光ディスク装置およびレーザー出力制御方法
【課題】 対物レンズの汚れに対する耐性を向上させることのできる光ディスク装置を提供する。
【解決手段】 光ディスク装置１は、レーザーの光軸方向に沿って対物レンズ６を移動させるフォーカス制御を行い、フォーカス制御が行われているときのレーザーの反射光の光量レベルの変化に基づいて、対物レンズ６の焦点が光ディスク３のディスク表面に位置しているときの光量レベル（表面反射光量レベル）を判定する。そして、表面反射光量レベルの履歴から得られる経時減少パターンに基づいて、対物レンズ６が汚れているレンズ汚れ状態であるか否かの判定を行い、対物レンズ６が汚れていると判定された場合には、レーザーの出力を大きくするパワー補正制御を行う。
【解決手段】 光ディスク装置１は、レーザーの光軸方向に沿って対物レンズ６を移動させるフォーカス制御を行い、フォーカス制御が行われているときのレーザーの反射光の光量レベルの変化に基づいて、対物レンズ６の焦点が光ディスク３のディスク表面に位置しているときの光量レベル（表面反射光量レベル）を判定する。そして、表面反射光量レベルの履歴から得られる経時減少パターンに基づいて、対物レンズ６が汚れているレンズ汚れ状態であるか否かの判定を行い、対物レンズ６が汚れていると判定された場合には、レーザーの出力を大きくするパワー補正制御を行う。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、対物レンズの汚れに対する耐性を向上させた光ディスク装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置の対物レンズは、光ディスクに対して露出するように配置されるため、外部に露出するように構成されることが多いため、光ディスク装置を長期間使用していると、粉塵等で対物レンズが汚れてしまうことがあった。光ディスク装置の対物レンズが粉塵等で汚れてしまうと、光ディスクに照射されたレーザーの反射光量が低下し、その結果、光ディスクの読み取り性能が低下することになる。
【０００３】
そこで従来、対物レンズが汚れていると判断した場合に、自動的に掃除を行う光ディスクドライブが提案されている（例えば、特許文献１参照）。従来の光ディスクドライブでは、光ディスクドライブ内にカセット式のクリーニングユニットを設け、そのクリーニングユニットを用いて、対物レンズの汚れを除去する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１０−２７２１４６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、従来の光ディスクドライブにおいては、対物レンズの汚れを除去するための専用の装置（クリーニングユニット）を、光ディスクドライブ内に設ける必要があるという問題があった。
【０００６】
本発明は、上記従来の問題を解決するためになされたもので、対物レンズの汚れを除去するための専用の装置を設けることなく、対物レンズの汚れに対する耐性を向上することのできる光ディスク装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の光ディスク装置は、光ディスクに記録された情報を読み取るためのレーザーを出射するレーザー部と、前記光ディスクで反射された前記レーザーの反射光を受光する受光部と、前記受光部で受光した前記レーザーの反射光の光量レベルを検出する光量検出部と、前記レーザーの光軸方向に沿って対物レンズを移動させるフォーカス制御を行うフォーカス制御部と、前記フォーカス制御が行われているときの前記レーザーの反射光の光量レベルの変化に基づいて、前記対物レンズの焦点が前記光ディスクのディスク表面に位置しているときの光量レベルである表面反射光量レベルを判定する表面反射光判定部と、前記表面反射光量レベルの履歴から得られる経時減少パターンに基づいて、前記対物レンズが汚れているレンズ汚れ状態であるか否かの判定を行う汚れ判定部と、前記対物レンズが汚れていると判定された場合に、前記レーザーの出力を大きくするパワー補正制御を行うレーザー制御部と、を備えた構成を有している。
【０００８】
この構成により、レーザーの光軸方向に沿って対物レンズを移動させたときの光量レベルの変化から、対物レンズの焦点が光ディスクのディスク表面に位置しているときの光量レベルである表面反射光量レベルが求められる。表面反射光量レベル（ディスク表面の反射光量）は、光ディスクの記録面の反射光量に比べて、光ディスクの種類によるばらつきが小さいため、対物レンズが汚れているか否かの指標として用いるのに適している。本発明では、表面反射光量レベルの経時減少パターンに基づいて、対物レンズが汚れているか否かの判定を適切に行うことができ、対物レンズが汚れていると判定された場合に、レーザーの出力を大きくするパワー補正制御が行われる。これにより、対物レンズが汚れているときに（すなわち、必要なときに）、光ディスクの読み取り性能を向上させることができる。この場合、従来のように対物レンズの汚れを除去するための専用の装置を、光ディスク装置の内部に別途設ける必要がない。
【０００９】
また、本発明の光ディスク装置では、前記汚れ判定部は、前記表面反射光判定部から得られる表面反射光量レベルが、所定の基準レベル以下であり、かつ、前記表面反射光量レベルの履歴から得られる経時減少パターンから予測される光量レベル範囲内であるときには、前記レンズ汚れ状態であると判定し、前記表面反射光判定部から得られる表面反射光量レベルが、前記表面反射光量レベルの履歴から得られる経時減少パターンから予測される光量レベル範囲外であるときには、前記レンズ汚れ状態でないと判定する構成を有している。
【００１０】
