自動分析装置のセル型治具、及び自動分析装置
【課題】自動分析装置の測定セル底面に対する分注プローブの垂直性を判定（評価）可能とし、プローブ調整精度を向上させる自動分析装置のセル型治具及び自動分析装置を提供すること。
【解決手段】液面検知手段及び障害物検知手段を備え且つサンプル或いは試薬を吸引及び吐出する分注プローブと、前記分注プローブを水平移動及び上下移動させる分注プローブ移動手段と、前記分注プローブ及び前記分注プローブ移動手段により、前記サンプルと前記試薬とをセル型反応容器に分注して混合した液を分析する自動分析装置のセル型治具100を次のように構成する。すなわち、セル型治具100を、前記セル型反応容器と同形状に構成し、且つその内底面には前記液面検知手段により検知される導電性材料で構成された底面検出領域100を設け、前記底面検出領域100以外の部位である衝突検出領域100Bは非導電性材料で構成する。
【解決手段】液面検知手段及び障害物検知手段を備え且つサンプル或いは試薬を吸引及び吐出する分注プローブと、前記分注プローブを水平移動及び上下移動させる分注プローブ移動手段と、前記分注プローブ及び前記分注プローブ移動手段により、前記サンプルと前記試薬とをセル型反応容器に分注して混合した液を分析する自動分析装置のセル型治具100を次のように構成する。すなわち、セル型治具100を、前記セル型反応容器と同形状に構成し、且つその内底面には前記液面検知手段により検知される導電性材料で構成された底面検出領域100を設け、前記底面検出領域100以外の部位である衝突検出領域100Bは非導電性材料で構成する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被検試料の成分を分析する自動分析装置のセル型治具及び自動分析装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、被検体から採取された被検試料と試薬とを反応容器に分注して混合した混合液について光の透過量を測定することで、混合液に生じる化学反応に起因する色調の変化を測定して、被検試料中の様々な成分（項目）の濃度や活性を測定する自動分析装置が知られている。
【０００３】
この自動分析装置によれば、被検試料毎に設定された分析条件に基づいて、検査に応じて選択された測定項目についての測定が行われる。具体的には、自動分析装置によれば、被検試料がサンプル分注プローブにより試料容器から反応容器に分注され、測定項目に該当する試薬は試薬分注プローブにより試薬ボトルから反応容器に分注され、反応容器に分注された被検試料及び試薬は撹拌子により混合された後に測定され、更に、被検試料及び試薬に接触したサンプル分注プローブ、試薬分注プローブ、混合液に接触した反応容器、及び撹拌子は洗浄された後に再び測定に使用される。
【０００４】
近年の自動分析装置においては、微量のサンプル及び試薬での測定を可能とする為に反応容器が小型化されている。また、微量のサンプルの吸引が可能なように小型化された試料容器や試薬ボトルが使用されている。このような小型化により、サンプルや試薬を吸引する為の試料容器や試薬ボトルの開口部、及びサンプルや試薬を吐出する為の反応容器の開口部は狭くなっている。
【０００５】
従って、サンプル分注プローブのサンプル吸引位置やサンプル吐出位置、試薬分注プローブの試薬吸引位置や試薬吐出位置などの各停止位置がずれた場合には、分注精度が低下して分析データに悪影響を与えてしまう。
【０００６】
ところで、このような自動分析装置に関する技術として、例えば特許文献１に次のような技術が開示されている。
【０００７】
すなわち、特許文献１に開示されている自動分析装置では、位置設定部は、各分注プローブの各停止位置の下方に中心面を合わせて配置した治具の上方に，第ｐ及び第（ｐ＋１）ポイントの調整位置を設定し、各分注プローブを第ｐ及び第（ｐ＋１）の調整位置に水平移動させた後に，各液面検出器により検出される第ｐ及び第（ｐ＋１）の検出位置まで下移動させて、第ｐ及び第（ｐ＋１）ポイントの調整位置と第ｐ及び第（ｐ＋１）の検出位置の間の距離に対応する第ｐ及び第（ｐ＋１）の下移動距離データを生成し、生成した第ｐ及び第（ｐ＋１）の下移動距離データに基づいて、第ｐ及び第（ｐ＋１）の検出位置を判断する。これにより、分注プローブの停止位置を短時間で定めることができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開２００７−２８５９５７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
ところで、従来の自動分析装置におけるプローブ調整機能では、自動分析装置の測定セル底面に対する分注プローブの垂直性を判定（評価）することができない。この為、分注プローブの垂直性が良好でない場合（測定セル側面に対して或る程度傾いている場合）、分注プローブが測定セル側面に対して接触（衝突）してしまう可能性を排除しきれない。換言すれば、従来の自動分析装置におけるプローブ調整機能は、その調整精度が充分であるとは言い難い。
【００１０】
本発明は、前記の事情に鑑みて為されたものであり、自動分析装置の測定セル底面に対する分注プローブの垂直性を判定（評価）可能とし、プローブ調整精度を向上させる自動分析装置のセル型治具及び自動分析装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
前記の目的を達成するために、請求項１に記載の本発明による自動分析装置のセル型治具は、
液面検知手段及び障害物検知手段を備え、サンプル或いは試薬を吸引及び吐出する分注プローブと、前記分注プローブを水平移動及び上下移動させる分注プローブ移動手段と、を具備し、前記分注プローブ及び前記分注プローブ移動手段により、前記サンプルと前記試薬とをセル型反応容器に分注して混合した液を分析する自動分析装置のセル型治具であって、
前記セル型反応容器と同形状であり、その内底面には前記液面検知手段により検知される導電性材料で構成された底面検知領域を有し且つ前記底面検知領域以外の部位は非導電性材料で構成されていることを特徴とする。
【００１２】
前記の目的を達成するために、請求項２に記載の本発明による自動分析装置は、
サンプルと試薬とをセル型反応容器に分注して混合した液を分析する自動分析装置であって、
液面検知手段及び障害物検知手段を備え、サンプル或いは試薬を吸引及び吐出する分注プローブと、
前記分注プローブを水平移動及び上下移動させる分注プローブ移動手段と、
前記セル型反応容器と同形状を採り、その内底面には前記液面検知手段により検知される導電性材料で構成された底面検知領域を有し且つ前記底面検知領域以外の部位は非導電性材料で構成されているセル型治具と、
前記セル型治具の底面に対して略垂直を為す前記分注プローブを当該セル型治具の直上から下降させた場合に、前記分注プローブが当該セル型治具の内底面に接触するまでに要する駆動パルス数を記憶するパルス数記憶部と、
前記分注プローブを下降させた際に、当該セル型治具の内底面への接触が前記液面検知手段により検知されるまでに要した駆動パルス数を計測するパルス数計測部と、
前記パルス数記憶部により記憶された駆動パルス数と、前記パルス数計測部により計測された駆動パルス数と、に基づいて、当該セル型治具の底面に対する前記分注プローブの垂直性を判定する判定部と、
を具備することを特徴とする。
【００１３】
前記の目的を達成するために、請求項３に記載の本発明による自動分析装置のセル型治具は、
液面検知手段及び障害物検知手段を備え、サンプル或いは試薬を吸引及び吐出する分注プローブと、前記分注プローブを水平移動及び上下移動させる分注プローブ移動手段と、を具備し、前記分注プローブ及び前記分注プローブ移動手段により、前記サンプルと前記試薬とをセル型反応容器に分注して混合した液を分析する自動分析装置のセル型治具であって、
前記セル型反応容器と同形状であり、その内底面には非導電性材料で構成された底面検知領域を有し且つ前記底面検知領域以外の部位は前記液面検知手段により検知される導電性材料で構成されていることを特徴とする。
【００１４】
前記の目的を達成するために、請求項４に記載の本発明による自動分析装置は、
サンプルと試薬とをセル型反応容器に分注して混合した液を分析する自動分析装置であって、
液面検知手段及び障害物検知手段を備え、サンプル或いは試薬を吸引及び吐出する分注プローブと、
前記分注プローブを水平移動及び上下移動させる分注プローブ移動手段と、
前記セル型反応容器と同形状を採り、非導電性材料で構成された底面検知領域を内底面に有し且つ前記底面検知領域以外の部位は前記液面検知手段により検知される導電性材料で構成されているセル型治具と、
前記セル型治具の底面に対して略垂直を為す前記分注プローブを当該セル型治具の直上から下降させた場合に、前記分注プローブが当該セル型治具の内底面に接触するまでに要する駆動パルス数を記憶するパルス数記憶部と、
前記分注プローブを下降させた際に、当該セル型治具の内底面への接触が前記液面検知手段により検知されるまでの駆動パルス数を計測するパルス数計測部と、
前記パルス数記憶部により記憶された駆動パルス数と、前記パルス数計測部により計測された駆動パルス数と、に基づいて、当該セル型治具の内底面に対する前記分注プローブの垂直性を判定する判定部と、
を具備することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、自動分析装置の測定セル底面に対する分注プローブの垂直性を判定（評価）可能とし、プローブ調整精度を向上させる自動分析装置のセル型治具及び自動分析装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の一実施形態に係る自動分析装置のセル型治具を適用可能な自動分析装置の一構成例を示すブロック図。
【図２】分析部の詳細な一構成例を示す斜視図。
【図３】分析制御部の詳細な一構成例を示す図。
【図４】分析部のサンプル部と反応部の構成の一部を上から見た図。
【図５】分析部の試薬部と反応部の一部を上から見た図。
【図６】セル型治具の《構成例１》を示す図。
【図７】従来技術に係る自動分析装置における、測定セル側面等への分注プローブの衝突事故の一例を示す図。
【図８】本発明の一実施形態に係る自動分析装置のセル型治具または自動分析装置を用いることで、測定セル底面に対する垂直性が確保された分注プローブを示す図。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、図面を参照して本発明の実施形態を説明する。
【００１８】
図１は、本発明の一実施形態に係る自動分析装置のセル型治具を適用可能な自動分析装置の一構成例を示すブロック図である。自動分析装置１０１は、被検体から得られた被検試料やキャリブレータなどのサンプルの測定を行う分析部１９と、分析部１９の測定動作の制御を行う分析制御部３０と、分析部１９の各ユニットを測定動作させるための位置を定める位置設定部３５と、各ユニットの測定動作により分析部１９から出力されたキャリブレータ信号や分析信号を処理して分析データを算出する分析データ処理部４０と、分析データ処理部４０からのキャリブレーションテーブルや分析データを出力する出力部５０と、分析条件、各種コマンド信号などを入力する操作部６０と、分析制御部３０、位置設定部３５、分析データ処理部４０、及び出力部５０を統括して制御するシステム制御部７０と、を具備する。
