電子制御装置
【課題】 待機状態において計測される時刻の信頼性を向上させる。
【解決手段】 所定の期間が経過する時に待機状態から一時的な起動状態に戻る電子制御装置１０は、前記一時的な起動状態及び定常的な起動状態において第１の周波数を有する第１のクロックを生成する生成部１３２と、前記定常的な起動状態及び前記待機状態において第２の周波数を有する第２のクロックを生成する生成部１３１と、前記定常的な起動状態及び前記一時的な起動状態の少なくとも一方において前記第１のクロックに基づく前記第２のクロックの校正係数を求める校正部２３１と、前記定常的な起動状態及び前記一時的な起動状態の少なくとも一方において、前記校正係数が第１の所定値以上である場合、前記第２の周波数を高める設定部２３２と、前記待機状態において前記第２のクロックで前記校正係数に基づく前記所定の期間の経過を計測する計測部２３３と、を備える。
【解決手段】 所定の期間が経過する時に待機状態から一時的な起動状態に戻る電子制御装置１０は、前記一時的な起動状態及び定常的な起動状態において第１の周波数を有する第１のクロックを生成する生成部１３２と、前記定常的な起動状態及び前記待機状態において第２の周波数を有する第２のクロックを生成する生成部１３１と、前記定常的な起動状態及び前記一時的な起動状態の少なくとも一方において前記第１のクロックに基づく前記第２のクロックの校正係数を求める校正部２３１と、前記定常的な起動状態及び前記一時的な起動状態の少なくとも一方において、前記校正係数が第１の所定値以上である場合、前記第２の周波数を高める設定部２３２と、前記待機状態において前記第２のクロックで前記校正係数に基づく前記所定の期間の経過を計測する計測部２３３と、を備える。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子制御装置等に関係する。
【背景技術】
【０００２】
例えば自動車等の車両に搭載されるＥＣＵ（electronic control unit）は、イグニッションがオフされた後、定常的な起動状態から待機状態（スリープ状態）に移行することができる。待機状態において、ＥＣＵ等の電子制御装置は、機能の一部又は殆どを停止して消費電流又は消費電力を低減することができるが、電子制御装置の用途によっては、待機状態に移行後に所定の期間が経過する時、一時的な起動状態に戻る必要がある。
【０００３】
特許文献１は、車両用電子制御装置１０を開示し、定常的な起動状態及び一時的な起動状態において、水晶発振子１５によるメインクロック（クロック信号ｆｘ）が生成される一方、待機状態において、水晶発振子１５によるメインクロックが生成されない。待機状態において、メインクロックの代わりに、ＣＲ発振回路１６によるサブクロック（クロック信号ｆｃｃ）が生成されている。待機状態において、サブクロックを用いることで、車両用電子制御装置１０は、さらに消費電流又は消費電力を低減することができる。しかしながら、ＣＲ発振回路１６によるサブクロックの精度は、水晶発振子１５によるメインクロックの精度よりも低いので、待機状態においてサブクロックで所定の期間を計測すると、一時的な起動状態に戻る時刻に誤差が生じてしまう。そこで、特許文献１は、一時的な起動状態において、メインクロックに基づくサブクロックの校正係数を求め、待機状態において、サブクロックで校正係数に基づく所定の期間を計測することで、一時的な起動状態に戻る時刻を正確に決定することができる。
【０００４】
具体的には、特許文献１の表１及び段落［００８０］−［００８３］、［００７６］で示されるように、現在の一時的な起動状態においてメインクロックに基づくサブクロックの校正係数が８００／８５０（＝0.9411764705882353≒−６［％］）である場合、サブクロックで８ビットタイマレジスタ１３７を２８１２５０回×0.9411764705882353≒２６４７０５回フルとすることで、次回の一時的な起動状態に戻る時刻（待機状態に移行後、１時間が経過する時刻）を正確に決定することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００４−２２６１６５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
特許文献１のＣＲ発振回路１６のコンデンサの経年劣化によりコンデンサの容量が減少する場合など、校正係数が大きい時、一時的な起動状態に戻る時刻の信頼性が低下してしまう。また、ＣＲ発振回路１６が故障している時でも、サブクロックが生成できる限り、待機状態において、サブクロックで校正係数に基づく所定の期間を計測することで、一時的な起動状態に戻る時刻を決定してしまう。
【０００７】
本発明の１つの目的は、待機状態において計測される時刻の信頼性を向上可能な電子制御装置等を提供することである。本発明の他の目的は、以下に述べる複数の形態及び好ましい実施形態、並びに添付の図面を参照することによって、当業者に明らかになるであろう。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
以下に、本発明の概要を容易に理解するために、本発明に従う複数の形態のうちの幾つかの形態を例示する。
【０００９】
本発明に従う第１の形態は、所定の期間が経過する時に待機状態から一時的な起動状態に戻る電子制御装置であって、
前記一時的な起動状態及び定常的な起動状態において、第１の周波数を有する第１のクロックを生成する第１の生成部と、
前記定常的な起動状態及び前記待機状態において、前記第１の周波数よりも低い第２の周波数を有する第２のクロックを生成する第２の生成部と、
前記定常的な起動状態及び前記一時的な起動状態の少なくとも一方において、前記第１のクロックに基づく前記第２のクロックの校正係数を求める校正部と、
前記定常的な起動状態及び前記一時的な起動状態の少なくとも一方において、前記校正係数が第１の所定値以上である場合、前記第２の周波数を高める設定部と、
前記待機状態において、前記第２のクロックで前記校正係数に基づく前記所定の期間の経過を計測する計測部と、
を備えることを特徴とする電子制御装置に関係する。
【００１０】
校正係数が第１の所定値以上である場合、設定部は、第１の周波数よりも低い第２の周波数を高めることができる。即ち、第２の生成部が劣化していると推定できる時、設定部は、第１の周波数よりも低い第２の周波数を高めることができる。一般に、周波数が高くなれば、クロックの精度が高くなり、消費電流又は消費電力も増加してしまう。しかしながら、第２の生成部が劣化していると推定できる時には、第２の周波数を高めることにより、一時的な起動状態に戻る時刻の信頼性を向上させることができる。
【００１１】
第１の形態において、前記校正係数が前記第１の所定値よりも大きい第２の所定値以上である場合、前記第１の生成部は、前記待機状態において前記第１のクロックの生成を継続してもよく、且つ、前記計測部は、前記待機状態において、前記第１のクロックで前記所定の期間の経過を計測してもよい。
【００１２】