この構成により、表面反射光量レベルが、所定の基準レベル以下であり、かつ、経時減少パターンから予測される光量レベル範囲内であるときには、対物レンズが汚れていると判定される。一方、表面反射光量レベルが、経時減少パターンから予測される光量レベル範囲外であるときには、対物レンズが汚れているのではない（光ディスクが汚れている）と判定される。このように、本発明によれば、表面反射光量レベルの経時減少パターンに基づいて、対物レンズが汚れているか否かの判定を適切に行うことができる。
【００１１】
また、本発明の光ディスク装置では、前記レーザー制御部は、前記表面反射光判定部から得られる表面反射光量レベルの減少度合いに応じて、段階的に前記レーザーの出力を大きくするパワー補正制御を行う構成を有している。
【００１２】
この構成により、表面反射光量レベルの減少度合い（対物レンズの汚れの度合い）に応じて、段階的にレーザーの出力を大きくするパワー補正制御が行われる。これにより、光ディスクの読み取り性能を適切に向上させることができる。
【００１３】
本発明の方法は、光ディスクに記録された情報を読み取るためのレーザーの出力を制御する方法であって、前記レーザーの光軸方向に沿って対物レンズを移動させるフォーカス制御を行い、前記フォーカス制御が行われているときの前記レーザーの反射光の光量レベルの変化に基づいて、前記対物レンズの焦点が前記光ディスクのディスク表面に位置しているときの光量レベルである表面反射光量レベルを判定し、前記表面反射光量レベルの履歴から得られる経時減少パターンに基づいて、前記対物レンズが汚れているレンズ汚れ状態であるか否かの判定を行い、前記対物レンズが汚れていると判定された場合に、前記レーザーの出力を大きくするパワー補正制御を行う。
【００１４】
この方法によっても、上記と同様、表面反射光量レベルの経時減少パターンに基づいて、対物レンズが汚れているか否かの判定を適切に行うことができ、対物レンズが汚れていると判定された場合に、レーザーの出力を大きくするパワー補正制御が行われる。これにより、対物レンズが汚れているときに（すなわち、必要なときに）、光ディスクの読み取り性能を向上させることができる。この場合も、従来のように対物レンズの汚れを除去するための専用の装置を、光ディスク装置の内部に別途設ける必要がない。
【発明の効果】
【００１５】
本発明は、対物レンズの汚れに対する耐性を向上することができるという効果を有する光ディスク装置を提供することができるものである。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の実施の形態における光ディスク装置の構成を説明するためのブロック図
【図２】対物レンズの移動制御（フォーカス駆動制御）の説明図
【図３】フォーカス駆動制御を行ったときの光量レベルの変化の説明図
【図４】光量レベルの変化（レンズ汚れの場合）の説明図
【図５】光量レベルの変化（ディスク汚れの場合）の説明図
【図６】本発明の実施の形態におけるレーザーパワー制御を説明するためのフロー図
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、本発明の実施の形態の光ディスク装置について、図面を用いて説明する。本実施の形態では、光ディスク装置が、車載型のブルーレイディスク（登録商標）用の光ディスク装置に適用される場合を例示する。すなわち、本実施の形態の光ディスク装置は、車両に搭載される光ディスク装置であって、青色レーザーを用いて光ディスク（ＢＤ）に記録された情報を読み取る機能を備えている。
【００１８】
本発明の実施の形態の光ディスク装置の構成を、図面を参照して説明する。図１は、本実施の形態の光ディスク装置の構成を示すブロック図である。図１に示すように、光ディスク装置１は、青色レーザーを出射するレーザー部２と、光ディスク３で反射された青色レーザーの反射光を受光する受光部４とを有する光ピックアップ部５を備えている。レーザー部２は、波長４０５ｎｍの青紫色半導体レーザーを出すレーザー光源である。受光部４は、４つの受光エリアに分割された受光素子（光検出器）である。
【００１９】
この光ディスク装置１は、対物レンズ６を、青色レーザーの光軸方向（図１における上下方向）に沿って移動させるレンズアクチュエータ部７を備えている。また、光ディスク装置１は、対物レンズ６の焦点の位置をかえる制御（フォーカス制御）を行うフォーカス制御部８を備えている。フォーカス制御部８は、レンズアクチュエータ部７を制御することにより、対物レンズ６を光軸方向に沿って移動させて、対物レンズ６の焦点の位置をずらすことができるように構成されている（図２参照）。
【００２０】
また、光ディスク装置１は、受光部４で受光した青色レーザーの反射光の光量レベルを検出（測定）する光量検出部９を備えている。そして、この光ディスク装置１は、フォーカス制御が行われているときに検出（測定）された青色レーザーの反射光の光量レベルの変化に基づいて、対物レンズ６の焦点が光ディスク３のディスク表面に位置しているときの光量レベル（表面反射光量レベル）を判定する表面反射光判定部１０を備えている。
【００２１】
ここで、表面反射光量レベルの判定の仕方について、図３を参照して詳しく説明する。図３に示すように、フォーカス制御を行って対物レンズ６を光軸方向に沿って少しずつ移動していくと、対物レンズ６の焦点がディスク表面にきたときに、青色レーザーの反射光の光量レベルに小さなピーク（図３における左側の小ピーク）が検出される。そして、さらに対物レンズ６を光軸方向に沿って移動していくと、対物レンズ６の焦点が光ディスク３の記録面にきたときに、青色レーザーの反射光の光量レベルに大きなピーク（図３における右側の大ピーク）が検出される。表面反射光判定部１０は、このような検出結果（２つのピークが検出される検出結果）から、最初に検出された小さなピークを、対物レンズ６の焦点が光ディスク３のディスク表面に位置しているときの光量レベル（表面反射光量レベル）と判定する。