【００１９】
前記分析部１９は、項目毎のキャリブレータや被検試料などのサンプルを取り扱うサンプル部２０と、サンプルと化学反応させるための試薬を取り扱う試薬部２１と、サンプルと試薬との混合液を取り扱う反応部２２と、を有する。
【００２０】
前記分析制御部３０は、分析部１９のサンプル部２０、試薬部２１、及び反応部２２を構成している各ユニットを駆動する各機構を備えた機構部３１と、機構部３１の各機構を制御する制御部３２と、を有する。
【００２１】
前記位置設定部３５は、分析部１９のサンプル部２０及び試薬部２１の各ユニットが測定動作して停止する停止位置を定める為に、調整位置を設定する調整位置設定部３６と、調整位置設定部３６から出力される各ユニットを調整位置に応じた位置に移動させるための調整情報や分析制御部３０の制御部３２から出力される各ユニットの移動情報に基づいて、調整位置に応じた位置に移動した各ユニットの位置データを生成する位置データ生成部３７と、位置データ生成部３７で生成された位置データが保存される位置データ記憶部３８と、を有する。
【００２２】
前記分析データ処理部４０は、分析部１９から出力されたキャリブレータ信号、分析信号などからキャリブレーションテーブルの作成、分析データの算出などを行う演算部４１と、演算部４１で作成されたキャリブレーションテーブルや算出された分析データなどを保存する記憶部４２と、を有する。
【００２３】
前記演算部４１は、分析部１９から出力された各項目のキャリブレータ信号から各項目のキャリブレーショテーブルを作成して出力部５０に出力すると共に記憶部４２に保存する。また、演算部４１は、分析部１９から出力された各項目の分析信号に対して、その分析信号の項目に対応したキャリブレーションテーブルを記憶部４２から読み出した後、このキャリブレーションテーブルを用いて分析データを算出して出力部５０に出力すると共に記憶部４２に保存する。
【００２４】
前記記憶部４２は、ハードディスクなどを備え、演算部４１から出力されたキャリブレーションテーブル、分析データなどを被検試料毎に保存する。
【００２５】
前記出力部５０は、分析データ処理部４０から出力されたキャリブレーションテーブル、分析データなどを印刷出力する印刷部５１及び表示出力する表示部５２を備えている。そして、印刷部５１は、プリンタなどを備え、分析データ処理部４０から出力されたキャリブレーションテーブル、分析データなどを予め設定されたフォーマットに基づいて、プリンタ用紙に印刷出力する。また、表示部５２は、ＣＲＴや液晶パネルなどのモニタを備え、分析データ処理部４０から出力されたキャリブレーションテーブル、分析データなどの表示や、システム制御部７０からの指示により分析条件を設定するための画面などの表示を行う。
【００２６】
前記操作部６０は、キーボード、マウス、ボタン、タッチキーパネルなどの入力デバイスを備え、分析条件の設定、被検体の被検体ＩＤや被検体名などの被検体情報の入力、被検体の被検試料毎の測定項目の選択、各項目のキャリブレーション操作、被検試料分析操作などの様々な操作が行われる。
【００２７】
前記システム制御部７０は、図示しないＣＰＵと記憶回路とを備え、操作部６０から供給される操作者のコマンド信号、分析条件、被検体情報、被検試料毎の測定項目などの情報を記憶した後、これらの情報に基づいて、分析部１９を構成する各ユニットを一定サイクルの所定のシーケンスで測定動作させる制御、キャリブレーションテーブルの作成、分析データの算出と出力に関する制御などシステム全体の制御を行う。
【００２８】
以下、図２及び図３を参照して、分析部１９、分析制御部３０、及び位置設定部３５の詳細な一構成例を説明する。
【００２９】
図２は、分析部１９の詳細な一構成例を示す斜視図である。分析部１９のサンプル部２０は、キャリブレータ、被検試料などのサンプルが入った試料容器１７と、この試料容器１７を回動可能に保持するディスクサンプラ６と、ディスクサンプラ６の図示しないキャリブレータ吸引位置、被検試料吸引位置などのサンプル吸引位置の試料容器１７からサンプルを吸引して、反応部２２の図示しないサンプル吐出位置から吐出するサンプル分注プローブ１６と、図示しないサンプル分注プローブ洗浄位置の下方に位置し、サンプル分注プローブ１６を洗浄するプローブ洗浄槽１６ａと、を有する。
【００３０】
また、サンプル部２０は、サンプル吸引位置、サンプル吐出位置、及びサンプル分注プローブ洗浄位置の各停止位置へのサンプル分注プローブ１６の水平移動、及び各停止位置における上下移動を可能に保持するサンプル分注アーム１０と、試料容器１７内のサンプルの液面を検出する液面検出器１８ａと、を備えている。そして、液面検出器１８ａにより検出されたサンプルの検出信号は、分析制御部３０の制御部３２に出力される。
【００３１】
なお、サンプルの液面は、例えば特公平８−３３３２０号公報に報告されている原理を利用して検出される。液面検出器１８ａは、一端が導電性材料からなるサンプル分注プローブ１６に電気的に接続されたブリッジ回路を備えている。そして、サンプル分注プローブ１６とサンプルとの接触により、サンプルと接地電位間に生じる静電容量の変化を検出することによってサンプルの液面を検出している。
【００３２】
前記試薬部２１は、サンプルに対して選択的に反応する複数の第１試薬が入れられる試薬ボトル７ａと、この第１試薬と対で複数の第２試薬が入った試薬ボトル７ａ，７ｂと、試薬ボトル７ａを収納する試薬ラック１ａと、試薬ボトル７ａを収納した試薬ラック１ａを回動可能に保持する試薬庫２と、試薬ボトル７ｂを収納した試薬ラック１ｂを回動可能に保持する試薬庫３と、試薬庫２の図示しない第１試薬吸引位置の試薬ボトル７ａから第１試薬を吸引して、反応部２２の図示しない第１試薬吐出位置で吐出する第１試薬分注プローブ１４と、試薬庫３の図示しない第２試薬吸引位置の試薬ボトル７ｂから第２試薬を吸引して、反応部２２の図示しない第２試薬吐出位置で吐出する第２試薬分注プローブ１５と、を有する。
【００３３】
また、試薬部２１は、図示しない第１試薬分注プローブ洗浄位置の下方に位置し、第１試薬分注プローブ１４を洗浄するプローブ洗浄槽１４ａと、第１試薬吸引位置、第１試薬吐出位置、及び第１試薬分注プローブ洗浄位置の各停止位置への第１試薬分注プローブ１４の水平移動と、各停止位置における上下移動とを可能に保持する第１試薬分注アーム８と、図示しない第２試薬分注プローブ洗浄位置の下方に位置し、第２試薬分注プローブ１５を洗浄するプローブ洗浄槽１５ａと、第２試薬吸引位置、第２試薬吐出位置、及び第２試薬分注プローブ洗浄位置の各停止位置への第２試薬分注プローブ１５の水平移動と、各停止位置における上下移動とを可能に保持する第２試薬分注アーム９と、を有する。
【００３４】
また、試薬部２１は、試薬ボトル７ａ内の第１試薬の液面を、サンプルと同様の原理で第１試薬の液面を検出する液面検出器１８ｂと、試薬ボトル７ｂ内の第２試薬の液面を、サンプルと同様の原理で試薬の液面を検出する液面検出器１８ｃと、を備えている。そして、液面検出器１８ｂにより検出された第１試薬の検出信号及び液面検出器１８ｃにより検出された第２試薬の検出信号は、制御部３２に出力される。
【００３５】
前記反応部２２は、サンプル吐出位置のサンプル分注プローブ１６から吐出されたサンプルと、第１試薬吐出位置の第１試薬分注プローブ１４から吐出された第１試薬と、第２試薬吐出位置の第２試薬分注プローブ１５から吐出された第２試薬とを受入れる反応容器４と、円周上に配置された複数の反応容器４を回転可能に保持する反応ディスク５と、反応部２２の図示しない第１撹拌位置に停止した反応容器４内のサンプルと第１試薬との混合液を撹拌する撹拌子を上下移動可能に保持する撹拌ユニット１１ａと、反応部２２の図示しない第２撹拌位置に停止した反応容器４内のサンプルと第１試薬と第２試薬との混合液を撹拌する撹拌子を上下移動可能に保持する撹拌ユニット１１ｂと、を有する。
【００３６】
また、反応部２２は、図示しない測光位置における撹拌後の混合液の入った反応容器４に光を照射して、透過した光から設定波長における吸光度を測定する測光ユニット１３と、図示しない洗浄・乾燥位置に停止した反応容器４の測定を終えた混合液を吸引すると共に、反応容器４内を洗浄・乾燥する吸引ノズル、洗浄ノズル、及び乾燥ノズルを上下移動可能に保持する洗浄ユニット１２とを備えている。
【００３７】
そして、反応容器４は、混合液の測定終了毎に、洗浄ユニット１２によりその内側が洗浄・乾燥され、再び測定に使用される。測光ユニット１３は、吸光度測定により得た各項目のキャリブレータや被検試料のキャリブレータ信号や分析信号を分析データ処理部４０に出力する。
【００３８】
なお、図示はしていないが、本第１実施形態に係る自動分析装置は、従来の自動分析装置と同様に、各々の分注プローブについて、障害物検知手段（ガードセンサ）を具備していることは勿論である。
【００３９】
次に、図２乃至図５を参照して、サンプル分注プローブ１６、第１試薬分注プローブ１４、及び第２試薬分注プローブ１５の移動動作について説明する。
【００４０】
図３は、分析制御部３０の詳細な一構成例を示す図である。分析制御部３０の機構部３１は、分析部１９のサンプル分注アーム１０、第１試薬分注アーム８、及び第２試薬分注アーム９を各回動及び上下移動する移動機構３１ｓ，３１ｒ１，３１ｒ２を備えている。
【００４１】
また、機構部３１は、分析部１９のディスクサンプラ６、試薬庫２、及び試薬庫３を各回動する機構、反応ディスク５を回転する機構、撹拌ユニット１１ａ、撹拌ユニット１１ｂ、及び洗浄ユニット１２を各上下移動する機構、サンプル分注プローブ１６を介してサンプルの吸引及び吐出を行うサンプル分注ポンプを駆動する機構、第１及び第２試薬分注プローブ１４，１５を介して第１及び第２試薬の吸引及び吐出を行う試薬ポンプを各駆動する機構、各撹拌ユニット１１ａ，１１ｂの撹拌子を各駆動する機構、洗浄ユニット１２の吸引ノズルを介して反応容器４内の混合液の吸引を行う吸引ポンプ、洗浄ユニット１２の洗浄ノズルを介して反応容器４内の洗浄液による洗浄を行う洗浄ポンプを駆動する機構、洗浄ユニット１２の乾燥ノズルを介して洗浄後の反応容器４内の乾燥を行う乾燥ポンプを駆動する機構など図示しない様々な機構を備えている。
【００４２】
前記移動機構３１ｓは、サンプル分注アーム１０を回動する回動機構３１ｓｒと、回動方向の基準位置を検出する検出器３１ｓａと、サンプル分注アーム１０を上下移動する上下移動機構３１ｓｕと、上下移動方向の基準位置である上停止点を検出する検出器３１ｓｂとを備えている。
【００４３】
前記回動機構３１ｓｒは、サンプル分注アーム１０を回動駆動する動力源としてのモータ３１ｓｒｍを備えている。上下移動機構３１ｓｕは、サンプル分注アーム１０を上下駆動する動力源としてのモータ３１ｓｕｍを備えている。
【００４４】
移動機構３１ｒ１は、第１試薬分注アーム８を回動する回動機構３１ｒ１ｒと、回動方向の基準位置を検出する検出器３１ｒ１ａと、第１試薬分注アーム８を上下移動する上下移動機構３１ｒ１ｕと、上下移動方向の基準位置である上死点を検出する検出器３１ｒ１ｂと、を備えている。
【００４５】
移動機構３１ｒ２は、第２試薬分注アーム９を回動する回動機構３１ｒ２ｒと、回動方向の基準位置を検出する検出器３１ｒ２ａと、第２試薬分注アーム９を上下移動する上下移動機構３１ｒ２ｕと、上下移動方向の基準位置である上死点を検出する検出器３１ｒ２ｂと、を備えている。
【００４６】
