回路６７は、前記複数組のサンプリングデータ群Ｘ11〜Ｘ241，Ｘ12〜Ｘ242・・の中から各組ごとに最大値Ｘmax1，Ｘmax2・・を抽出してメモリ６７ｂにそれぞれ一時記憶する。各組の２４個の全てのサンプリングデータを用いるのは、次の振幅計算回路６８の場合も同様であるが、各組の２４個のサンプリングデータの全てが信号長８Ｔに関係したサンプリングデータであるからである。そして、振幅計算回路６７は、前記メモリ６７ｂに一時記憶した最大値Ｘmax1，Ｘmax2・・の平均値を計算して、同平均値を“８Ｔ＋”のディジタル再生信号の最大値（ピーク値）を表すデータとしてコントローラ７０に供給する。
【００４０】
振幅計算回路６８は、“８Ｔ−”のディジタル再生信号の最小値（ボトム値）を計算するもので、スイッチ回路６４からの複数組のサンプリングデータ群Ｘ11〜Ｘ241，Ｘ12〜Ｘ242・・をメモリ６８ａに記憶する。次に、振幅計算回路６８は、前記複数組のサンプリングデータ群Ｘ11〜Ｘ241，Ｘ12〜Ｘ242・・の中から各組ごとに最小値Ｘmin1，Ｘmin2・・を抽出してメモリ６８ｂにそれぞれ一時記憶する。そして、振幅計算回路６８は、前記メモリ６８ｂに一時記憶した最小値Ｘmin1，Ｘmin2・・の平均値を計算して、同平均値を“８Ｔ−”のディジタル再生信号の最小値（ボトム値）を表すデータとしてコントローラ７０に供給する。
【００４１】
なお、前記では、振幅計算回路６５〜６８は、最大値Ｘmax1，Ｘmax2・・又は最小値Ｘmin1，Ｘmin2・・の平均値を、コントローラ７０に供給する最大値（ピーク値）又は最小値（ボトム値）を表すデータとした。しかし、これに代えて、対象となる複数組のサンプリングデータ群から最小２乗法によってそれぞれ複数の波形曲線を求め、複数の波形曲線における最大値又は最小値の平均値をコントローラ７０に供給する最大値（ピーク値）又は最小値（ボトム値）を表すデータとしてもよい。
【００４２】
コントローラ７０は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、ハードディスクなどからなるマイクロコンピュータによって構成されており、キーボード、マウスなどからなる入力装置７１からの指示に従って図４，５の第１及び第２遅延時間調整プログラムを実行することにより遅延回路５３，１０４の遅延時間を設定するとともに、図示しないプログラムの実行により光ディスクＤＫの検査を行う。そして、コントローラ７０は、光ディスクＤＫの検査の実行過程及び実行結果を、ＣＲＴ（又は液晶ディスプレイ）、プリンタなどからなる出力装置７２に適宜表示させる。また、このコントローラ７０には、スピンドルモータ制御回路１４、フィードモータ制御回路１７、レーザ駆動回路４１、遅延回路５３、時間計測回路５５、ディジタル再生信号生成回路６０及び振幅計算回路６５〜６８が、それぞれの作動制御のために接続されている。
【００４３】
上記のように構成した実施形態の作動について説明する。作業者は、まずディジタル再生信号生成回路６０内の遅延回路１０４による遅延時間をコントローラ７０に設定させ、次に遅延回路５３による遅延時間をコントローラ７０に設定させる。これらの遅延時間の設定前に、遅延回路１０４，５３の遅延時間を適当な予想値に初期設定しておいてもよいし、「０」に初期設定しておいてもよい。また、これらの遅延時間の設定のためには、図１１(Ａ)に示す特殊な光ディスクＤＫを利用する。この光ディスクＤＫにおいては、第１の所定の半径位置（例えば、最外周に近い部分）にて所定幅にわたり、半面の反射率が高く、他の半面の反射率が低くなっている。また、前記第１の所定の半径位置とは異なる第２の所定の半径位置にて所定幅にわたり、検査に使用される信号のうちの１つの特定信号（例えば、信号長が最長である８Ｔ＋の信号）が、充分な間隔をおいて（例えば、光ディスクＤＫの１周ごとに１つ）記録されている。これ以外の信号を記録しないでおくことにより、後述するデータ処理が簡単かつ短時間で行われる。なお、前記第１及び第２の所定の半径位置はいずれの半径位置でもよく、特に第１の所定の半径位置は、前記最外周近傍に限られることなく、図１１(Ｂ)に示すように最内周近傍位置でもよい。
【００４４】
遅延回路１０４の遅延時間の設定においては、作業者は、図示しない電源スイッチの投入により検査装置を動作させ、前記のような光ディスクＤＫをターンテーブル１３上にセットする。次に作業者は、入力装置７１を操作して光ディスクＤＫの検査をコントローラ７０に指示する。この指示に応答して、コントローラ７０は、図示しないプログラムを実行することにより、スピンドルモータ制御回路１４を作動させて光ディスクＤＫをコントローラ７０に設定されている回転速度（本実施形態では、信号長１Ｔに相当する時間が１／６６ＭＨｚになる回転速度）で回転させる。次に、コントローラ７０は、レーザ駆動回路４１の作動を開始させてレーザ光源２１からレーザ光を光ディスクＤＫに向けて出射させる。
【００４５】
レーザ光源２１から出射されたレーザ光は、光ディスクＤＫにて反射されてフォトディテクタ２８で受光される。フォトディテクタ２８は、受光量に応じた検出信号Ａ〜ＤをＨＦ信号増幅回路４２を介してフォーカスエラー信号生成回路４３、トラッキングエラー信号生成回路４６及び再生信号生成回路５１にそれぞれ出力する。これらのうちのフォーカスエラー信号生成回路４３に出力された検出信号Ａ〜Ｄは、フォーカスエラー信号生成回路４３、フォーカスサーボ回路４４及びドライブ回路４５による対物レンズ２５のフォーカスサーボ制御に用いられる。また、トラッキングエラー信号生成回路４６に出力された検出信号Ａ〜Ｄは、トラッキングエラー信号生成回路４６、トラッキングサーボ回路４７及びドライブ回路４８による対物レンズ２５のトラッキングサーボ制御に用いられる。なお、トラッキングサーボ回路４７から出力されたトラッキングサーボ信号は、フィードモータ制御回路１７に供給され、光ディスクＤＫの径方向位置の制御に用いられる。
【００４６】
そして、作業者は、入力装置７１を操作することにより、図４の第１遅延時間調整プログラムの実行をステップＳ１０にて開始させる。この第１遅延時間調整プログラムの実行開始後、コントローラ７０は、ステップＳ１１にてフィードモータ制御回路１７を制御してターンテーブル１３と共に光ディスクＤＫを径方向に移動することにより、レーザ照射位置を光ディスクＤＫの第１の所定の半径位置、すなわち半面ごとに反射率の異なる半径位置に移動する。これにより、レーザ光は半面ごとに反射率の異なる光ディスクＤＫの表面にて反射され、反射されたレーザ光はフォトディテクタ２８に入射する。フォトディテクタ２８、ＨＦ信号増幅回路４２及び再生信号生成回路５１の作用により、再生信号（ＳＵＭ信号）がディジタル再生信号生成回路６０に供給される。
【００４７】
この再生信号は、光ディスクＤＫの半回転ごとにローレベルとハイレベルに変化する低周波数の信号であり、ディジタル再生信号生成回路６０内のローパスフィルタ１０１，１０５を共に通過する。そして、ローパスフィルタ１０１を通過した再生信号は、Ａ／Ｄ変換器１０２にてＡ／Ｄ変換され、遅延回路１０４を介してコントローラ７０に供給される。なお、この第１遅延時間調整プログラムの実行開始時に、コントローラ７０はディジタル再生信号生成回路６０のクロック信号発生回路１０３，１０７の作動を開始させて、Ａ／Ｄ変換器１０２，１０６によるＡ／Ｄ変換動作を開始させている。ローパスフィルタ１０５を通過した再生信号は、Ａ／Ｄ変換器１０６にてＡ／Ｄ変換されてコントローラ７０に供給される。ローパスフィルタ１０５による遅延時間はローパスフィルタ１０１による遅延時間よりも長いので、遅延回路１０４の出力とＡ／Ｄ変換器１０６の出力との間には位相ずれが生じる。前述のように、遅延回路１０４の遅延時間は、初期に予想値に設定されている場合もあるので、この状態で、遅延回路１０４の出力の位相がＡ／Ｄ変換器１０６の出力の位相よりも遅れているとは限らないが、遅延回路１０４の遅延時間を少なくとも「０」に設定した場合には、遅延回路１０４の出力の位相はＡ／Ｄ変換器１０６の出力の位相よりも進む。図８の実線で示す信号波形は、遅延回路１０４の出力の位相がＡ／Ｄ変換器１０６の出力の位相よりも進んでいる場合を示している。
【００４８】
前記ステップＳ１１の処理後、コントローラ７０は、ステップＳ１２にて時間計測を開始し、ステップＳ１３〜Ｓ１５からなる循環処理を繰り返し実行する。ステップＳ１３においては、遅延回路１０４及びＡ／Ｄ変換器１０６の出力値を取り込む。ステップＳ１４においては、遅延回路１０４及びＡ／Ｄ変換器１０６から取り込んだ出力値の立ち上がり及び立ち下がり（リーディングエッジ及びトレーリングエッジ）を検出し、前記時間計測の開始から前記立ち上がり及び立ち下がりタイミングまでの時間を計測して、遅延回路１０４側の時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・として一時記憶するとともに、Ａ／Ｄ変換器１０６側の時間データＴ２(１)，Ｔ２(２)・・として一時記憶する（図８参照）。ステップＳ１５においては、両時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・，Ｔ２(１)，Ｔ２(２)・・が所定数以上になったかを判定する。両時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・，Ｔ２(１)，Ｔ２(２)・・が所定数以上になっていなければ、コントローラ７０は、ステップＳ１５にて「Ｎｏ」と判定してステップＳ１３〜Ｓ１５の循環処理を繰り返し実行して、両時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・，Ｔ２(１)，Ｔ２(２)・・を収集し続ける。
【００４９】
両時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・，Ｔ２(１)，Ｔ２(２)・・が所定数以上になると、コントローラ７０は、ステップＳ１５にて「Ｙｅｓ」と判定して、ステップＳ１６にて時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・と時間データＴ２(１)，Ｔ２(２)・・とを対応付ける。これらの時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・，Ｔ２(１)，Ｔ２(２)・・は、光ディスクＤＫの１回転ごとに２つずつしか発生しない間隔の長いデータであるので、近い値を有する両時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・，Ｔ２(１)，Ｔ２(２)・・同士を対応付ければよく、両時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・，Ｔ２(１)，Ｔ２(２)・・の対応付けは容易に行われる。前記ステップＳ１６の処理後、コントローラ７０は、ステップＳ１７にて時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・と時間データＴ２(１)，Ｔ２(２)・・との差ΔＴ(ｋ)＝Ｔ２(ｋ)−Ｔ１(ｋ)をそれぞれ計算するとともに、全ての差ΔＴ(ｋ)の平均値Ｅを計算する。ただし、ｋは、１から前記所定数までの整数である。
【００５０】
次に、コントローラ７０は、ステップＳ１８にて、平均値Ｅの絶対値｜Ｅ｜が予め設定した正の小さな許容値ΔＥ未満であるかを判定する。絶対値｜Ｅ｜が許容値ΔＥ未満でなければ、コントローラ７０は、ステップＳ１８にて「Ｎｏ」と判定して、ステップＳ１９の処理を実行する。ステップＳ１９においては、前記計算した平均値Ｅを遅延回路１０４に出力して、遅延回路１０４による信号遅延時間を平均値Ｅ分だけ調整する。具体的には、平均値Ｅが正であれば、遅延回路１０４による信号遅延時間を平均値Ｅの絶対値｜Ｅ｜分だけ大きくする。一方、平均値Ｅが負であれば、遅延回路１０４による信号遅延時間を平均値Ｅの絶対値｜Ｅ｜分だけ小さくする。そして、前述したステップＳ１１〜Ｓ１８の処理をふたたび実行する。前記ステップＳ１９の処理により、遅延回路１０４とＡ／Ｄ変換器１０６の両出力信号の位相差が縮められ、すなわち遅延回路１０４とＡ/Ｄ変換器１０６の両出力信号の立ち上がり及び立ち下がりタイミングが一致するように修正されるので、新たなステップＳ１１〜Ｓ１７による平均値Ｅの絶対値｜Ｅ｜は小さくなる。
【００５１】
平均値Ｅの絶対値｜Ｅ｜が小さくなった結果、前記絶対値｜Ｅ｜が許容値ΔＥ未満になれば、コントローラ７０は、ステップＳ１８にて「Ｙｅｓ」と判定して、ステップＳ２０にてこの第１遅延時間調整プログラムの実行を終了する。一方、前記絶対値｜Ｅ｜が許容値ΔＥ未満にならない場合には、コントローラ７０は、ステップＳ１８にて「Ｎｏ」と判定して、ふたたびステップＳ１９の遅延時間調整処理を実行して、ステップＳ１１〜Ｓ１８の処理を実行する。前記第１遅延時間調整プログラムの終了時には、遅延回路１０４とＡ／Ｄ変換器１０６の両出力信号の位相差がほぼ一致、すなわち遅延回路１０４とＡ/Ｄ変換器１０６の両出力信号の立ち上がり及び立ち下がりタイミングが一致して、遅延回路１０４の出力波形信号は図８の破線で示すようになる。
【００５２】
次に、作業者は、入力装置７１を操作することにより、図５の第２遅延時間調整プログラムの実行をステップＳ３０にて開始させる。この第２遅延時間調整プログラムの実行開始後、コントローラ７０は、ステップＳ３１にてフィードモータ制御回路１７を制御してターンテーブル１３と共に光ディスクＤＫを径方向に移動することにより、レーザ照射位置を光ディスクＤＫの第２の所定の半径位置、すなわち特定信号（８Ｔ＋の信号）が記録されている半径位置に移動する。これにより、フォトディテクタ２８には特定信号が入射する。そして、フォトディテクタ２８、ＨＦ信号増幅回路４２及び再生信号生成回路５１の作用により、特定信号に係る再生信号（ＳＵＭ信号）がディジタル再生信号生成回路６０及び遅延回路５３に供給される。
【００５３】
ディジタル再生信号生成回路６０に供給された再生信号は、ローパスフィルタ１０１によりローパスフィルタ処理され、Ａ／Ｄ変換器１０２によりＡ／Ｄ変換され、遅延回路１０４により遅延されて、コントローラ７０に供給される。なお、この第２遅延時間調整プログラムの実行開始時に、コントローラ７０はディジタル再生信号生成回路６０のクロック信号発生回路１０３の作動を開始させて、Ａ／Ｄ変換器１０２によるＡ／Ｄ変換動作を開始させている。ただし、この第２遅延時間調整プログラムにおいては、Ａ／Ｄ変換器１０６の出力は利用されないので、クロック信号発生回路１０７を作動させる必要はない。
【００５４】
一方、２値化信号生成回路５２に供給された特定信号に係る再生信号は、同２値化信号生成回路５２にて２値化信号に変換されて、遅延回路５３を介して評価対象パルス特定回路５４に供給される。評価対象パルス特定回路５４は、前記特定信号に係る再生信号（８Ｔ＋の信号）の検出ごとに検出パルス８Ｔ＋を時間計測回路５５に出力する。
【００５５】
