説明

反射率検出のための一体型光モジュール

【課題】反射率検出のための小型の光センサを提供すること。
【解決手段】発光ダイオードから光を放射し、その光を非球面レンズを使用して集束させ、反射面を照らすことにより、表面からの反射光を検出する。反射面によって反射された光は非球面レンズを使用してコレクタレンズに集束される。発光ダイオードは非球面エミッタレンズの光軸からずらして配置され、フォトディテクタは非球面コレクタレンズの光軸からずらして配置される。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は概して光検出の分野に関する。特に、本発明は反射率検出のための光センサモジュールに関する。
【背景技術】
【0002】
反射率検出の例には、バーコード検出、エッジ検出、反射位置エンコーディングなどがある。バーコード技術は十分に確立された技術であり、コンピュータ化された種々の情報管理システムにおけるデータ記憶やデータ入力のための正確で簡便で安価な方法となっている。ラベルや記事の表面にあるバーコードを読み取る様々な光学走査システムが開発されている。一般にバーコードは、一連のライン(バー)と様々な幅の空白からなる。ラインの光反射特性はその間隔によって異なる。情報は幅の変化として符号化される。バーコードに記憶される最も一般的なデータタイプは、在庫管理、プロセス管理、配送管理、その他の資材管理に使用される物品識別情報である。これらの用途では、バーコードは製品番号、シリアル番号、符号化された物品の説明などを表わす場合がある。また、バーコードは、物品や取引に関する情報をコンピュータに正確に入力しなければならない場面でも使用される。
【0003】
光学スキャナはバーコードを検出し、そのバーコードを電気信号に変換するのに使用され、電気信号はその後、英数字文字としてデコードされる。
【0004】
バーコード読み取りのための走査システムは多数開発されている。そうした走査システムには例えば、レーザースキャナ、電荷結合素子(CCD)スキャナ、発光ダイオード(LED)とフォトダイオードを利用するスキャナなどがある。
【0005】
LEDバーコードスキャナは一般に、適当な電子部品及び焦点調節光学部品と共にパッケージングされたLEDとフォトダイオードからなる。光学素子は、LEDの光を製品バーコードの最小ライン幅以下の幅のスポットとして集束させる。そして、その反射光をフォトダイオードによって受け取り、フォトダイオードにおいて光の有無が検出される。
【0006】
LEDスキャナは小型且つ軽量に作成することができ、バーコード走査、エッジ検出及び位置決め、並びに光学タコメータといった、種々の用途に使用される。
【0007】
LEDは非常に広い開口角にわたって光を放射するため、放射光を狭い領域に集束させたい場合は、光学レンズが使用される。光センサでは、光を光ファイバに結合させるために、LEDと共に光学レンズが使用される。これらのレンズは、レンズの光軸上に配置されたLEDと共に使用される。
【0008】
また、光が照射された物体からの反射光をフォトダイオードに集束させる際にも、レンズが使用される。この場合も、これらのレンズは、レンズの光軸上に配置されたフォトダイオードと共に使用される。
【0009】
本発明に特有であると思われる新規な特徴は特許請求の範囲に記載している。ただし、本発明、並びに、使用の好ましい実施形態、及び本発明の更なる目的及び利点は、添付の図面を参照して例示的実施形態に関する下記の説明を読むことで明らかになるであろう。
【発明の開示】
【0010】
【発明を実施するための最良の形態】
【0011】
本発明は多数の異なる形の実施形態が可能であり、図面に記載し、本明細書で説明する実施形態は、幾つかの特定の実施形態である。本明細書の開示は、本発明の原理を例示するものであり、そこに本発明を図示説明する特定の実施形態に制限する意図は無い。下記の説明では、複数の図面における同じ部品、類似した部品、又は、対応する部品を説明する際に、同じ参照符号が使用される。
【0012】