校正係数が第２の所定値以上である場合、計測部は、待機状態において、第２のクロックの代わりに第１のクロックで所定の期間の経過を計測することができる。即ち、第２の生成部が故障していると推定できる時、高い周波数又は精度を有する第１のクロックを用いることで、一時的な起動状態に戻る時刻の信頼性をさらに向上させることができる。
【００１３】
第１の形態において、前記校正部は、前記校正係数として、校正作業を複数回実施した校正係数の平均値又は中央値を算出してもよい。
【００１４】
第２のクロックの精度が悪い場合、校正係数にばらつきがある。従って、平均値又は中央値を用いることにより、第２の生成部が劣化又は故障していることを確実に推定することができる。言い換えれば、実際には第２の生成部が劣化又は故障していない場合に、不要に第２の周波数を高めること、又は不要に第１のクロックを用いることを抑制することができる。
【００１５】
第１の形態において、電子制御装置は、
前記第２の生成部の近傍の温度を検出する検出部を
さらに備えてもよく、
前記校正部は、前記検出部で検出した前記温度又は前記温度を含む温度範囲に対応付けて前記校正係数を求めてもよい。
【００１６】
第２のクロックの精度は、第２の生成部の近傍の温度にも依存するので、校正部は、検出部で検出した温度毎に又は温度範囲毎に校正係数を求めることができる。校正係数を適切に求めることで、一時的な起動状態に戻る時刻の信頼性をさらに向上させることができる。
【００１７】
第１の形態において、
前記校正部は、前記検出部で検出した前記温度を含む前記温度範囲に対応付けて前記校正係数を求めてもよく、
前記温度範囲は、第１の温度範囲と第２の温度範囲とを有してもよく、
前記校正係数は、前記第１の温度範囲に対応する第１の校正係数と、前記第２の温度範囲に対応する第２の校正係数と、を有してもよく、
前記第１の校正係数が前記第１の所定値以上であり、且つ前記第２の校正係数も前記第１の所定値以上である場合、前記設定部は、前記第２の周波数を高めてもよい。
【００１８】
第２のクロックの精度が悪い場合、校正係数にばらつきがあり、そのばらつきが温度に依存する。従って、複数の温度範囲で、校正係数が第１の所定値以上であるか否かを判断することにより、第２の生成部が劣化していることを確実に推定することができる。言い換えれば、実際には第２の生成部が劣化していない場合に、不要に第２の周波数を高めることを抑制することができる。
【００１９】
第１の形態において、
電子制御装置は、
前記校正係数が前記第１の所定値よりも大きい第２の所定値以上である場合、前記待機状態において、車両内に搭載されて計時機能を有する他の電子制御装置であって前記計時機能により前記所定の期間の経過を表す起動信号を生成する他の電子制御装置から、前記起動信号を前記車両内のネットワークを介して受信する受信部を
さらに備えてもよく、
電子制御装置は、
前記起動信号に基づき前記一時的な起動状態に戻ってもよい。
【００２０】
第２の周波数を高めても、校正係数が第２の所定値以上である場合、受信部は、待機状態において、第２のクロック又は計測部の代わりに起動信号を受信することができる。即ち、第２の生成部が故障していると推定できる時、他の電子制御装置の計時機能で所定の期間の経過を計測することで、一時的な起動状態に戻る時刻の信頼性をさらに向上させることができる。
【００２１】
当業者は、本発明に従う複数の形態の各々が、本発明の精神を逸脱することなく、変形され得ることを容易に理解できるであろう。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】本発明に従う電子制御装置の概略構成図を示す。
【図２】図１の電子制御装置の動作状態の概略説明図を示す。
【図３】図３（Ａ）、図３（Ｂ）、図３（Ｃ）及び図３（Ｄ）は、校正係数の算出例を示す。
【図４】校正係数の評価例を示す。
【図５】図１の電子制御装置の動作例を示すフローチャートを示す。
【発明を実施するための形態】
【００２３】
以下に説明する好ましい実施形態は、本発明を容易に理解するために用いられている。従って、当業者は、本発明が、以下に説明される実施形態によって不当に限定されないことを留意すべきである。
【００２４】
１．電子制御装置
１．１．構成
図１は、本発明に従う電子制御装置の概略構成図を示す。図１の例において、電子制御装置１０は、例えばマイコン１３を備えることができ、マイコン１３を用いて待機状態から一時的な起動状態に移行し、又は一時的な起動状態から待機状態に移行することができる。電子制御装置１０は、例えば自動車等の車両（図示せず）に搭載することができ、バッテリ電源２から電力の供給を受けることができる。例えばイグニッションキー（図示せず）によってイグニッションスイッチ３がオンされる場合、電子制御装置１０は、イグニッションのオンを検出し、バッテリ電源２から電力で定常的な起動状態を維持し、様々な処理を実行することができる。
【００２５】
イグニッションスイッチ３がオフされる場合、電子制御装置１０は、イグニッションのオフを検出し、イグニッションのオンが再び検出されるまで、様々な処理を停止して、待機する。待機状態を維持する時、電子制御装置１０は、一時的な起動状態の準備を実行する。即ち、電子制御装置１０は、待機状態において、待機状態に移行後、所定の期間を計測する。所定の期間が経過する時、電子制御装置１０は、一時的な起動状態に戻る。一時的な起動状態において、電子制御装置１０は、様々な処理のうちの所定の処理だけを実行し、再び待機状態に戻る。このように、イグニッションのオフが検出された後、イグニッションのオンが再び検出されるまで、待機状態から一時的な起動状態への移行及び一時的な起動状態から待機状態への移行が繰り返される。イグニッションのオンが再び検出される場合、電子制御装置１０は、定常的な起動状態を維持し、再び様々な処理を実行することができる。
【００２６】
図１の例において、電子制御装置１０は、バッテリ端子＋Ｂ及び供給部１１を備えることができ、供給部１１は、バッテリ端子＋Ｂを介してバッテリ電源２の電圧をマイコン１３又は電子制御装置１０で使用可能な一定電圧に変換する。マイコン１３又はマイコン１３の内部は、供給部１１からの一定電圧（及び接地電圧ＧＮＤ）で動作する。
【００２７】
図１の例において、電子制御装置１０は、イグニッション端子ＩＧ及び比較部１２を備えることができ、比較部１２は、イグニッション端子ＩＧでの電圧と基準電圧Ｖｒｅｆとを比較する。イグニッションスイッチ３がオンされる場合、比較部１２は、イグニッション端子ＩＧ及びイグニッションスイッチ３を介して、バッテリ電源２の電圧が基準電圧Ｖｒｅｆを超えることを検出し、イグニッションがオンされることを表す信号をマイコン１３又はマイコン１３の内部に送る。イグニッションスイッチ３がオフされる場合、比較部１２は、イグニッションがオフされることを表す信号をマイコン１３又はマイコン１３の内部に送る。
【００２８】
図１の例において、電子制御装置１０は、第１の生成部１３２、第２の生成部１３１、校正部２３１、設定部２３２及び計測部２３３を備える。また、電子制御装置１０は、実行部２３４、検出部２３５、記憶部２３６及び通信部２３７を備えることができる。図１の例において、マイコン１３は、これらの機能を備えるが、これらの機能の一部がマイコン１３の外部に設けられてもよい。また、マイコン１３は、ＡＳＩＣ（application specific integrated circuit）等のロジックＩＣで構成してもよい。マイコン１３の具体的な動作については後述する。