【００２２】
光ディスク装置１は、表面反射光量レベルで「表面反射光量レベル」であると判定された光量レベル（ディスク表面の反射光量）の履歴が保存される不揮発性メモリ１１を備えている。不揮発性メモリ１１には、例えば、光ディスク装置１の製造時（組立工程時）における光ディスク３のディスク表面の反射光量が「初期値」として保存される。なお、光ディスク３の記録面（ディスク表面より内側の面）の反射光量は、光ディスク３ごとにばらつきがあるのに対して、ディスク表面の反射光量は、どの光ディスク３でもほぼ同じである。例えば、ディスク表面の反射率は、どの光ディスク３でも約５％である。
【００２３】
そして、この光ディスク装置１は、不揮発性メモリ１１に記録された表面反射光量レベルの履歴から得られる経時減少パターンに基づいて、対物レンズ６が汚れている「レンズ汚れ」の状態であるか否かの判定を行う汚れ判定部１２を備えている。この汚れ判定部１２は、光ディスク３が挿入される度に測定されるディスク表面の反射光量と、不揮発性メモリ１１に記録されたディスク表面の反射光量の履歴との比較を行う。
【００２４】
汚れ判定部１２は、図４に示すように、測定されたディスク表面の反射光量が、履歴から得られるディスク表面の反射光量のパターン（経時減少パターン）から予測される光量レベル範囲内である場合には、「レンズ汚れ」であると判定し、不揮発性メモリ１１の履歴を更新する。この場合、レーザーの出力を大きくするパワー補正制御が行われる。
【００２５】
一方、汚れ判定部１２は、図５に示すように、測定されたディスク表面の反射光量が、経時減少パターンから予測される光量レベル範囲外である場合、例えば、過去数回分のディスク表面の反射光量に対して急激に光量レベルが落ちている場合には、「ディスク汚れ」である（「レンズ汚れ」ではない）と判定する。この場合、レーザーの出力を大きくするパワー補正制御は行われない。
【００２６】
光ディスク装置１は、レーザーの出力を大きくするパワー補正制御を行うレーザー制御部１３と、パワー補正制御で用いる補正量を決定する補正量決定部１４を備えている。補正量決定部１４は、測定されたディスク表面の反射光量を初期値（製造時のディスク表面の反射光量）と比較し、その比較結果に応じて段階的に補正量を決定する。したがって、レーザー制御部１３は、比較結果に応じて段階的にレーザーの出力を大きくするパワー補正制御を行うことができる。
【００２７】
例えば、測定されたディスク表面の反射光量が、初期値に対して５０％以上かつ１００％以下の光量レベルの範囲内である場合には、レーザーの出力を大きくするパワー補正制御は行わない。これは、パワー補正制御の補正量を０％に設定するともいえる。また、測定されたディスク表面の反射光量が、初期値に対して２５％以上かつ５０％未満以下の光量レベルの範囲内である場合には、パワー補正制御の補正量を１０％に設定し、レーザーの出力を大きくするパワー補正制御を行う。また、測定されたディスク表面の反射光量が、初期値に対して０％以上かつ２５％未満以下の光量レベルの範囲内である場合には、パワー補正制御の補正量を２０％に設定し、レーザーの出力を大きくするパワー補正制御を行う。
【００２８】
以上のように構成された光ディスク装置１について、図６のフロー図を参照してその動作を説明する。
【００２９】
図６に示すように、本発明の実施の形態では、光ディスク装置１を起動すると、まず、標準パワーでレーザー（青色レーザー）が出力される（Ｓ１）。そして、対物レンズ６をレーザーの光軸に沿って移動させるフォーカス制御を行うことにより、対物レンズ６の焦点が光ディスク３のディスク表面に位置しているときの光量レベル（表面反射光量レベル）が取得される（Ｓ２）。
【００３０】
つぎに、その表面反射光量レベル（測定されたディスク表面の反射光量）を、不揮発性メモリ１１に記録された履歴と比較する（Ｓ３）。そして、その比較結果に基づいて、対物レンズ６が汚れている「レンズ汚れ」であるか否かの判定を行う（Ｓ４）。
【００３１】
図５に示すように、測定されたディスク表面の反射光量が、経時減少パターンから予測される光量レベル範囲外である場合（例えば、過去数回分のディスク表面の反射光量に対して急激に光量レベルが落ちている場合）には、「ディスク汚れ」である（「レンズ汚れ」ではない）と判定され（Ｓ４）、処理を終了する。
【００３２】
一方、図４に示すように、測定されたディスク表面の反射光量が、履歴から得られるディスク表面の反射光量のパターン（経時減少パターン）から予測される光量レベル範囲内である場合には、「レンズ汚れ」であると判定される（Ｓ４）。その場合、不揮発性メモリ１１の履歴を更新した後（Ｓ５）、測定されたディスク表面の反射光量を初期値（製造時のディスク表面の反射光量）と比較し（Ｓ６）、その比較結果に応じて補正量を決定する（Ｓ７）。
【００３３】
例えば、測定されたディスク表面の反射光量が、初期値に対して５０％以上かつ１００％以下の光量レベルの範囲内である場合には、パワー補正制御の補正量を０％に決定する。また、測定されたディスク表面の反射光量が、初期値に対して２５％以上かつ５０％未満以下の光量レベルの範囲内である場合には、パワー補正制御の補正量を１０％に決定する。また、また、測定されたディスク表面の反射光量が、初期値に対して０％以上かつ２５％未満以下の光量レベルの範囲内である場合には、パワー補正制御の補正量を２０％に決定する。そして、このようにして決定された補正量を用いて、レーザーの出力を大きくするパワー補正制御が行われる（Ｓ８）。
【００３４】
このような本発明の実施の形態の光ディスク装置１によれば、対物レンズ６の汚れを除去するための専用の装置を設けることなく、対物レンズ６の汚れに対する耐性を向上することができる。
【００３５】