回動機構３１ｒ１ｒは、第１試薬分注アーム８を回動駆動する動力源としてのモータ３１ｒ１ｒｍを備えている。上下移動機構３１ｒ１ｕは、第１試薬分注アーム８を上下駆動する動力源としてのモータ３１ｒ１ｕｍを備えている。
【００４７】
回動機構３１ｒ２ｒは、第２試薬分注アーム９を回動駆動する動力源としてのモータ３１ｒ２ｒｍを備えている。上下移動機構３１ｒ２ｕは、第２試薬分注アーム９を上下駆動する動力源としてのモータ３１ｒ２ｕｍを備えている。
【００４８】
各モータ３１ｓｒｍ，３１ｓｕｍ，３１ｒ１ｒｍ，３１ｒ１ｕｍ，３１ｒ２ｒｍ，３１ｒ２ｕｍには、ステップモータが用いられ、制御部３２から供給される駆動用のパルスにより制御される。サンプル分注プローブ１６、第１試薬分注プローブ１４、及び第２試薬分注プローブ１５の各分注プローブは、制御部３２から供給される１パルスを最小の移動距離とし、パルスの数に応じた距離を水平移動及び上下移動する。
【００４９】
各検出器３１ｓａ，３１ｓｂ，３１ｒ１ａ，３１ｒ１ｂ，３１ｒ２ａ，３１ｒ２ｂにより検出された各基準位置の信号は、制御部３２に出力される。
【００５０】
制御部３２は、サンプル分注アーム１０、第１試薬分注アーム８、及び第２試薬分注アーム９の各移動機構３１ｓ，３１ｒ１，３１ｒ２を制御する各制御部３２ｓ，３２ｒ１，３２ｒ２や、ディスクサンプラ６、試薬庫２、試薬庫３、反応ディスク５、撹拌ユニット１１ａ，１１ｂ、洗浄ユニット１２、サンプル分注ポンプ、試薬ポンプ、吸引ポンプ、洗浄ポンプ、乾燥ポンプなどの各機構を制御する図示しない制御部を備えている。
【００５１】
前記制御部３２ｓは、各モータ３１ｓｒｍ，３１ｓｕｍに各所定数のパルスを供給することにより、回動機構３１ｓｒ及び上下移動機構３１ｓｕを駆動してサンプル分注アーム１０を回動及び上下移動させる。この回動及び上下移動により、サンプル分注プローブ１６を水平移動及び上下移動させて各停止位置や各サンプル液面検出位置などに移動させる。
【００５２】
前記制御部３２ｒ１は、各モータ３１ｒ１ｒｍ，３１ｒ１ｕｍに各所定数のパルスを供給することにより、回動機構３１ｒ１ｒ及び上下移動機構３１ｒ１ｕを駆動させて第１試薬分注アーム８を回動及び上下移動させる。この回動及び上下移動により、第１試薬分注プローブ１４を水平移動及び上下移動させて各停止位置や第１試薬の検出位置などに移動させる。
【００５３】
前記制御部３２ｒ２は、各モータ３１ｒ２ｒｍ，３１ｒ２ｕｍに各所定数のパルスを供給することにより、回動機構３１ｒ２ｒ及び上下移動機構３１ｒ２ｕを駆動させて第２試薬分注アーム９を回動及び上下移動させる。この回動及び上下移動により、第２試薬分注プローブ１５を水平移動及び上下移動させて各停止位置や第２試薬の検出位置などに移動させる。
【００５４】
また、各制御部３２ｓ，３２ｒ１，３２ｒ２は、位置設定部３５の調整位置設定部３６からの調整情報に基づいて、各分注プローブを調整位置設定部３６により設定された各調整位置に水平移動させた後に、その調整位置から分析部１９の各液面検出器１８ａ，１８ｂ，１８ｃにより検出される検出位置まで下移動させる。そして、調整位置から検出位置まで下移動させるために、各モータ３１ｓｕｍ，３１ｒ１ｕｍ，３１ｒ２ｕｍに供給した各下降パルスの情報を位置設定部３５の位置データ生成部３７に出力する。
【００５５】
前記位置設定部３５は、分析部１９の各分注プローブにおける各停止位置の設定や、一旦設定した各停止位置を校正するために設けられている。
【００５６】
前記調整位置設定部３６は、分析部１９の各分注プローブの各停止位置を定めるために、各調整位置を設定し、各分注プローブをその調整位置に応じた位置に移動させるための各調整情報を分析制御部３０の制御部３２の各制御部３２ｓ，３２ｒ１，３２ｒ２及び位置データ生成部３７に出力する。
【００５７】
前記位置データ生成部３７は、調整位置設定部３６から出力される各調整情報及び各制御部３２ｓ，３２ｒ１，３２ｒ２から出力される各下降パルスの情報に基づいて、分析制御部３０の機構部３１の各検出器３１ｓａ，３１ｒ１ａ，３１ｒ２ａにより検出される基準位置と、各調整位置の間の距離に対応する水平移動パルスと、を水平移動距離データとし、各調整位置と分析部１９の各液面検出器１８ａ，１８ｂ，１８ｃで検出される検出位置の間の距離に対応する下降パルスを下移動距離データとして、各水平移動距離データと下移動距離データとにより構成される各検出位置の位置データを生成して位置データ記憶部３８に保存する。
【００５８】
前記調整位置設定部３６は、位置データ記憶部３８に保存された各検出位置の位置データの内の最新及び前回の位置データを読み出して、読み出した最新及び前回の位置データの下移動距離データを比較する。そして、最新及び前回の位置データの下移動距離データが異なる場合、最新及び前回の下移動距離データの大きい方のデータの調整位置から小さい方のデータの調整位置とは反対側の方向に微調整距離又は粗調整距離離れた位置に新たに調整位置を設定する。
【００５９】
図４は、分析部１９のサンプル部２０と反応部２２の構成の一部を上から見た図である。分析制御部３０の制御部３２における制御部３２ｓは、システム制御部７０からのキャリブレータ又は被検試料の測定指示や、システム制御部７０からのサンプル分注プローブ１６の位置設定指示により位置設定部３５から出力されるサンプル分注プローブ１６の調整情報に基づいて、分析制御部３０の機構部３１における移動機構３１ｓの回動機構３１ｓｒを制御して、サンプル分注プローブ１６を、図４の破線で示した円移動軌跡に沿って矢印Ｒ１及びＲ２方向に水平移動させる。
【００６０】
サンプル分注プローブ１６の測定時に停止する円移動軌跡上の停止位置には、移動機構３１ｓの検出器３１ｓａによって検出されるサンプル分注プローブ１６の基準位置９０からＲ１方向に円移動軌跡上の距離Ｄｓ１離れた位置にあるサンプル吐出位置Ａ、基準位置９０からＲ２方向に円移動軌跡上の所定距離離れた位置にある被検試料吸引位置Ｂ、被検試料吸引位置Ｂから更にＲ２方向に所定距離離れた位置にあるキャリブレータ吸引位置Ｃ、及びサンプル吐出位置Ａと被検試料吸引位置Ｂとの間にあって基準位置９０からＲ２方向に円移動軌跡上の所定距離離れた位置にあるサンプル分注プローブ洗浄位置Ｄがある。
【００６１】
また、サンプル分注プローブ１６は、サンプル吐出位置Ａ、被検試料吸引位置Ｂ及びキャリブレータ吸引位置Ｃ、及びサンプル分注プローブ洗浄位置Ｄの各下方に配置された反応容器４内、試料容器１７内、プローブ洗浄槽１６ａ内との間を上下移動する。
【００６２】
なお、基準位置９０は、サンプル分注プローブ１６の加工のばらつきやサンプル分注アーム１０の取り付け部の公差など装着の誤差要因が含まれないと仮定したときの位置であって、新たにサンプル分注プローブ１６を装着する毎に装着誤差要因の範囲で変動する。
【００６３】
そして、測定時に実行される１サイクル毎のサンプル分注動作で、サンプル分注プローブ１６は、例えばサンプル分注プローブ洗浄位置ＤからＲ２方向に水平移動しての被検試料吸引位置Ｂ又はキャリブレータ吸引位置Ｃで水平方向の移動を停止した後に、試料容器１７内の被検試料又はキャリブレータの液面検出位置まで下移動する。被検試料又はキャリブレータを吸引した後に、上停止点まで移動する。その後、Ｒ１方向に水平移動してのサンプル吐出位置Ａで水平方向の移動を停止した後に、反応容器４のサンプル吐出高さまで下移動する。サンプル吐出高さで被検試料又はキャリブレータを反応容器４に吐出した後に、上停止点まで移動する。その後、Ｒ２方向のサンプル分注プローブ洗浄位置Ｄまで水平移動する。そして、同一被検試料又はキャリブレータの分注動作終了毎に、プローブ洗浄槽１６ａに下移動して洗浄される。
【００６４】
図５は、分析部１９の試薬部２１と反応部２２の一部を上から見た図である。制御部３２の制御部３２ｒ２は、システム制御部７０からのキャリブレータ又は被検試料の測定指示や、システム制御部７０からの第２試薬分注プローブ１５の位置設定指示により位置設定部３５から出力される第２試薬分注プローブ１５の調整情報に基づいて、機構部３１の移動機構３１ｒ２の回動機構３１ｒ２ｒを制御して、図５の破線で示した円移動軌跡に沿って矢印Ｒ１及びＲ２方向に第２試薬分注プローブ１５を水平移動させる。
【００６５】
第２試薬分注プローブ１５の測定時に停止する円移動軌跡上の停止位置には、移動機構３１ｒ２の検出器３１ｒ２ａによって検出される第２試薬分注プローブ１５の基準位置９２からＲ２方向に円移動軌跡上の所定距離離れた位置にある第２試薬吐出位置Ｅ、基準位置９２からＲ１方向に円移動軌跡上の所定距離離れた位置にある第２試薬吸引位置Ｆ、及び第２試薬吐出位置Ｅと第２試薬吸引位置Ｆの間にあって基準位置９０からＲ１方向に円移動軌跡上の所定距離離れた位置にある第２試薬分注プローブ洗浄位置Ｇがある。
【００６６】
また、第２試薬分注プローブ１５は、第２試薬吐出位置Ｅ、第２試薬吸引位置Ｆ、及び第２試薬分注プローブ洗浄位置Ｇの下方に配置された反応容器４内、試薬ボトル７ｂ内、プローブ洗浄槽１５ａ内との間を上下移動する。
【００６７】
なお、基準位置９２は、第２試薬分注プローブ１５の加工のばらつきや第２試薬分注アーム９の取り付け部の公差など装着の誤差要因が含まれないと仮定したときの位置であって、新たに第２試薬分注プローブ１５を装着する毎に装着誤差要因の範囲で変動する。
【００６８】
そして、測定時に実行される１サイクル毎の第２試薬分注動作で、第２試薬分注プローブ１５は、例えば第２試薬分注プローブ洗浄位置ＧからＲ１方向に水平移動して第２試薬吸引位置Ｆで水平方向の移動を停止した後に、試薬ボトル７ｂ内の第２試薬の液面検出位置まで下移動する。第２試薬を吸引した後に、上停止点まで移動する。その後、Ｒ２方向に水平移動して第２試薬吐出位置Ｅで水平方向の移動を停止した後に、反応容器４に第２試薬を吐出する。第２試薬を反応容器４に吐出した後に、Ｒ１方向の第２試薬分注プローブ洗浄位置Ｇまで水平移動する。そして、プローブ洗浄槽１５ａに下移動して洗浄される。
【００６９】
なお、第１試薬分注プローブ１４についても、上述した第２試薬分注プローブ１５と同様、水平移動させた後に各停止位置で停止させ、その停止位置で上下移動させる。換言すれば、第１試薬分注動作は、第２試薬分注動作と同様のシーケンスで動作する。本一実施形態に係る自動分析装置のセル型治具は、各種分注プローブの上下移動の際に非常に重要な要素である分注プローブの垂直性を判定（評価）可能とするものである。
【００７０】
以下、本一実施形態に係る自動分析装置のセル型治具について、“構成”とその“作用・効果”を詳細に説明する。図６は本一実施形態に係るセル型治具の《構成例１》を示す図である。
【００７１】
〈構成について〉
《構成例１》
セル型治具１００は、上述した反応容器４と同形状に構成されている。
【００７２】
また、セル型治具１００は、その内底面には底面検出領域１００Ａが設けられている。この底面検出領域１００Ａは、導電性材料（液面検出器１８ａ，１８ｂ，１８ｃにより接触が検出される材料）で構成されている。一方、底面検出領域１００Ａ以外の部位は、非導電性材料（液面検出器１８ａ，１８ｂ，１８ｃにより接触が検出されない材料）で構成されている衝突検出領域１００Ｂである。
【００７３】
なお、底面検出領域１００Ａが設けられている位置及び大きさは、各種分注プローブがセル型治具１００の内底面に向かって下降された際に、その内底面において接触し得る領域を含む位置及び大きさである。
【００７４】
《構成例２》