【００２９】
図１の例において、電子制御装置１０は、水晶発振子１５及びＲＣ発振素子（ＣＲ発振回路）を備えることができる。水晶発振子１５は、セラミック発振子等の相対的に高い精度を有する発振素子で構成してもよい。ＲＣ発振素子は、図１の例において、抵抗Ｒ及びコンデンサＣを有し、周波数を変更可能な相対的に低い精度を有する発振素子で構成してもよい。また、電子制御装置１０は、端子Ｔを備えることができ、図示されない機能を備えることができる。電子制御装置１０は、図１の例に限定されず、必要に応じて、機能の一部を省略し、又は図示されない機能を追加することができる。水晶発振子１５、ＲＣ発振素子及び端子Ｔの具体的な使用方法については後述する。
【００３０】
１．２．動作状態
図２は、図１の電子制御装置１０の動作状態の概略説明図を示す。図２の例において、時刻Ｔ１でイグニッションがオンされ、定常的な起動状態が開始される。その後、時刻Ｔ２でイグニッションがオフされ、待機状態が開始される。その後、時刻Ｔ１１で再びイグニッションがオンされるまで、時刻Ｔ３，Ｔ５，Ｔ７，Ｔ９で、一時的な起動状態が開始される。一時的な起動状態は、時刻Ｔ４，Ｔ６，Ｔ８，Ｔ１０で終了する。時刻Ｔ１２でイグニッションが再びオフされ、その後、待機状態が開始される。
【００３１】
電子制御装置１０が例えばＦＩ（fuel injection）ＥＣＵである場合、定常的な起動状態（例えば時刻Ｔ１からＴ２まで）において、電子制御装置１０は、端子Ｔ又は他の端子（図示せず）を介して車両のエンジンへの燃料噴射量を制御することができ、一時的な起動状態（例えば時刻Ｔ３からＴ４まで）において、電子制御装置１０は、例えば端子Ｔを介して燃料漏れの有無を検査することができる。電子制御装置１０が例えば乗員検知ＥＣＵである場合、定常的な起動状態において、電子制御装置１０は、乗員状態の判断結果をエアバックＥＣＵに送ることができ、一時的な起動状態において、電子制御装置１０は、荷重センサのゼロ点補正を行うことができる。
【００３２】
電子制御装置１０は、待機状態（例えば時刻Ｔ２からＴ３まで）において、所定の期間を計測するタイマカウント機能を実行することができる。所定の期間が経過する時、電子制御装置１０は、一時的な起動状態に戻る。
【００３３】
１．３．定常的な起動状態
定常的な起動状態において、図１の第１の生成部１３２は、水晶発振子１５を用いて第１の周波数を有する第１のクロックを生成し、電子制御装置１０又はマイコン１３は、第１のクロックに基づき動作し、様々な処理を実行することができる。様々な処理の１例として、電子制御装置１０又はマイコン１３は、校正処理及び設定処理を実行するとともに、例えば燃料噴射量制御処理を実行する。なお、校正処理及び設定処理は、定常的な起動状態だけにおいて実行してもよく、定常的な起動状態及び一時的な起動状態の双方において実行してもよく、場合により、一次的な起動状態だけにおいて実行してもよい。
【００３４】
１．３．１．校正処理
少なくとも校正処理において、図１の第２の生成部１３１は、抵抗Ｒ及びコンデンサＣを用いて第２の周波数を有する第２のクロックを生成する。校正処理において、校正部２３１は、第１のクロック及び第２のクロックを入力し、第１のクロックに基づく第２のクロックの校正係数を求める。具体的には、校正部２３１は、第１のクロック及び第２のクロックの双方で同時に校正期間を計測し、第１のクロックでの第１の計測時間と第２のクロックでの第２の計測時間とを比較し、校正係数を求めることができる。図３（Ａ）、図３（Ｂ）、図３（Ｃ）及び図３（Ｄ）は、校正係数の算出例を示し、以下に算出方法を説明する。
【００３５】
校正期間が例えば第１のクロックを基準に決定される場合、校正期間は、第１のクロックでの第１の計測時間と一致する。例えば、第１のクロックで校正期間（例えば１０［ｍｓｅｃ］＝第１の計測時間）を計測した時、第２のクロックでの第２の計測時間が例えば１０［ｍｓｅｃ］である場合、校正係数は、１０／１０（＝1.000000000000000＝０［％］）を示し、これは第２のクロックを校正する必要がないことを意味する（図３（Ａ）参照）。
【００３６】
代替的に、例えば、第１のクロックで校正期間（例えば１０［ｍｓｅｃ］＝第１の計測時間）を計測した時、第２のクロックでの第２の計測時間が例えば１１［ｍｓｅｃ］である場合、校正係数は、１１／１０（＝1.100000000000000＝１０［％］）を示し、これは第２のクロックが進んでいることを意味する（図３（Ｂ）参照）。校正係数が１．１０である場合、第２のクロックで所定の期間（例えば１［ｈ］）を１．１０倍した期間を計測する時、実際には、所定の期間（例えば１［ｈ］）が計測される。
【００３７】
校正期間が例えば第２のクロックを基準に決定される場合、校正期間は、第２のクロックでの第２の計測時間と一致する。例えば、第２のクロックで校正期間（例えば１０［ｍｓｅｃ］＝第２の計測時間）を計測した時、第１のクロックでの第１の計測時間が例えば９［ｍｓｅｃ］である場合、校正係数は、１０／９（＝1.111111111111111≒１１［％］）を示し、これは第２のクロックが進んでいることを意味する（図３（Ｃ）参照）。校正係数が１．１１である場合、第２のクロックで所定の期間（例えば１［ｈ］）を１．１１倍した期間を計測する時、実際には、所定の期間（例えば１［ｈ］）が計測される。
【００３８】
また、代替的に、例えば、第２のクロックで校正期間（例えば１０［ｍｓｅｃ］＝第２の計測時間）を計測した時、第１のクロックでの第１の計測時間が例えば１１［ｍｓｅｃ］である場合、校正係数は、１０／１１（＝0.9090909090909091≒−９［％］）を示し、これは第２のクロックが遅れていることを意味する（図３（Ｄ）参照）。校正係数が０．９１である場合、第２のクロックで所定の期間（例えば１［ｈ］）を０．９１倍した期間を計測する時、実際には、所定の期間（例えば１［ｈ］）が計測される。
【００３９】
校正部２３１は、例えば第１のカウンタ及び第２のカウンタで構成され、第１のカウンタは、第１のクロックでカウントアップされ、第２のカウンタは、第２のクロックでカウントアップされる。第１の周波数が例えば２０［ＭＨｚ］であり、第１の計測時間が例えば１０［ｍｓｅｃ］である場合、第２のカウンタのカウント値は、２０×1,000,000,000／（１０×1,000）＝2,000,000を示す。
【００４０】
第２の周波数が例えば１０［ＫＨｚ］であり、第２の計測時間が例えば１０［ｍｓｅｃ］である場合、第２のカウンタのカウント値は、１０×1,000,000／（１０×1,000）＝1,000を示す。
【００４１】
例えば、第１のクロック（例えば２０［ＭＨｚ］）で第１のカウンタのカウント値が2,000,000（校正期間＝１０［ｍｓｅｃ］）を示した時、第２のクロック（例えば１０［ＫＨｚ］）での第２のカウンタのカウント値が例えば1,000である場合、校正係数は、（1,000／１０×1,000）／（2,000,000／２０×1,000,000,000）（＝1.000000000000000＝０［％］）を示し、これは第２のクロックを校正する必要がないことを意味する（図３（Ａ）参照）。