前記ステップＳ３１の処理後、コントローラ７０は、ステップＳ３２にて時間計測を開始するとともに、時間計測回路５５にも時間計測を開始させる。これにより、時間計測回路５５は、評価対象パルス特定回路５４から検出パルス８Ｔ＋が到来するごとに、前記時間計測の開始から検出パルス８Ｔ＋の到来までの時間を表す時間データを出力する。前記ステップＳ３２の処理後、コントローラ７０は、ステップＳ３３〜Ｓ３７からなる循環処理を繰り返し実行する。ステップＳ３３においては、時間計測回路５５から出力される時間データを取り込み、時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・として順次一時記憶する（図６参照）。
【００５６】
ステップＳ３４においては、ディジタル再生信号生成回路６０の遅延回路１０４の出力値を取り込む。ステップＳ３５においては、前記取り込んだ出力値を２値化する。この場合、２値化される出力値は、特定信号８Ｔ＋である。ステップＳ３６においては、前記２値化した特定信号８Ｔ＋の終了タイミングを検出し、前記時間計測の開始から特定信号８Ｔ＋の終了タイミングまでの時間を計測して、特定信号８Ｔ＋の時間データＴ２(１)，Ｔ２(２)・・として順次一時記憶する。ステップＳ３７においては、両時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・，Ｔ２(１)，Ｔ２(２)・・が所定数以上になったかを判定する。両時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・，Ｔ２(１)，Ｔ２(２)・・が所定数以上になっていなければ、コントローラ７０は、ステップＳ３７にて「Ｎｏ」と判定してステップＳ３３〜Ｓ３７の循環処理を繰り返し実行して、両時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・，Ｔ２(１)，Ｔ２(２)・・を収集し続ける。
【００５７】
両時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・，Ｔ２(１)，Ｔ２(２)・・が所定数以上になると、コントローラ７０は、ステップＳ３７にて「Ｙｅｓ」と判定して、ステップＳ３８にて時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・と時間データＴ２(１)，Ｔ２(２)・・とを対応付ける。これらの時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・，Ｔ２(１)，Ｔ２(２)・・は、長い間隔をおいて供給するデータ、例えば光ディスクＤＫの１回転ごとに１つずつしか発生しない長い間隔のデータであるので、近い値を有する両時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・，Ｔ２(１)，Ｔ２(２)・・同士を対応付ければよく、両時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・，Ｔ２(１)，Ｔ２(２)・・の対応付けは容易に行われる。前記ステップＳ３８の処理後、コントローラ７０は、ステップＳ３９にて時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・と時間データＴ２(１)，Ｔ２(２)・・との差Ｔ(ｋ)＝Ｔ２(ｋ)−Ｔ１(ｋ)をそれぞれ計算するとともに、全ての差Ｔ(ｋ)の平均値Ｔavを計算する。ただし、ｋは、１から前記所定数までの整数である。
【００５８】
次に、コントローラ７０は、ステップＳ４０にて、前記平均値Ｔavから特定信号８Ｔ＋の信号長ＳＬ（この場合、ＳＬ＝８Ｔ）を減算した差分値の絶対値｜Ｔav−ＳＬ｜が予め設定した正の小さな許容値ΔＴo未満であるかを判定する。絶対値｜Ｔav−ＳＬ｜が許容値ΔＴo未満でなければ、コントローラ７０は、ステップＳ４０にて「Ｎｏ」と判定して、ステップＳ４１の処理を実行する。ステップＳ４１においては、差分値Ｔav−ＳＬを遅延回路５３に出力して、遅延回路５３による信号遅延時間を差分値Ｔav−ＳＬ分だけ調整する。具体的には、差分値Ｔav−ＳＬが正であれば、遅延回路５３による信号遅延時間を差分値Ｔav−ＳＬの絶対値｜Ｔav−ＳＬ｜分だけ大きくする。一方、差分値Ｔav−ＳＬが負であれば、遅延回路５３による信号遅延時間を差分値の絶対値｜Ｔav−ＳＬ｜分だけ小さくする。そして、前述したステップＳ３１〜Ｓ４０の処理をふたたび実行する。前記ステップＳ４１の処理により、ディジタル再生信号生成回路６０内の遅延回路１０４の出力が、遅延回路５３の出力から特定信号８Ｔ＋の信号長ＳＬだけ遅れるように修正されるので、新たなステップＳ３１〜Ｓ３９による差分値Ｔav−ＳＬの絶対値｜Ｔav−ＳＬ｜は小さくなる。
【００５９】
差分値Ｔav−ＳＬの絶対値｜Ｔav−ＳＬ｜が小さくなった結果、前記絶対値｜Ｔav−ＳＬ｜が許容値ΔＴo未満になれば、コントローラ７０は、ステップＳ４０にて「Ｙｅｓ」と判定して、ステップＳ４２にてこの第２遅延時間調整プログラムの実行を終了する。一方、前記絶対値｜Ｔav−ＳＬ｜が許容値ΔＴo未満にならない場合には、コントローラ７０は、ステップＳ４０にて「Ｎｏ」と判定して、ふたたびステップＳ４１の遅延時間調整処理を実行して、ステップＳ３１〜Ｓ４０の処理を実行する。前記第２遅延時間調整プログラムの終了時には、ディジタル再生信号生成回路６０内の遅延回路１０４の出力が、遅延回路５３の出力から特定信号８Ｔ＋の信号長ＳＬだけ遅れるように設定されて、遅延回路５３の出力波形信号は図６の破線で示すようになる。
【００６０】
前述のような第１及び第２遅延時間調整プログラムの実行後、コントローラ７０は、スピンドルモータ制御回路１４、フィードモータ制御回路１７、レーザ駆動回路４１及びディジタル再生信号生成回路６０の作動を停止させる。そして、作業者は、前記特殊な光ディスクＤＫをターンテーブル１３から取り外す。このような特殊な光ディスクＤＫを用いた遅延回路５３，１０４の遅延時間の設定は頻繁に行うことなく、次に説明する検査対象となる複数の光ディスクＤＫの検査前に１回だけ行うか、遅延回路５３，１０４の遅延時間の設定状態を維持しておいて稀に行えばよい。
【００６１】
次に、検査対象となる光ディスクＤＫの検査について説明する。この場合、検査対象となる光ディスクＤＫをターンテーブル１３上に固定する。検査対象となる光ディスクＤＫの検査領域には、複数種類のパルス幅をもつ一連のディジタル信号からなる光ディスクＤＫの検査用の信号が予め記録されている。次に、作業者は、入力装置７１を操作して光ディスクＤＫの検査をコントローラ７０に指示し、検査領域である検査開始の半径値と検査終了の半径値を入力する。この光ディスクＤＫの検査は、光ディスクＤＫの検査領域に記録されている検査用の信号をそれぞれ再生して、同再生した再生信号を評価することにより光ディスクＤＫの良否判定を行うものである。前記指示に応答してコントローラ７０は、図示しないプログラムを実行することにより光ディスクＤＫの検査を開始する。
【００６２】
まず、コントローラ７０は、上述の遅延時間設定の場合と同様に、スピンドルモータ制御回路１４、フィードモータ制御回路１７、レーザ駆動回路４１及びディジタル再生信号生成回路６０を作動させて、光ディスクＤＫを所定の回転速度で回転させるとともに、レーザ光の照射位置を光ディスクＤＫの検査領域（すなわち検査開始の半径位置）に移動させる。また、この状態では、上述の場合と同様に、フォーカスエラー信号生成回路４３、フォーカスサーボ回路４４及びドライブ回路４５による対物レンズ２５のフォーカスサーボ制御が作動するとともに、トラッキングエラー信号生成回路４６、トラッキングサーボ回路４７及びドライブ回路４８による対物レンズ２５のトラッキングサーボ制御が作動する。なお、検査開始と終了の半径値の代わりに、作業者は、入力装置７１から検査開始と終了におけるアドレスを入力してもよい。また、予めコントローラ７０に記憶されているデータにより、検査領域が指定されるようにしてもよい。
【００６３】
この場合も、検査用の光ディスクＤＫに記録された信号に対応したレーザ光は、フォトディテクタ２８に入射し、フォトディテクタ２８、ＨＦ信号増幅回路４２及び再生信号生成回路５１の作用により、検査用の再生信号（ＳＵＭ信号）が２値化信号生成回路５２及び遅延回路５３を介して評価対象パルス特定回路５４に供給されるとともに、ディジタル再生信号生成回路６０に供給される。評価対象パルス特定回路５４は、上述したように、信号２Ｔ＋，２Ｔ−，８Ｔ＋，８Ｔ−を検出して、検出パルス２Ｔ＋，２Ｔ−，８Ｔ＋，８Ｔ−をスイッチ回路６１〜６４にそれぞれ出力する（図７参照）。ディジタル再生信号生成回路６０は、上述のように、再生信号の中心値のゆっくりした時変動成分を除外し、かつ再生信号に含まれる直流成分（再生信号の平均的な信号レベル）を加味したディジタル再生信号をスイッチ回路６１〜６４に出力する（図９参照）。
【００６４】
スイッチ回路６１〜６４は、上述のように、それぞれ評価対象パルス特定回路５４からの検出パルス２Ｔ＋，２Ｔ−，８Ｔ＋，８Ｔ−に応答して、ディジタル再生信号生成回路６０からの検査用パルス信号２Ｔ＋，２Ｔ−，８Ｔ＋，８Ｔ−に関する２４個のサンプリングデータ群を振幅計算回路６５〜６８にそれぞれ出力する。振幅計算回路６５〜６８は、上述のように、スイッチ回路６１〜６４から出力された“２Ｔ＋”、“２Ｔ−”、“８Ｔ＋”及び“８Ｔ−”に関するサンプリングデータを、２４個を１組として順次記憶していく。そして、コントローラ７０が、フィードモータ１２のエンコーダ１２ａが出力するパルス信号から計算した半径値又は２値化信号を復号することで得られるアドレスデータにより、検査用パルス信号の再生終了を検知すると、振幅計算回路６５〜６８にそれぞれ計算の開始を指示する。
【００６５】
このコントローラ７０からの計算開始の指示に応答して、振幅計算回路６５〜６８は、上述のように、前記記憶した複数組のサンプリングデータ群を用いて、“２Ｔ＋”のディジタル再生信号の最大値（ピーク値）、“２Ｔ−”のディジタル再生信号の最小値（ボトム値）、“８Ｔ＋”のディジタル再生信号の最大値（ピーク値）及び“８Ｔ−”のディジタル再生信号の最小値（ボトム値）をそれぞれ計算する。この具体的な計算手順においては、次のいずれかの手順を採用できる。第１の計算手順は、コントローラ７０の計算開始指示に応答して、各組のサンプリングデータの最大値又は最小値をそれぞれ計算し、その後に、複数の最大値又は最小値の平均値を計算する手順である。第２の計算手順は、スイッチ回路６１〜６４が１組のサンプリングデータを入手するごとに１組ずつの最大値又は最小値をそれぞれ計算して記憶しておき、コントローラ７０の計算開始指示に応答して、複数の最大値又は最小値の平均値を計算する手順である。そして、最終的に計算された最大値（ピーク値）及び最小値（ボトム値）表すデータはコントローラ７０に供給される。
【００６６】
コントローラ７０は、振幅計算回路６５〜６８から供給されたデータを入力し、同入力したデータを用いて変調振幅又はアシンメトリなどの各評価項目を計算して再生信号の評価を行う。そして、評価結果を出力装置７２に表示する。そして、コントローラ７０は作動させた回路を停止させ、光ディスクＤＫの回転が止まるので、作業者は、光ディスクＤＫを取り替えて上記と同様な操作で検査を行う。このようにして、複数の光ディスクＤＫは次々に検査される。
【００６７】
上記作動説明からも理解できるように、上記実施形態によれば、２値化信号生成回路５２、評価対象パルス特定回路５４、ディジタル再生信号生成回路６０及びスイッチ回路６１〜６４により、振幅計算回路６５〜６８には、評価対象となるパルス幅２Ｔ＋，２Ｔ−，８Ｔ＋，８Ｔ−ごとに、必要な量のディジタル再生信号が記憶される（図３参照）。そして、振幅計算回路６５〜６８は、前記記憶したディジタル再生信号を用いてディジタル再生信号の信号特徴値（ピーク値又はボトム値）をそれぞれ計算し、コントローラ７０がこれらの信号特徴値を用いて再生信号を評価する。このように、評価対象のパルス幅のディジタル再生信号の取り込みは、信号特徴値の計算とは独立して行われる。その結果、光ディスクＤＫの１つのトラック上に評価対象となるパルス幅の信号が複数存在する場合には、光ディスクＤＫの１回転で複数の評価対象となるパルス幅のディジタル再生信号が振幅計算回路６５〜６８に取り込まれ、その後に、前記取り込まれたディジタル再生信号は信号特徴値の計算に利用されるので、再生信号の評価に対するトータル時間を大幅に減縮できる。
【００６８】
また、スイッチ回路６１〜６４は、評価対象パルス特定回路５４からの検出パルス２Ｔ＋，２Ｔ−，８Ｔ＋，８Ｔ−に応答して、評価対象となるパルス幅のうちで最も長いパルス幅８Ｔに相当する時間にわたって、ディジタル再生信号生成回路６０から出力されたディジタル再生信号を記憶する。したがって、評価対象となる全てのパルス幅２Ｔ＋，２Ｔ−，８Ｔ＋，８Ｔ−のディジタル再生信号を連続的に振幅計算回路６５〜６８に取り込むことができるので、パルス幅ごとにディジタル再生信号の取り込み処理を行う必要がなくなり、前記再生信号の評価に対するトータル時間の減縮に有利となる。
【００６９】
また、遅延回路５３は、ローパスフィルタ１０１，１０５及び遅延回路１０４の信号遅延時間を考慮して、２値化信号生成回路５２からの２値化信号を遅延して、ディジタル再生信号生成回路６０からスイッチ回路６１〜６４に供給されるディジタル再生信号が、評価対象パルス特定回路５４に供給される２値化信号よりも、評価対象となるパルス幅のうちで最も長いパルス幅８Ｔだけ遅れるようにした。これにより、振幅計算回路６５〜６８は、評価対象パルス特定回路５４による評価対象のパルス幅である信号の検出直後から、ディジタル再生信号の取り込みを的確に開始できるようになる。さらに、この遅延回路１０４の信号遅延時間は、図５の第２遅延時間調整プログラムの実行により、ディジタル再生信号生成回路６０からのディジタル再生信号と、前記評価対象パルス特定回路５４からの検出パルス８Ｔとに基づいて設定される。これにより、光ディスクＤＫの信号評価装置の状態にばらつきがあったり、同装置の状態が時間的に変化したりした場合でも、振幅計算回路６５〜６８へのディジタル再生信号の取り込みタイミングが自動的に適切なタイミングに設定されるようになる。
【００７０】
また、ディジタル再生信号生成回路６０においては、Ａ／Ｄ変換器１０２，１０６、ローパスフィルタ１０５、遅延回路１０４、減算器１０８、積分回路１０９及び加算器１１０により、光ディスクの位置の変化に起因した反射率の相違による時変動成分を除去したうえで、再生信号に含まれる直流成分（信号レベル）がそのまま保たれた再生信号がスイッチ回路６１〜６４及び振幅計算回路６５〜６８に供給される。その結果、最終的に、再生信号に含まれる直流成分（信号レベル）も含めて再生信号が評価されるようになる。また、遅延回路１０４の信号遅延時間は、図４の第１遅延時間調整プログラムの実行により、ローパスフィルタ１０５の出力をＡ／Ｄ変換器１０６によりＡ／Ｄ変換したディジタル信号と、遅延回路１０４の出力ディジタル信号とに基づいて設定される。これにより、光ディスクＤＫの信号評価装置の状態にばらつきがあったり、同装置の状態が時間的に変化したりした場合でも、遅延回路１０４の出力であってレーザ光の照射位置に依存した時変動成分を含むディジタル再生信号と、Ａ／Ｄ変換器１０６によりＡ／Ｄ変換した前記時変動成分を表すディジタル信号との遅延時間差を自動的になくすことができ、前記時変動成分を含むディジタル再生信号から時変動成分を的確に除去できるようになる。