《構成例１》との相違点のみを説明する。
【００７５】
《構成例２》に係るセル型治具１００では、前記底面検出領域１００Ａが非導電性材料（液面検出器１８ａ，１８ｂ，１８ｃにより接触が検出されない材料）により構成されている。一方、衝突検出領域１００Ｂは導電性材料（液面検出器１８ａ，１８ｂ，１８ｃにより接触が検出される材料）により構成されている。
【００７６】
〈作用・効果について〉
以下、サンプル分注プローブ１６についての垂直性を判定する場合を例に説明する。しかしながら、第１試薬分注プローブ１４，第２試薬分注プローブ１５についても同様の作用により同様の効果を得ることができるのは勿論である。
【００７７】
《構成例１に係るセル型治具１００を使用する場合》
前記制御部３２ｓによる制御で、各モータ３１ｓｒｍ，３１ｓｕｍに各所定数のパルスが供給され、回動機構３１ｓｒ及び上下移動機構３１ｓｕが駆動されてサンプル分注アーム１０が回動及び上下移動する。この回動及び上下移動により、サンプル分注プローブ１６は、前記セル型治具１００の直上からその内底面に向かって下降され、内底面に設けられた底面検出領域１００Ａに接触すると、液面検出器１８ａにより当該接触が検出される。
【００７８】
本例においては、サンプル分注プローブ１６を下降させる際に、液面検出器１８ａにより底面検出領域１００Ａへの接触が検出されるまでに要した下降パルス数を算出する。
【００７９】
他方、予め、サンプル分注プローブ１６の垂直性が良好な場合にサンプル分注プローブ１６がセル型治具１００の直上からその内底面に向かって下降されて底面検出領域１００Ａへ接触するまでに要するパルス数（以降、規定パルス数と称する）を、制御部３２が備える記憶手段（不図示）に記憶させておく。
【００８０】
そして、前記下降パルス数と前記規定パルス数とを比較することで、サンプル分注プローブ１６の垂直性を判定する。
【００８１】
もしサンプル分注プローブ１６の垂直性が良好でない場合には、接触が検出されるまでの下降パルス数と、規定パルス数と、の間に差が生じる。換言すれば、このパルス数差の大小に基づいて、サンプル分注プローブ１６の垂直性を判定することができる。当然ながら、パルス数差が小さい程、垂直性は良好である。
【００８２】
なお、サンプル分注プローブ１６の下降途中において、上述した障害物検知手段（ガードセンサ）により衝突検出領域１００Ｂへの衝突が検知された場合には、垂直性が大きく悪化している。従って、この場合には異常状態であるとしてエラー警告等を発生させてユーザに報知する。また、当然ながら当該下降動作を停止させる。
【００８３】
《構成例２に係るセル型治具１００を使用する場合》
前記制御部３２ｓによる制御で、各モータ３１ｓｒｍ，３１ｓｕｍに各所定数のパルスが供給され、回動機構３１ｓｒ及び上下移動機構３１ｓｕが駆動されてサンプル分注アーム１０が回動及び上下移動する。この回動及び上下移動により、サンプル分注プローブ１６が、前記セル型治具１００の内底面における底面検出領域１００Ａに接触すると、上述した障害物検知手段（ガードセンサ）により当該接触が検知される。
【００８４】
本例においては、サンプル分注プローブ１６を下降させる際に、サンプル分注プローブ１６が障害物検知手段（ガードセンサ）により接触が検出されるまでの下降パルス数を求める。
【００８５】
そして、この下降パルス数を、上述した規定パルス数と比較することで、サンプル分注プローブ１６の垂直性をチェックする。
【００８６】
もしサンプル分注プローブ１６の垂直性が良好でない場合には、接触が検出されるまでの下降パルス数と、規定パルス数（既知）と、の間に差が生じる。換言すれば、このパルス数差の大小に基づいて、サンプル分注プローブ１６の垂直性の良好性を判定することができる。当然ながら、前記パルス数差が小さい程、垂直性は良好である。
【００８７】
なお、サンプル分注プローブ１６の下降途中において、液面検出器１８ａにより衝突検出領域１００Ｂへの接触が検出された場合には、垂直性が大きく悪化している。従って、この場合には異常状態であるとしてエラー警告等を発生させてユーザに報知する。また、当然ながら当該下降動作を停止させる。
【００８８】
以上説明したように、本一実施形態によれば、自動分析装置の測定セル底面に対する分注プローブの垂直性を判定（評価）可能とし、プローブ調整精度を向上させる自動分析装置のセル型治具及び自動分析装置を提供することができる。
【００８９】
具体的には、従来の自動分析装置には、測定セル底面に対する分注プローブの垂直性を評価する手段が存在しない為、例えば図７に示すように、測定セル側面等への分注プローブの衝突事故が生じている。このような事情に鑑みて為された本一実施形態に係る自動分析装置のセル型治具または自動分析装置を用いれば、例えば図８に示すように測定セル底面に対する分注プローブの垂直性を確保することができる。
【００９０】
従って、上述した処理により判定（評価）した分注プローブの垂直性に基づいて、ユーザは適宜、当該分注プローブの垂直性を修正することが可能となる。
【００９１】
以上、一実施形態に基づいて本発明を説明したが、本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨の範囲内で、種々の変形及び応用が可能なことは勿論である。
【００９２】
さらに、上述した実施形態には種々の段階の発明が含まれており、開示した複数の構成要件の適当な組み合わせにより種々の発明が抽出され得る。例えば、実施形態に示す全構成要件からいくつかの構成要件が削除されても、発明が解決しようとする課題の欄で述べた課題が解決でき、発明の効果の欄で述べられている効果が得られる場合には、この構成要件が削除された構成も発明として抽出され得る。
【符号の説明】
【００９３】
１ａ，１ｂ…試薬ラック、 ２，３…試薬庫、 ４…反応容器、 ５…反応ディスク、 ６…ディスクサンプラ、 ７ａ，７ｂ…試薬ボトル、 ８，９…試薬分注アーム、 ８…第１試薬分注アーム、 ９…第２試薬分注アーム、 １０…サンプル分注アーム、 １１ａ，１１ｂ…撹拌ユニット、 １２…洗浄ユニット、 １３…測光ユニット、 １４ａ，１５ａ…プローブ洗浄槽、 １４…第１試薬分注プローブ、 １５…第２試薬分注プローブ、 １５ａ…プローブ洗浄槽、 １６…サンプル分注プローブ、 １６ａ…プローブ洗浄槽、 １７…試料容器、 １８ａ…液面検出器、 １８ｂ．１８ｃ…液面検出器、 １８ａ，１８ｂ…液面検出器、 １９…分析部、 ２０…サンプル部、 ２１…試薬部、 ２２…反応部、 ３０…分析制御部、 ３１…機構部、 ３１ｓ，３１ｒ１…移動機構、 ３１ｓ…移動機構、 ３１ｓｒ…回動機構、 ３１ｓａ…検出器、 ３１ｓｕ…上下移動機構、 ３１ｓｂ…検出器、 ３１ｓｒｍ…モータ、 ３１ｓｕｍ…モータ、 ３１ｒ１，３１ｒ２…移動機構、 ３１ｒ１ｒ，３１ｒ２ｒ…回動機構、 ３１ｒ１ａ，３１ｒ２ａ…検出器、 ３１ｒ１ｕ，３１ｒ２ｕ…上下移動機構、 ３１ｒ１ｂ，３１ｒ２ｂ…検出器、 ３１ｒ１ｒｍ，３１ｒ２ｒｍ…モータ、 ３１ｒ１ｕｍ，３１ｒ２ｕｍ…モータ、 ３１ｓｒｍ，３１ｓｕｍ…モータ、 ３１ｓａ，３１ｓｂ…検出器、 ３１ｒ１ｒｍ，３１ｒ１ｕｍ…モータ、 ３１ｓｕｍ，３１ｒ１ｕｍ…モータ、 ３１ｓａ，３１ｒ１ａ…検出器、 ３１ｒ２…移動機構、 ３１ｒ２ｒ…回動機構、 ３１ｒ２ａ…検出器、 ３２…制御部、 ３２ｓ，３２ｒ１…制御部、 ３２ｓ…制御部、 ３２ｒ１，３２ｒ２…制御部、 ３２ｒ２…制御部、 ３５…位置設定部、 ３６…調整位置設定部、 ３７…位置データ生成部、 ３８…位置データ記憶部、 ４０…分析データ処理部、 ４１…演算部、 ４２…記憶部、 ５０…出力部、 ５１…印刷部、 ５２…表示部、 ６０…操作部、 ７０…システム制御部、 １００…セル型治具、 １０１…自動分析装置、 １００Ａ…底面検出領域、 １００Ｂ…衝突検出領域。
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被検試料の成分を分析する自動分析装置のセル型治具及び自動分析装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、被検体から採取された被検試料と試薬とを反応容器に分注して混合した混合液について光の透過量を測定することで、混合液に生じる化学反応に起因する色調の変化を測定して、被検試料中の様々な成分（項目）の濃度や活性を測定する自動分析装置が知られている。
【０００３】
この自動分析装置によれば、被検試料毎に設定された分析条件に基づいて、検査に応じて選択された測定項目についての測定が行われる。具体的には、自動分析装置によれば、被検試料がサンプル分注プローブにより試料容器から反応容器に分注され、測定項目に該当する試薬は試薬分注プローブにより試薬ボトルから反応容器に分注され、反応容器に分注された被検試料及び試薬は撹拌子により混合された後に測定され、更に、被検試料及び試薬に接触したサンプル分注プローブ、試薬分注プローブ、混合液に接触した反応容器、及び撹拌子は洗浄された後に再び測定に使用される。
【０００４】
近年の自動分析装置においては、微量のサンプル及び試薬での測定を可能とする為に反応容器が小型化されている。また、微量のサンプルの吸引が可能なように小型化された試料容器や試薬ボトルが使用されている。このような小型化により、サンプルや試薬を吸引する為の試料容器や試薬ボトルの開口部、及びサンプルや試薬を吐出する為の反応容器の開口部は狭くなっている。
【０００５】
従って、サンプル分注プローブのサンプル吸引位置やサンプル吐出位置、試薬分注プローブの試薬吸引位置や試薬吐出位置などの各停止位置がずれた場合には、分注精度が低下して分析データに悪影響を与えてしまう。
【０００６】
ところで、このような自動分析装置に関する技術として、例えば特許文献１に次のような技術が開示されている。
【０００７】
すなわち、特許文献１に開示されている自動分析装置では、位置設定部は、各分注プローブの各停止位置の下方に中心面を合わせて配置した治具の上方に，第ｐ及び第（ｐ＋１）ポイントの調整位置を設定し、各分注プローブを第ｐ及び第（ｐ＋１）の調整位置に水平移動させた後に，各液面検出器により検出される第ｐ及び第（ｐ＋１）の検出位置まで下移動させて、第ｐ及び第（ｐ＋１）ポイントの調整位置と第ｐ及び第（ｐ＋１）の検出位置の間の距離に対応する第ｐ及び第（ｐ＋１）の下移動距離データを生成し、生成した第ｐ及び第（ｐ＋１）の下移動距離データに基づいて、第ｐ及び第（ｐ＋１）の検出位置を判断する。これにより、分注プローブの停止位置を短時間で定めることができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開２００７−２８５９５７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
ところで、従来の自動分析装置におけるプローブ調整機能では、自動分析装置の測定セル底面に対する分注プローブの垂直性を判定（評価）することができない。この為、分注プローブの垂直性が良好でない場合（測定セル側面に対して或る程度傾いている場合）、分注プローブが測定セル側面に対して接触（衝突）してしまう可能性を排除しきれない。換言すれば、従来の自動分析装置におけるプローブ調整機能は、その調整精度が充分であるとは言い難い。
【００１０】