すなわち、本実施の形態では、レーザーの光軸方向に沿って対物レンズ６を移動させたときの光量レベルの変化から、対物レンズ６の焦点が光ディスク３のディスク表面に位置しているときの光量レベルである表面反射光量レベルが求められる（図２および図３参照）。表面反射光量レベル（ディスク表面の反射光量）は、光ディスク３の記録面の反射光量に比べて、光ディスク３の種類によるばらつきが小さいため、対物レンズ６が汚れているか否かの指標として用いるのに適している。
【００３６】
本実施の形態では、表面反射光量レベルの経時減少パターンに基づいて、対物レンズ６が汚れているか否かの判定を適切に行うことができ、対物レンズ６が汚れていると判定された場合に、レーザーの出力を大きくするパワー補正制御が行われる。これにより、対物レンズ６が汚れているときに（すなわち、必要なときに）、光ディスク３の読み取り性能を向上させることができる。この場合、従来のように対物レンズ６の汚れを除去するための専用の装置を、光ディスク装置１の内部に別途設ける必要がない。
【００３７】
また、本実施の形態では、図４に示すように、表面反射光量レベルが、所定の基準レベル以下であり、かつ、経時減少パターンから予測される光量レベル範囲内であるときには、対物レンズ６が汚れていると判定される。一方、図５に示すように、表面反射光量レベルが、経時減少パターンから予測される光量レベル範囲外であるときには、対物レンズ６が汚れているのではない（光ディスク３が汚れている）と判定される。このように、本実施の形態によれば、表面反射光量レベルの経時減少パターンに基づいて、対物レンズ６が汚れているか否かの判定を適切に行うことができる。
【００３８】
また、本実施の形態では、表面反射光量レベルの減少度合い（対物レンズ６の汚れの度合い）に応じて、段階的にレーザーの出力を大きくするパワー補正制御が行われる。これにより、光ディスク３の読み取り性能を適切に向上させることができる。
【００３９】
以上、本発明の実施の形態を例示により説明したが、本発明の範囲はこれらに限定されるものではなく、請求項に記載された範囲内において目的に応じて変更・変形することが可能である。
【００４０】
例えば、以上の説明では、本発明の光ディスク装置が、車載型のＢＤ用の光ディスク装置である例について説明したが、本発明の範囲は、車載型の光ディスク装置に限定されるものではなく、例えば、室内で用いられる家庭用の光ディスク装置も含まれる。また、本発明の範囲は、ＢＤ用の光ディスク装置に限られるものではなく、例えば、ＣＤ用やＤＶＤ用の光ディスク装置も含まれる。
【産業上の利用可能性】
【００４１】
以上のように、本発明にかかる光ディスク装置は、対物レンズの汚れを除去するための専用の装置を設けることなく、対物レンズの汚れに対する耐性を向上させることができるという効果を有し、例えば、車載型のＢＤ用の光ディスク装置等として有用である。
【符号の説明】
【００４２】
１ 光ディスク装置
２ レーザー部
３ 光ディスク
４ 受光部
５ 光ピックアップ部
６ 対物レンズ
７ レンズアクチュエータ部
８ フォーカス制御部
９ 光量検出部
１０ 表面反射光判定部
１１ 不揮発性メモリ
１２ 汚れ判定部
１３ レーザー制御部
１４ 補正量決定部
【技術分野】
【０００１】
本発明は、対物レンズの汚れに対する耐性を向上させた光ディスク装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置の対物レンズは、光ディスクに対して露出するように配置されるため、外部に露出するように構成されることが多いため、光ディスク装置を長期間使用していると、粉塵等で対物レンズが汚れてしまうことがあった。光ディスク装置の対物レンズが粉塵等で汚れてしまうと、光ディスクに照射されたレーザーの反射光量が低下し、その結果、光ディスクの読み取り性能が低下することになる。
【０００３】
そこで従来、対物レンズが汚れていると判断した場合に、自動的に掃除を行う光ディスクドライブが提案されている（例えば、特許文献１参照）。従来の光ディスクドライブでは、光ディスクドライブ内にカセット式のクリーニングユニットを設け、そのクリーニングユニットを用いて、対物レンズの汚れを除去する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１０−２７２１４６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、従来の光ディスクドライブにおいては、対物レンズの汚れを除去するための専用の装置（クリーニングユニット）を、光ディスクドライブ内に設ける必要があるという問題があった。
【０００６】
本発明は、上記従来の問題を解決するためになされたもので、対物レンズの汚れを除去するための専用の装置を設けることなく、対物レンズの汚れに対する耐性を向上することのできる光ディスク装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の光ディスク装置は、光ディスクに記録された情報を読み取るためのレーザーを出射するレーザー部と、前記光ディスクで反射された前記レーザーの反射光を受光する受光部と、前記受光部で受光した前記レーザーの反射光の光量レベルを検出する光量検出部と、前記レーザーの光軸方向に沿って対物レンズを移動させるフォーカス制御を行うフォーカス制御部と、前記フォーカス制御が行われているときの前記レーザーの反射光の光量レベルの変化に基づいて、前記対物レンズの焦点が前記光ディスクのディスク表面に位置しているときの光量レベルである表面反射光量レベルを判定する表面反射光判定部と、前記表面反射光量レベルの履歴から得られる経時減少パターンに基づいて、前記対物レンズが汚れているレンズ汚れ状態であるか否かの判定を行う汚れ判定部と、前記対物レンズが汚れていると判定された場合に、前記レーザーの出力を大きくするパワー補正制御を行うレーザー制御部と、を備えた構成を有している。