【００７１】
さらに、本発明の実施にあたっては、上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を逸脱しない限りにおいて種々の変更が可能である。
【００７２】
上記実施形態においては、図４の第１遅延時間調整プログラムの処理により、遅延回路１０４及びＡ／Ｄ変換器１０６の出力値の立ち上がり及び立ち下がりの検出及びそれらの時間の計測を行うようにした。しかし、これに代えて、評価対象パルス特定回路５４及び時間計測回路５５のように、遅延回路１０４及びＡ／Ｄ変換器１０６の出力値の立ち上がり及び立ち下がりの検出及びそれらの時間を計測する回路をコントローラ７０の外部に設けて、同回路により検出された時間をコントローラ７０が取り込むようにしてもよい。また、図５の第２遅延時間調整プログラムの処理により、特定信号（８Ｔ＋）の終了の検出及びその時間の計測を行うようにしたが、この場合も、特定信号（８Ｔ＋）の終了の検出及びその時間を計測する回路をコントローラ７０の外部に設けて、同回路により検出された時間をコントローラ７０が取り込むようにしてもよい。また、時間計測回路５５の時間計測機能をコントローラ７０のプログラム処理により実行させるようにしてもよい。
【００７３】
また、上記実施形態においては、ディジタル再生信号生成回路６０において、再生信号に含まれる信号周波数よりも高い周波数のノイズをローパスフィルタ１０１により除去するようにした。しかし、この高い周波数のノイズが問題にならない場合には、ローパスフィルタ１０１を省略してもよい。この場合、遅延回路１０４は、ローパスフィルタ１０５による信号遅延時間のみを考慮して、同信号遅延時間を補償すればよい。
【００７４】
また、上記実施形態においては、光ディスクＤＫの位置により反射率の変化に起因したゆっくりと時変動する信号を除去するために、ローパスフィルタ１０５、Ａ／Ｄ変換器１０６、減算器１０８、積分回路１０９、加算器１１０などを設けるようにした。しかし、この時変動する信号を無視できる場合には、前記ローパスフィルタ１０５、Ａ／Ｄ変換器１０６、減算器１０８、積分回路１０９、加算器１１０などは不要となる。一方、この場合も、２値化信号生成回路５２から遅延回路５３を介して評価対象パルス特定回路５４に供給される２値化信号の位相は、ディジタル再生信号生成回路６０からスイッチ回路６１〜６４に供給されるディジタル再生信号の位相よりも、最長信号長８Ｔ分だけ進んでいる必要がある。この場合、ローパスフィルタ１０５の遅延時間は非常に大きく（８Ｔよりも大きく）、ローパスフィルタ１０１の遅延時間は非常に小さい（８Ｔよりも小さい）ので、遅延回路５３を省略して、遅延回路１０４の信号遅延時間を調整して、ディジタル再生信号生成回路６０からスイッチ回路６１〜６４に供給されるディジタル再生信号を、評価対象パルス特定回路５４に供給される２値化信号よりも最長信号長８Ｔだけ遅延するようにする。この場合には、図５の第２遅延時間調整プログラムにより、遅延回路１０４の遅延時間を調整することになる。
【００７５】
また、上記実施形態においては、遅延回路５３の遅延時間の設定により、ディジタル再生信号生成回路６０からスイッチ回路６１〜６４に出力されるディジタル再生信号を、遅延回路５３から評価対象パルス特定回路５４に供給される２値化信号よりも最長信号長８Ｔだけ遅らせるようにした。したがって、最長信号長８Ｔの評価対象パルス８Ｔ＋，８Ｔ−に関しては、評価対象パルス特定回路５４に入力された評価対象パルス８Ｔ＋，８Ｔ−の終了直後から、これらの評価対象パルス８Ｔ＋，８Ｔ−に対応したディジタル再生信号がディジタル再生信号生成回路６０からスイッチ回路６３，６４に供給され、スイッチ回路６３，６４により前記評価対象パルス８Ｔ＋，８Ｔ−に対応したディジタル再生信号が振幅計算回路６７，６８に供給される。これによれば、振幅計算回路６５〜６８にディジタル再生信号のサンプリングデータを極めて効率的に取得させることができるが、本発明はこれに限定されるものではない。すなわち、ディジタル再生信号生成回路６０からスイッチ回路６１〜６４に出力されるディジタル再生信号は、遅延回路５３から評価対象パルス特定回路５４に供給される２値化信号に対して、少なくとも最長信号長８Ｔ分遅れればよい（すなわち、最長時間長８Ｔ以上の時間が遅れればよい）。これによっても、振幅計算回路６３，６４には、評価対象パルス８Ｔ＋，８Ｔ−に対応した必要量のディジタル再生信号のサンプリングデータが取り込まれる。ただし、この場合、スイッチ回路６１〜６４は、評価対象パルス特定回路５４からの検出パルス２Ｔ＋，２Ｔ−，８Ｔ＋，８Ｔ−の到来から所定時間後に、ディジタル再生信号生成回路６０からのディジタル再生信号を振幅計算回路６５〜６８に出力するようにする必要がある。
【００７６】
また、上記実施形態においては、評価対象となるパルス幅は、光ディスクＤＫに記録された検査用信号における最短のパルス幅及び最長のパルス幅の２種類のパルス幅とし、同２種類のパルス幅を信号レベルごとに検出して再生信号の評価を行うようにしたが、再生信号の評価に必要なパルス幅のパルス信号を検出すれば、これに限定されるものではない。すなわち、１つのパルス幅又は３つ以上の種類のパルス幅を評価対象として、同各パルス幅をもつパルス信号を抽出して再生信号を評価するようにしてもよい。
【００７７】
さらに、上記実施形態においては、光ディスクＤＫを検査するための光ディスク装置に本発明を適用するようにしたが、本発明はディスクＤＫに記録された信号を再生して再生信号を評価する装置であれば、これに限定されるものではない。例えば、光ディスクＤＫに記録されたディジタル信号をアナログ再生するための光ピックアップ２０などの再生装置を検査するための光ピックアップ検査装置などにも広く適用できるものである。また、光ディスクＤＫへのデータの記録条件、光ディスクに記録されたデータの再生条件などの評価にも利用できる。
【図面の簡単な説明】
【００７８】
【図１】本発明の一実施形態に係る光ディスク検査装置の全体を概略的に示すブロック図である。
【図２】図１のディジタル再生信号生成回路の詳細ブロック図である。
【図３】図１のスイッチ回路及び振幅計算回路の機能を説明するための機能ブロック図である。
【図４】図１のコントローラにより実行される第１遅延時間調整プログラムを示すフローチャートである。
【図５】図１のコントローラにより実行される第２遅延時間調整プログラムを示すフローチャートである。
【図６】特定パルス信号（８Ｔ＋）に関する遅延回路、ディジタル再生信号生成回路などの出力信号波形図である。
【図７】再生信号、同再生信号の２値化信号及び検出パルス２Ｔ＋，２Ｔ−，８Ｔ＋，８Ｔ＋の信号波形図である。
【図８】図２の遅延回路及びＡ／Ｄ変換器の出力信号波形図である。
【図９】(Ａ)〜(Ｄ)は図２のディジタル再生信号生成回路内の各部の信号波形図である。
【図１０】(Ａ)(Ｂ)は“８Ｔ＋”及び“２Ｔ＋”パルス信号に関する遅延回路出力とディジタル再生信号生成回路の出力信号波形図である。
【図１１】(Ａ)(Ｂ)は遅延時間の設定に利用される特殊な光ディスクの概念図である。
【図１２】(Ａ)(Ｂ)は従来装置による再生信号の波形図である。
【符号の説明】
【００７９】
ＤＫ…光ディスク、１０…回転駆動装置、１１…スピンドルモータ、１２…フィードモータ、２０…光ピックアップ、５３…遅延回路、５４…評価対象パルス特定回路、５５…時間計測回路、６０…ディジタル再生信号生成回路、６１〜６４…スイッチ回路、６５〜６８…振幅計算回路、７０…コントローラ。
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＣＤ，ＤＶＤなどの光ディスクに記録された複数種類のパルス幅を有する一連のパルスからなる信号のうちで、評価対象となるパルス幅の再生信号を評価する光ディスクの信号評価装置及び信号評価方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、複数種類のパルス幅をもつ一連のパルスからなるディジタル信号を記録したＣＤ，ＤＶＤなどの光ディスク、光ディスクに記録された同ディジタル信号をアナログ再生するための光ピックアップなどの再生装置、光ディスクへのデータの記録条件、又は光ディスクに記録されたデータの再生条件を評価するために、光ディスクに記録されているディジタル信号のうちで、評価対象となるパルス幅の再生信号を評価することはよく知られている。
【０００３】
この種の再生信号の評価項目には、ジッタ、変調振幅、アシンメトリなどがある。ジッタは、再生信号を２値化した際のパルス幅のばらつきで評価される。変調振幅は、例えば、パルス幅が最長である信号の振幅と、パルス幅が最短である信号の振幅との比で評価される。アシンメトリは、例えば、パルス幅が最長である信号の中心レベルと、パルス幅が最短である信号の中心レベルとのずれで評価される。このような再生信号の評価においては、光ディスクに順次記録されているディジタル信号の中から評価対象となるパルス幅の再生信号を正確に抽出して評価する必要がある。
【０００４】
例えば、下記特許文献１に示される光ディスクの信号評価装置においては、検査対象である光ディスクに記録されているディジタル信号のうち、評価対象であるパルス幅の信号、具体的には、最長のパルス幅の信号を抽出するとともに、同抽出した信号のジッタを評価して光ディスクの検査を行っている。この場合、光ディスクの１回転ごとに１つの評価対象であるパルス幅の信号の抽出及び評価が行われる。これは、ある評価対象であるパルス幅の信号の抽出及び評価を実行している間に、他の評価対象であるパルス幅の信号が発生して同他の評価対象であるパルス幅の信号の評価ができなないことを防止するため、評価対象であるパルス幅の信号の抽出及び評価に光ディスクの１回転分の時間を確保したものである。
【特許文献１】特開平１１−３２８８６５号公報
【０００５】
しかしながら、上記した光ディスクの信号評価装置においては、光ディスクの１つのトラック上に評価対象となるパルス幅の信号が複数存在する場合でも、同評価対象となる信号の数だけ光ディスクを回転させて同信号の抽出及び評価をしなければならず、同信号の抽出及び評価に評価対象となる信号の数に応じた光ディスクの回転時間が必要となる。このため、１枚の光ディスクの検査に多くの時間を要するという問題がある。
【０００６】
また、光ディスクの反射率は一定でないために、比較的長い時間に渡って計測した再生信号は、光ディスクに記録されたデータ（ピット又はマーク）による変化に加えて、その中心値が時間経過に従ってゆっくりと変動する。図１２(Ａ)は、この中心値のゆっくりとした時変動を示すために、比較的長い時間にわたる再生信号を誇張して示している。そして、このような中心値の変動する再生信号をそのまま取り込んで評価に用いると、この中心値の変動のために、再生信号を高精度で評価することができない。この中心値の変動分を除去するためには、下記特許文献２に示すように、再生信号路にハイパスフィルタを挿入することが考えられる。再生信号をハイパスフィルタ処理することで、図１２(Ｂ)に示すように、中心値の変動を除去できるが、このハイパスフィルタ処理した再生信号は、グランドレベルを中心に正負に変化する信号となるので、信号レベルを含めた再生信号の評価が不能になるという問題がある。
【特許文献２】特開昭６３−４４６２号公報
【発明の開示】
【０００７】
本発明は上記問題に対処するためなされたもので、その目的は、光ディスクに記録されている評価対象となる信号を効率的に抽出して再生信号の評価に必要な時間を短縮することが可能な光ディスクの信号評価装置を提供することにある。また、中心値の変動分を除去したうえで、信号レベルをも含めて再生信号を評価可能とする光ディスクの信号評価装置を提供することにもある。なお、後述の括弧内の記載は、本発明の実施形態の要素に対応する。
【０００８】
上記目的を達成するため、本発明は、光ディスクにレーザ光を照射して光ディスクからの反射光を受光する光ピックアップ（光ピックアップ２０）から出力された電気信号に基づいて生成された再生信号を評価する光ディスクの信号評価装置において、前記生成された再生信号をハイレベルとローレベルとからなる２値化信号に変換して出力する２値化信号生成手段（２値化信号生成回路５２）と、前記変換された２値化信号の各パルスの信号長に基づいて一連のパルス列の中から評価対象となるパルス幅の信号をそれぞれ検出して、評価対象となるパルス幅ごとに検出信号を出力する評価対象パルス検出手段（評価対象パルス特定回路５４）と、前記再生信号を所定のレートでサンプリングしてディジタル再生信号に変換し、前記ディジタル再生信号を前記２値化信号よりも所定量だけ遅延させて出力するディジタル再生信号生成手段（ディジタル再生信号生成回路６０）と、前記評価対象パルス検出手段からの検出信号に応答して、前記ディジタル再生信号生成手段から出力された所定時間にわたるディジタル再生信号を前記検出信号の属するパルス幅ごとに記憶するとともに、前記記憶したディジタル再生信号に基づいて前記再生信号の特徴値を評価対象となるパルス幅ごとに計算する信号特徴値計算手段（スイッチ回路６１〜６４及び振幅計算回路６５〜６８）と、前記計算された再生信号の特徴値を用いて、前記再生信号を評価する評価手段（コントローラ７０）とを備えたことにある。この場合、前記信号特徴値計算手段は、例えば、評価対象のパルス幅に属するディジタル再生信号のボトム値又はピーク値を前記再生信号の特徴値として計算する。
【０００９】
前記本発明においては、２値化信号生成手段、評価対象パルス検出手段、ディジタル再生信号生成手段及び信号特徴値計算手段により、信号特徴値計算手段には、評価対象となるパルス幅ごとに、必要な量のディジタル再生信号が記憶される。そして、信号特徴値計算手段は、前記記憶したディジタル再生信号を用いてディジタル再生信号の信号特徴値を評価対象のパルス幅ごとに計算し、評価手段はこの評価対象のパルス幅ごとの信号特徴値を用いて再生信号を評価する。このように、評価対象のパルス幅のディジタル再生信号の取り込みは、信号特徴値の計算とは独立して行われる。その結果、光ディスクの１つのトラック上に評価対象となるパルス幅の信号が複数存在する場合には、光ディスクの１回転で複数の評価対象となるパルス幅のディジタル再生信号が信号特徴値計算手段に取り込まれ、その後に、前記取り込まれたディジタル再生信号が信号特徴値の計算に利用され得るので、再生信号の評価に対するトータル時間を大幅に減縮できる。
【００１０】
また、本発明の他の特徴は、前記信号特徴値計算手段は、前記評価対象パルス検出手段からの検出信号に応答して、評価対象となるパルス幅のうちで最も長いパルス幅に相当する時間にわたって、前記ディジタル再生信号生成手段から出力されたディジタル再生信号を記憶する。これによれば、評価対象となる全てのパルス幅のディジタル再生信号を連続的に信号特徴値計算手段に取り込むことができるので、パルス幅ごとにディジタル再生信号の取り込み処理を行う必要がなくなり、前記再生信号の評価に対するトータル時間の減縮に有利となる。