本発明は、前記の事情に鑑みて為されたものであり、自動分析装置の測定セル底面に対する分注プローブの垂直性を判定（評価）可能とし、プローブ調整精度を向上させる自動分析装置のセル型治具及び自動分析装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
前記の目的を達成するために、請求項１に記載の本発明による自動分析装置のセル型治具は、
液面検知手段及び障害物検知手段を備え、サンプル或いは試薬を吸引及び吐出する分注プローブと、前記分注プローブを水平移動及び上下移動させる分注プローブ移動手段と、を具備し、前記分注プローブ及び前記分注プローブ移動手段により、前記サンプルと前記試薬とをセル型反応容器に分注して混合した液を分析する自動分析装置のセル型治具であって、
前記セル型反応容器と同形状であり、その内底面には前記液面検知手段により検知される導電性材料で構成された底面検知領域を有し且つ前記底面検知領域以外の部位は非導電性材料で構成されていることを特徴とする。
【００１２】
前記の目的を達成するために、請求項２に記載の本発明による自動分析装置は、
サンプルと試薬とをセル型反応容器に分注して混合した液を分析する自動分析装置であって、
液面検知手段及び障害物検知手段を備え、サンプル或いは試薬を吸引及び吐出する分注プローブと、
前記分注プローブを水平移動及び上下移動させる分注プローブ移動手段と、
前記セル型反応容器と同形状を採り、その内底面には前記液面検知手段により検知される導電性材料で構成された底面検知領域を有し且つ前記底面検知領域以外の部位は非導電性材料で構成されているセル型治具と、
前記セル型治具の底面に対して略垂直を為す前記分注プローブを当該セル型治具の直上から下降させた場合に、前記分注プローブが当該セル型治具の内底面に接触するまでに要する駆動パルス数を記憶するパルス数記憶部と、
前記分注プローブを下降させた際に、当該セル型治具の内底面への接触が前記液面検知手段により検知されるまでに要した駆動パルス数を計測するパルス数計測部と、
前記パルス数記憶部により記憶された駆動パルス数と、前記パルス数計測部により計測された駆動パルス数と、に基づいて、当該セル型治具の底面に対する前記分注プローブの垂直性を判定する判定部と、
を具備することを特徴とする。
【００１３】
前記の目的を達成するために、請求項３に記載の本発明による自動分析装置のセル型治具は、
液面検知手段及び障害物検知手段を備え、サンプル或いは試薬を吸引及び吐出する分注プローブと、前記分注プローブを水平移動及び上下移動させる分注プローブ移動手段と、を具備し、前記分注プローブ及び前記分注プローブ移動手段により、前記サンプルと前記試薬とをセル型反応容器に分注して混合した液を分析する自動分析装置のセル型治具であって、
前記セル型反応容器と同形状であり、その内底面には非導電性材料で構成された底面検知領域を有し且つ前記底面検知領域以外の部位は前記液面検知手段により検知される導電性材料で構成されていることを特徴とする。
【００１４】
前記の目的を達成するために、請求項４に記載の本発明による自動分析装置は、
サンプルと試薬とをセル型反応容器に分注して混合した液を分析する自動分析装置であって、
液面検知手段及び障害物検知手段を備え、サンプル或いは試薬を吸引及び吐出する分注プローブと、
前記分注プローブを水平移動及び上下移動させる分注プローブ移動手段と、
前記セル型反応容器と同形状を採り、非導電性材料で構成された底面検知領域を内底面に有し且つ前記底面検知領域以外の部位は前記液面検知手段により検知される導電性材料で構成されているセル型治具と、
前記セル型治具の底面に対して略垂直を為す前記分注プローブを当該セル型治具の直上から下降させた場合に、前記分注プローブが当該セル型治具の内底面に接触するまでに要する駆動パルス数を記憶するパルス数記憶部と、
前記分注プローブを下降させた際に、当該セル型治具の内底面への接触が前記液面検知手段により検知されるまでの駆動パルス数を計測するパルス数計測部と、
前記パルス数記憶部により記憶された駆動パルス数と、前記パルス数計測部により計測された駆動パルス数と、に基づいて、当該セル型治具の内底面に対する前記分注プローブの垂直性を判定する判定部と、
を具備することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、自動分析装置の測定セル底面に対する分注プローブの垂直性を判定（評価）可能とし、プローブ調整精度を向上させる自動分析装置のセル型治具及び自動分析装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の一実施形態に係る自動分析装置のセル型治具を適用可能な自動分析装置の一構成例を示すブロック図。
【図２】分析部の詳細な一構成例を示す斜視図。
【図３】分析制御部の詳細な一構成例を示す図。
【図４】分析部のサンプル部と反応部の構成の一部を上から見た図。
【図５】分析部の試薬部と反応部の一部を上から見た図。
【図６】セル型治具の《構成例１》を示す図。
【図７】従来技術に係る自動分析装置における、測定セル側面等への分注プローブの衝突事故の一例を示す図。
【図８】本発明の一実施形態に係る自動分析装置のセル型治具または自動分析装置を用いることで、測定セル底面に対する垂直性が確保された分注プローブを示す図。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、図面を参照して本発明の実施形態を説明する。
【００１８】
図１は、本発明の一実施形態に係る自動分析装置のセル型治具を適用可能な自動分析装置の一構成例を示すブロック図である。自動分析装置１０１は、被検体から得られた被検試料やキャリブレータなどのサンプルの測定を行う分析部１９と、分析部１９の測定動作の制御を行う分析制御部３０と、分析部１９の各ユニットを測定動作させるための位置を定める位置設定部３５と、各ユニットの測定動作により分析部１９から出力されたキャリブレータ信号や分析信号を処理して分析データを算出する分析データ処理部４０と、分析データ処理部４０からのキャリブレーションテーブルや分析データを出力する出力部５０と、分析条件、各種コマンド信号などを入力する操作部６０と、分析制御部３０、位置設定部３５、分析データ処理部４０、及び出力部５０を統括して制御するシステム制御部７０と、を具備する。
【００１９】
前記分析部１９は、項目毎のキャリブレータや被検試料などのサンプルを取り扱うサンプル部２０と、サンプルと化学反応させるための試薬を取り扱う試薬部２１と、サンプルと試薬との混合液を取り扱う反応部２２と、を有する。
【００２０】
前記分析制御部３０は、分析部１９のサンプル部２０、試薬部２１、及び反応部２２を構成している各ユニットを駆動する各機構を備えた機構部３１と、機構部３１の各機構を制御する制御部３２と、を有する。
【００２１】
前記位置設定部３５は、分析部１９のサンプル部２０及び試薬部２１の各ユニットが測定動作して停止する停止位置を定める為に、調整位置を設定する調整位置設定部３６と、調整位置設定部３６から出力される各ユニットを調整位置に応じた位置に移動させるための調整情報や分析制御部３０の制御部３２から出力される各ユニットの移動情報に基づいて、調整位置に応じた位置に移動した各ユニットの位置データを生成する位置データ生成部３７と、位置データ生成部３７で生成された位置データが保存される位置データ記憶部３８と、を有する。
【００２２】
前記分析データ処理部４０は、分析部１９から出力されたキャリブレータ信号、分析信号などからキャリブレーションテーブルの作成、分析データの算出などを行う演算部４１と、演算部４１で作成されたキャリブレーションテーブルや算出された分析データなどを保存する記憶部４２と、を有する。
【００２３】
前記演算部４１は、分析部１９から出力された各項目のキャリブレータ信号から各項目のキャリブレーショテーブルを作成して出力部５０に出力すると共に記憶部４２に保存する。また、演算部４１は、分析部１９から出力された各項目の分析信号に対して、その分析信号の項目に対応したキャリブレーションテーブルを記憶部４２から読み出した後、このキャリブレーションテーブルを用いて分析データを算出して出力部５０に出力すると共に記憶部４２に保存する。
【００２４】
前記記憶部４２は、ハードディスクなどを備え、演算部４１から出力されたキャリブレーションテーブル、分析データなどを被検試料毎に保存する。
【００２５】
前記出力部５０は、分析データ処理部４０から出力されたキャリブレーションテーブル、分析データなどを印刷出力する印刷部５１及び表示出力する表示部５２を備えている。そして、印刷部５１は、プリンタなどを備え、分析データ処理部４０から出力されたキャリブレーションテーブル、分析データなどを予め設定されたフォーマットに基づいて、プリンタ用紙に印刷出力する。また、表示部５２は、ＣＲＴや液晶パネルなどのモニタを備え、分析データ処理部４０から出力されたキャリブレーションテーブル、分析データなどの表示や、システム制御部７０からの指示により分析条件を設定するための画面などの表示を行う。
【００２６】
前記操作部６０は、キーボード、マウス、ボタン、タッチキーパネルなどの入力デバイスを備え、分析条件の設定、被検体の被検体ＩＤや被検体名などの被検体情報の入力、被検体の被検試料毎の測定項目の選択、各項目のキャリブレーション操作、被検試料分析操作などの様々な操作が行われる。
【００２７】
前記システム制御部７０は、図示しないＣＰＵと記憶回路とを備え、操作部６０から供給される操作者のコマンド信号、分析条件、被検体情報、被検試料毎の測定項目などの情報を記憶した後、これらの情報に基づいて、分析部１９を構成する各ユニットを一定サイクルの所定のシーケンスで測定動作させる制御、キャリブレーションテーブルの作成、分析データの算出と出力に関する制御などシステム全体の制御を行う。
【００２８】
以下、図２及び図３を参照して、分析部１９、分析制御部３０、及び位置設定部３５の詳細な一構成例を説明する。
【００２９】
図２は、分析部１９の詳細な一構成例を示す斜視図である。分析部１９のサンプル部２０は、キャリブレータ、被検試料などのサンプルが入った試料容器１７と、この試料容器１７を回動可能に保持するディスクサンプラ６と、ディスクサンプラ６の図示しないキャリブレータ吸引位置、被検試料吸引位置などのサンプル吸引位置の試料容器１７からサンプルを吸引して、反応部２２の図示しないサンプル吐出位置から吐出するサンプル分注プローブ１６と、図示しないサンプル分注プローブ洗浄位置の下方に位置し、サンプル分注プローブ１６を洗浄するプローブ洗浄槽１６ａと、を有する。
【００３０】
また、サンプル部２０は、サンプル吸引位置、サンプル吐出位置、及びサンプル分注プローブ洗浄位置の各停止位置へのサンプル分注プローブ１６の水平移動、及び各停止位置における上下移動を可能に保持するサンプル分注アーム１０と、試料容器１７内のサンプルの液面を検出する液面検出器１８ａと、を備えている。そして、液面検出器１８ａにより検出されたサンプルの検出信号は、分析制御部３０の制御部３２に出力される。
【００３１】
なお、サンプルの液面は、例えば特公平８−３３３２０号公報に報告されている原理を利用して検出される。液面検出器１８ａは、一端が導電性材料からなるサンプル分注プローブ１６に電気的に接続されたブリッジ回路を備えている。そして、サンプル分注プローブ１６とサンプルとの接触により、サンプルと接地電位間に生じる静電容量の変化を検出することによってサンプルの液面を検出している。
【００３２】