図1は、従来技術の光検出システム100を示す概略図である。図1に示すように、発光ダイオード(LED)102から発せられた光は、第1のレンズ104を通過して反射面106に集束される。表面106から反射された光は第2のレンズ108を通過し、フォトディテクタ110によって受け取られ、そこで電気信号に変換される。フォトディテクタには例えば、フォトダイオードやフォトトランジスタが使用される。レンズ104及び108は傾きを有し、その結果、その光軸は機械軸112に対して傾斜している。LED102は、傾いたレンズ104の機械軸112上に配置される。フォトディテクタ110は、傾いたレンズ108の機械軸114上に配置される。
【0013】
図2は、本発明の一実施形態による光センサ200を示す概略図である。この実施形態では、LEDが非球面レンズに埋め込まれ、一体型光モジュールを形成している。フォトダイオードダイ又はフォトトランジスタダイも、非球面レンズに埋め込まれる。これが従来の光センサと大きく違う点であり、従来の光センサでは、LED並びに、フォトダイオード又はフォトトランジスタのために、更にレンズが必要となる。図2に示すように、発光ダイオード(LED)ダイ202から発せられた光は、非球面エミッタレンズ204を通過して、それらのレンズから指定された距離にある反射面206上の或る領域に集束される。反射面206から反射された光は、非球面コレクタレンズ208を通過して、フォトディテクタダイ210によって受け取られ、そこで電気信号に変換される。LEDダイ202は非球面エミッタレンズ204の光軸212からずらして配置される。また、フォトディテクタダイ210は非球面集光レンズ208の光軸からずらして配置される。レンズ204及び208に対するLEDダイ202及びフォトディテクタダイ210のこのような幾何配置によって、小型検出システムの製造が容易になる。
【0014】
LED及びフォトディテクタを光軸からずらして配置することにより、LEDと表面との間の光結合、及び、表面とフォトディテクタとの間の光結合を良好にすることができる。
【0015】
フォトディテクタが受け取る光の量は、エミッタによって照らされる表面の領域の光反射率によって決まる。
【0016】
LEDダイ202及びフォトディテクタダイ210が、レンズ204及び208の光軸からそれぞれずらして配置されるため、LEDダイ202からの光を表面206上に集束させたり、表面206からの光をフォトディテクタダイ210に対して集束させたりするのに、球面レンズは適していない。レンズ204及び208の形状は、レイトレーシングを利用した最適化プロセスにより、試験レンズ形状の性能を推定し、品質基準に応じて最終的なレンズ形状を選択することにより決定される。LEDダイ202から表面206へ向かう光線216と、表面206からフォトディテクタダイ210へ向かう光線216とが使用される。品質基準の一例は、レンズから所定の距離において生成されるスポットサイズである。他の品質基準としては、変調伝達関数がある。バーコードスキャナに使用する場合、エミッタレンズの形状は、バーコードパターンを解釈できるくらい小さなスポットサイズが得られるものでなければならない。本発明の一実施形態において、レンズは、0.5mm間隔のバーコードパターンを解釈できるように設計される。この実施形態では、LEDダイからのほとんどのエネルギーが、0.5mm幅以下のスポットに集束される。
【0017】
本発明の一実施形態において、レンズ204及び208の形状は光軸を中心として対称であり、実質的に楕円形の断面を有する。
【0018】
図3は、本発明の一実施形態による光センサモジュール300の断面図である。図3に示すように、光センサは基板又はプリント回路基板302上に取り付けられる。発光ダイオード半導体ダイ202はLEDカソードリードフレーム304によって支持され、ワイヤボンド306によりLEDアノードリードフレーム308に電気接続される。同様に、フォトディテクタ210はリードフレーム310によって支持され、ワイヤボンド312によりリードフレーム314に電気接続される。これらのリードフレームは基板302を貫通し、光センサモジュール300をメイン回路基板に取り付けるのを助ける働きをする場合がある。メイン回路基板は、発光ダイオードに電気駆動信号を供給し、フォトディテクタによって生成された電気信号を受信する回路を有する。エミッタレンズ204及びコレクタレンズ208の形成は、基板302をモールド器具の上に置き、エポキシのような封止材を流し込むことによってなされる。レンズの形成の他に、封止材は基板や取り付け部品の周り(輪郭)を充填する層316の形成にも使用される場合がある。発光ダイオードとフォトディテクタの間に光障壁を配置して、発光ダイオードからの光が真っ直ぐな経路に沿ってフォトダイオードに到達することを防止してもよい。