【００１１】
また、本発明の他の特徴は、前記ディジタル再生信号を前記２値化信号よりも所定量だけ遅延させるために、前記ディジタル再生信号生成手段内にて前記ディジタル再生信号を遅延する第１遅延手段（遅延回路１０４）と、前記２値化信号を遅延する第２遅延手段（遅延回路５３）とのうちの少なくともいずれか一方の遅延手段を設けたことにある。この場合、ディジタル再生信号と遅延された２値化信号の評価対象となる両対応パルスに関し、ディジタル再生信号の最長の対応パルスが２値化信号の最長の対応パルスの終了後に出現するように前記所定量を設定し、前記少なくとも一方の遅延手段がディジタル再生信号を同所定量だけ２値化信号に対して遅らせるようにすればよい。好ましくは、遅延された２値化信号の最長の対応パルスの終了直後に、ディジタル再生信号の最長の対応パルスが出現するようにするとよい。これによれば、前記少なくともいずれか一方の遅延手段により、ディジタル再生信号が２値化信号よりも前記所定量だけ遅延されるので、評価対象パルス検出手段による評価対象のパルス幅である信号の検出後、適当なタイミングで、信号特徴値計算手段へのディジタル再生信号の取り込みを開始できるようになる。
【００１２】
また、本発明の他の特徴は、前記ディジタル再生信号生成手段からのディジタル再生信号と、前記評価対象パルス検出手段からの検出信号とに基づいて、前記ディジタル再生信号を前記２値化信号よりも所定量だけ遅延させるように、前記少なくともいずれか一方の遅延手段の遅延時間を設定する遅延時間設定手段（図５の第２遅延時間調整プログラム）を設けたことにある。これによれば、光ディスクの信号評価装置の状態にばらつきがあったり、同装置の状態が時間的に変化したりした場合でも、信号特徴値計算手段へのディジタル再生信号の取り込みタイミングが自動的に適切なタイミングに設定されるようになる。
【００１３】
また、本発明の他の特徴は、前記ディジタル再生信号生成手段を、前記再生信号に含まれる信号周波数成分を除去して光ディスク上におけるレーザ光の照射位置に依存した時変動を表す信号を出力するローパスフィルタ（ローパスフィルタ１０５）と、前記再生信号及び前記ローパスフィルタの出力信号をそれぞれ所定のサンプリングレートでサンプリングしてディジタル信号にＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器（Ａ／Ｄ変換器１０２，１０６）と、前記再生信号をＡ／Ｄ変換したディジタル信号を所定量遅延して、前記ローパスフィルタの出力信号の遅延を相殺する遅延回路（遅延回路１０４）と、前記遅延回路の出力ディジタル信号から前記ローパスフィルタの出力信号をＡ／Ｄ変換したディジタル信号を減算して、前記遅延回路の出力ディジタル信号から前記レーザ光の照射位置に依存した時変動成分を除去する減算器（減算器１０８）と、前記ローパスフィルタの出力信号をＡ／Ｄ変換したディジタル信号を積分して、前記レーザ光の照射位置に依存した時変動成分を除去する積分器（積分回路１０８）と、前記減算器の出力ディジタル信号と前記積分器の出力ディジタル信号を合算して、前記再生信号に含まれる直流成分を加味したディジタル再生信号を生成する加算器（加算器１１０）とで構成したことにある。
【００１４】
前記本発明の他の特徴においては、ローパスフィルタ、Ａ／Ｄ変換器、遅延回路及び減算器により、レーザ光の照射位置に依存した時変動成分を含むディジタル再生信号から前記時変動成分が除去されて、一旦、基準レベルを中心に変動するディジタル再生信号が抽出される。そして、ローパスフィルタ、Ａ／Ｄ変換器及び積分器により、時変動成分を除去した再生信号の直流成分が抽出される。そして、加算器により、前記基準レベルを中心に変動するディジタル再生信号と前記時変動成分を除去した再生信号の直流成分を合算したディジタル再生信号が信号特徴値計算手段に供給されることになる。これにより、光ディスクの位置の変化に起因した反射率の相違による時変動成分を除去したうえで、再生信号に含まれる直流成分（信号レベル）も含めて、再生信号が評価されるようになる。
【００１５】
また、本発明の他の特徴は、前記ローパスフィルタの出力信号をＡ／Ｄ変換したディジタル信号と、前記遅延回路の出力ディジタル信号とに基づいて、前記遅延回路の遅延時間を設定する遅延時間設定手段（図４の第１遅延時間調整プログラム）を設けたことにある。これによれば、光ディスクの信号評価装置の状態にばらつきがあったり、同装置の状態が時間的に変化したりした場合でも、前記遅延回路の出力であってレーザ光の照射位置に依存した時変動成分を含むディジタル再生信号と、前記ローパスフィルタの出力信号をＡ／Ｄ変換した前記時変動成分を表すディジタル信号との遅延時間差を自動的になくすことができ、前記時変動成分を含むディジタル再生信号から時変動成分を的確に除去できるようになる。
【００１６】
また、本発明は装置の発明として実施できるばかりでなく、方法の発明としても実施できるものである。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、本発明に係る再生信号評価装置の一実施形態について図面を参照しながら説明する。図１は、ＣＤ，ＤＶＤなどの光ディスクＤＫを検査する光ディスク検査装置の全体概略図である。この光ディスク検査装置は、光ディスクＤＫを回転駆動する回転駆動装置１０と、光ディスクＤＫにレーザ光を照射するとともに同照射による光ディスクＤＫからの反射光を受光する光ピックアップ２０とを備えている。
【００１８】
回転駆動装置１０は、スピンドルモータ１１及びフィードモータ１２を備えている。スピンドルモータ１１は、その回転により回転軸１１ｂを回転させてターンテーブル１３を回転させる。ターンテーブル１３には、その上面に光ディスクＤＫが着脱可能に組み付けられるようになっている。また、スピンドルモータ１１内には、エンコーダ１１ａが組み込まれており、エンコーダ１１ａは、スピンドルモータ１１の回転を検出して同回転を表す回転検出信号をコントローラ７０に出力する。この回転検出信号は、ターンテーブル１３（光ディスクＤＫ）の回転位置が一つの基準回転位置に来るごとに発生されるインデックス信号INDEXと、所定の微小な回転角度ずつハイレベルとローレベルを繰返すパルス列信号からなるとともに互いにπ／２だけ位相のずれたＡ相信号φA及びＢ相信号φBとからなる。これらの回転検出信号のうち、インデックス信号INDEXは、コントローラ７０にてスピンドルモータ１１、すなわち光ディスクＤＫの回転数（例えば１回転）の検出に用いられ、パルス列信号φA，φBはスピンドルモータ制御回路１４にてスピンドルモータ１１すなわち光ディスクＤＫの回転速度の検出に用いられる。
【００１９】
スピンドルモータ１１の回転は、スピンドルモータ制御回路１４によって制御される。スピンドルモータ制御回路１４は、後述するウォブル信号取り出し回路４９からウォブル信号が出力されるときは同ウォブル信号を用いて、光ディスクＤＫ上の光スポットが常に線速度一定で同光ディスクＤＫに対して移動するように、スピンドルモータ１１の回転速度を制御する。また、光ディスクＤＫ上に光スポットが形成されていないため、ウォブル信号取り出し回路４９からウォブル信号が出力されないときは、エンコーダ１１ａが出力するパルス列信号φA，φBを用いて、光ディスクＤＫが回転速度一定で回転するようにスピンドルモータ１１の回転速度を制御する。フィードモータ１２は、その回転によりスクリューロッド１５及びナット（図示せず）からなるねじ送り機構を介してスピンドルモータ１１、同スピンドルモータ１１を固定支持する支持部材１６及びターンテーブル１３を光ディスクＤＫの径方向に変位させる。
【００２０】
フィードモータ１２内にも、前記エンコーダ１１ａと同様なエンコーダ１２ａが組み込まれている。このエンコーダ１２ａは、フィードモータ１２の回転を検出して同回転を表す回転検出信号をフィードモータ制御回路１７及びコントローラ７０に出力する。フィードモータ制御回路１７は、コントローラ７０による指示により、エンコーダ１２ａから出力される回転検出信号に加えて、後述するトラッキングサーボ信号の直流成分を用いてフィードモータ１２の回転を制御して、スピンドルモータ１１、ターンテーブル１３及び支持部材１６の光ディスクＤＫの径方向への変位を制御する。また、フィードモータ制御回路１７は、コントローラ７０から半径値が入力されると、エンコーダ１２ａから出力される回転検出信号を用いて計算した半径値が、入力された半径値になるまでフィードモータ１２を回転させる。
【００２１】
光ピックアップ２０は、レーザ光源２１、コリメートレンズ２２、偏光ビームスプリッタ２３、１／４波長板２４、対物レンズ２５、凸レンズ２６、シリンドリカルレンズ２７及びフォトディテクタ２８を備えている。この光ピックアップ２０においては、レーザ光源２１からのレーザ光を、コリメートレンズ２２、偏光ビームスプリッタ２３、１／４波長板２４及び対物レンズ２５を介して、光ディスクＤＫに集光させ、光ディスクＤＫ上に光スポットを形成する。また、この光ディスクＤＫに形成された光スポットからの反射光は、対物レンズ２５、１／４波長板２４、偏光ビームスプリッタ２３、凸レンズ２６及びシリンドリカルレンズ２７を介して、フォトディテクタ２８に導かれて受光される。フォトディテクタ２８は、分割線で区切られた４つの同一正方形状の受光素子からなる４分割受光素子によって構成されており、各受光素子は受光量に比例した電気信号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄをそれぞれ検出信号として出力する。なお、検出信号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄは、左上から時計回りに配置された各受光素子の受光量を表している。
【００２２】
また、この光ピックアップ２０は、フォーカスアクチュエータ３１及びトラッキングアクチュエータ３２も備えている。フォーカスアクチュエータ３１は、対物レンズ２５をレーザ光の光軸方向（光ディスクＤＫの盤面と垂直方向）に駆動して光スポットを光軸方向に微動させる。トラッキングアクチュエータ３２は、対物レンズ２５を光ディスクＤＫの径方向に駆動して光スポットを光ディスクＤＫの径方向に微動させる。また、この光ピックアップ２０のレーザ光源２１には、レーザ光源２１の作動を制御するため、レーザ駆動回路４１が接続されている。
【００２３】
フォトディテクタ２８には、ＨＦ信号増幅回路４２が接続されている。ＨＦ信号増幅回路４２は、フォトディテクタ２８から出力された検出信号Ａ〜Ｄをそれぞれ増幅して、フォーカスエラー信号生成回路４３、トラッキングエラー信号生成回路４６及び再生信号生成回路５１にそれぞれ出力する。
【００２４】
フォーカスエラー信号生成回路４３は、ＨＦ信号増幅回路４２を介してフォトディテクタ２８から出力される検出信号Ａ〜Ｄを用いた演算（具体的には、非点収差法の場合は(Ａ＋Ｃ)−(Ｂ＋Ｄ)の演算）により、フォーカスエラー信号を生成して、フォーカスサーボ回路４４に出力する。フォーカスサーボ回路４４は、フォーカスエラー信号に基づいてフォーカスサーボ信号を生成し、同フォーカスサーボ信号を用いてドライブ回路４５を介してフォーカスアクチュエータ３１を駆動制御することにより、対物レンズ２５を光軸方向に変位させてフォーカスサーボ制御する。これにより、レーザ光の焦点、すなわち光スポットが光ディスクＤＫの記録層に追従するように制御される。
【００２５】
トラッキングエラー信号生成回路４６は、ＨＦ信号増幅回路４２を介してフォトディテクタ２８から出力される検出信号Ａ〜Ｄを用いた演算（具体的には、プッシュプル法の場合は(Ａ＋Ｄ)−(Ｂ＋Ｃ)の演算）により、トラッキングエラー信号を生成して、トラッキングサーボ回路４７に出力する。トラッキングサーボ回路４７は、トラッキングエラー信号に基づいてトラッキングサーボ信号を生成し、同トラッキングサーボ信号を用いてドライブ回路４８を介してトラッキングアクチュエータ３２を駆動制御することにより、対物レンズ２５を光ディスクＤＫの径方向に変位させてトラッキングサーボ制御する。これにより、光スポットが光ディスクＤＫのトラック中心を追従するように制御される。
【００２６】
また、トラッキングエラー信号生成回路４６にて生成されたトラッキングエラー信号は、バンドパスフィルタからなるウォブル信号取り出し回路４９にも出力される。ウォブル信号取り出し回路４９は、トラッキングエラー信号からウォブル信号を取り出してスピンドルモータ制御回路１４に出力する。また、トラッキングサーボ回路４７にて生成されたトラッキングサーボ信号は、フィードモータ制御回路１７にも出力される。フィードモータ制御回路１７においては、トラッキングサーボ信号から直流成分が抽出されて、同抽出された直流成分がフィードモータ１２の制御に用いられる。
【００２７】
再生信号生成回路５１は、ＨＦ信号増幅回路４２から出力される検出信号Ａ〜Ｄに基づいて再生信号（フォトディテクタ２８からの検出信号Ａ〜Ｄの合算信号Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋ＤからなるＳＵＭ信号）を生成して２値化信号生成回路５２及びディジタル再生信号生成回路６０に出力する。この再生信号生成回路５１から出力される再生信号が本発明の再生信号に対応するもので、この再生信号は光ディスクＤＫに記録されている複数種類のパルス幅をもつ一連のパルスからなる信号を表すものである。２値化信号生成回路５２は、波形等価回路及び２値化回路を含む。波形等価回路は、再生信号の振幅を信号長ごとに調整する。２値化回路は、再生信号の瞬時値が再生信号の中心付近に定められたスライスレベルより大きいか小さいかでハイレベルとローレベルの２値化信号を生成して出力する。これに代えて、２値化信号生成回路５２を、ＰＲＭＬ(Partial Response and Maximum Likelihood)回路で構成する。そして、ＰＲＭＬ回路が、ＰＲ等化回路により再生信号からＰＲ等化信号を生成し、ビタビ復号回路によりハイレベルとローレベルの２値化信号を生成して出力するようにしてもよい。
【００２８】
このようにして生成された２値化信号は、ＣＤであれば３Ｔ〜１１Ｔ、ＤＶＤであれば３Ｔ〜１４Ｔ、ＢＤ(Blu-ray Disc)であれば２Ｔ〜８Ｔの信号長を有し、ハイレベルとローレベルの複数種類のパルスを含むパルス列信号である。光ディスクＤＫはいかなる種類のものでもよいが、以下の説明では、光ディスクＤＫはＢＤであり、２値化信号の信号長は２Ｔ〜８Ｔであるものとする。
【００２９】