前記試薬部２１は、サンプルに対して選択的に反応する複数の第１試薬が入れられる試薬ボトル７ａと、この第１試薬と対で複数の第２試薬が入った試薬ボトル７ａ，７ｂと、試薬ボトル７ａを収納する試薬ラック１ａと、試薬ボトル７ａを収納した試薬ラック１ａを回動可能に保持する試薬庫２と、試薬ボトル７ｂを収納した試薬ラック１ｂを回動可能に保持する試薬庫３と、試薬庫２の図示しない第１試薬吸引位置の試薬ボトル７ａから第１試薬を吸引して、反応部２２の図示しない第１試薬吐出位置で吐出する第１試薬分注プローブ１４と、試薬庫３の図示しない第２試薬吸引位置の試薬ボトル７ｂから第２試薬を吸引して、反応部２２の図示しない第２試薬吐出位置で吐出する第２試薬分注プローブ１５と、を有する。
【００３３】
また、試薬部２１は、図示しない第１試薬分注プローブ洗浄位置の下方に位置し、第１試薬分注プローブ１４を洗浄するプローブ洗浄槽１４ａと、第１試薬吸引位置、第１試薬吐出位置、及び第１試薬分注プローブ洗浄位置の各停止位置への第１試薬分注プローブ１４の水平移動と、各停止位置における上下移動とを可能に保持する第１試薬分注アーム８と、図示しない第２試薬分注プローブ洗浄位置の下方に位置し、第２試薬分注プローブ１５を洗浄するプローブ洗浄槽１５ａと、第２試薬吸引位置、第２試薬吐出位置、及び第２試薬分注プローブ洗浄位置の各停止位置への第２試薬分注プローブ１５の水平移動と、各停止位置における上下移動とを可能に保持する第２試薬分注アーム９と、を有する。
【００３４】
また、試薬部２１は、試薬ボトル７ａ内の第１試薬の液面を、サンプルと同様の原理で第１試薬の液面を検出する液面検出器１８ｂと、試薬ボトル７ｂ内の第２試薬の液面を、サンプルと同様の原理で試薬の液面を検出する液面検出器１８ｃと、を備えている。そして、液面検出器１８ｂにより検出された第１試薬の検出信号及び液面検出器１８ｃにより検出された第２試薬の検出信号は、制御部３２に出力される。
【００３５】
前記反応部２２は、サンプル吐出位置のサンプル分注プローブ１６から吐出されたサンプルと、第１試薬吐出位置の第１試薬分注プローブ１４から吐出された第１試薬と、第２試薬吐出位置の第２試薬分注プローブ１５から吐出された第２試薬とを受入れる反応容器４と、円周上に配置された複数の反応容器４を回転可能に保持する反応ディスク５と、反応部２２の図示しない第１撹拌位置に停止した反応容器４内のサンプルと第１試薬との混合液を撹拌する撹拌子を上下移動可能に保持する撹拌ユニット１１ａと、反応部２２の図示しない第２撹拌位置に停止した反応容器４内のサンプルと第１試薬と第２試薬との混合液を撹拌する撹拌子を上下移動可能に保持する撹拌ユニット１１ｂと、を有する。
【００３６】
また、反応部２２は、図示しない測光位置における撹拌後の混合液の入った反応容器４に光を照射して、透過した光から設定波長における吸光度を測定する測光ユニット１３と、図示しない洗浄・乾燥位置に停止した反応容器４の測定を終えた混合液を吸引すると共に、反応容器４内を洗浄・乾燥する吸引ノズル、洗浄ノズル、及び乾燥ノズルを上下移動可能に保持する洗浄ユニット１２とを備えている。
【００３７】
そして、反応容器４は、混合液の測定終了毎に、洗浄ユニット１２によりその内側が洗浄・乾燥され、再び測定に使用される。測光ユニット１３は、吸光度測定により得た各項目のキャリブレータや被検試料のキャリブレータ信号や分析信号を分析データ処理部４０に出力する。
【００３８】
なお、図示はしていないが、本第１実施形態に係る自動分析装置は、従来の自動分析装置と同様に、各々の分注プローブについて、障害物検知手段（ガードセンサ）を具備していることは勿論である。
【００３９】
次に、図２乃至図５を参照して、サンプル分注プローブ１６、第１試薬分注プローブ１４、及び第２試薬分注プローブ１５の移動動作について説明する。
【００４０】
図３は、分析制御部３０の詳細な一構成例を示す図である。分析制御部３０の機構部３１は、分析部１９のサンプル分注アーム１０、第１試薬分注アーム８、及び第２試薬分注アーム９を各回動及び上下移動する移動機構３１ｓ，３１ｒ１，３１ｒ２を備えている。
【００４１】
また、機構部３１は、分析部１９のディスクサンプラ６、試薬庫２、及び試薬庫３を各回動する機構、反応ディスク５を回転する機構、撹拌ユニット１１ａ、撹拌ユニット１１ｂ、及び洗浄ユニット１２を各上下移動する機構、サンプル分注プローブ１６を介してサンプルの吸引及び吐出を行うサンプル分注ポンプを駆動する機構、第１及び第２試薬分注プローブ１４，１５を介して第１及び第２試薬の吸引及び吐出を行う試薬ポンプを各駆動する機構、各撹拌ユニット１１ａ，１１ｂの撹拌子を各駆動する機構、洗浄ユニット１２の吸引ノズルを介して反応容器４内の混合液の吸引を行う吸引ポンプ、洗浄ユニット１２の洗浄ノズルを介して反応容器４内の洗浄液による洗浄を行う洗浄ポンプを駆動する機構、洗浄ユニット１２の乾燥ノズルを介して洗浄後の反応容器４内の乾燥を行う乾燥ポンプを駆動する機構など図示しない様々な機構を備えている。
【００４２】
前記移動機構３１ｓは、サンプル分注アーム１０を回動する回動機構３１ｓｒと、回動方向の基準位置を検出する検出器３１ｓａと、サンプル分注アーム１０を上下移動する上下移動機構３１ｓｕと、上下移動方向の基準位置である上停止点を検出する検出器３１ｓｂとを備えている。
【００４３】
前記回動機構３１ｓｒは、サンプル分注アーム１０を回動駆動する動力源としてのモータ３１ｓｒｍを備えている。上下移動機構３１ｓｕは、サンプル分注アーム１０を上下駆動する動力源としてのモータ３１ｓｕｍを備えている。
【００４４】
移動機構３１ｒ１は、第１試薬分注アーム８を回動する回動機構３１ｒ１ｒと、回動方向の基準位置を検出する検出器３１ｒ１ａと、第１試薬分注アーム８を上下移動する上下移動機構３１ｒ１ｕと、上下移動方向の基準位置である上死点を検出する検出器３１ｒ１ｂと、を備えている。
【００４５】
移動機構３１ｒ２は、第２試薬分注アーム９を回動する回動機構３１ｒ２ｒと、回動方向の基準位置を検出する検出器３１ｒ２ａと、第２試薬分注アーム９を上下移動する上下移動機構３１ｒ２ｕと、上下移動方向の基準位置である上死点を検出する検出器３１ｒ２ｂと、を備えている。
【００４６】
回動機構３１ｒ１ｒは、第１試薬分注アーム８を回動駆動する動力源としてのモータ３１ｒ１ｒｍを備えている。上下移動機構３１ｒ１ｕは、第１試薬分注アーム８を上下駆動する動力源としてのモータ３１ｒ１ｕｍを備えている。
【００４７】
回動機構３１ｒ２ｒは、第２試薬分注アーム９を回動駆動する動力源としてのモータ３１ｒ２ｒｍを備えている。上下移動機構３１ｒ２ｕは、第２試薬分注アーム９を上下駆動する動力源としてのモータ３１ｒ２ｕｍを備えている。
【００４８】
各モータ３１ｓｒｍ，３１ｓｕｍ，３１ｒ１ｒｍ，３１ｒ１ｕｍ，３１ｒ２ｒｍ，３１ｒ２ｕｍには、ステップモータが用いられ、制御部３２から供給される駆動用のパルスにより制御される。サンプル分注プローブ１６、第１試薬分注プローブ１４、及び第２試薬分注プローブ１５の各分注プローブは、制御部３２から供給される１パルスを最小の移動距離とし、パルスの数に応じた距離を水平移動及び上下移動する。
【００４９】
各検出器３１ｓａ，３１ｓｂ，３１ｒ１ａ，３１ｒ１ｂ，３１ｒ２ａ，３１ｒ２ｂにより検出された各基準位置の信号は、制御部３２に出力される。
【００５０】
制御部３２は、サンプル分注アーム１０、第１試薬分注アーム８、及び第２試薬分注アーム９の各移動機構３１ｓ，３１ｒ１，３１ｒ２を制御する各制御部３２ｓ，３２ｒ１，３２ｒ２や、ディスクサンプラ６、試薬庫２、試薬庫３、反応ディスク５、撹拌ユニット１１ａ，１１ｂ、洗浄ユニット１２、サンプル分注ポンプ、試薬ポンプ、吸引ポンプ、洗浄ポンプ、乾燥ポンプなどの各機構を制御する図示しない制御部を備えている。
【００５１】
前記制御部３２ｓは、各モータ３１ｓｒｍ，３１ｓｕｍに各所定数のパルスを供給することにより、回動機構３１ｓｒ及び上下移動機構３１ｓｕを駆動してサンプル分注アーム１０を回動及び上下移動させる。この回動及び上下移動により、サンプル分注プローブ１６を水平移動及び上下移動させて各停止位置や各サンプル液面検出位置などに移動させる。
【００５２】
前記制御部３２ｒ１は、各モータ３１ｒ１ｒｍ，３１ｒ１ｕｍに各所定数のパルスを供給することにより、回動機構３１ｒ１ｒ及び上下移動機構３１ｒ１ｕを駆動させて第１試薬分注アーム８を回動及び上下移動させる。この回動及び上下移動により、第１試薬分注プローブ１４を水平移動及び上下移動させて各停止位置や第１試薬の検出位置などに移動させる。
【００５３】
前記制御部３２ｒ２は、各モータ３１ｒ２ｒｍ，３１ｒ２ｕｍに各所定数のパルスを供給することにより、回動機構３１ｒ２ｒ及び上下移動機構３１ｒ２ｕを駆動させて第２試薬分注アーム９を回動及び上下移動させる。この回動及び上下移動により、第２試薬分注プローブ１５を水平移動及び上下移動させて各停止位置や第２試薬の検出位置などに移動させる。
【００５４】
また、各制御部３２ｓ，３２ｒ１，３２ｒ２は、位置設定部３５の調整位置設定部３６からの調整情報に基づいて、各分注プローブを調整位置設定部３６により設定された各調整位置に水平移動させた後に、その調整位置から分析部１９の各液面検出器１８ａ，１８ｂ，１８ｃにより検出される検出位置まで下移動させる。そして、調整位置から検出位置まで下移動させるために、各モータ３１ｓｕｍ，３１ｒ１ｕｍ，３１ｒ２ｕｍに供給した各下降パルスの情報を位置設定部３５の位置データ生成部３７に出力する。
【００５５】
前記位置設定部３５は、分析部１９の各分注プローブにおける各停止位置の設定や、一旦設定した各停止位置を校正するために設けられている。
【００５６】
前記調整位置設定部３６は、分析部１９の各分注プローブの各停止位置を定めるために、各調整位置を設定し、各分注プローブをその調整位置に応じた位置に移動させるための各調整情報を分析制御部３０の制御部３２の各制御部３２ｓ，３２ｒ１，３２ｒ２及び位置データ生成部３７に出力する。
【００５７】
前記位置データ生成部３７は、調整位置設定部３６から出力される各調整情報及び各制御部３２ｓ，３２ｒ１，３２ｒ２から出力される各下降パルスの情報に基づいて、分析制御部３０の機構部３１の各検出器３１ｓａ，３１ｒ１ａ，３１ｒ２ａにより検出される基準位置と、各調整位置の間の距離に対応する水平移動パルスと、を水平移動距離データとし、各調整位置と分析部１９の各液面検出器１８ａ，１８ｂ，１８ｃで検出される検出位置の間の距離に対応する下降パルスを下移動距離データとして、各水平移動距離データと下移動距離データとにより構成される各検出位置の位置データを生成して位置データ記憶部３８に保存する。
【００５８】
前記調整位置設定部３６は、位置データ記憶部３８に保存された各検出位置の位置データの内の最新及び前回の位置データを読み出して、読み出した最新及び前回の位置データの下移動距離データを比較する。そして、最新及び前回の位置データの下移動距離データが異なる場合、最新及び前回の下移動距離データの大きい方のデータの調整位置から小さい方のデータの調整位置とは反対側の方向に微調整距離又は粗調整距離離れた位置に新たに調整位置を設定する。
【００５９】