【0019】
図4は、本発明の一実施形態による光センサモジュールの製造方法を示すフロー図である。開始ブロック402の後、ブロック404において、1以上のLED半導体ダイ及びフォトディテクタ半導体ダイを基板又は回路基板に取り付ける。基板は複数のセンサユニットを支持することができ、複数のセンサモジュールをまとめて製造することができる。ブロック406において、基板と、そこに取り付けられた半導体ダイを共に、モールド器具上に配置する。モールド器具は、所定のレンズ間隔を有するエミッタレンズ及びコレクタレンズの形状を画定する転写モールドを有する。ブロック408において、モールドに透明な封止材を充填する。ブロック410において、封止材を適当な温度でキュアする。基板が複数のセンサユニットを支持している場合、ブロック412において、例えば切断によりセンサユニットを分離する。ブロック414において、分離されたセンサユニットを指定された温度でポストキュアする。ブロック416において、センサユニットが正しい動作をするか否か、試験をしてもよい。ブロック418において処理は終了する。
【0020】
以下に、本発明の例示的実施形態を列挙する。
1.光軸を有する非球面エミッタレンズと、
前記非球面エミッタレンズを照らすように配置され、前記非球面エミッタレンズの光軸からずらして配置された発光ダイオードダイと、
光軸を有する非球面コレクタレンズと、
前記非球面コレクタレンズから光を受け取るように配置され、前記非球面コレクタレンズの光軸からずらして配置されたフォトディテクタダイと
を含む光センサモジュールであって、前記非球面エミッタレンズは、前記発光ダイオードダイからの光を前記発光ダイオードダイから指定された距離における指定された直径内に集束させ、前記非球面コレクタレンズは、前記フォトディテクタダイの外側で受け取った光を前記フォトディテクタダイの指定された直径内に集束させる、光センサモジュール。
2.前記非球面エミッタレンズは前記非球面コレクタレンズの直ぐ近くに配置され、前記非球面エミッタレンズの光軸は前記非球面コレクタレンズの光軸に対して平行である、1に記載の光センサモジュール。
3.前記発光ダイオードダイは前記非球面エミッタレンズに埋め込まれる、1に記載の光センサモジュール。
4.前記フォトディテクタダイは前記非球面コレクタレンズに埋め込まれる、1に記載の光センサモジュール。
5.前記非球面エミッタレンズと前記非球面コレクタレンズのうちの少なくとも一方は実質的に楕円形の断面を有する、1に記載の光センサモジュール。
6.前記発光ダイオードダイに電気駆動信号を供給し、前記フォトディテクタダイによって生成された電気信号を受信する電気回路を更に含む、1に記載の光センサモジュール。
7.ハウジングの中に取り付けられた6に記載の光センサモジュールを含む、バーコードスキャナ。
8.基板を更に含み、前記発光ダイオードダイ及び前記フォトディテクタダイは前記基板上に取り付けられ、前記エミッタレンズ及び前記コレクタレンズは前記基板上に形成される、1に記載の光センサモジュール。
9.前記発光ダイオードダイと前記フォトディテクタダイの間に配置された光障壁を更に含み、前記光障壁のサイズは、前記発光ダイオードダイからの光が真っ直ぐな光路に沿って前記フォトディテクタダイに到達することを防止するサイズである、8に記載の光センサモジュール。
10.前記発光ダイオードダイは赤外線を発する、1に記載の光センサモジュール。
11.前記発光ダイオードダイは可視光線を発する、1に記載の光センサモジュール。
12.光センサモジュールの製造方法であって、
発光ダイオードダイを基板に取り付けるステップと、
フォトディテクタダイを前記基板に取り付けるステップと、
前記発光ダイオードダイの上に非球面エミッタレンズを成形し、前記フォトディテクタダイの上に非球面コレクタレンズを成形するステップと
を含み、前記発光ダイオードダイは前記エミッタレンズの光軸からずらして配置され、前記フォトディテクタダイは前記コレクタレンズの光軸からずらして配置される、光センサモジュールの製造方法。
13.前記エミッタレンズの光軸は前記コレクタレンズの光軸に対して平行である、12に記載の製造方法。
14.前記発光ダイオードダイの上に非球面エミッタレンズを成形し、前記フォトディテクタダイの上に非球面コレクタレンズを成形するステップは、