２値化信号生成回路５２から出力される２値化信号は、遅延回路５３に供給される。遅延回路５３は、後述する評価対象パルス特定回路５４によって制御されるスイッチ回路６１〜６４による、ディジタル再生信号生成回路６０から振幅計算回路６５〜６８へのディジタル再生信号の取り込みタイミングを調整するためのものである。遅延回路５３は、後述するコントローラ７０の第２時間調整プログラムの実行により制御されて、コントローラ７０によって設定された時間だけ入力した２値化信号を遅延して評価対象パルス特定回路５４に出力する。詳しくは後述するが、遅延回路５３の出力がディジタル再生信号に対して図６の破線で示すタイミング関係になるように、遅延時間が設定される。評価対象パルス特定回路５４は、基準クロック信号発生回路を内蔵しており、入力した２値化信号の各パルスのパルス幅（信号長）とパルスの正負の向きを計測して、同計測結果に基づいて評価対象パルスを検出し、検出した評価対象パルスごとに同パルスの終了直後に検出パルスを出力する。評価対象パルスの種類はいかなるパルスでもよいが、本実施形態においては、信号長を２Ｔ及び８Ｔとする正負の４種類のパルスである。
【００３０】
具体的には、評価対象パルス特定回路５４は、信号長２Ｔのパルスに関し、信号長が２Ｔ±ΔＴ１（ΔＴ１は、予め決められた微小値である）の範囲にある正及び負のパルスを検出する。そして、正のパルスであれば、同正のパルスのトレーリングエッジのタイミングでスイッチ回路６１に検出パルス２Ｔ＋を出力する。負のパルスであれば、同負のパルスのトレーリングエッジのタイミングでスイッチ回路６２に検出パルス２Ｔ−を出力する。また、評価対象パルス特定回路５４は、信号長８Ｔのパルスに関し、信号長が８Ｔ±ΔＴ２（ΔＴ２は予め決められた微小値である）の範囲にある正及び負のパルスを検出する。そして、正のパルスであれば、同正のパルスのトレーリングエッジのタイミングでスイッチ回路６３に検出パルス８Ｔ＋を出力する。負のパルスであれば、同負のパルスのトレーリングエッジのタイミングでスイッチ回路６４に検出パルス８Ｔ−を出力する。図７は、これらの検出パルスを、再生信号及び２値化信号と共にタイムチャートにより示している。
【００３１】
時間計測回路５５は、基準クロック信号発生回路を内蔵し、コントローラ７０による時間計測開始の指示に応答して時間計測を開始する。そして、評価対象パルス特定回路５４から検出パルス８Ｔ＋が出力されるごとに、前記計測開始からの経過時間をコントローラ７０に供給する。
【００３２】
ディジタル再生信号生成回路６０は、再生信号生成回路５１からの再生信号を所定のサンプリングレートでサンプリングしてＡ／Ｄ変換し、かつ再生信号の中心値のゆっくりとした時変動を除去してスイッチ回路６１〜６４に出力する。ディジタル再生信号生成回路６０は、図２に詳細に示されているように、ローパスフィルタ１０１，１０５をそれぞれ介装した２つの信号系列を有する。ローパスフィルタ１０１は、光ディスクＤＫに記録されている信号の周波数よりも高い周波数信号（すなわち、光ディスクＤＫに記録されている信号に含まれる高周波ノイズ）を除去して、Ａ／Ｄ変換器１０２に出力する。このローパスフィルタ１０１のカットオフ周波数は、光ディスクＤＫに記録されている信号の周波数よりも高い周波数、例えば５０ＭＨｚに設定されている。
【００３３】
Ａ／Ｄ変換器１０２は、クロック信号発生回路１０３からクロック信号が供給されると、このクロック信号を用いて、ローパスフィルタ１０１によってフィルタリングされた再生信号を所定の周期でサンプリングするとともに、Ａ／Ｄ変換して遅延回路１０４に出力する。Ａ／Ｄ変換器１０２のサンプリング周期は、例えば１／２００ＭＨｚであり、このサンプリング周期は信号長１Ｔに相当する時間（１／６６ＭＨｚ）の約１／３に相当する。クロック信号発生回路１０３は、コントローラ７０によりクロック信号の発生が制御される。遅延回路１０４は、ローパスフィルタ１０１を含む信号系列のディジタル再生信号の遅れと、ローパスフィルタ１０５を含む信号系列のディジタル再生信号の遅れとを合わせるために、すなわち両ローパスフィルタ１０１，１０５によるディジタル再生信号の遅延時間のずれをなくすために、Ａ／Ｄ変換器１０２から出力されたディジタル再生信号を設定された時間だけ遅延するものである。具体的には、ローパスフィルタ１０５のカットオフ周波数は、ローパスフィルタ１０１のカットオフ周波数より低く、ローパスフィルタ１０５を含む信号系列のディジタル再生信号の遅れはローパスフィルタ１０１を含む信号系列のディジタル再生信号の遅れより大きくなるので、この遅れを解消する時間だけＡ／Ｄ変換器１０２からのディジタル再生信号を遅延する。この遅延回路１０４による遅延時間は、後述するコントローラ７０の第１遅延時間調整プログラムにより設定される。詳しくは後述するが、図８は、遅延回路１０４及びＡ／Ｄ変換器１０６の各出力を示す波形図であり、遅延時間調整前の遅延回路１０４の出力波形を実線で表し、遅延時間調整後の遅延回路１０４の出力波形を破線で示している。
【００３４】
ローパスフィルタ１０５は、光ディスクＤＫに記録されている信号を除去して、ゆっくり時変動する再生信号の中心値を取り出し、Ａ／Ｄ変換器１０６に出力する。このゆっくり時変動する再生信号の中心値は、光ディスクＤＫのレーザ照射位置の反射率の違いに基づくものである。このローパスフィルタ１０５のカットオフ周波数は、光ディスクＤＫに記録されている信号の周波数よりも低い周波数、例えば５ＭＨｚに設定されている。図９(Ａ)はローパスフィルタ１０１の出力波形を示し、図９(Ｂ)はローパスフィルタ１０５の出力波形を示している。Ａ／Ｄ変換器１０６は、クロック信号発生回路１０７からクロック信号が供給されると、このクロック信号を用いて、ローパスフィルタ１０５によってフィルタリングされた再生信号を所定の周期でサンプリングするとともに、Ａ／Ｄ変換する。Ａ／Ｄ変換器１０６のサンプリング周期は、Ａ／Ｄ変換器１０２のサンプリング周期と同程度でもよいが、信号に含まれる周波数成分が低いので、Ａ／Ｄ変換器１０２のサンプリング周期よりも長くてよい。このサンプリング周期を、例えば１／１０ＭＨｚまで長くしても問題ない。クロック信号発生回路１０７は、コントローラ７０によりクロック信号の発生が制御される。
【００３５】
遅延回路１０４及びＡ／Ｄ変換器１０６の両出力は、それぞれコントローラ７０に供給されるとともに、減算器１０８に供給される。減算器１０８は、遅延回路１０４からのディジタル信号からＡ／Ｄ変換器１０６からのディジタル信号を減算して、加算器１１０に出力する。積分回路１０９は、Ａ／Ｄ変換器１０６からのディジタル信号を積分して、前記時変動する再生信号の中心値を平均化して、再生信号の直流成分を導出する。加算器１１０は、減算器１１０からのディジタル信号に積分回路１０９からのディジタル信号を加算して、スイッチ回路６１〜６４に出力する。図９(Ｃ)は減算器１０８の出力値を示し、図９(Ｄ)は積分回路１０９の出力値を示し、図９(Ｅ)は加算器１１０の出力値を示している。その結果、再生信号の中心値のゆっくりした時変動成分を除外し、かつ再生信号に含まれる直流成分（再生信号の平均的な信号レベル）を加味したディジタル信号が、ディジタル再生信号としてスイッチ回路６１〜６４に供給されることになる。
【００３６】
スイッチ回路６１〜６４は、それぞれ評価対象パルス特定回路５４から検出パルスを入力すると、最長信号長に相当する時間だけ、ディジタル再生信号生成回路６０からのディジタル再生信号を振幅計算回路６５〜６８に出力する。本実施形態においては、前記最長信号長に相当する時間は信号長８Ｔに対応する時間であり、例えば８／６６ＭＨｚの時間である。したがって、前記ディジタル再生信号生成回路６０内のＡ／Ｄ変換器１０２のサンプリング周期１／２００ＭＨｚを考慮すると、評価対象パルス特定回路５４からの検出パルスの出力後、約２４個のディジタル再生信号のサンプリング値が振幅計算回路６５〜６８に供給されることになる。図１０(Ａ)は、信号長が８Ｔ＋の場合において、振幅計算回路６７に供給されるディジタル再生信号の２４個のサンプリングを示している。図１０(Ｂ)は、信号長が２Ｔ＋の場合において、振幅計算回路６５に供給されるディジタル再生信号の２４個のサンプリングを示している。
【００３７】
振幅計算回路６５〜６８は、図３に詳細に示すように、コントローラ７０により制御されて、ディジタル再生信号生成回路６０からスイッチ回路６１〜６４を介して供給される所定数（本実施形態では２４個）のサンプリング値を１組として、複数組のサンプリングデータ群を一時的にメモリ６５ａ〜６８ａ内にそれぞれ一時記憶する。振幅計算回路６５は、“２Ｔ＋”のディジタル再生信号の最大値（ピーク値）を計算するもので、スイッチ回路６１からの複数組のサンプリングデータ群Ｘ11〜Ｘ241，Ｘ12〜Ｘ242・・をメモリ６５ａに記憶する。次に、振幅計算回路６５は、前記複数組のサンプリングデータ群Ｘ11〜Ｘ241，Ｘ12〜Ｘ242・・のうち、各組ごとに最後に記憶した６個のサンプリングデータ群Ｘ191〜Ｘ241，Ｘ192〜Ｘ242・・中の最大値Ｘmax1，Ｘmax2・・を抽出してメモリ６５ｂにそれぞれ一時記憶する。最後に記憶した６個のサンプリングデータ群だけを用いるのは、次の振幅計算回路６６の場合も同様であるが、各組の２４個のサンプリングデータのうちで信号長２Ｔに関係したサンプリングデータは最後に記憶した６個だけであるからである。そして、振幅計算回路６５は、前記メモリ６５ｂに一時記憶した最大値Ｘmax1，Ｘmax2・・の平均値を計算して、同平均値を“２Ｔ＋”のディジタル再生信号の最大値（ピーク値）を表すデータとしてコントローラ７０に供給する。
【００３８】
振幅計算回路６６は、“２Ｔ−”のディジタル再生信号の最小値（ボトム値）を計算するもので、スイッチ回路６２からの複数組のサンプリングデータ群Ｘ11〜Ｘ241，Ｘ12〜Ｘ242・・をメモリ６６ａに記憶する。次に、振幅計算回路６６は、前記複数組のサンプリングデータ群Ｘ11〜Ｘ241，Ｘ12〜Ｘ242・・のうち、各組ごとに最後に記憶した６個のサンプリングデータ群Ｘ191〜Ｘ241，Ｘ192〜Ｘ242・・中の最小値Ｘmin1，Ｘmin2・・を抽出してメモリ６６ｂにそれぞれ一時記憶する。そして、振幅計算回路６６は、前記メモリ６６ｂに一時記憶した最小値Ｘmin1，Ｘmin2・・の平均値を計算して、同平均値を“２Ｔ−”のディジタル再生信号の最小値（ボトム値）を表すデータとしてコントローラ７０に供給する。
【００３９】
振幅計算回路６７は、“８Ｔ＋”のディジタル再生信号の最大値（ピーク値）を計算するもので、スイッチ回路６３からの複数組のサンプリングデータ群Ｘ11〜Ｘ241，Ｘ12〜Ｘ242・・をメモリ６７ａに記憶する。次に、振幅計算回路６７は、前記複数組のサンプリングデータ群Ｘ11〜Ｘ241，Ｘ12〜Ｘ242・・の中から各組ごとに最大値Ｘmax1，Ｘmax2・・を抽出してメモリ６７ｂにそれぞれ一時記憶する。各組の２４個の全てのサンプリングデータを用いるのは、次の振幅計算回路６８の場合も同様であるが、各組の２４個のサンプリングデータの全てが信号長８Ｔに関係したサンプリングデータであるからである。そして、振幅計算回路６７は、前記メモリ６７ｂに一時記憶した最大値Ｘmax1，Ｘmax2・・の平均値を計算して、同平均値を“８Ｔ＋”のディジタル再生信号の最大値（ピーク値）を表すデータとしてコントローラ７０に供給する。
【００４０】
振幅計算回路６８は、“８Ｔ−”のディジタル再生信号の最小値（ボトム値）を計算するもので、スイッチ回路６４からの複数組のサンプリングデータ群Ｘ11〜Ｘ241，Ｘ12〜Ｘ242・・をメモリ６８ａに記憶する。次に、振幅計算回路６８は、前記複数組のサンプリングデータ群Ｘ11〜Ｘ241，Ｘ12〜Ｘ242・・の中から各組ごとに最小値Ｘmin1，Ｘmin2・・を抽出してメモリ６８ｂにそれぞれ一時記憶する。そして、振幅計算回路６８は、前記メモリ６８ｂに一時記憶した最小値Ｘmin1，Ｘmin2・・の平均値を計算して、同平均値を“８Ｔ−”のディジタル再生信号の最小値（ボトム値）を表すデータとしてコントローラ７０に供給する。
【００４１】
なお、前記では、振幅計算回路６５〜６８は、最大値Ｘmax1，Ｘmax2・・又は最小値Ｘmin1，Ｘmin2・・の平均値を、コントローラ７０に供給する最大値（ピーク値）又は最小値（ボトム値）を表すデータとした。しかし、これに代えて、対象となる複数組のサンプリングデータ群から最小２乗法によってそれぞれ複数の波形曲線を求め、複数の波形曲線における最大値又は最小値の平均値をコントローラ７０に供給する最大値（ピーク値）又は最小値（ボトム値）を表すデータとしてもよい。
【００４２】
コントローラ７０は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、ハードディスクなどからなるマイクロコンピュータによって構成されており、キーボード、マウスなどからなる入力装置７１からの指示に従って図４，５の第１及び第２遅延時間調整プログラムを実行することにより遅延回路５３，１０４の遅延時間を設定するとともに、図示しないプログラムの実行により光ディスクＤＫの検査を行う。そして、コントローラ７０は、光ディスクＤＫの検査の実行過程及び実行結果を、ＣＲＴ（又は液晶ディスプレイ）、プリンタなどからなる出力装置７２に適宜表示させる。また、このコントローラ７０には、スピンドルモータ制御回路１４、フィードモータ制御回路１７、レーザ駆動回路４１、遅延回路５３、時間計測回路５５、ディジタル再生信号生成回路６０及び振幅計算回路６５〜６８が、それぞれの作動制御のために接続されている。
【００４３】
上記のように構成した実施形態の作動について説明する。作業者は、まずディジタル再生信号生成回路６０内の遅延回路１０４による遅延時間をコントローラ７０に設定させ、次に遅延回路５３による遅延時間をコントローラ７０に設定させる。これらの遅延時間の設定前に、遅延回路１０４，５３の遅延時間を適当な予想値に初期設定しておいてもよいし、「０」に初期設定しておいてもよい。また、これらの遅延時間の設定のためには、図１１(Ａ)に示す特殊な光ディスクＤＫを利用する。この光ディスクＤＫにおいては、第１の所定の半径位置（例えば、最外周に近い部分）にて所定幅にわたり、半面の反射率が高く、他の半面の反射率が低くなっている。また、前記第１の所定の半径位置とは異なる第２の所定の半径位置にて所定幅にわたり、検査に使用される信号のうちの１つの特定信号（例えば、信号長が最長である８Ｔ＋の信号）が、充分な間隔をおいて（例えば、光ディスクＤＫの１周ごとに１つ）記録されている。これ以外の信号を記録しないでおくことにより、後述するデータ処理が簡単かつ短時間で行われる。なお、前記第１及び第２の所定の半径位置はいずれの半径位置でもよく、特に第１の所定の半径位置は、前記最外周近傍に限られることなく、図１１(Ｂ)に示すように最内周近傍位置でもよい。
【００４４】
遅延回路１０４の遅延時間の設定においては、作業者は、図示しない電源スイッチの投入により検査装置を動作させ、前記のような光ディスクＤＫをターンテーブル１３上にセットする。次に作業者は、入力装置７１を操作して光ディスクＤＫの検査をコントローラ７０に指示する。この指示に応答して、コントローラ７０は、図示しないプログラムを実行することにより、スピンドルモータ制御回路１４を作動させて光ディスクＤＫをコントローラ７０に設定されている回転速度（本実施形態では、信号長１Ｔに相当する時間が１／６６ＭＨｚになる回転速度）で回転させる。次に、コントローラ７０は、レーザ駆動回路４１の作動を開始させてレーザ光源２１からレーザ光を光ディスクＤＫに向けて出射させる。
【００４５】