図４は、分析部１９のサンプル部２０と反応部２２の構成の一部を上から見た図である。分析制御部３０の制御部３２における制御部３２ｓは、システム制御部７０からのキャリブレータ又は被検試料の測定指示や、システム制御部７０からのサンプル分注プローブ１６の位置設定指示により位置設定部３５から出力されるサンプル分注プローブ１６の調整情報に基づいて、分析制御部３０の機構部３１における移動機構３１ｓの回動機構３１ｓｒを制御して、サンプル分注プローブ１６を、図４の破線で示した円移動軌跡に沿って矢印Ｒ１及びＲ２方向に水平移動させる。
【００６０】
サンプル分注プローブ１６の測定時に停止する円移動軌跡上の停止位置には、移動機構３１ｓの検出器３１ｓａによって検出されるサンプル分注プローブ１６の基準位置９０からＲ１方向に円移動軌跡上の距離Ｄｓ１離れた位置にあるサンプル吐出位置Ａ、基準位置９０からＲ２方向に円移動軌跡上の所定距離離れた位置にある被検試料吸引位置Ｂ、被検試料吸引位置Ｂから更にＲ２方向に所定距離離れた位置にあるキャリブレータ吸引位置Ｃ、及びサンプル吐出位置Ａと被検試料吸引位置Ｂとの間にあって基準位置９０からＲ２方向に円移動軌跡上の所定距離離れた位置にあるサンプル分注プローブ洗浄位置Ｄがある。
【００６１】
また、サンプル分注プローブ１６は、サンプル吐出位置Ａ、被検試料吸引位置Ｂ及びキャリブレータ吸引位置Ｃ、及びサンプル分注プローブ洗浄位置Ｄの各下方に配置された反応容器４内、試料容器１７内、プローブ洗浄槽１６ａ内との間を上下移動する。
【００６２】
なお、基準位置９０は、サンプル分注プローブ１６の加工のばらつきやサンプル分注アーム１０の取り付け部の公差など装着の誤差要因が含まれないと仮定したときの位置であって、新たにサンプル分注プローブ１６を装着する毎に装着誤差要因の範囲で変動する。
【００６３】
そして、測定時に実行される１サイクル毎のサンプル分注動作で、サンプル分注プローブ１６は、例えばサンプル分注プローブ洗浄位置ＤからＲ２方向に水平移動しての被検試料吸引位置Ｂ又はキャリブレータ吸引位置Ｃで水平方向の移動を停止した後に、試料容器１７内の被検試料又はキャリブレータの液面検出位置まで下移動する。被検試料又はキャリブレータを吸引した後に、上停止点まで移動する。その後、Ｒ１方向に水平移動してのサンプル吐出位置Ａで水平方向の移動を停止した後に、反応容器４のサンプル吐出高さまで下移動する。サンプル吐出高さで被検試料又はキャリブレータを反応容器４に吐出した後に、上停止点まで移動する。その後、Ｒ２方向のサンプル分注プローブ洗浄位置Ｄまで水平移動する。そして、同一被検試料又はキャリブレータの分注動作終了毎に、プローブ洗浄槽１６ａに下移動して洗浄される。
【００６４】
図５は、分析部１９の試薬部２１と反応部２２の一部を上から見た図である。制御部３２の制御部３２ｒ２は、システム制御部７０からのキャリブレータ又は被検試料の測定指示や、システム制御部７０からの第２試薬分注プローブ１５の位置設定指示により位置設定部３５から出力される第２試薬分注プローブ１５の調整情報に基づいて、機構部３１の移動機構３１ｒ２の回動機構３１ｒ２ｒを制御して、図５の破線で示した円移動軌跡に沿って矢印Ｒ１及びＲ２方向に第２試薬分注プローブ１５を水平移動させる。
【００６５】
第２試薬分注プローブ１５の測定時に停止する円移動軌跡上の停止位置には、移動機構３１ｒ２の検出器３１ｒ２ａによって検出される第２試薬分注プローブ１５の基準位置９２からＲ２方向に円移動軌跡上の所定距離離れた位置にある第２試薬吐出位置Ｅ、基準位置９２からＲ１方向に円移動軌跡上の所定距離離れた位置にある第２試薬吸引位置Ｆ、及び第２試薬吐出位置Ｅと第２試薬吸引位置Ｆの間にあって基準位置９０からＲ１方向に円移動軌跡上の所定距離離れた位置にある第２試薬分注プローブ洗浄位置Ｇがある。
【００６６】
また、第２試薬分注プローブ１５は、第２試薬吐出位置Ｅ、第２試薬吸引位置Ｆ、及び第２試薬分注プローブ洗浄位置Ｇの下方に配置された反応容器４内、試薬ボトル７ｂ内、プローブ洗浄槽１５ａ内との間を上下移動する。
【００６７】
なお、基準位置９２は、第２試薬分注プローブ１５の加工のばらつきや第２試薬分注アーム９の取り付け部の公差など装着の誤差要因が含まれないと仮定したときの位置であって、新たに第２試薬分注プローブ１５を装着する毎に装着誤差要因の範囲で変動する。
【００６８】
そして、測定時に実行される１サイクル毎の第２試薬分注動作で、第２試薬分注プローブ１５は、例えば第２試薬分注プローブ洗浄位置ＧからＲ１方向に水平移動して第２試薬吸引位置Ｆで水平方向の移動を停止した後に、試薬ボトル７ｂ内の第２試薬の液面検出位置まで下移動する。第２試薬を吸引した後に、上停止点まで移動する。その後、Ｒ２方向に水平移動して第２試薬吐出位置Ｅで水平方向の移動を停止した後に、反応容器４に第２試薬を吐出する。第２試薬を反応容器４に吐出した後に、Ｒ１方向の第２試薬分注プローブ洗浄位置Ｇまで水平移動する。そして、プローブ洗浄槽１５ａに下移動して洗浄される。
【００６９】
なお、第１試薬分注プローブ１４についても、上述した第２試薬分注プローブ１５と同様、水平移動させた後に各停止位置で停止させ、その停止位置で上下移動させる。換言すれば、第１試薬分注動作は、第２試薬分注動作と同様のシーケンスで動作する。本一実施形態に係る自動分析装置のセル型治具は、各種分注プローブの上下移動の際に非常に重要な要素である分注プローブの垂直性を判定（評価）可能とするものである。
【００７０】
以下、本一実施形態に係る自動分析装置のセル型治具について、“構成”とその“作用・効果”を詳細に説明する。図６は本一実施形態に係るセル型治具の《構成例１》を示す図である。
【００７１】
〈構成について〉
《構成例１》
セル型治具１００は、上述した反応容器４と同形状に構成されている。
【００７２】
また、セル型治具１００は、その内底面には底面検出領域１００Ａが設けられている。この底面検出領域１００Ａは、導電性材料（液面検出器１８ａ，１８ｂ，１８ｃにより接触が検出される材料）で構成されている。一方、底面検出領域１００Ａ以外の部位は、非導電性材料（液面検出器１８ａ，１８ｂ，１８ｃにより接触が検出されない材料）で構成されている衝突検出領域１００Ｂである。
【００７３】
なお、底面検出領域１００Ａが設けられている位置及び大きさは、各種分注プローブがセル型治具１００の内底面に向かって下降された際に、その内底面において接触し得る領域を含む位置及び大きさである。
【００７４】
《構成例２》
《構成例１》との相違点のみを説明する。
【００７５】
《構成例２》に係るセル型治具１００では、前記底面検出領域１００Ａが非導電性材料（液面検出器１８ａ，１８ｂ，１８ｃにより接触が検出されない材料）により構成されている。一方、衝突検出領域１００Ｂは導電性材料（液面検出器１８ａ，１８ｂ，１８ｃにより接触が検出される材料）により構成されている。
【００７６】
〈作用・効果について〉
以下、サンプル分注プローブ１６についての垂直性を判定する場合を例に説明する。しかしながら、第１試薬分注プローブ１４，第２試薬分注プローブ１５についても同様の作用により同様の効果を得ることができるのは勿論である。
【００７７】
《構成例１に係るセル型治具１００を使用する場合》
前記制御部３２ｓによる制御で、各モータ３１ｓｒｍ，３１ｓｕｍに各所定数のパルスが供給され、回動機構３１ｓｒ及び上下移動機構３１ｓｕが駆動されてサンプル分注アーム１０が回動及び上下移動する。この回動及び上下移動により、サンプル分注プローブ１６は、前記セル型治具１００の直上からその内底面に向かって下降され、内底面に設けられた底面検出領域１００Ａに接触すると、液面検出器１８ａにより当該接触が検出される。
【００７８】
本例においては、サンプル分注プローブ１６を下降させる際に、液面検出器１８ａにより底面検出領域１００Ａへの接触が検出されるまでに要した下降パルス数を算出する。
【００７９】
他方、予め、サンプル分注プローブ１６の垂直性が良好な場合にサンプル分注プローブ１６がセル型治具１００の直上からその内底面に向かって下降されて底面検出領域１００Ａへ接触するまでに要するパルス数（以降、規定パルス数と称する）を、制御部３２が備える記憶手段（不図示）に記憶させておく。
【００８０】
そして、前記下降パルス数と前記規定パルス数とを比較することで、サンプル分注プローブ１６の垂直性を判定する。
【００８１】
もしサンプル分注プローブ１６の垂直性が良好でない場合には、接触が検出されるまでの下降パルス数と、規定パルス数と、の間に差が生じる。換言すれば、このパルス数差の大小に基づいて、サンプル分注プローブ１６の垂直性を判定することができる。当然ながら、パルス数差が小さい程、垂直性は良好である。
【００８２】
なお、サンプル分注プローブ１６の下降途中において、上述した障害物検知手段（ガードセンサ）により衝突検出領域１００Ｂへの衝突が検知された場合には、垂直性が大きく悪化している。従って、この場合には異常状態であるとしてエラー警告等を発生させてユーザに報知する。また、当然ながら当該下降動作を停止させる。
【００８３】
《構成例２に係るセル型治具１００を使用する場合》
前記制御部３２ｓによる制御で、各モータ３１ｓｒｍ，３１ｓｕｍに各所定数のパルスが供給され、回動機構３１ｓｒ及び上下移動機構３１ｓｕが駆動されてサンプル分注アーム１０が回動及び上下移動する。この回動及び上下移動により、サンプル分注プローブ１６が、前記セル型治具１００の内底面における底面検出領域１００Ａに接触すると、上述した障害物検知手段（ガードセンサ）により当該接触が検知される。
【００８４】
本例においては、サンプル分注プローブ１６を下降させる際に、サンプル分注プローブ１６が障害物検知手段（ガードセンサ）により接触が検出されるまでの下降パルス数を求める。
【００８５】
そして、この下降パルス数を、上述した規定パルス数と比較することで、サンプル分注プローブ１６の垂直性をチェックする。
【００８６】
もしサンプル分注プローブ１６の垂直性が良好でない場合には、接触が検出されるまでの下降パルス数と、規定パルス数（既知）と、の間に差が生じる。換言すれば、このパルス数差の大小に基づいて、サンプル分注プローブ１６の垂直性の良好性を判定することができる。当然ながら、前記パルス数差が小さい程、垂直性は良好である。
【００８７】
なお、サンプル分注プローブ１６の下降途中において、液面検出器１８ａにより衝突検出領域１００Ｂへの接触が検出された場合には、垂直性が大きく悪化している。従って、この場合には異常状態であるとしてエラー警告等を発生させてユーザに報知する。また、当然ながら当該下降動作を停止させる。
【００８８】
以上説明したように、本一実施形態によれば、自動分析装置の測定セル底面に対する分注プローブの垂直性を判定（評価）可能とし、プローブ調整精度を向上させる自動分析装置のセル型治具及び自動分析装置を提供することができる。
【００８９】
具体的には、従来の自動分析装置には、測定セル底面に対する分注プローブの垂直性を評価する手段が存在しない為、例えば図７に示すように、測定セル側面等への分注プローブの衝突事故が生じている。このような事情に鑑みて為された本一実施形態に係る自動分析装置のセル型治具または自動分析装置を用いれば、例えば図８に示すように測定セル底面に対する分注プローブの垂直性を確保することができる。
【００９０】
従って、上述した処理により判定（評価）した分注プローブの垂直性に基づいて、ユーザは適宜、当該分注プローブの垂直性を修正することが可能となる。
【００９１】
以上、一実施形態に基づいて本発明を説明したが、本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨の範囲内で、種々の変形及び応用が可能なことは勿論である。