転写モールドを有するモールド器具の上に基板を配置するステップと、
前記モールドに封止材を注入し、前記モールドと前記基板との間を充填するステップと、
前記封止材をキュアするステップと
を含む、12に記載の製造方法。
15.前記封止材はエポキシである、14に記載の製造方法。
16.光センサモジュールの製造方法であって、
複数の発光ダイオードを基板に取り付けるステップと、
複数のフォトディテクタのそれぞれを前記複数の発光ダイオードのそれぞれの近くに位置決めし、複数のセンサユニットが形成されるように、複数のフォトディテクタを前記基板に取り付けるステップと、
前記複数の発光ダイオードのそれぞれの上に非球面エミッタレンズを成形し、前記複数のフォトディテクタのそれぞれの上に非球面コレクタレンズを成形するステップと、
前記複数のセンサユニットから1つのセンサユニットを分離し、光センサモジュールを形成するステップと
を含み、各発光ダイオードは、その発光ダイオードの上にある前記非球面エミッタレンズの光軸からずらして配置され、各フォトディテクタは、そのフォトディテクタの上にある前記非球面コレクタレンズの光軸からずらして配置される、製造方法。
17.前記光センサモジュールの動作を試験するステップを更に含む、16に記載の製造方法。
18.表面の光反射率を検出する方法であって、
発光ダイオードから光を放射するステップと、
前記発光ダイオードから放射された光を第1の非球面レンズを使用して集束させ、前記表面を照らすステップと、
前記表面で反射された光の一部を第2の非球面レンズを使用してフォトディテクタに対して集束させるステップと
を含み、前記発光ダイオードは前記第1の非球面レンズの光軸からずらして配置され、前記フォトディテクタは前記第2の非球面レンズの光軸からずらして配置される、方法。
19.前記第1の非球面レンズと前記第2の非球面レンズのうちの少なくとも一方は実質的に楕円形の断面を有する、17に記載の方法。
20.前記第1の非球面レンズ及び前記第2の非球面レンズを前記表面から所定の距離に配置し、前記発光ダイオードからの光を前記表面に集束させるステップを更に含む、17に記載の方法。
【0021】
ここまで本発明をその好ましい実施形態について説明してきたが、本発明の思想や範囲から外れることなく、実施形態やその細部に変更を施すことも可能であることは、当業者には明らかであろう。従って出願人は、そうした変形形態、修正形態及び改変形態も、特許請求の範囲に記載した本発明の範囲に含めることを意図している。
【図面の簡単な説明】
【0022】
【図1】従来技術による光センサを示す概略図である。
【図2】本発明の一実施形態による光センサを示す概略図である。
【図3】本発明の一実施形態による光センサモジュールの断面図である。
【図4】本発明の一実施形態による光センサモジュールの製造方法を示すフロー図である。

【特許請求の範囲】
【請求項1】
光軸を有する非球面エミッタレンズと、
前記非球面エミッタレンズを照らすように配置され、前記非球面エミッタレンズの光軸からずらして配置された発光ダイオードダイと、
光軸を有する非球面コレクタレンズと、
前記非球面コレクタレンズから光を受け取るように配置され、前記非球面コレクタレンズの光軸からずらして配置されたフォトディテクタダイと
を含む光センサモジュールであって、前記非球面エミッタレンズは、前記発光ダイオードダイからの光を前記発光ダイオードダイから指定された距離における指定された直径内に集束させ、前記非球面コレクタレンズは、前記フォトディテクタダイの外側で受け取った光を前記フォトディテクタダイの指定された直径内に集束させる、光センサモジュール。
【請求項2】
前記非球面エミッタレンズは前記非球面コレクタレンズの直ぐ近くに配置され、前記非球面エミッタレンズの光軸は前記非球面コレクタレンズの光軸に対して平行である、請求項1に記載の光センサモジュール。
【請求項3】
前記発光ダイオードダイは前記非球面エミッタレンズに埋め込まれる、請求項1に記載の光センサモジュール。
【請求項4】
前記フォトディテクタダイは前記非球面コレクタレンズに埋め込まれる、請求項1に記載の光センサモジュール。
【請求項5】
前記非球面エミッタレンズと前記非球面コレクタレンズのうちの少なくとも一方は実質的に楕円形の断面を有する、請求項1に記載の光センサモジュール。
【請求項6】