レーザ光源２１から出射されたレーザ光は、光ディスクＤＫにて反射されてフォトディテクタ２８で受光される。フォトディテクタ２８は、受光量に応じた検出信号Ａ〜ＤをＨＦ信号増幅回路４２を介してフォーカスエラー信号生成回路４３、トラッキングエラー信号生成回路４６及び再生信号生成回路５１にそれぞれ出力する。これらのうちのフォーカスエラー信号生成回路４３に出力された検出信号Ａ〜Ｄは、フォーカスエラー信号生成回路４３、フォーカスサーボ回路４４及びドライブ回路４５による対物レンズ２５のフォーカスサーボ制御に用いられる。また、トラッキングエラー信号生成回路４６に出力された検出信号Ａ〜Ｄは、トラッキングエラー信号生成回路４６、トラッキングサーボ回路４７及びドライブ回路４８による対物レンズ２５のトラッキングサーボ制御に用いられる。なお、トラッキングサーボ回路４７から出力されたトラッキングサーボ信号は、フィードモータ制御回路１７に供給され、光ディスクＤＫの径方向位置の制御に用いられる。
【００４６】
そして、作業者は、入力装置７１を操作することにより、図４の第１遅延時間調整プログラムの実行をステップＳ１０にて開始させる。この第１遅延時間調整プログラムの実行開始後、コントローラ７０は、ステップＳ１１にてフィードモータ制御回路１７を制御してターンテーブル１３と共に光ディスクＤＫを径方向に移動することにより、レーザ照射位置を光ディスクＤＫの第１の所定の半径位置、すなわち半面ごとに反射率の異なる半径位置に移動する。これにより、レーザ光は半面ごとに反射率の異なる光ディスクＤＫの表面にて反射され、反射されたレーザ光はフォトディテクタ２８に入射する。フォトディテクタ２８、ＨＦ信号増幅回路４２及び再生信号生成回路５１の作用により、再生信号（ＳＵＭ信号）がディジタル再生信号生成回路６０に供給される。
【００４７】
この再生信号は、光ディスクＤＫの半回転ごとにローレベルとハイレベルに変化する低周波数の信号であり、ディジタル再生信号生成回路６０内のローパスフィルタ１０１，１０５を共に通過する。そして、ローパスフィルタ１０１を通過した再生信号は、Ａ／Ｄ変換器１０２にてＡ／Ｄ変換され、遅延回路１０４を介してコントローラ７０に供給される。なお、この第１遅延時間調整プログラムの実行開始時に、コントローラ７０はディジタル再生信号生成回路６０のクロック信号発生回路１０３，１０７の作動を開始させて、Ａ／Ｄ変換器１０２，１０６によるＡ／Ｄ変換動作を開始させている。ローパスフィルタ１０５を通過した再生信号は、Ａ／Ｄ変換器１０６にてＡ／Ｄ変換されてコントローラ７０に供給される。ローパスフィルタ１０５による遅延時間はローパスフィルタ１０１による遅延時間よりも長いので、遅延回路１０４の出力とＡ／Ｄ変換器１０６の出力との間には位相ずれが生じる。前述のように、遅延回路１０４の遅延時間は、初期に予想値に設定されている場合もあるので、この状態で、遅延回路１０４の出力の位相がＡ／Ｄ変換器１０６の出力の位相よりも遅れているとは限らないが、遅延回路１０４の遅延時間を少なくとも「０」に設定した場合には、遅延回路１０４の出力の位相はＡ／Ｄ変換器１０６の出力の位相よりも進む。図８の実線で示す信号波形は、遅延回路１０４の出力の位相がＡ／Ｄ変換器１０６の出力の位相よりも進んでいる場合を示している。
【００４８】
前記ステップＳ１１の処理後、コントローラ７０は、ステップＳ１２にて時間計測を開始し、ステップＳ１３〜Ｓ１５からなる循環処理を繰り返し実行する。ステップＳ１３においては、遅延回路１０４及びＡ／Ｄ変換器１０６の出力値を取り込む。ステップＳ１４においては、遅延回路１０４及びＡ／Ｄ変換器１０６から取り込んだ出力値の立ち上がり及び立ち下がり（リーディングエッジ及びトレーリングエッジ）を検出し、前記時間計測の開始から前記立ち上がり及び立ち下がりタイミングまでの時間を計測して、遅延回路１０４側の時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・として一時記憶するとともに、Ａ／Ｄ変換器１０６側の時間データＴ２(１)，Ｔ２(２)・・として一時記憶する（図８参照）。ステップＳ１５においては、両時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・，Ｔ２(１)，Ｔ２(２)・・が所定数以上になったかを判定する。両時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・，Ｔ２(１)，Ｔ２(２)・・が所定数以上になっていなければ、コントローラ７０は、ステップＳ１５にて「Ｎｏ」と判定してステップＳ１３〜Ｓ１５の循環処理を繰り返し実行して、両時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・，Ｔ２(１)，Ｔ２(２)・・を収集し続ける。
【００４９】
両時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・，Ｔ２(１)，Ｔ２(２)・・が所定数以上になると、コントローラ７０は、ステップＳ１５にて「Ｙｅｓ」と判定して、ステップＳ１６にて時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・と時間データＴ２(１)，Ｔ２(２)・・とを対応付ける。これらの時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・，Ｔ２(１)，Ｔ２(２)・・は、光ディスクＤＫの１回転ごとに２つずつしか発生しない間隔の長いデータであるので、近い値を有する両時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・，Ｔ２(１)，Ｔ２(２)・・同士を対応付ければよく、両時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・，Ｔ２(１)，Ｔ２(２)・・の対応付けは容易に行われる。前記ステップＳ１６の処理後、コントローラ７０は、ステップＳ１７にて時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・と時間データＴ２(１)，Ｔ２(２)・・との差ΔＴ(ｋ)＝Ｔ２(ｋ)−Ｔ１(ｋ)をそれぞれ計算するとともに、全ての差ΔＴ(ｋ)の平均値Ｅを計算する。ただし、ｋは、１から前記所定数までの整数である。
【００５０】
次に、コントローラ７０は、ステップＳ１８にて、平均値Ｅの絶対値｜Ｅ｜が予め設定した正の小さな許容値ΔＥ未満であるかを判定する。絶対値｜Ｅ｜が許容値ΔＥ未満でなければ、コントローラ７０は、ステップＳ１８にて「Ｎｏ」と判定して、ステップＳ１９の処理を実行する。ステップＳ１９においては、前記計算した平均値Ｅを遅延回路１０４に出力して、遅延回路１０４による信号遅延時間を平均値Ｅ分だけ調整する。具体的には、平均値Ｅが正であれば、遅延回路１０４による信号遅延時間を平均値Ｅの絶対値｜Ｅ｜分だけ大きくする。一方、平均値Ｅが負であれば、遅延回路１０４による信号遅延時間を平均値Ｅの絶対値｜Ｅ｜分だけ小さくする。そして、前述したステップＳ１１〜Ｓ１８の処理をふたたび実行する。前記ステップＳ１９の処理により、遅延回路１０４とＡ／Ｄ変換器１０６の両出力信号の位相差が縮められ、すなわち遅延回路１０４とＡ/Ｄ変換器１０６の両出力信号の立ち上がり及び立ち下がりタイミングが一致するように修正されるので、新たなステップＳ１１〜Ｓ１７による平均値Ｅの絶対値｜Ｅ｜は小さくなる。
【００５１】
平均値Ｅの絶対値｜Ｅ｜が小さくなった結果、前記絶対値｜Ｅ｜が許容値ΔＥ未満になれば、コントローラ７０は、ステップＳ１８にて「Ｙｅｓ」と判定して、ステップＳ２０にてこの第１遅延時間調整プログラムの実行を終了する。一方、前記絶対値｜Ｅ｜が許容値ΔＥ未満にならない場合には、コントローラ７０は、ステップＳ１８にて「Ｎｏ」と判定して、ふたたびステップＳ１９の遅延時間調整処理を実行して、ステップＳ１１〜Ｓ１８の処理を実行する。前記第１遅延時間調整プログラムの終了時には、遅延回路１０４とＡ／Ｄ変換器１０６の両出力信号の位相差がほぼ一致、すなわち遅延回路１０４とＡ/Ｄ変換器１０６の両出力信号の立ち上がり及び立ち下がりタイミングが一致して、遅延回路１０４の出力波形信号は図８の破線で示すようになる。
【００５２】
次に、作業者は、入力装置７１を操作することにより、図５の第２遅延時間調整プログラムの実行をステップＳ３０にて開始させる。この第２遅延時間調整プログラムの実行開始後、コントローラ７０は、ステップＳ３１にてフィードモータ制御回路１７を制御してターンテーブル１３と共に光ディスクＤＫを径方向に移動することにより、レーザ照射位置を光ディスクＤＫの第２の所定の半径位置、すなわち特定信号（８Ｔ＋の信号）が記録されている半径位置に移動する。これにより、フォトディテクタ２８には特定信号が入射する。そして、フォトディテクタ２８、ＨＦ信号増幅回路４２及び再生信号生成回路５１の作用により、特定信号に係る再生信号（ＳＵＭ信号）がディジタル再生信号生成回路６０及び遅延回路５３に供給される。
【００５３】
ディジタル再生信号生成回路６０に供給された再生信号は、ローパスフィルタ１０１によりローパスフィルタ処理され、Ａ／Ｄ変換器１０２によりＡ／Ｄ変換され、遅延回路１０４により遅延されて、コントローラ７０に供給される。なお、この第２遅延時間調整プログラムの実行開始時に、コントローラ７０はディジタル再生信号生成回路６０のクロック信号発生回路１０３の作動を開始させて、Ａ／Ｄ変換器１０２によるＡ／Ｄ変換動作を開始させている。ただし、この第２遅延時間調整プログラムにおいては、Ａ／Ｄ変換器１０６の出力は利用されないので、クロック信号発生回路１０７を作動させる必要はない。
【００５４】
一方、２値化信号生成回路５２に供給された特定信号に係る再生信号は、同２値化信号生成回路５２にて２値化信号に変換されて、遅延回路５３を介して評価対象パルス特定回路５４に供給される。評価対象パルス特定回路５４は、前記特定信号に係る再生信号（８Ｔ＋の信号）の検出ごとに検出パルス８Ｔ＋を時間計測回路５５に出力する。
【００５５】
前記ステップＳ３１の処理後、コントローラ７０は、ステップＳ３２にて時間計測を開始するとともに、時間計測回路５５にも時間計測を開始させる。これにより、時間計測回路５５は、評価対象パルス特定回路５４から検出パルス８Ｔ＋が到来するごとに、前記時間計測の開始から検出パルス８Ｔ＋の到来までの時間を表す時間データを出力する。前記ステップＳ３２の処理後、コントローラ７０は、ステップＳ３３〜Ｓ３７からなる循環処理を繰り返し実行する。ステップＳ３３においては、時間計測回路５５から出力される時間データを取り込み、時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・として順次一時記憶する（図６参照）。
【００５６】
ステップＳ３４においては、ディジタル再生信号生成回路６０の遅延回路１０４の出力値を取り込む。ステップＳ３５においては、前記取り込んだ出力値を２値化する。この場合、２値化される出力値は、特定信号８Ｔ＋である。ステップＳ３６においては、前記２値化した特定信号８Ｔ＋の終了タイミングを検出し、前記時間計測の開始から特定信号８Ｔ＋の終了タイミングまでの時間を計測して、特定信号８Ｔ＋の時間データＴ２(１)，Ｔ２(２)・・として順次一時記憶する。ステップＳ３７においては、両時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・，Ｔ２(１)，Ｔ２(２)・・が所定数以上になったかを判定する。両時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・，Ｔ２(１)，Ｔ２(２)・・が所定数以上になっていなければ、コントローラ７０は、ステップＳ３７にて「Ｎｏ」と判定してステップＳ３３〜Ｓ３７の循環処理を繰り返し実行して、両時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・，Ｔ２(１)，Ｔ２(２)・・を収集し続ける。
【００５７】
両時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・，Ｔ２(１)，Ｔ２(２)・・が所定数以上になると、コントローラ７０は、ステップＳ３７にて「Ｙｅｓ」と判定して、ステップＳ３８にて時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・と時間データＴ２(１)，Ｔ２(２)・・とを対応付ける。これらの時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・，Ｔ２(１)，Ｔ２(２)・・は、長い間隔をおいて供給するデータ、例えば光ディスクＤＫの１回転ごとに１つずつしか発生しない長い間隔のデータであるので、近い値を有する両時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・，Ｔ２(１)，Ｔ２(２)・・同士を対応付ければよく、両時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・，Ｔ２(１)，Ｔ２(２)・・の対応付けは容易に行われる。前記ステップＳ３８の処理後、コントローラ７０は、ステップＳ３９にて時間データＴ１(１)，Ｔ１(２)・・と時間データＴ２(１)，Ｔ２(２)・・との差Ｔ(ｋ)＝Ｔ２(ｋ)−Ｔ１(ｋ)をそれぞれ計算するとともに、全ての差Ｔ(ｋ)の平均値Ｔavを計算する。ただし、ｋは、１から前記所定数までの整数である。
【００５８】
次に、コントローラ７０は、ステップＳ４０にて、前記平均値Ｔavから特定信号８Ｔ＋の信号長ＳＬ（この場合、ＳＬ＝８Ｔ）を減算した差分値の絶対値｜Ｔav−ＳＬ｜が予め設定した正の小さな許容値ΔＴo未満であるかを判定する。絶対値｜Ｔav−ＳＬ｜が許容値ΔＴo未満でなければ、コントローラ７０は、ステップＳ４０にて「Ｎｏ」と判定して、ステップＳ４１の処理を実行する。ステップＳ４１においては、差分値Ｔav−ＳＬを遅延回路５３に出力して、遅延回路５３による信号遅延時間を差分値Ｔav−ＳＬ分だけ調整する。具体的には、差分値Ｔav−ＳＬが正であれば、遅延回路５３による信号遅延時間を差分値Ｔav−ＳＬの絶対値｜Ｔav−ＳＬ｜分だけ大きくする。一方、差分値Ｔav−ＳＬが負であれば、遅延回路５３による信号遅延時間を差分値の絶対値｜Ｔav−ＳＬ｜分だけ小さくする。そして、前述したステップＳ３１〜Ｓ４０の処理をふたたび実行する。前記ステップＳ４１の処理により、ディジタル再生信号生成回路６０内の遅延回路１０４の出力が、遅延回路５３の出力から特定信号８Ｔ＋の信号長ＳＬだけ遅れるように修正されるので、新たなステップＳ３１〜Ｓ３９による差分値Ｔav−ＳＬの絶対値｜Ｔav−ＳＬ｜は小さくなる。
【００５９】
差分値Ｔav−ＳＬの絶対値｜Ｔav−ＳＬ｜が小さくなった結果、前記絶対値｜Ｔav−ＳＬ｜が許容値ΔＴo未満になれば、コントローラ７０は、ステップＳ４０にて「Ｙｅｓ」と判定して、ステップＳ４２にてこの第２遅延時間調整プログラムの実行を終了する。一方、前記絶対値｜Ｔav−ＳＬ｜が許容値ΔＴo未満にならない場合には、コントローラ７０は、ステップＳ４０にて「Ｎｏ」と判定して、ふたたびステップＳ４１の遅延時間調整処理を実行して、ステップＳ３１〜Ｓ４０の処理を実行する。前記第２遅延時間調整プログラムの終了時には、ディジタル再生信号生成回路６０内の遅延回路１０４の出力が、遅延回路５３の出力から特定信号８Ｔ＋の信号長ＳＬだけ遅れるように設定されて、遅延回路５３の出力波形信号は図６の破線で示すようになる。