【０００８】
この構成により、レーザーの光軸方向に沿って対物レンズを移動させたときの光量レベルの変化から、対物レンズの焦点が光ディスクのディスク表面に位置しているときの光量レベルである表面反射光量レベルが求められる。表面反射光量レベル（ディスク表面の反射光量）は、光ディスクの記録面の反射光量に比べて、光ディスクの種類によるばらつきが小さいため、対物レンズが汚れているか否かの指標として用いるのに適している。本発明では、表面反射光量レベルの経時減少パターンに基づいて、対物レンズが汚れているか否かの判定を適切に行うことができ、対物レンズが汚れていると判定された場合に、レーザーの出力を大きくするパワー補正制御が行われる。これにより、対物レンズが汚れているときに（すなわち、必要なときに）、光ディスクの読み取り性能を向上させることができる。この場合、従来のように対物レンズの汚れを除去するための専用の装置を、光ディスク装置の内部に別途設ける必要がない。
【０００９】
また、本発明の光ディスク装置では、前記汚れ判定部は、前記表面反射光判定部から得られる表面反射光量レベルが、所定の基準レベル以下であり、かつ、前記表面反射光量レベルの履歴から得られる経時減少パターンから予測される光量レベル範囲内であるときには、前記レンズ汚れ状態であると判定し、前記表面反射光判定部から得られる表面反射光量レベルが、前記表面反射光量レベルの履歴から得られる経時減少パターンから予測される光量レベル範囲外であるときには、前記レンズ汚れ状態でないと判定する構成を有している。
【００１０】
この構成により、表面反射光量レベルが、所定の基準レベル以下であり、かつ、経時減少パターンから予測される光量レベル範囲内であるときには、対物レンズが汚れていると判定される。一方、表面反射光量レベルが、経時減少パターンから予測される光量レベル範囲外であるときには、対物レンズが汚れているのではない（光ディスクが汚れている）と判定される。このように、本発明によれば、表面反射光量レベルの経時減少パターンに基づいて、対物レンズが汚れているか否かの判定を適切に行うことができる。
【００１１】
また、本発明の光ディスク装置では、前記レーザー制御部は、前記表面反射光判定部から得られる表面反射光量レベルの減少度合いに応じて、段階的に前記レーザーの出力を大きくするパワー補正制御を行う構成を有している。
【００１２】
この構成により、表面反射光量レベルの減少度合い（対物レンズの汚れの度合い）に応じて、段階的にレーザーの出力を大きくするパワー補正制御が行われる。これにより、光ディスクの読み取り性能を適切に向上させることができる。
【００１３】
本発明の方法は、光ディスクに記録された情報を読み取るためのレーザーの出力を制御する方法であって、前記レーザーの光軸方向に沿って対物レンズを移動させるフォーカス制御を行い、前記フォーカス制御が行われているときの前記レーザーの反射光の光量レベルの変化に基づいて、前記対物レンズの焦点が前記光ディスクのディスク表面に位置しているときの光量レベルである表面反射光量レベルを判定し、前記表面反射光量レベルの履歴から得られる経時減少パターンに基づいて、前記対物レンズが汚れているレンズ汚れ状態であるか否かの判定を行い、前記対物レンズが汚れていると判定された場合に、前記レーザーの出力を大きくするパワー補正制御を行う。
【００１４】
この方法によっても、上記と同様、表面反射光量レベルの経時減少パターンに基づいて、対物レンズが汚れているか否かの判定を適切に行うことができ、対物レンズが汚れていると判定された場合に、レーザーの出力を大きくするパワー補正制御が行われる。これにより、対物レンズが汚れているときに（すなわち、必要なときに）、光ディスクの読み取り性能を向上させることができる。この場合も、従来のように対物レンズの汚れを除去するための専用の装置を、光ディスク装置の内部に別途設ける必要がない。
【発明の効果】
【００１５】
本発明は、対物レンズの汚れに対する耐性を向上することができるという効果を有する光ディスク装置を提供することができるものである。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の実施の形態における光ディスク装置の構成を説明するためのブロック図
【図２】対物レンズの移動制御（フォーカス駆動制御）の説明図
【図３】フォーカス駆動制御を行ったときの光量レベルの変化の説明図
【図４】光量レベルの変化（レンズ汚れの場合）の説明図
【図５】光量レベルの変化（ディスク汚れの場合）の説明図
【図６】本発明の実施の形態におけるレーザーパワー制御を説明するためのフロー図
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、本発明の実施の形態の光ディスク装置について、図面を用いて説明する。本実施の形態では、光ディスク装置が、車載型のブルーレイディスク（登録商標）用の光ディスク装置に適用される場合を例示する。すなわち、本実施の形態の光ディスク装置は、車両に搭載される光ディスク装置であって、青色レーザーを用いて光ディスク（ＢＤ）に記録された情報を読み取る機能を備えている。
【００１８】
本発明の実施の形態の光ディスク装置の構成を、図面を参照して説明する。図１は、本実施の形態の光ディスク装置の構成を示すブロック図である。図１に示すように、光ディスク装置１は、青色レーザーを出射するレーザー部２と、光ディスク３で反射された青色レーザーの反射光を受光する受光部４とを有する光ピックアップ部５を備えている。レーザー部２は、波長４０５ｎｍの青紫色半導体レーザーを出すレーザー光源である。受光部４は、４つの受光エリアに分割された受光素子（光検出器）である。
【００１９】