【００４２】
代替的に、例えば、第１のクロック（例えば２０［ＭＨｚ］）で第１のカウンタのカウント値が2,000,000（校正期間＝１０［ｍｓｅｃ］）を示した時、第２のクロック（例えば１０［ＫＨｚ］）での第２のカウンタのカウント値が例えば1,100である場合、校正係数は、（1,100／１０×1,000）／（2,000,000／２０×1,000,000,000）（＝1.100000000000000＝１０［％］）を示し、これは第２のクロックが進んでいることを意味する（図３（Ｂ）参照）。校正係数が１．１０である場合、第２のクロック（例えば１０［ＫＨｚ］）で第２のカウンタのカウント値が（１０×1,000×3,600）（＝所定の期間＝１［ｈ］）を１．１０倍した値を示す時、実際には、所定の期間（例えば１［ｈ］）が計測される。
【００４３】
代替的に、例えば、第２のクロック（例えば１０［ＫＨｚ］）で第２のカウンタのカウント値が1,000（校正期間＝１０［ｍｓｅｃ］）を示した時、第１のクロック（例えば２０［ＭＨｚ］）での第１のカウンタのカウント値が例えば1,800,000である場合、校正係数は、（1,000／１０×1,000）／（1,800,000／２０×1,000,000,000）（＝1.111111111111111≒１１［％］）を示し、これは第２のクロックが進んでいることを意味する（図３（Ｃ）参照）。校正係数が１．１１である場合、第２のクロック（例えば１０［ＫＨｚ］）で第２のカウンタのカウント値が（１０×1,000×3,600）（＝所定の期間＝１［ｈ］）を１．１１倍した値を示す時、実際には、所定の期間（例えば１［ｈ］）が計測される。
【００４４】
また、代替的に、例えば、第２のクロック（例えば１０［ＫＨｚ］）で第２のカウンタのカウント値が1,000（校正期間＝１０［ｍｓｅｃ］）を示した時、第１のクロック（例えば２０［ＭＨｚ］）での第１のカウンタのカウント値が例えば2,200,000である場合、校正係数は、（1,000／１０×1,000）／（2,200,000／２０×1,000,000,000）（＝0.9090909090909091≒−９［％］）を示し、これは第２のクロックが遅れていることを意味する（図３（Ｄ）参照）。校正係数が０．９１である場合、第２のクロック（例えば１０［ＫＨｚ］）で第２のカウンタのカウント値が（１０×1,000×3,600）（＝所定の期間＝１［ｈ］）を０．９１倍した値を示す時、実際には、所定の期間（例えば１［ｈ］）が計測される。
【００４５】
校正処理において、校正部２３１は、求めた校正係数を評価することができる。具体的には、校正部２３１又はマイコン１３は、校正係数が第１の所定値（例えば１．２）以上である場合、ＲＣ発振素子又は第２の生成部１３１が劣化していると推定できる。好ましくは、校正部２３１又はマイコン１３は、校正係数が第１の所定値よりも大きい第２の所定値（例えば１．３）以上である場合、ＲＣ発振素子又は第２の生成部１３１が故障していると推定できる。
【００４６】
同様に、校正部２３１又はマイコン１３は、校正係数が第１の所定値よりも小さい第３の所定値（例えば０．８）以下である場合、ＲＣ発振素子又は第２の生成部１３１が劣化していると推定できる。好ましくは、校正部２３１又はマイコン１３は、校正係数が第３の所定値よりも小さい第４の所定値（例えば０．７）以下である場合、ＲＣ発振素子又は第２の生成部１３１が故障していると推定できる。
【００４７】
校正部２３１又はマイコン１３は、校正係数が第１の所定値（例えば１．２）よりも小さく、且つ校正係数が第３の所定値（例えば０．８）よりも大きい場合、ＲＣ発振素子又は第２の生成部１３１が正常であると推定できる。ＲＣ発振素子又は第２の生成部１３１が正常であると推定できる時、校正処理において、校正部２３１は、求めた校正係数を例えば記憶部２３６に記憶することができる。図４は、校正係数の評価例を示す。
【００４８】
１．３．２．設定処理
校正係数が第１の所定値（例えば１．２）以上である場合、設定処理において、設定部２３２は、第２の生成部１３１で生成される第２のクロックの第２の周波数を高める。好ましくは、校正係数が第１の所定値（例えば１．２）以上であり、且つ校正係数が第２の所定値（例えば１．３）よりも小さい場合、設定部２３２は、第２の周波数を高める。具体的には、設定部２３２は、例えば抵抗Ｒの抵抗値を調整して、第２の周波数を高めることができる。例えば、抵抗Ｒの抵抗値を小さくすることにより、第２の周波数を大きくすることができる。
【００４９】
同様に、校正係数が第３の所定値（例えば０．８）以下である場合、設定部２３２は、第２の周波数を高める。好ましくは、校正係数が第３の所定値（例えば０．８）以下であり、且つ校正係数が第４の所定値（例えば０．７）よりも大きい場合、設定部２３２は、第２の周波数を高める。このように、ＲＣ発振素子又は第２の生成部１３１が劣化していると推定できる時、設定部２３２は、第２の生成部１３１で生成される第２のクロックの第２の周波数を高める。第２の周波数が高くなれば、コンデンサＣの容量が減少することに起因する発振周期の乱れを抑制し、第２のクロックの精度が高くなる。
【００５０】
第２の周波数を高める時、設定部２３２は、例えば１０［ＫＨｚ］から１００［ＫＨｚ］に変更又は再設定することができる。この時、設定部２３２は、校正係数に応じて第２の周波数を高める程度を決定してもよい。例えば、校正係数が１．２１又は０．７９である場合、設定部２３２は、第２の周波数を例えば２００［ＫＨｚ］に再設定することができる。校正係数が１．２５又は０．７５である場合、設定部２３２は、第２の周波数を例えば５００［ＫＨｚ］に再設定することができる。校正係数が１．２９又は０．７１である場合、設定部２３２は、第２の周波数を例えば９００［ＫＨｚ］に再設定することができる。
【００５１】
１．４．待機状態
待機状態において、図１の第２の生成部１３１は、抵抗Ｒ及びコンデンサＣを用いて第２の周波数を有する第２のクロックを生成する。設定部２３２によって例えば抵抗Ｒの抵抗値を小さく設定される場合、第２の生成部１３１は、高められた第２の周波数を有する第２のクロックを生成する。ＲＣ発振素子又は第２の生成部１３１が正常であると推定できる時、待機状態において、第１の生成部１３２は、第２の周波数又は高められた第２の周波数よりも高い第１の周波数を有する第１のクロックの生成を停止することが好ましい。ＲＣ発振素子又は第２の生成部１３１が劣化していると推定できる時も、待機状態において、第１の生成部１３２は、第１のクロックの生成を停止することが好ましい。
【００５２】
待機状態において、計測部２３３は、第２のクロック（例えば１０［ＫＨｚ］）で校正係数に基づく所定の期間（例えば１［ｈ］）の経過を計測する。校正係数（例えば１．１０）は、例えば記憶部２３６に記憶されている。計測部２３３は、例えば第２のカウンタを用いて、所定の期間が経過した時刻又は一時的な起動状態に戻る時刻を計測することができる。具体的には、イグニッションのオフが検出された時（例えば図２の時刻Ｔ２）、計測部２３３は、第２のカウンタをリセットする。その後、計測部２３３は、第２のクロック（例えば１０［ＫＨｚ］）で第２のカウンタをカウントアップさせ、第２のカウンタのカウント値が（１０×1,000×3,600）×１．１０を示す時（例えば図２の時刻Ｔ３）、計測部２３３は、起動信号を実行部２３４に送る。