【００９２】
さらに、上述した実施形態には種々の段階の発明が含まれており、開示した複数の構成要件の適当な組み合わせにより種々の発明が抽出され得る。例えば、実施形態に示す全構成要件からいくつかの構成要件が削除されても、発明が解決しようとする課題の欄で述べた課題が解決でき、発明の効果の欄で述べられている効果が得られる場合には、この構成要件が削除された構成も発明として抽出され得る。
【符号の説明】
【００９３】
１ａ，１ｂ…試薬ラック、 ２，３…試薬庫、 ４…反応容器、 ５…反応ディスク、 ６…ディスクサンプラ、 ７ａ，７ｂ…試薬ボトル、 ８，９…試薬分注アーム、 ８…第１試薬分注アーム、 ９…第２試薬分注アーム、 １０…サンプル分注アーム、 １１ａ，１１ｂ…撹拌ユニット、 １２…洗浄ユニット、 １３…測光ユニット、 １４ａ，１５ａ…プローブ洗浄槽、 １４…第１試薬分注プローブ、 １５…第２試薬分注プローブ、 １５ａ…プローブ洗浄槽、 １６…サンプル分注プローブ、 １６ａ…プローブ洗浄槽、 １７…試料容器、 １８ａ…液面検出器、 １８ｂ．１８ｃ…液面検出器、 １８ａ，１８ｂ…液面検出器、 １９…分析部、 ２０…サンプル部、 ２１…試薬部、 ２２…反応部、 ３０…分析制御部、 ３１…機構部、 ３１ｓ，３１ｒ１…移動機構、 ３１ｓ…移動機構、 ３１ｓｒ…回動機構、 ３１ｓａ…検出器、 ３１ｓｕ…上下移動機構、 ３１ｓｂ…検出器、 ３１ｓｒｍ…モータ、 ３１ｓｕｍ…モータ、 ３１ｒ１，３１ｒ２…移動機構、 ３１ｒ１ｒ，３１ｒ２ｒ…回動機構、 ３１ｒ１ａ，３１ｒ２ａ…検出器、 ３１ｒ１ｕ，３１ｒ２ｕ…上下移動機構、 ３１ｒ１ｂ，３１ｒ２ｂ…検出器、 ３１ｒ１ｒｍ，３１ｒ２ｒｍ…モータ、 ３１ｒ１ｕｍ，３１ｒ２ｕｍ…モータ、 ３１ｓｒｍ，３１ｓｕｍ…モータ、 ３１ｓａ，３１ｓｂ…検出器、 ３１ｒ１ｒｍ，３１ｒ１ｕｍ…モータ、 ３１ｓｕｍ，３１ｒ１ｕｍ…モータ、 ３１ｓａ，３１ｒ１ａ…検出器、 ３１ｒ２…移動機構、 ３１ｒ２ｒ…回動機構、 ３１ｒ２ａ…検出器、 ３２…制御部、 ３２ｓ，３２ｒ１…制御部、 ３２ｓ…制御部、 ３２ｒ１，３２ｒ２…制御部、 ３２ｒ２…制御部、 ３５…位置設定部、 ３６…調整位置設定部、 ３７…位置データ生成部、 ３８…位置データ記憶部、 ４０…分析データ処理部、 ４１…演算部、 ４２…記憶部、 ５０…出力部、 ５１…印刷部、 ５２…表示部、 ６０…操作部、 ７０…システム制御部、 １００…セル型治具、 １０１…自動分析装置、 １００Ａ…底面検出領域、 １００Ｂ…衝突検出領域。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
液面検知手段及び障害物検知手段を備え、サンプル或いは試薬を吸引及び吐出する分注プローブと、前記分注プローブを水平移動及び上下移動させる分注プローブ移動手段と、を具備し、前記分注プローブ及び前記分注プローブ移動手段により、前記サンプルと前記試薬とをセル型反応容器に分注して混合した液を分析する自動分析装置のセル型治具であって、
前記セル型反応容器と同形状であり、その内底面には前記液面検知手段により検知される導電性材料で構成された底面検知領域を有し且つ前記底面検知領域以外の部位は非導電性材料で構成されていることを特徴とする自動分析装置のセル型治具。
【請求項２】
サンプルと試薬とをセル型反応容器に分注して混合した液を分析する自動分析装置であって、
液面検知手段及び障害物検知手段を備え、サンプル或いは試薬を吸引及び吐出する分注プローブと、
前記分注プローブを水平移動及び上下移動させる分注プローブ移動手段と、
前記セル型反応容器と同形状を採り、その内底面には前記液面検知手段により検知される導電性材料で構成された底面検知領域を有し且つ前記底面検知領域以外の部位は非導電性材料で構成されているセル型治具と、
前記セル型治具の底面に対して略垂直を為す前記分注プローブを当該セル型治具の直上から下降させた場合に、前記分注プローブが当該セル型治具の内底面に接触するまでに要する駆動パルス数を記憶するパルス数記憶部と、
前記分注プローブを下降させた際に、当該セル型治具の内底面への接触が前記液面検知手段により検知されるまでに要した駆動パルス数を計測するパルス数計測部と、
前記パルス数記憶部により記憶された駆動パルス数と、前記パルス数計測部により計測された駆動パルス数と、に基づいて、当該セル型治具の底面に対する前記分注プローブの垂直性を判定する判定部と、
を具備することを特徴とする自動分析装置。
【請求項３】
液面検知手段及び障害物検知手段を備え、サンプル或いは試薬を吸引及び吐出する分注プローブと、前記分注プローブを水平移動及び上下移動させる分注プローブ移動手段と、を具備し、前記分注プローブ及び前記分注プローブ移動手段により、前記サンプルと前記試薬とをセル型反応容器に分注して混合した液を分析する自動分析装置のセル型治具であって、
前記セル型反応容器と同形状であり、その内底面には非導電性材料で構成された底面検知領域を有し且つ前記底面検知領域以外の部位は前記液面検知手段により検知される導電性材料で構成されていることを特徴とする自動分析装置のセル型治具。
【請求項４】
サンプルと試薬とをセル型反応容器に分注して混合した液を分析する自動分析装置であって、
液面検知手段及び障害物検知手段を備え、サンプル或いは試薬を吸引及び吐出する分注プローブと、
前記分注プローブを水平移動及び上下移動させる分注プローブ移動手段と、
前記セル型反応容器と同形状を採り、非導電性材料で構成された底面検知領域を内底面に有し且つ前記底面検知領域以外の部位は前記液面検知手段により検知される導電性材料で構成されているセル型治具と、
前記セル型治具の底面に対して略垂直を為す前記分注プローブを当該セル型治具の直上から下降させた場合に、前記分注プローブが当該セル型治具の内底面に接触するまでに要する駆動パルス数を記憶するパルス数記憶部と、
前記分注プローブを下降させた際に、当該セル型治具の内底面への接触が前記液面検知手段により検知されるまでの駆動パルス数を計測するパルス数計測部と、
前記パルス数記憶部により記憶された駆動パルス数と、前記パルス数計測部により計測された駆動パルス数と、に基づいて、当該セル型治具の内底面に対する前記分注プローブの垂直性を判定する判定部と、
を具備することを特徴とする自動分析装置。
【請求項１】
液面検知手段及び障害物検知手段を備え、サンプル或いは試薬を吸引及び吐出する分注プローブと、前記分注プローブを水平移動及び上下移動させる分注プローブ移動手段と、を具備し、前記分注プローブ及び前記分注プローブ移動手段により、前記サンプルと前記試薬とをセル型反応容器に分注して混合した液を分析する自動分析装置のセル型治具であって、
前記セル型反応容器と同形状であり、その内底面には前記液面検知手段により検知される導電性材料で構成された底面検知領域を有し且つ前記底面検知領域以外の部位は非導電性材料で構成されていることを特徴とする自動分析装置のセル型治具。
【請求項２】
サンプルと試薬とをセル型反応容器に分注して混合した液を分析する自動分析装置であって、
液面検知手段及び障害物検知手段を備え、サンプル或いは試薬を吸引及び吐出する分注プローブと、
前記分注プローブを水平移動及び上下移動させる分注プローブ移動手段と、
前記セル型反応容器と同形状を採り、その内底面には前記液面検知手段により検知される導電性材料で構成された底面検知領域を有し且つ前記底面検知領域以外の部位は非導電性材料で構成されているセル型治具と、
前記セル型治具の底面に対して略垂直を為す前記分注プローブを当該セル型治具の直上から下降させた場合に、前記分注プローブが当該セル型治具の内底面に接触するまでに要する駆動パルス数を記憶するパルス数記憶部と、
前記分注プローブを下降させた際に、当該セル型治具の内底面への接触が前記液面検知手段により検知されるまでに要した駆動パルス数を計測するパルス数計測部と、
前記パルス数記憶部により記憶された駆動パルス数と、前記パルス数計測部により計測された駆動パルス数と、に基づいて、当該セル型治具の底面に対する前記分注プローブの垂直性を判定する判定部と、
を具備することを特徴とする自動分析装置。
【請求項３】
液面検知手段及び障害物検知手段を備え、サンプル或いは試薬を吸引及び吐出する分注プローブと、前記分注プローブを水平移動及び上下移動させる分注プローブ移動手段と、を具備し、前記分注プローブ及び前記分注プローブ移動手段により、前記サンプルと前記試薬とをセル型反応容器に分注して混合した液を分析する自動分析装置のセル型治具であって、
前記セル型反応容器と同形状であり、その内底面には非導電性材料で構成された底面検知領域を有し且つ前記底面検知領域以外の部位は前記液面検知手段により検知される導電性材料で構成されていることを特徴とする自動分析装置のセル型治具。
【請求項４】
サンプルと試薬とをセル型反応容器に分注して混合した液を分析する自動分析装置であって、
液面検知手段及び障害物検知手段を備え、サンプル或いは試薬を吸引及び吐出する分注プローブと、
前記分注プローブを水平移動及び上下移動させる分注プローブ移動手段と、
前記セル型反応容器と同形状を採り、非導電性材料で構成された底面検知領域を内底面に有し且つ前記底面検知領域以外の部位は前記液面検知手段により検知される導電性材料で構成されているセル型治具と、
前記セル型治具の底面に対して略垂直を為す前記分注プローブを当該セル型治具の直上から下降させた場合に、前記分注プローブが当該セル型治具の内底面に接触するまでに要する駆動パルス数を記憶するパルス数記憶部と、
前記分注プローブを下降させた際に、当該セル型治具の内底面への接触が前記液面検知手段により検知されるまでの駆動パルス数を計測するパルス数計測部と、
前記パルス数記憶部により記憶された駆動パルス数と、前記パルス数計測部により計測された駆動パルス数と、に基づいて、当該セル型治具の内底面に対する前記分注プローブの垂直性を判定する判定部と、
を具備することを特徴とする自動分析装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【公開番号】特開２０１０−２６６２４３（Ｐ２０１０−２６６２４３Ａ）
【公開日】平成２２年１１月２５日（２０１０．１１．２５）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００９−１１５７６３（Ｐ２００９−１１５７６３）
【出願日】平成２１年５月１２日（２００９．５．１２）
【出願人】（０００００３０７８）株式会社東芝 (54,554)
【出願人】（５９４１６４５４２）東芝メディカルシステムズ株式会社 (4,066)
【出願人】（５９４１６４５３１）東芝医用システムエンジニアリング株式会社 (892)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２２年１１月２５日（２０１０．１１．２５）
【国際特許分類】
【出願日】平成２１年５月１２日（２００９．５．１２）
【出願人】（０００００３０７８）株式会社東芝 (54,554)
【出願人】（５９４１６４５４２）東芝メディカルシステムズ株式会社 (4,066)
【出願人】（５９４１６４５３１）東芝医用システムエンジニアリング株式会社 (892)
【Ｆターム（参考）】
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