この光ディスク装置１は、対物レンズ６を、青色レーザーの光軸方向（図１における上下方向）に沿って移動させるレンズアクチュエータ部７を備えている。また、光ディスク装置１は、対物レンズ６の焦点の位置をかえる制御（フォーカス制御）を行うフォーカス制御部８を備えている。フォーカス制御部８は、レンズアクチュエータ部７を制御することにより、対物レンズ６を光軸方向に沿って移動させて、対物レンズ６の焦点の位置をずらすことができるように構成されている（図２参照）。
【００２０】
また、光ディスク装置１は、受光部４で受光した青色レーザーの反射光の光量レベルを検出（測定）する光量検出部９を備えている。そして、この光ディスク装置１は、フォーカス制御が行われているときに検出（測定）された青色レーザーの反射光の光量レベルの変化に基づいて、対物レンズ６の焦点が光ディスク３のディスク表面に位置しているときの光量レベル（表面反射光量レベル）を判定する表面反射光判定部１０を備えている。
【００２１】
ここで、表面反射光量レベルの判定の仕方について、図３を参照して詳しく説明する。図３に示すように、フォーカス制御を行って対物レンズ６を光軸方向に沿って少しずつ移動していくと、対物レンズ６の焦点がディスク表面にきたときに、青色レーザーの反射光の光量レベルに小さなピーク（図３における左側の小ピーク）が検出される。そして、さらに対物レンズ６を光軸方向に沿って移動していくと、対物レンズ６の焦点が光ディスク３の記録面にきたときに、青色レーザーの反射光の光量レベルに大きなピーク（図３における右側の大ピーク）が検出される。表面反射光判定部１０は、このような検出結果（２つのピークが検出される検出結果）から、最初に検出された小さなピークを、対物レンズ６の焦点が光ディスク３のディスク表面に位置しているときの光量レベル（表面反射光量レベル）と判定する。
【００２２】
光ディスク装置１は、表面反射光量レベルで「表面反射光量レベル」であると判定された光量レベル（ディスク表面の反射光量）の履歴が保存される不揮発性メモリ１１を備えている。不揮発性メモリ１１には、例えば、光ディスク装置１の製造時（組立工程時）における光ディスク３のディスク表面の反射光量が「初期値」として保存される。なお、光ディスク３の記録面（ディスク表面より内側の面）の反射光量は、光ディスク３ごとにばらつきがあるのに対して、ディスク表面の反射光量は、どの光ディスク３でもほぼ同じである。例えば、ディスク表面の反射率は、どの光ディスク３でも約５％である。
【００２３】
そして、この光ディスク装置１は、不揮発性メモリ１１に記録された表面反射光量レベルの履歴から得られる経時減少パターンに基づいて、対物レンズ６が汚れている「レンズ汚れ」の状態であるか否かの判定を行う汚れ判定部１２を備えている。この汚れ判定部１２は、光ディスク３が挿入される度に測定されるディスク表面の反射光量と、不揮発性メモリ１１に記録されたディスク表面の反射光量の履歴との比較を行う。
【００２４】
汚れ判定部１２は、図４に示すように、測定されたディスク表面の反射光量が、履歴から得られるディスク表面の反射光量のパターン（経時減少パターン）から予測される光量レベル範囲内である場合には、「レンズ汚れ」であると判定し、不揮発性メモリ１１の履歴を更新する。この場合、レーザーの出力を大きくするパワー補正制御が行われる。
【００２５】
一方、汚れ判定部１２は、図５に示すように、測定されたディスク表面の反射光量が、経時減少パターンから予測される光量レベル範囲外である場合、例えば、過去数回分のディスク表面の反射光量に対して急激に光量レベルが落ちている場合には、「ディスク汚れ」である（「レンズ汚れ」ではない）と判定する。この場合、レーザーの出力を大きくするパワー補正制御は行われない。
【００２６】
光ディスク装置１は、レーザーの出力を大きくするパワー補正制御を行うレーザー制御部１３と、パワー補正制御で用いる補正量を決定する補正量決定部１４を備えている。補正量決定部１４は、測定されたディスク表面の反射光量を初期値（製造時のディスク表面の反射光量）と比較し、その比較結果に応じて段階的に補正量を決定する。したがって、レーザー制御部１３は、比較結果に応じて段階的にレーザーの出力を大きくするパワー補正制御を行うことができる。
【００２７】
例えば、測定されたディスク表面の反射光量が、初期値に対して５０％以上かつ１００％以下の光量レベルの範囲内である場合には、レーザーの出力を大きくするパワー補正制御は行わない。これは、パワー補正制御の補正量を０％に設定するともいえる。また、測定されたディスク表面の反射光量が、初期値に対して２５％以上かつ５０％未満以下の光量レベルの範囲内である場合には、パワー補正制御の補正量を１０％に設定し、レーザーの出力を大きくするパワー補正制御を行う。また、測定されたディスク表面の反射光量が、初期値に対して０％以上かつ２５％未満以下の光量レベルの範囲内である場合には、パワー補正制御の補正量を２０％に設定し、レーザーの出力を大きくするパワー補正制御を行う。
【００２８】
以上のように構成された光ディスク装置１について、図６のフロー図を参照してその動作を説明する。
【００２９】
図６に示すように、本発明の実施の形態では、光ディスク装置１を起動すると、まず、標準パワーでレーザー（青色レーザー）が出力される（Ｓ１）。そして、対物レンズ６をレーザーの光軸に沿って移動させるフォーカス制御を行うことにより、対物レンズ６の焦点が光ディスク３のディスク表面に位置しているときの光量レベル（表面反射光量レベル）が取得される（Ｓ２）。
【００３０】
つぎに、その表面反射光量レベル（測定されたディスク表面の反射光量）を、不揮発性メモリ１１に記録された履歴と比較する（Ｓ３）。そして、その比較結果に基づいて、対物レンズ６が汚れている「レンズ汚れ」であるか否かの判定を行う（Ｓ４）。