【００５３】
ＲＣ発振素子又は第２の生成部１３１が故障であると推定できる時、待機状態において、第１の生成部１３２は、第１のクロックの生成を継続する。加えて、計測部２３３は、第１のクロック（例えば２０［ＭＨｚ］）で所定の期間（例えば１［ｈ］）の経過を計測する。ＲＣ発振素子又は第２の生成部１３１が故障であると推定できる時にイグニッションのオフが検出された場合、計測部２３３は、第１のクロック（例えば２０［ＭＨｚ］）で第１のカウンタをカウントアップさせ、第１のカウンタのカウント値が（２０×1,000,000×3,600）を示す時（例えば図２の時刻Ｔ３）、計測部２３３は、起動信号を実行部２３４に送る。
【００５４】
１．５．一時的な起動状態
待機状態において、第１の生成部１３２が第１のクロックの生成を停止している場合、一時的な起動状態において、第１の生成部１３２は、第１のクロックの生成を再開する。一時的な起動状態において、電子制御装置１０又はマイコン１３は、第１のクロックに基づき動作し、様々な処理のうちの所定の処理だけを実行することができる。所定の処理の１例として、例えば実行部２３４は、燃料漏れの有無を検査する。電子制御装置１０又はマイコン１３は、所定の処理を完了する時（例えば図２の時刻Ｔ４）、一時的な起動状態から待機状態に移行する。
【００５５】
１．６．動作例
図５は、図１の電子制御装置１０の動作例を示すフローチャートを示す。以下に、図５を参照しながら、電子制御装置１０が定常的な起動状態（例えば図２の時刻Ｔ１）から待機状態（例えば図２の時刻Ｔ２）に移行するまでの動作例について説明する。定常的な起動状態が開始される時、図１のマイコン１３又は例えば実行部２３４は、イグニッションがオフされているか否かを判定する（図５のステップＳ２１０）。図５のステップＳ２１０において、イグニッションがオフされた時、例えば実行部２３４は、計測部２３３に第２のクロックで所定の期間の経過を計測するように指示し、電子制御装置１０又はマイコン１３は、待機状態に移行する。電子制御装置１０又はマイコン１３は、図５のステップＳ２１０において、イグニッションがオフされていない時、電子制御装置１０又はマイコン１３は、校正処理及び設定処理を実行することができる（図５のステップＳ２４０及びステップＳ２９０）。
【００５６】
校正処理を実行する前に、マイコン１３又は例えば実行部２３４は、学習条件が満足されているか否かを判定することが好ましい（図５のステップＳ２２０）。学習条件は、例えば、バッテリ電源２の電圧又は供給部１１からの一定電圧が安定していることを含む。電子制御装置１０又はマイコン１３は、必要に応じて例えば通信部２３７を用いて、バッテリ電源２の電圧を直接に検出してもよく、ある期間においてバッテリ電源２の電圧が常にある値を超えていることを確認した時、学習条件が満足される。学習条件は、例えば、車両が停止していることをさらに含む。電子制御装置１０又はマイコン１３は、必要に応じて例えば通信部２３７を用いて、車速センサ（図示せず）からの車両の速度を検出してもよく、車両の速度がある値よりも小さいことを確認した時、学習条件が満足される。
【００５７】
学習条件が満足された時、マイコン１３又は検出部２３５は、第２の生成部１３１の近傍の温度（環境温度又は周辺温度）を検出することが好ましい（図５のステップＳ２３０）。第２のクロックの精度は、温度にも依存するので、校正部２３１は、検出部２３５で検出された温度毎に又は温度範囲毎に校正係数を求めることができる。第２の生成部１３１の近傍の温度を検出するセンサ（図示せず）は、好ましくは抵抗Ｒ及びコンデンサＣの近傍に設定され、例えば、電子制御装置１０の内部に組み込まれる。第２の生成部１３１の近傍の温度を検出するセンサは、例えばサーミスタで構成される。
【００５８】
温度が検出された時、電子制御装置１０又はマイコン１３は、校正処理を実行する（図５のステップＳ２４０）。具体的には、例えば図３（Ａ）及び図３（Ｂ）に示されるように、校正部２３１は、例えば第１のクロックを基準に校正期間（１０［ｍｓｅｃ］）を決定し、第１のクロックに基づく第２のクロックの校正係数を求める。この時、校正係数のばらつきを考慮して、図５のステップＳ２４０において、校正作業を複数回実施することが好ましく、校正部２３１は、校正作業を複数回実施した校正係数の平均値又は中央値を算出する。
【００５９】
校正係数の平均値又は中央値が得られた時、校正部２３１は、求めた校正係数の平均値又は中央値を評価する（図５のステップＳ２５０及びステップＳ２７０）。具体的には、図５のステップＳ２５０において、校正部２３１は、求めた校正係数の平均値が第１の所定値（例えば１．２）を超えるか否かを判定し、加えて、校正部２３１は、求めた校正係数の平均値が第１の所定値よりも小さい第３の所定値（例えば０．８）を超えていないか否かを判定する。
【００６０】
ステップＳ２５０が否定的な結果を示した時、求めた校正係数の平均値は、第１の所定値と第３の所定値との間に位置し、校正部２３１は、第２のクロック又は第２の生成部１３１が正常であると推定できる。第２のクロック又は第２の生成部１３１が正常であると推定できる時、校正部２３１は、検出された温度又はその温度を含む温度範囲に基づき、例えば記憶部２３６に記憶される校正係数を更新する（図５のステップＳ２６０）。
【００６１】
例えば校正係数の初期値として１．０が記憶部２３６に記憶され、検出された温度が例えば１０［℃］であり、例えば校正作業を２回実施した校正係数の平均値が例えば１．１（＝（１．０＋１．２）／２）である場合、校正部２３１は、記憶部２３６に記憶されている温度１０［℃］に対応する校正係数１．０（初期値）を校正係数の平均値１．１に書き換える（図５のステップＳ２６０）。
【００６２】
ステップＳ２６０が実施された後、その後も、ステップＳ２１０，Ｓ２２０，Ｓ２３０，Ｓ２４０，Ｓ２５０，Ｓ２６０が実施され得る。例えば校正係数として１．１（前回値）が記憶部２３６に記憶され、検出された温度が例えば１０［℃］（今回値）であり、例えば校正作業を２回実施した校正係数の平均値（今回値）が例えば１．１５（＝（１．２＋１．１）／２）である場合、校正部２３１は、記憶部２３６に記憶されている温度１０［℃］に対応する校正係数１．１（前回値）を校正係数の平均値１．１５（今回値）に書き換える（図５のステップＳ２６０）。
【００６３】
なお、ステップＳ２６０において、検出した温度が例えば０［℃］〜２０［℃］の温度範囲にある場合、温度範囲毎に、記憶部２３６に記憶される校正係数を更新してもよい。例えば校正係数として１．１（前回値）が記憶部２３６に記憶され、検出された温度範囲が例えば０［℃］〜２０［℃］（今回値）であり、例えば校正作業を２回実施した校正係数の平均値（今回値）が例えば１．１５（＝（１．２＋１．１）／２）である場合、校正部２３１は、記憶部２３６に記憶されている温度範囲０［℃］〜２０［℃］に対応する校正係数１．１（前回値）を校正係数の平均値１．１５（今回値）に書き換えてもよい（図５のステップＳ２６０）。