前記発光ダイオードダイに電気駆動信号を供給し、前記フォトディテクタダイによって生成された電気信号を受信する電気回路を更に含む、請求項1に記載の光センサモジュール。
【請求項7】
ハウジングの中に取り付けられた請求項6に記載の光センサモジュールを含む、バーコードスキャナ。
【請求項8】
基板を更に含み、前記発光ダイオードダイ及び前記フォトディテクタダイは前記基板上に取り付けられ、前記エミッタレンズ及び前記コレクタレンズは前記基板上に形成される、請求項1に記載の光センサモジュール。
【請求項9】
前記発光ダイオードダイと前記フォトディテクタダイの間に配置された光障壁を更に含み、前記光障壁のサイズは、前記発光ダイオードダイからの光が真っ直ぐな光路に沿って前記フォトディテクタダイに到達することを防止するサイズである、請求項8に記載の光センサモジュール。
【請求項10】
前記発光ダイオードダイは赤外線を発する、請求項1に記載の光センサモジュール。
【請求項11】
前記発光ダイオードダイは可視光線を発する、請求項1に記載の光センサモジュール。
【請求項12】
光センサモジュールの製造方法であって、
発光ダイオードダイを基板に取り付けるステップと、
フォトディテクタダイを前記基板に取り付けるステップと、
前記発光ダイオードダイの上に非球面エミッタレンズを成形し、前記フォトディテクタダイの上に非球面コレクタレンズを成形するステップと
を含み、前記発光ダイオードダイは前記エミッタレンズの光軸からずらして配置され、前記フォトディテクタダイは前記コレクタレンズの光軸からずらして配置される、光センサモジュールの製造方法。
【請求項13】
前記エミッタレンズの光軸は前記コレクタレンズの光軸に対して平行である、請求項12に記載の製造方法。
【請求項14】
前記発光ダイオードダイの上に非球面エミッタレンズを成形し、前記フォトディテクタダイの上に非球面コレクタレンズを成形するステップは、
転写モールドを有するモールド器具の上に基板を配置するステップと、
前記モールドに封止材を注入し、前記モールドと前記基板との間を充填するステップと、
前記封止材をキュアするステップと
を含む、請求項12に記載の製造方法。
【請求項15】
前記封止材はエポキシである、請求項14に記載の製造方法。
【請求項16】
光センサモジュールの製造方法であって、
複数の発光ダイオードを基板に取り付けるステップと、
複数のフォトディテクタのそれぞれを前記複数の発光ダイオードのそれぞれの近くに位置決めし、複数のセンサユニットが形成されるように、複数のフォトディテクタを前記基板に取り付けるステップと、
前記複数の発光ダイオードのそれぞれの上に非球面エミッタレンズを成形し、前記複数のフォトディテクタのそれぞれの上に非球面コレクタレンズを成形するステップと、
前記複数のセンサユニットから1つのセンサユニットを分離し、光センサモジュールを形成するステップと
を含み、各発光ダイオードは、その発光ダイオードの上にある前記非球面エミッタレンズの光軸からずらして配置され、各フォトディテクタは、そのフォトディテクタの上にある前記非球面コレクタレンズの光軸からずらして配置される、製造方法。
【請求項17】
前記光センサモジュールの動作を試験するステップを更に含む、請求項16に記載の製造方法。
【請求項18】
表面の光反射率を検出する方法であって、
発光ダイオードから光を放射するステップと、
前記発光ダイオードから放射された光を第1の非球面レンズを使用して集束させ、前記表面を照らすステップと、
前記表面で反射された光の一部を第2の非球面レンズを使用してフォトディテクタに対して集束させるステップと
を含み、前記発光ダイオードは前記第1の非球面レンズの光軸からずらして配置され、前記フォトディテクタは前記第2の非球面レンズの光軸からずらして配置される、方法。
【請求項19】
前記第1の非球面レンズと前記第2の非球面レンズのうちの少なくとも一方は実質的に楕円形の断面を有する、請求項17に記載の方法。
【請求項20】
前記第1の非球面レンズ及び前記第2の非球面レンズを前記表面から所定の距離に配置し、前記発光ダイオードからの光を前記表面に集束させるステップを更に含む、請求項17に記載の方法。


【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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