【００６０】
前述のような第１及び第２遅延時間調整プログラムの実行後、コントローラ７０は、スピンドルモータ制御回路１４、フィードモータ制御回路１７、レーザ駆動回路４１及びディジタル再生信号生成回路６０の作動を停止させる。そして、作業者は、前記特殊な光ディスクＤＫをターンテーブル１３から取り外す。このような特殊な光ディスクＤＫを用いた遅延回路５３，１０４の遅延時間の設定は頻繁に行うことなく、次に説明する検査対象となる複数の光ディスクＤＫの検査前に１回だけ行うか、遅延回路５３，１０４の遅延時間の設定状態を維持しておいて稀に行えばよい。
【００６１】
次に、検査対象となる光ディスクＤＫの検査について説明する。この場合、検査対象となる光ディスクＤＫをターンテーブル１３上に固定する。検査対象となる光ディスクＤＫの検査領域には、複数種類のパルス幅をもつ一連のディジタル信号からなる光ディスクＤＫの検査用の信号が予め記録されている。次に、作業者は、入力装置７１を操作して光ディスクＤＫの検査をコントローラ７０に指示し、検査領域である検査開始の半径値と検査終了の半径値を入力する。この光ディスクＤＫの検査は、光ディスクＤＫの検査領域に記録されている検査用の信号をそれぞれ再生して、同再生した再生信号を評価することにより光ディスクＤＫの良否判定を行うものである。前記指示に応答してコントローラ７０は、図示しないプログラムを実行することにより光ディスクＤＫの検査を開始する。
【００６２】
まず、コントローラ７０は、上述の遅延時間設定の場合と同様に、スピンドルモータ制御回路１４、フィードモータ制御回路１７、レーザ駆動回路４１及びディジタル再生信号生成回路６０を作動させて、光ディスクＤＫを所定の回転速度で回転させるとともに、レーザ光の照射位置を光ディスクＤＫの検査領域（すなわち検査開始の半径位置）に移動させる。また、この状態では、上述の場合と同様に、フォーカスエラー信号生成回路４３、フォーカスサーボ回路４４及びドライブ回路４５による対物レンズ２５のフォーカスサーボ制御が作動するとともに、トラッキングエラー信号生成回路４６、トラッキングサーボ回路４７及びドライブ回路４８による対物レンズ２５のトラッキングサーボ制御が作動する。なお、検査開始と終了の半径値の代わりに、作業者は、入力装置７１から検査開始と終了におけるアドレスを入力してもよい。また、予めコントローラ７０に記憶されているデータにより、検査領域が指定されるようにしてもよい。
【００６３】
この場合も、検査用の光ディスクＤＫに記録された信号に対応したレーザ光は、フォトディテクタ２８に入射し、フォトディテクタ２８、ＨＦ信号増幅回路４２及び再生信号生成回路５１の作用により、検査用の再生信号（ＳＵＭ信号）が２値化信号生成回路５２及び遅延回路５３を介して評価対象パルス特定回路５４に供給されるとともに、ディジタル再生信号生成回路６０に供給される。評価対象パルス特定回路５４は、上述したように、信号２Ｔ＋，２Ｔ−，８Ｔ＋，８Ｔ−を検出して、検出パルス２Ｔ＋，２Ｔ−，８Ｔ＋，８Ｔ−をスイッチ回路６１〜６４にそれぞれ出力する（図７参照）。ディジタル再生信号生成回路６０は、上述のように、再生信号の中心値のゆっくりした時変動成分を除外し、かつ再生信号に含まれる直流成分（再生信号の平均的な信号レベル）を加味したディジタル再生信号をスイッチ回路６１〜６４に出力する（図９参照）。
【００６４】
スイッチ回路６１〜６４は、上述のように、それぞれ評価対象パルス特定回路５４からの検出パルス２Ｔ＋，２Ｔ−，８Ｔ＋，８Ｔ−に応答して、ディジタル再生信号生成回路６０からの検査用パルス信号２Ｔ＋，２Ｔ−，８Ｔ＋，８Ｔ−に関する２４個のサンプリングデータ群を振幅計算回路６５〜６８にそれぞれ出力する。振幅計算回路６５〜６８は、上述のように、スイッチ回路６１〜６４から出力された“２Ｔ＋”、“２Ｔ−”、“８Ｔ＋”及び“８Ｔ−”に関するサンプリングデータを、２４個を１組として順次記憶していく。そして、コントローラ７０が、フィードモータ１２のエンコーダ１２ａが出力するパルス信号から計算した半径値又は２値化信号を復号することで得られるアドレスデータにより、検査用パルス信号の再生終了を検知すると、振幅計算回路６５〜６８にそれぞれ計算の開始を指示する。
【００６５】
このコントローラ７０からの計算開始の指示に応答して、振幅計算回路６５〜６８は、上述のように、前記記憶した複数組のサンプリングデータ群を用いて、“２Ｔ＋”のディジタル再生信号の最大値（ピーク値）、“２Ｔ−”のディジタル再生信号の最小値（ボトム値）、“８Ｔ＋”のディジタル再生信号の最大値（ピーク値）及び“８Ｔ−”のディジタル再生信号の最小値（ボトム値）をそれぞれ計算する。この具体的な計算手順においては、次のいずれかの手順を採用できる。第１の計算手順は、コントローラ７０の計算開始指示に応答して、各組のサンプリングデータの最大値又は最小値をそれぞれ計算し、その後に、複数の最大値又は最小値の平均値を計算する手順である。第２の計算手順は、スイッチ回路６１〜６４が１組のサンプリングデータを入手するごとに１組ずつの最大値又は最小値をそれぞれ計算して記憶しておき、コントローラ７０の計算開始指示に応答して、複数の最大値又は最小値の平均値を計算する手順である。そして、最終的に計算された最大値（ピーク値）及び最小値（ボトム値）表すデータはコントローラ７０に供給される。
【００６６】
コントローラ７０は、振幅計算回路６５〜６８から供給されたデータを入力し、同入力したデータを用いて変調振幅又はアシンメトリなどの各評価項目を計算して再生信号の評価を行う。そして、評価結果を出力装置７２に表示する。そして、コントローラ７０は作動させた回路を停止させ、光ディスクＤＫの回転が止まるので、作業者は、光ディスクＤＫを取り替えて上記と同様な操作で検査を行う。このようにして、複数の光ディスクＤＫは次々に検査される。
【００６７】
上記作動説明からも理解できるように、上記実施形態によれば、２値化信号生成回路５２、評価対象パルス特定回路５４、ディジタル再生信号生成回路６０及びスイッチ回路６１〜６４により、振幅計算回路６５〜６８には、評価対象となるパルス幅２Ｔ＋，２Ｔ−，８Ｔ＋，８Ｔ−ごとに、必要な量のディジタル再生信号が記憶される（図３参照）。そして、振幅計算回路６５〜６８は、前記記憶したディジタル再生信号を用いてディジタル再生信号の信号特徴値（ピーク値又はボトム値）をそれぞれ計算し、コントローラ７０がこれらの信号特徴値を用いて再生信号を評価する。このように、評価対象のパルス幅のディジタル再生信号の取り込みは、信号特徴値の計算とは独立して行われる。その結果、光ディスクＤＫの１つのトラック上に評価対象となるパルス幅の信号が複数存在する場合には、光ディスクＤＫの１回転で複数の評価対象となるパルス幅のディジタル再生信号が振幅計算回路６５〜６８に取り込まれ、その後に、前記取り込まれたディジタル再生信号は信号特徴値の計算に利用されるので、再生信号の評価に対するトータル時間を大幅に減縮できる。
【００６８】
また、スイッチ回路６１〜６４は、評価対象パルス特定回路５４からの検出パルス２Ｔ＋，２Ｔ−，８Ｔ＋，８Ｔ−に応答して、評価対象となるパルス幅のうちで最も長いパルス幅８Ｔに相当する時間にわたって、ディジタル再生信号生成回路６０から出力されたディジタル再生信号を記憶する。したがって、評価対象となる全てのパルス幅２Ｔ＋，２Ｔ−，８Ｔ＋，８Ｔ−のディジタル再生信号を連続的に振幅計算回路６５〜６８に取り込むことができるので、パルス幅ごとにディジタル再生信号の取り込み処理を行う必要がなくなり、前記再生信号の評価に対するトータル時間の減縮に有利となる。
【００６９】
また、遅延回路５３は、ローパスフィルタ１０１，１０５及び遅延回路１０４の信号遅延時間を考慮して、２値化信号生成回路５２からの２値化信号を遅延して、ディジタル再生信号生成回路６０からスイッチ回路６１〜６４に供給されるディジタル再生信号が、評価対象パルス特定回路５４に供給される２値化信号よりも、評価対象となるパルス幅のうちで最も長いパルス幅８Ｔだけ遅れるようにした。これにより、振幅計算回路６５〜６８は、評価対象パルス特定回路５４による評価対象のパルス幅である信号の検出直後から、ディジタル再生信号の取り込みを的確に開始できるようになる。さらに、この遅延回路１０４の信号遅延時間は、図５の第２遅延時間調整プログラムの実行により、ディジタル再生信号生成回路６０からのディジタル再生信号と、前記評価対象パルス特定回路５４からの検出パルス８Ｔとに基づいて設定される。これにより、光ディスクＤＫの信号評価装置の状態にばらつきがあったり、同装置の状態が時間的に変化したりした場合でも、振幅計算回路６５〜６８へのディジタル再生信号の取り込みタイミングが自動的に適切なタイミングに設定されるようになる。
【００７０】
また、ディジタル再生信号生成回路６０においては、Ａ／Ｄ変換器１０２，１０６、ローパスフィルタ１０５、遅延回路１０４、減算器１０８、積分回路１０９及び加算器１１０により、光ディスクの位置の変化に起因した反射率の相違による時変動成分を除去したうえで、再生信号に含まれる直流成分（信号レベル）がそのまま保たれた再生信号がスイッチ回路６１〜６４及び振幅計算回路６５〜６８に供給される。その結果、最終的に、再生信号に含まれる直流成分（信号レベル）も含めて再生信号が評価されるようになる。また、遅延回路１０４の信号遅延時間は、図４の第１遅延時間調整プログラムの実行により、ローパスフィルタ１０５の出力をＡ／Ｄ変換器１０６によりＡ／Ｄ変換したディジタル信号と、遅延回路１０４の出力ディジタル信号とに基づいて設定される。これにより、光ディスクＤＫの信号評価装置の状態にばらつきがあったり、同装置の状態が時間的に変化したりした場合でも、遅延回路１０４の出力であってレーザ光の照射位置に依存した時変動成分を含むディジタル再生信号と、Ａ／Ｄ変換器１０６によりＡ／Ｄ変換した前記時変動成分を表すディジタル信号との遅延時間差を自動的になくすことができ、前記時変動成分を含むディジタル再生信号から時変動成分を的確に除去できるようになる。
【００７１】
さらに、本発明の実施にあたっては、上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を逸脱しない限りにおいて種々の変更が可能である。
【００７２】
上記実施形態においては、図４の第１遅延時間調整プログラムの処理により、遅延回路１０４及びＡ／Ｄ変換器１０６の出力値の立ち上がり及び立ち下がりの検出及びそれらの時間の計測を行うようにした。しかし、これに代えて、評価対象パルス特定回路５４及び時間計測回路５５のように、遅延回路１０４及びＡ／Ｄ変換器１０６の出力値の立ち上がり及び立ち下がりの検出及びそれらの時間を計測する回路をコントローラ７０の外部に設けて、同回路により検出された時間をコントローラ７０が取り込むようにしてもよい。また、図５の第２遅延時間調整プログラムの処理により、特定信号（８Ｔ＋）の終了の検出及びその時間の計測を行うようにしたが、この場合も、特定信号（８Ｔ＋）の終了の検出及びその時間を計測する回路をコントローラ７０の外部に設けて、同回路により検出された時間をコントローラ７０が取り込むようにしてもよい。また、時間計測回路５５の時間計測機能をコントローラ７０のプログラム処理により実行させるようにしてもよい。
【００７３】
また、上記実施形態においては、ディジタル再生信号生成回路６０において、再生信号に含まれる信号周波数よりも高い周波数のノイズをローパスフィルタ１０１により除去するようにした。しかし、この高い周波数のノイズが問題にならない場合には、ローパスフィルタ１０１を省略してもよい。この場合、遅延回路１０４は、ローパスフィルタ１０５による信号遅延時間のみを考慮して、同信号遅延時間を補償すればよい。
【００７４】
また、上記実施形態においては、光ディスクＤＫの位置により反射率の変化に起因したゆっくりと時変動する信号を除去するために、ローパスフィルタ１０５、Ａ／Ｄ変換器１０６、減算器１０８、積分回路１０９、加算器１１０などを設けるようにした。しかし、この時変動する信号を無視できる場合には、前記ローパスフィルタ１０５、Ａ／Ｄ変換器１０６、減算器１０８、積分回路１０９、加算器１１０などは不要となる。一方、この場合も、２値化信号生成回路５２から遅延回路５３を介して評価対象パルス特定回路５４に供給される２値化信号の位相は、ディジタル再生信号生成回路６０からスイッチ回路６１〜６４に供給されるディジタル再生信号の位相よりも、最長信号長８Ｔ分だけ進んでいる必要がある。この場合、ローパスフィルタ１０５の遅延時間は非常に大きく（８Ｔよりも大きく）、ローパスフィルタ１０１の遅延時間は非常に小さい（８Ｔよりも小さい）ので、遅延回路５３を省略して、遅延回路１０４の信号遅延時間を調整して、ディジタル再生信号生成回路６０からスイッチ回路６１〜６４に供給されるディジタル再生信号を、評価対象パルス特定回路５４に供給される２値化信号よりも最長信号長８Ｔだけ遅延するようにする。この場合には、図５の第２遅延時間調整プログラムにより、遅延回路１０４の遅延時間を調整することになる。
【００７５】
また、上記実施形態においては、遅延回路５３の遅延時間の設定により、ディジタル再生信号生成回路６０からスイッチ回路６１〜６４に出力されるディジタル再生信号を、遅延回路５３から評価対象パルス特定回路５４に供給される２値化信号よりも最長信号長８Ｔだけ遅らせるようにした。したがって、最長信号長８Ｔの評価対象パルス８Ｔ＋，８Ｔ−に関しては、評価対象パルス特定回路５４に入力された評価対象パルス８Ｔ＋，８Ｔ−の終了直後から、これらの評価対象パルス８Ｔ＋，８Ｔ−に対応したディジタル再生信号がディジタル再生信号生成回路６０からスイッチ回路６３，６４に供給され、スイッチ回路６３，６４により前記評価対象パルス８Ｔ＋，８Ｔ−に対応したディジタル再生信号が振幅計算回路６７，６８に供給される。これによれば、振幅計算回路６５〜６８にディジタル再生信号のサンプリングデータを極めて効率的に取得させることができるが、本発明はこれに限定されるものではない。すなわち、ディジタル再生信号生成回路６０からスイッチ回路６１〜６４に出力されるディジタル再生信号は、遅延回路５３から評価対象パルス特定回路５４に供給される２値化信号に対して、少なくとも最長信号長８Ｔ分遅れればよい（すなわち、最長時間長８Ｔ以上の時間が遅れればよい）。これによっても、振幅計算回路６３，６４には、評価対象パルス８Ｔ＋，８Ｔ−に対応した必要量のディジタル再生信号のサンプリングデータが取り込まれる。ただし、この場合、スイッチ回路６１〜６４は、評価対象パルス特定回路５４からの検出パルス２Ｔ＋，２Ｔ−，８Ｔ＋，８Ｔ−の到来から所定時間後に、ディジタル再生信号生成回路６０からのディジタル再生信号を振幅計算回路６５〜６８に出力するようにする必要がある。
【００７６】