【００６４】
ステップＳ２５０が肯定的な結果を示した時、校正部２３１は、求めた校正係数の平均値又は中央値の評価を継続する（図５のステップＳ２７０）。具体的には、図５のステップＳ２７０において、校正部２３１は、求めた校正係数の平均値が第１の所定値よりも大きい第２の所定値（例えば１．３）を超えるか否かを判定し、加えて、校正部２３１は、求めた校正係数の平均値が第３の所定値よりも小さい第４の所定値（例えば０．７）を超えていないか否かを判定する。
【００６５】
ステップＳ２７０が否定的な結果を示した時、求めた校正係数の平均値は、第１の所定値と第２の所定値との間に位置し、又は第３の所定値と第４の所定値との間に位置する。この時、校正部２３１は、第２のクロック又は第２の生成部１３１が劣化していると即座に推定できるが、第２の生成部が劣化していることを確実に推定するために、ステップＳ２８０を実施することが好ましい。具体的には、ステップＳ２７０において否定的な結果が１回だけ示された時、校正部２３１は、第２のクロック又は第２の生成部１３１が劣化していると推定しないで、ステップＳ２８０は、否定的な結果を示す。
【００６６】
ステップＳ２８０が否定的な結果を示した後、その後も、ステップＳ２１０，Ｓ２２０，Ｓ２３０，Ｓ２４０，Ｓ２５０，Ｓ２７０が実施され得る。ステップＳ２７０において否定的な結果が例えば２回示された時、校正部２３１は、第２のクロック又は第２の生成部１３１が劣化していると推定でき、ステップＳ２８０は、肯定的な結果を示す。
【００６７】
好ましくは、ステップＳ２８０が肯定的な結果を示す時の条件として、複数の温度範囲で、ステップＳ２７０が否定的な結果を示すことを追加する。例えば温度範囲−２０［℃］〜０［℃］（第１の温度範囲）では、ステップＳ２７０（第１の訂正係数）が否定的な結果を複数回示しているが、例えば温度範囲０［℃］〜２０［℃］（第２の温度範囲）では、ステップＳ２７０（第２の訂正係数）が依然として否定的な結果を示さない場合がある。このような場合、実際には、第２のクロック又は第２の生成部１３１が劣化していないと推定することができる。従って、例えば温度範囲−２０［℃］〜０［℃］（第１の温度範囲）でステップＳ２７０（第１の訂正係数）が否定的な結果を示し、且つ例えば温度範囲０［℃］〜２０［℃］（第２の温度範囲）でもステップＳ２７０（第２の訂正係数）が否定的な結果を示す場合に限り、校正部２３１は、第２のクロック又は第２の生成部１３１が劣化していると推定でき、ステップＳ２８０は、肯定的な結果を示すことが好ましい。
【００６８】
ステップＳ２８０が肯定的な結果を示した時、設定部２３２は、第２のクロックの元である第２の周波数を高める（図５のステップＳ２９０）。具体的には、例えば第２の周波数の初期値として１０［ＫＨｚ］が抵抗Ｒ又は第２の生成部１３１に設定されている場合、設定部２３２は、抵抗Ｒ又は第２の生成部１３１に設定されている１０［ＫＨｚ］（初期値）を例えば１００［ＫＨｚ］に再設定する（図５のステップＳ２９０）。
【００６９】
この時、設定部２３２は、１０［ＫＨｚ］（初期値）に対応して記憶部２３６に記憶されていた全ての温度に対応する校正係数を校正係数１．０（初期値）にリセットすることができる（図５のステップＳ２９０）。即ち、ステップＳ２９０の実施後に再びステップＳ２６０が最初に実施される時、１００［ＫＨｚ］（再設定値）に対応して記憶部２３６に記憶されている校正係数は、１．０（初期値）を示すことになる。
【００７０】
ステップＳ２７０が肯定的な結果を示した時、求めた校正係数の平均値は、第４の所定値と第１の所定値との間に位置しない。この時、校正部２３１は、第２のクロック又は第２の生成部１３１が故障していると即座に推定できるが、第２の生成部が故障していることを確実に推定するために、ステップＳ３００を実施することが好ましい。具体的には、ステップＳ２７０において肯定的な結果が１回だけ示された時、校正部２３１は、第２のクロック又は第２の生成部１３１が故障していると推定しないで、ステップＳ３００は、否定的な結果を示す。
【００７１】
ステップＳ３００が否定的な結果を示した後、その後も、ステップＳ２１０，Ｓ２２０，Ｓ２３０，Ｓ２４０，Ｓ２５０，Ｓ２７０が実施され得る。ステップＳ２７０において肯定的な結果が例えば２回示された時、校正部２３１は、第２のクロック又は第２の生成部１３１が故障していると推定でき、ステップＳ３００は、肯定的な結果を示す。好ましくは、ステップＳ３００が肯定的な結果を示す時の条件として、複数の温度範囲で、ステップＳ２７０が肯定的な結果を示すことを追加する。
【００７２】
ステップＳ３００が肯定的な結果を示した時、マイコン１３又は例えば実行部２３４は、第２のクロックの故障をユーザに報知することができる（図５のステップＳ３１０）。マイコン１３又は例えば実行部２３４は、必要に応じて例えば通信部２３７を用いて、例えばスピーカ（図示せず）を用いて第２のクロックが故障していることを音声でユーザに知らせることができる。
【００７３】
第２のクロック又は第２の生成部１３１が故障していると推定できる時、マイコン１３又は例えば実行部２３４は、イグニッションがオフされているか否かを判定する（図５のステップＳ３２０）。図５のステップＳ３２０において、イグニッションがオフされた時、例えば実行部２３４は、計測部２３３に第１のクロックで所定の期間の経過を計測するように指示し、電子制御装置１０又はマイコン１３は、待機状態に移行し、この時、計測部２３３は、第１のクロックで所定の期間の経過を計測する。
【００７４】
なお、図５のステップＳ２１０が肯定的な結果を示した後に、電子制御装置１０又はマイコン１３は、待機状態に移行する直前で、定常的な起動状態において、マイコン１３又は検出部２３５は、温度を検出してもよい。代替的に、図５のステップＳ２１０が肯定的な結果を示した後に、電子制御装置１０又はマイコン１３は、待機状態に移行した直後で、待機状態において、マイコン１３又は検出部２３５は、温度を検出することができる。待機状態において、計測部２３３が第２のクロックで校正係数に基づく所定の期間の経過を計測する時、例えば記憶部２３６に記憶される温度又は温度範囲毎の校正係数を用いることが好ましい。校正係数を適切に用いることで、一時的な起動状態に戻る時刻の信頼性をさらに向上させることができる。
【００７５】
２．変形例
第２のクロック又は第２の生成部１３１が故障していると推定できる時、待機状態において、計測部２３３は、第１のクロックで所定の期間の経過を計測することができる。この時、変形例では、電子制御装置１０又はマイコン１３は、計測部２３３の動作の代わりに、通信部２３７を動作させてもよい。好ましくは、第２のクロック又は第２の生成部１３１が故障していると推定できる時、計測部２３３は、第２のクロックに基づく所定の期間の経過の計測も、第１のクロックに基づく所定の期間の経過の計測も、実行せず、待機状態において、消費電流又は消費電力を低減するために第１の生成部１３２及び第２の生成部１３１の動作を停止する。変形例では、待機状態において、計測部２３３（及び第１の生成部１３２及び第２の生成部１３１）の動作の代わりに、通信部２３７、特に通信部２３７のうちの受信部が、所定の期間の経過を表す起動信号を他の電子制御装置（図示せず）から受信する。