【００３１】
図５に示すように、測定されたディスク表面の反射光量が、経時減少パターンから予測される光量レベル範囲外である場合（例えば、過去数回分のディスク表面の反射光量に対して急激に光量レベルが落ちている場合）には、「ディスク汚れ」である（「レンズ汚れ」ではない）と判定され（Ｓ４）、処理を終了する。
【００３２】
一方、図４に示すように、測定されたディスク表面の反射光量が、履歴から得られるディスク表面の反射光量のパターン（経時減少パターン）から予測される光量レベル範囲内である場合には、「レンズ汚れ」であると判定される（Ｓ４）。その場合、不揮発性メモリ１１の履歴を更新した後（Ｓ５）、測定されたディスク表面の反射光量を初期値（製造時のディスク表面の反射光量）と比較し（Ｓ６）、その比較結果に応じて補正量を決定する（Ｓ７）。
【００３３】
例えば、測定されたディスク表面の反射光量が、初期値に対して５０％以上かつ１００％以下の光量レベルの範囲内である場合には、パワー補正制御の補正量を０％に決定する。また、測定されたディスク表面の反射光量が、初期値に対して２５％以上かつ５０％未満以下の光量レベルの範囲内である場合には、パワー補正制御の補正量を１０％に決定する。また、また、測定されたディスク表面の反射光量が、初期値に対して０％以上かつ２５％未満以下の光量レベルの範囲内である場合には、パワー補正制御の補正量を２０％に決定する。そして、このようにして決定された補正量を用いて、レーザーの出力を大きくするパワー補正制御が行われる（Ｓ８）。
【００３４】
このような本発明の実施の形態の光ディスク装置１によれば、対物レンズ６の汚れを除去するための専用の装置を設けることなく、対物レンズ６の汚れに対する耐性を向上することができる。
【００３５】
すなわち、本実施の形態では、レーザーの光軸方向に沿って対物レンズ６を移動させたときの光量レベルの変化から、対物レンズ６の焦点が光ディスク３のディスク表面に位置しているときの光量レベルである表面反射光量レベルが求められる（図２および図３参照）。表面反射光量レベル（ディスク表面の反射光量）は、光ディスク３の記録面の反射光量に比べて、光ディスク３の種類によるばらつきが小さいため、対物レンズ６が汚れているか否かの指標として用いるのに適している。
【００３６】
本実施の形態では、表面反射光量レベルの経時減少パターンに基づいて、対物レンズ６が汚れているか否かの判定を適切に行うことができ、対物レンズ６が汚れていると判定された場合に、レーザーの出力を大きくするパワー補正制御が行われる。これにより、対物レンズ６が汚れているときに（すなわち、必要なときに）、光ディスク３の読み取り性能を向上させることができる。この場合、従来のように対物レンズ６の汚れを除去するための専用の装置を、光ディスク装置１の内部に別途設ける必要がない。
【００３７】
また、本実施の形態では、図４に示すように、表面反射光量レベルが、所定の基準レベル以下であり、かつ、経時減少パターンから予測される光量レベル範囲内であるときには、対物レンズ６が汚れていると判定される。一方、図５に示すように、表面反射光量レベルが、経時減少パターンから予測される光量レベル範囲外であるときには、対物レンズ６が汚れているのではない（光ディスク３が汚れている）と判定される。このように、本実施の形態によれば、表面反射光量レベルの経時減少パターンに基づいて、対物レンズ６が汚れているか否かの判定を適切に行うことができる。
【００３８】
また、本実施の形態では、表面反射光量レベルの減少度合い（対物レンズ６の汚れの度合い）に応じて、段階的にレーザーの出力を大きくするパワー補正制御が行われる。これにより、光ディスク３の読み取り性能を適切に向上させることができる。
【００３９】
以上、本発明の実施の形態を例示により説明したが、本発明の範囲はこれらに限定されるものではなく、請求項に記載された範囲内において目的に応じて変更・変形することが可能である。
【００４０】
例えば、以上の説明では、本発明の光ディスク装置が、車載型のＢＤ用の光ディスク装置である例について説明したが、本発明の範囲は、車載型の光ディスク装置に限定されるものではなく、例えば、室内で用いられる家庭用の光ディスク装置も含まれる。また、本発明の範囲は、ＢＤ用の光ディスク装置に限られるものではなく、例えば、ＣＤ用やＤＶＤ用の光ディスク装置も含まれる。
【産業上の利用可能性】
【００４１】
以上のように、本発明にかかる光ディスク装置は、対物レンズの汚れを除去するための専用の装置を設けることなく、対物レンズの汚れに対する耐性を向上させることができるという効果を有し、例えば、車載型のＢＤ用の光ディスク装置等として有用である。
【符号の説明】
【００４２】
１ 光ディスク装置
２ レーザー部
３ 光ディスク
４ 受光部
５ 光ピックアップ部
６ 対物レンズ
７ レンズアクチュエータ部
８ フォーカス制御部
９ 光量検出部
１０ 表面反射光判定部
１１ 不揮発性メモリ
１２ 汚れ判定部
１３ レーザー制御部
１４ 補正量決定部
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに記録された情報を読み取るためのレーザーを出射するレーザー部と、
前記光ディスクで反射された前記レーザーの反射光を受光する受光部と、
前記受光部で受光した前記レーザーの反射光の光量レベルを検出する光量検出部と、
前記レーザーの光軸方向に沿って対物レンズを移動させるフォーカス制御を行うフォーカス制御部と、
前記フォーカス制御が行われているときの前記レーザーの反射光の光量レベルの変化に基づいて、前記対物レンズの焦点が前記光ディスクのディスク表面に位置しているときの光量レベルである表面反射光量レベルを判定する表面反射光判定部と、
前記表面反射光量レベルの履歴から得られる経時減少パターンに基づいて、前記対物レンズが汚れているレンズ汚れ状態であるか否かの判定を行う汚れ判定部と、