また、上記実施形態においては、評価対象となるパルス幅は、光ディスクＤＫに記録された検査用信号における最短のパルス幅及び最長のパルス幅の２種類のパルス幅とし、同２種類のパルス幅を信号レベルごとに検出して再生信号の評価を行うようにしたが、再生信号の評価に必要なパルス幅のパルス信号を検出すれば、これに限定されるものではない。すなわち、１つのパルス幅又は３つ以上の種類のパルス幅を評価対象として、同各パルス幅をもつパルス信号を抽出して再生信号を評価するようにしてもよい。
【００７７】
さらに、上記実施形態においては、光ディスクＤＫを検査するための光ディスク装置に本発明を適用するようにしたが、本発明はディスクＤＫに記録された信号を再生して再生信号を評価する装置であれば、これに限定されるものではない。例えば、光ディスクＤＫに記録されたディジタル信号をアナログ再生するための光ピックアップ２０などの再生装置を検査するための光ピックアップ検査装置などにも広く適用できるものである。また、光ディスクＤＫへのデータの記録条件、光ディスクに記録されたデータの再生条件などの評価にも利用できる。
【図面の簡単な説明】
【００７８】
【図１】本発明の一実施形態に係る光ディスク検査装置の全体を概略的に示すブロック図である。
【図２】図１のディジタル再生信号生成回路の詳細ブロック図である。
【図３】図１のスイッチ回路及び振幅計算回路の機能を説明するための機能ブロック図である。
【図４】図１のコントローラにより実行される第１遅延時間調整プログラムを示すフローチャートである。
【図５】図１のコントローラにより実行される第２遅延時間調整プログラムを示すフローチャートである。
【図６】特定パルス信号（８Ｔ＋）に関する遅延回路、ディジタル再生信号生成回路などの出力信号波形図である。
【図７】再生信号、同再生信号の２値化信号及び検出パルス２Ｔ＋，２Ｔ−，８Ｔ＋，８Ｔ＋の信号波形図である。
【図８】図２の遅延回路及びＡ／Ｄ変換器の出力信号波形図である。
【図９】(Ａ)〜(Ｄ)は図２のディジタル再生信号生成回路内の各部の信号波形図である。
【図１０】(Ａ)(Ｂ)は“８Ｔ＋”及び“２Ｔ＋”パルス信号に関する遅延回路出力とディジタル再生信号生成回路の出力信号波形図である。
【図１１】(Ａ)(Ｂ)は遅延時間の設定に利用される特殊な光ディスクの概念図である。
【図１２】(Ａ)(Ｂ)は従来装置による再生信号の波形図である。
【符号の説明】
【００７９】
ＤＫ…光ディスク、１０…回転駆動装置、１１…スピンドルモータ、１２…フィードモータ、２０…光ピックアップ、５３…遅延回路、５４…評価対象パルス特定回路、５５…時間計測回路、６０…ディジタル再生信号生成回路、６１〜６４…スイッチ回路、６５〜６８…振幅計算回路、７０…コントローラ。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクにレーザ光を照射して光ディスクからの反射光を受光する光ピックアップから出力された電気信号に基づいて生成された再生信号を評価する光ディスクの信号評価装置において、
前記生成された再生信号をハイレベルとローレベルとからなる２値化信号に変換して出力する２値化信号生成手段と、
前記変換された２値化信号の各パルスの信号長に基づいて一連のパルス列の中から評価対象となるパルス幅の信号をそれぞれ検出して、評価対象となるパルス幅ごとに検出信号を出力する評価対象パルス検出手段と、
前記再生信号を所定のレートでサンプリングしてディジタル再生信号に変換し、前記ディジタル再生信号を前記２値化信号よりも所定量だけ遅延させて出力するディジタル再生信号生成手段と、
前記評価対象パルス検出手段からの検出信号に応答して、前記ディジタル再生信号生成手段から出力された所定時間にわたるディジタル再生信号を前記検出信号の属するパルス幅ごとに記憶するとともに、前記記憶したディジタル再生信号に基づいて前記再生信号の特徴値を評価対象となるパルス幅ごとに計算する信号特徴値計算手段と、
前記計算された再生信号の特徴値を用いて、前記再生信号を評価する評価手段と
を備えたことを特徴とする光ディスクの信号評価装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスクの信号評価装置において、
前記信号特徴値計算手段は、前記評価対象パルス検出手段からの検出信号に応答して、評価対象となるパルス幅のうちで最も長いパルス幅に相当する時間にわたって、前記ディジタル再生信号生成手段から出力されたディジタル再生信号を記憶するものである光ディスクの信号評価装置。
【請求項３】
請求項１又は２に記載の光ディスクの信号評価装置において、
前記ディジタル再生信号を前記２値化信号よりも所定量だけ遅延させるために、前記ディジタル再生信号生成手段内にて前記ディジタル再生信号を遅延する第１遅延手段と、前記２値化信号を遅延する第２遅延手段とのうちの少なくともいずれか一方の遅延手段を設けた光ディスクの信号評価装置。
【請求項４】
請求項３に記載の光ディスクの信号評価装置において、
前記ディジタル再生信号生成手段からのディジタル再生信号と、前記評価対象パルス検出手段からの検出信号とに基づいて、前記ディジタル再生信号を前記２値化信号よりも所定量だけ遅延させるように、前記少なくともいずれか一方の遅延手段の遅延時間を設定する遅延時間設定手段を設けた光ディスクの信号評価装置。
【請求項５】
請求項１に記載の光ディスクの信号評価装置において、
前記ディジタル再生信号生成手段を、
前記再生信号に含まれる信号周波数成分を除去して光ディスク上におけるレーザ光の照射位置に依存した時変動を表す信号を出力するローパスフィルタと、
前記再生信号及び前記ローパスフィルタの出力信号をそれぞれ所定のサンプリングレートでサンプリングしてディジタル信号にＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器と、
前記再生信号をＡ／Ｄ変換したディジタル信号を所定量遅延して、前記ローパスフィルタの出力信号の遅延を相殺する遅延回路と、
前記遅延回路の出力ディジタル信号から前記ローパスフィルタの出力信号をＡ／Ｄ変換したディジタル信号を減算して、前記遅延回路の出力ディジタル信号から前記レーザ光の照射位置に依存した時変動成分を除去する減算器と、
前記ローパスフィルタの出力信号をＡ／Ｄ変換したディジタル信号を積分して、前記レーザ光の照射位置に依存した時変動成分を除去する積分器と、
前記減算器の出力ディジタル信号と前記積分器の出力ディジタル信号を合算して、前記再生信号に含まれる直流成分を加味したディジタル再生信号を生成する加算器と
で構成した光ディスクの信号評価装置。
【請求項６】
請求項５に記載の光ディスクの信号評価装置において、
前記ローパスフィルタの出力信号をＡ／Ｄ変換したディジタル信号と、前記遅延回路の出力ディジタル信号とに基づいて、前記遅延回路の遅延時間を設定する遅延時間設定手段を設けた光ディスクの信号評価装置。
【請求項７】
請求項１ないし６のうちのいずれか１つに記載の光ディスクの信号評価装置において、
前記信号特徴値計算手段は、評価対象のパルス幅に属するディジタル再生信号のボトム値又はピーク値を前記再生信号の特徴値として計算するものである光ディスクの信号評価装置。
【請求項８】
光ディスクにレーザ光を照射して光ディスクからの反射光を受光する光ピックアップから出力された電気信号に基づいて生成された再生信号を評価する光ディスクの信号評価方法において、
前記生成された再生信号をハイレベルとローレベルとからなる２値化信号に変換して出力する２値化信号生成ステップと、
前記変換された２値化信号の各パルスの信号長に基づいて一連のパルス列の中から評価対象となるパルス幅の信号をそれぞれ検出して、評価対象となるパルス幅ごとに検出信号を出力する評価対象パルス検出ステップと、
前記再生信号を所定のレートでサンプリングしてディジタル再生信号に変換し、前記ディジタル再生信号を前記２値化信号よりも所定量だけ遅延させて出力するディジタル再生信号生成ステップと、
前記評価対象パルス検出ステップからの検出信号に応答して、前記ディジタル再生信号生成ステップによって出力された所定時間にわたるディジタル再生信号を前記検出信号の属するパルス幅ごとに記憶するとともに、前記記憶したディジタル再生信号に基づいて前記再生信号の特徴値を評価対象となるパルス幅ごとに計算する信号特徴値計算ステップと、
前記計算された再生信号の特徴値を用いて、前記再生信号を評価する評価ステップと
を含むことを特徴とする光ディスクの信号評価方法。
【請求項１】
光ディスクにレーザ光を照射して光ディスクからの反射光を受光する光ピックアップから出力された電気信号に基づいて生成された再生信号を評価する光ディスクの信号評価装置において、
前記生成された再生信号をハイレベルとローレベルとからなる２値化信号に変換して出力する２値化信号生成手段と、
前記変換された２値化信号の各パルスの信号長に基づいて一連のパルス列の中から評価対象となるパルス幅の信号をそれぞれ検出して、評価対象となるパルス幅ごとに検出信号を出力する評価対象パルス検出手段と、
前記再生信号を所定のレートでサンプリングしてディジタル再生信号に変換し、前記ディジタル再生信号を前記２値化信号よりも所定量だけ遅延させて出力するディジタル再生信号生成手段と、
前記評価対象パルス検出手段からの検出信号に応答して、前記ディジタル再生信号生成手段から出力された所定時間にわたるディジタル再生信号を前記検出信号の属するパルス幅ごとに記憶するとともに、前記記憶したディジタル再生信号に基づいて前記再生信号の特徴値を評価対象となるパルス幅ごとに計算する信号特徴値計算手段と、
前記計算された再生信号の特徴値を用いて、前記再生信号を評価する評価手段と
を備えたことを特徴とする光ディスクの信号評価装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスクの信号評価装置において、
前記信号特徴値計算手段は、前記評価対象パルス検出手段からの検出信号に応答して、評価対象となるパルス幅のうちで最も長いパルス幅に相当する時間にわたって、前記ディジタル再生信号生成手段から出力されたディジタル再生信号を記憶するものである光ディスクの信号評価装置。
【請求項３】
請求項１又は２に記載の光ディスクの信号評価装置において、
前記ディジタル再生信号を前記２値化信号よりも所定量だけ遅延させるために、前記ディジタル再生信号生成手段内にて前記ディジタル再生信号を遅延する第１遅延手段と、前記２値化信号を遅延する第２遅延手段とのうちの少なくともいずれか一方の遅延手段を設けた光ディスクの信号評価装置。
【請求項４】
請求項３に記載の光ディスクの信号評価装置において、
前記ディジタル再生信号生成手段からのディジタル再生信号と、前記評価対象パルス検出手段からの検出信号とに基づいて、前記ディジタル再生信号を前記２値化信号よりも所定量だけ遅延させるように、前記少なくともいずれか一方の遅延手段の遅延時間を設定する遅延時間設定手段を設けた光ディスクの信号評価装置。
【請求項５】
請求項１に記載の光ディスクの信号評価装置において、
前記ディジタル再生信号生成手段を、
前記再生信号に含まれる信号周波数成分を除去して光ディスク上におけるレーザ光の照射位置に依存した時変動を表す信号を出力するローパスフィルタと、
前記再生信号及び前記ローパスフィルタの出力信号をそれぞれ所定のサンプリングレートでサンプリングしてディジタル信号にＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器と、
前記再生信号をＡ／Ｄ変換したディジタル信号を所定量遅延して、前記ローパスフィルタの出力信号の遅延を相殺する遅延回路と、
前記遅延回路の出力ディジタル信号から前記ローパスフィルタの出力信号をＡ／Ｄ変換したディジタル信号を減算して、前記遅延回路の出力ディジタル信号から前記レーザ光の照射位置に依存した時変動成分を除去する減算器と、
前記ローパスフィルタの出力信号をＡ／Ｄ変換したディジタル信号を積分して、前記レーザ光の照射位置に依存した時変動成分を除去する積分器と、
前記減算器の出力ディジタル信号と前記積分器の出力ディジタル信号を合算して、前記再生信号に含まれる直流成分を加味したディジタル再生信号を生成する加算器と
で構成した光ディスクの信号評価装置。
【請求項６】
請求項５に記載の光ディスクの信号評価装置において、
前記ローパスフィルタの出力信号をＡ／Ｄ変換したディジタル信号と、前記遅延回路の出力ディジタル信号とに基づいて、前記遅延回路の遅延時間を設定する遅延時間設定手段を設けた光ディスクの信号評価装置。
【請求項７】
請求項１ないし６のうちのいずれか１つに記載の光ディスクの信号評価装置において、
前記信号特徴値計算手段は、評価対象のパルス幅に属するディジタル再生信号のボトム値又はピーク値を前記再生信号の特徴値として計算するものである光ディスクの信号評価装置。
【請求項８】
光ディスクにレーザ光を照射して光ディスクからの反射光を受光する光ピックアップから出力された電気信号に基づいて生成された再生信号を評価する光ディスクの信号評価方法において、
前記生成された再生信号をハイレベルとローレベルとからなる２値化信号に変換して出力する２値化信号生成ステップと、
前記変換された２値化信号の各パルスの信号長に基づいて一連のパルス列の中から評価対象となるパルス幅の信号をそれぞれ検出して、評価対象となるパルス幅ごとに検出信号を出力する評価対象パルス検出ステップと、
前記再生信号を所定のレートでサンプリングしてディジタル再生信号に変換し、前記ディジタル再生信号を前記２値化信号よりも所定量だけ遅延させて出力するディジタル再生信号生成ステップと、
前記評価対象パルス検出ステップからの検出信号に応答して、前記ディジタル再生信号生成ステップによって出力された所定時間にわたるディジタル再生信号を前記検出信号の属するパルス幅ごとに記憶するとともに、前記記憶したディジタル再生信号に基づいて前記再生信号の特徴値を評価対象となるパルス幅ごとに計算する信号特徴値計算ステップと、
前記計算された再生信号の特徴値を用いて、前記再生信号を評価する評価ステップと
を含むことを特徴とする光ディスクの信号評価方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【公開番号】特開２００８−１５９１０１（Ｐ２００８−１５９１０１Ａ）
【公開日】平成２０年７月１０日（２００８．７．１０）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００６−３４３７８４（Ｐ２００６−３４３７８４）
【出願日】平成１８年１２月２１日（２００６．１２．２１）
【出願人】（０００１１２００４）パルステック工業株式会社 (179)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２０年７月１０日（２００８．７．１０）
【国際特許分類】
【出願日】平成１８年１２月２１日（２００６．１２．２１）
【出願人】（０００１１２００４）パルステック工業株式会社 (179)
【Ｆターム（参考）】
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