【００７６】
変形例では、例えばナビゲーション、オーディオ、メータ等の計時機能を有する他の電子制御装置が、所定の期間の経過を表す起動信号を生成し、この起動信号を所定の通信方式で通信部２３７の受信部に送る。具体的には、他の電子制御装置が常に第３のクロック（好ましくは第２のクロックよりも精度の高い第３のクロック）で動作している時、他の電子制御装置は、第３のクロックで所定の期間の経過を計測する。電子制御装置１０は、他の電子制御装置からの起動信号を受信し、受信した起動信号に基づき、一時的な起動状態に移行することができる。なお、他の電子制御装置が所定の期間を把握していない場合、通信部２３７のうちの送信部が、所定の期間を他の電子制御装置に送ることができる。また、電子制御装置１０は、例えばＣＡＮ（Controller Area Network）等の車両内のネットワークを介して、車両内に搭載される他の電子制御装置と相互に通信することができる。
【００７７】
なお、本発明は、上述の例示的な実施形態に限定されず、また、当業者は、上述の例示的な実施形態を特許請求の範囲に含まれる範囲まで、容易に変更することができるであろう。
【符号の説明】
【００７８】
２・・・バッテリ電源、３・・・イグニッションスイッチ、１０・・・電子制御装置、１１・・・供給部、１２・・・比較部、１３・・・マイコン、１５・・・水晶発振子、１３１・・・第２の生成部、１３２・・・第１の生成部、２３１・・・校正部、２３２・・・設定部、２３３・・・計測部、２３４・・・実行部、２３５・・・検出部、２３６・・・記憶部、２３７・・・通信部、Ｃ・・・コンデンサ、ＧＮＤ・・・接地電圧、ＩＧ・・・イグニッション端子、Ｒ・・・抵抗、Ｔ・・・端子、＋Ｂ・・・バッテリ端子
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子制御装置等に関係する。
【背景技術】
【０００２】
例えば自動車等の車両に搭載されるＥＣＵ（electronic control unit）は、イグニッションがオフされた後、定常的な起動状態から待機状態（スリープ状態）に移行することができる。待機状態において、ＥＣＵ等の電子制御装置は、機能の一部又は殆どを停止して消費電流又は消費電力を低減することができるが、電子制御装置の用途によっては、待機状態に移行後に所定の期間が経過する時、一時的な起動状態に戻る必要がある。
【０００３】
特許文献１は、車両用電子制御装置１０を開示し、定常的な起動状態及び一時的な起動状態において、水晶発振子１５によるメインクロック（クロック信号ｆｘ）が生成される一方、待機状態において、水晶発振子１５によるメインクロックが生成されない。待機状態において、メインクロックの代わりに、ＣＲ発振回路１６によるサブクロック（クロック信号ｆｃｃ）が生成されている。待機状態において、サブクロックを用いることで、車両用電子制御装置１０は、さらに消費電流又は消費電力を低減することができる。しかしながら、ＣＲ発振回路１６によるサブクロックの精度は、水晶発振子１５によるメインクロックの精度よりも低いので、待機状態においてサブクロックで所定の期間を計測すると、一時的な起動状態に戻る時刻に誤差が生じてしまう。そこで、特許文献１は、一時的な起動状態において、メインクロックに基づくサブクロックの校正係数を求め、待機状態において、サブクロックで校正係数に基づく所定の期間を計測することで、一時的な起動状態に戻る時刻を正確に決定することができる。
【０００４】
具体的には、特許文献１の表１及び段落［００８０］−［００８３］、［００７６］で示されるように、現在の一時的な起動状態においてメインクロックに基づくサブクロックの校正係数が８００／８５０（＝0.9411764705882353≒−６［％］）である場合、サブクロックで８ビットタイマレジスタ１３７を２８１２５０回×0.9411764705882353≒２６４７０５回フルとすることで、次回の一時的な起動状態に戻る時刻（待機状態に移行後、１時間が経過する時刻）を正確に決定することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００４−２２６１６５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
特許文献１のＣＲ発振回路１６のコンデンサの経年劣化によりコンデンサの容量が減少する場合など、校正係数が大きい時、一時的な起動状態に戻る時刻の信頼性が低下してしまう。また、ＣＲ発振回路１６が故障している時でも、サブクロックが生成できる限り、待機状態において、サブクロックで校正係数に基づく所定の期間を計測することで、一時的な起動状態に戻る時刻を決定してしまう。
【０００７】
本発明の１つの目的は、待機状態において計測される時刻の信頼性を向上可能な電子制御装置等を提供することである。本発明の他の目的は、以下に述べる複数の形態及び好ましい実施形態、並びに添付の図面を参照することによって、当業者に明らかになるであろう。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
以下に、本発明の概要を容易に理解するために、本発明に従う複数の形態のうちの幾つかの形態を例示する。
【０００９】
本発明に従う第１の形態は、所定の期間が経過する時に待機状態から一時的な起動状態に戻る電子制御装置であって、
前記一時的な起動状態及び定常的な起動状態において、第１の周波数を有する第１のクロックを生成する第１の生成部と、
前記定常的な起動状態及び前記待機状態において、前記第１の周波数よりも低い第２の周波数を有する第２のクロックを生成する第２の生成部と、
前記定常的な起動状態及び前記一時的な起動状態の少なくとも一方において、前記第１のクロックに基づく前記第２のクロックの校正係数を求める校正部と、
前記定常的な起動状態及び前記一時的な起動状態の少なくとも一方において、前記校正係数が第１の所定値以上である場合、前記第２の周波数を高める設定部と、
前記待機状態において、前記第２のクロックで前記校正係数に基づく前記所定の期間の経過を計測する計測部と、
を備えることを特徴とする電子制御装置に関係する。
【００１０】
校正係数が第１の所定値以上である場合、設定部は、第１の周波数よりも低い第２の周波数を高めることができる。即ち、第２の生成部が劣化していると推定できる時、設定部は、第１の周波数よりも低い第２の周波数を高めることができる。一般に、周波数が高くなれば、クロックの精度が高くなり、消費電流又は消費電力も増加してしまう。しかしながら、第２の生成部が劣化していると推定できる時には、第２の周波数を高めることにより、一時的な起動状態に戻る時刻の信頼性を向上させることができる。
【００１１】
第１の形態において、前記校正係数が前記第１の所定値よりも大きい第２の所定値以上である場合、前記第１の生成部は、前記待機状態において前記第１のクロックの生成を継続してもよく、且つ、前記計測部は、前記待機状態において、前記第１のクロックで前記所定の期間の経過を計測してもよい。
【００１２】