前記対物レンズが汚れていると判定された場合に、前記レーザーの出力を大きくするパワー補正制御を行うレーザー制御部と、
を備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記汚れ判定部は、
前記表面反射光判定部から得られる表面反射光量レベルが、所定の基準レベル以下であり、かつ、前記表面反射光量レベルの履歴から得られる経時減少パターンから予測される光量レベル範囲内であるときには、前記レンズ汚れ状態であると判定し、
前記表面反射光判定部から得られる表面反射光量レベルが、前記表面反射光量レベルの履歴から得られる経時減少パターンから予測される光量レベル範囲外であるときには、前記レンズ汚れ状態でないと判定することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記レーザー制御部は、
前記表面反射光判定部から得られる表面反射光量レベルの減少度合いに応じて、段階的に前記レーザーの出力を大きくするパワー補正制御を行うことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
光ディスクに記録された情報を読み取るためのレーザーの出力を制御する方法であって、
前記レーザーの光軸方向に沿って対物レンズを移動させるフォーカス制御を行い、
前記フォーカス制御が行われているときの前記レーザーの反射光の光量レベルの変化に基づいて、前記対物レンズの焦点が前記光ディスクのディスク表面に位置しているときの光量レベルである表面反射光量レベルを判定し、
前記表面反射光量レベルの履歴から得られる経時減少パターンに基づいて、前記対物レンズが汚れているレンズ汚れ状態であるか否かの判定を行い、
前記対物レンズが汚れていると判定された場合に、前記レーザーの出力を大きくするパワー補正制御を行うことを特徴とするレーザー出力制御方法。
【請求項１】
光ディスクに記録された情報を読み取るためのレーザーを出射するレーザー部と、
前記光ディスクで反射された前記レーザーの反射光を受光する受光部と、
前記受光部で受光した前記レーザーの反射光の光量レベルを検出する光量検出部と、
前記レーザーの光軸方向に沿って対物レンズを移動させるフォーカス制御を行うフォーカス制御部と、
前記フォーカス制御が行われているときの前記レーザーの反射光の光量レベルの変化に基づいて、前記対物レンズの焦点が前記光ディスクのディスク表面に位置しているときの光量レベルである表面反射光量レベルを判定する表面反射光判定部と、
前記表面反射光量レベルの履歴から得られる経時減少パターンに基づいて、前記対物レンズが汚れているレンズ汚れ状態であるか否かの判定を行う汚れ判定部と、
前記対物レンズが汚れていると判定された場合に、前記レーザーの出力を大きくするパワー補正制御を行うレーザー制御部と、
を備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記汚れ判定部は、
前記表面反射光判定部から得られる表面反射光量レベルが、所定の基準レベル以下であり、かつ、前記表面反射光量レベルの履歴から得られる経時減少パターンから予測される光量レベル範囲内であるときには、前記レンズ汚れ状態であると判定し、
前記表面反射光判定部から得られる表面反射光量レベルが、前記表面反射光量レベルの履歴から得られる経時減少パターンから予測される光量レベル範囲外であるときには、前記レンズ汚れ状態でないと判定することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記レーザー制御部は、
前記表面反射光判定部から得られる表面反射光量レベルの減少度合いに応じて、段階的に前記レーザーの出力を大きくするパワー補正制御を行うことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
光ディスクに記録された情報を読み取るためのレーザーの出力を制御する方法であって、
前記レーザーの光軸方向に沿って対物レンズを移動させるフォーカス制御を行い、
前記フォーカス制御が行われているときの前記レーザーの反射光の光量レベルの変化に基づいて、前記対物レンズの焦点が前記光ディスクのディスク表面に位置しているときの光量レベルである表面反射光量レベルを判定し、
前記表面反射光量レベルの履歴から得られる経時減少パターンに基づいて、前記対物レンズが汚れているレンズ汚れ状態であるか否かの判定を行い、
前記対物レンズが汚れていると判定された場合に、前記レーザーの出力を大きくするパワー補正制御を行うことを特徴とするレーザー出力制御方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【公開番号】特開２０１２−１９０５０５（Ｐ２０１２−１９０５０５Ａ）
【公開日】平成２４年１０月４日（２０１２．１０．４）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−５２５８６（Ｐ２０１１−５２５８６）
【出願日】平成２３年３月１０日（２０１１．３．１０）
【出願人】（０００００５８２１）パナソニック株式会社 (73,050)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２４年１０月４日（２０１２．１０．４）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年３月１０日（２０１１．３．１０）
【出願人】（０００００５８２１）パナソニック株式会社 (73,050)
【Ｆターム（参考）】
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