校正係数が第２の所定値以上である場合、計測部は、待機状態において、第２のクロックの代わりに第１のクロックで所定の期間の経過を計測することができる。即ち、第２の生成部が故障していると推定できる時、高い周波数又は精度を有する第１のクロックを用いることで、一時的な起動状態に戻る時刻の信頼性をさらに向上させることができる。
【００１３】
第１の形態において、前記校正部は、前記校正係数として、校正作業を複数回実施した校正係数の平均値又は中央値を算出してもよい。
【００１４】
第２のクロックの精度が悪い場合、校正係数にばらつきがある。従って、平均値又は中央値を用いることにより、第２の生成部が劣化又は故障していることを確実に推定することができる。言い換えれば、実際には第２の生成部が劣化又は故障していない場合に、不要に第２の周波数を高めること、又は不要に第１のクロックを用いることを抑制することができる。
【００１５】
第１の形態において、電子制御装置は、
前記第２の生成部の近傍の温度を検出する検出部を
さらに備えてもよく、
前記校正部は、前記検出部で検出した前記温度又は前記温度を含む温度範囲に対応付けて前記校正係数を求めてもよい。
【００１６】
第２のクロックの精度は、第２の生成部の近傍の温度にも依存するので、校正部は、検出部で検出した温度毎に又は温度範囲毎に校正係数を求めることができる。校正係数を適切に求めることで、一時的な起動状態に戻る時刻の信頼性をさらに向上させることができる。
【００１７】
第１の形態において、
前記校正部は、前記検出部で検出した前記温度を含む前記温度範囲に対応付けて前記校正係数を求めてもよく、
前記温度範囲は、第１の温度範囲と第２の温度範囲とを有してもよく、
前記校正係数は、前記第１の温度範囲に対応する第１の校正係数と、前記第２の温度範囲に対応する第２の校正係数と、を有してもよく、
前記第１の校正係数が前記第１の所定値以上であり、且つ前記第２の校正係数も前記第１の所定値以上である場合、前記設定部は、前記第２の周波数を高めてもよい。
【００１８】
第２のクロックの精度が悪い場合、校正係数にばらつきがあり、そのばらつきが温度に依存する。従って、複数の温度範囲で、校正係数が第１の所定値以上であるか否かを判断することにより、第２の生成部が劣化していることを確実に推定することができる。言い換えれば、実際には第２の生成部が劣化していない場合に、不要に第２の周波数を高めることを抑制することができる。
【００１９】
第１の形態において、
電子制御装置は、
前記校正係数が前記第１の所定値よりも大きい第２の所定値以上である場合、前記待機状態において、車両内に搭載されて計時機能を有する他の電子制御装置であって前記計時機能により前記所定の期間の経過を表す起動信号を生成する他の電子制御装置から、前記起動信号を前記車両内のネットワークを介して受信する受信部を
さらに備えてもよく、
電子制御装置は、
前記起動信号に基づき前記一時的な起動状態に戻ってもよい。
【００２０】
第２の周波数を高めても、校正係数が第２の所定値以上である場合、受信部は、待機状態において、第２のクロック又は計測部の代わりに起動信号を受信することができる。即ち、第２の生成部が故障していると推定できる時、他の電子制御装置の計時機能で所定の期間の経過を計測することで、一時的な起動状態に戻る時刻の信頼性をさらに向上させることができる。
【００２１】
当業者は、本発明に従う複数の形態の各々が、本発明の精神を逸脱することなく、変形され得ることを容易に理解できるであろう。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】本発明に従う電子制御装置の概略構成図を示す。
【図２】図１の電子制御装置の動作状態の概略説明図を示す。
【図３】図３（Ａ）、図３（Ｂ）、図３（Ｃ）及び図３（Ｄ）は、校正係数の算出例を示す。
【図４】校正係数の評価例を示す。
【図５】図１の電子制御装置の動作例を示すフローチャートを示す。
【発明を実施するための形態】
【００２３】
以下に説明する好ましい実施形態は、本発明を容易に理解するために用いられている。従って、当業者は、本発明が、以下に説明される実施形態によって不当に限定されないことを留意すべきである。
【００２４】
１．電子制御装置
１．１．構成
図１は、本発明に従う電子制御装置の概略構成図を示す。図１の例において、電子制御装置１０は、例えばマイコン１３を備えることができ、マイコン１３を用いて待機状態から一時的な起動状態に移行し、又は一時的な起動状態から待機状態に移行することができる。電子制御装置１０は、例えば自動車等の車両（図示せず）に搭載することができ、バッテリ電源２から電力の供給を受けることができる。例えばイグニッションキー（図示せず）によってイグニッションスイッチ３がオンされる場合、電子制御装置１０は、イグニッションのオンを検出し、バッテリ電源２から電力で定常的な起動状態を維持し、様々な処理を実行することができる。
【００２５】
イグニッションスイッチ３がオフされる場合、電子制御装置１０は、イグニッションのオフを検出し、イグニッションのオンが再び検出されるまで、様々な処理を停止して、待機する。待機状態を維持する時、電子制御装置１０は、一時的な起動状態の準備を実行する。即ち、電子制御装置１０は、待機状態において、待機状態に移行後、所定の期間を計測する。所定の期間が経過する時、電子制御装置１０は、一時的な起動状態に戻る。一時的な起動状態において、電子制御装置１０は、様々な処理のうちの所定の処理だけを実行し、再び待機状態に戻る。このように、イグニッションのオフが検出された後、イグニッションのオンが再び検出されるまで、待機状態から一時的な起動状態への移行及び一時的な起動状態から待機状態への移行が繰り返される。イグニッションのオンが再び検出される場合、電子制御装置１０は、定常的な起動状態を維持し、再び様々な処理を実行することができる。
【００２６】
図１の例において、電子制御装置１０は、バッテリ端子＋Ｂ及び供給部１１を備えることができ、供給部１１は、バッテリ端子＋Ｂを介してバッテリ電源２の電圧をマイコン１３又は電子制御装置１０で使用可能な一定電圧に変換する。マイコン１３又はマイコン１３の内部は、供給部１１からの一定電圧（及び接地電圧ＧＮＤ）で動作する。
【００２７】
図１の例において、電子制御装置１０は、イグニッション端子ＩＧ及び比較部１２を備えることができ、比較部１２は、イグニッション端子ＩＧでの電圧と基準電圧Ｖｒｅｆとを比較する。イグニッションスイッチ３がオンされる場合、比較部１２は、イグニッション端子ＩＧ及びイグニッションスイッチ３を介して、バッテリ電源２の電圧が基準電圧Ｖｒｅｆを超えることを検出し、イグニッションがオンされることを表す信号をマイコン１３又はマイコン１３の内部に送る。イグニッションスイッチ３がオフされる場合、比較部１２は、イグニッションがオフされることを表す信号をマイコン１３又はマイコン１３の内部に送る。
【００２８】
図１の例において、電子制御装置１０は、第１の生成部１３２、第２の生成部１３１、校正部２３１、設定部２３２及び計測部２３３を備える。また、電子制御装置１０は、実行部２３４、検出部２３５、記憶部２３６及び通信部２３７を備えることができる。図１の例において、マイコン１３は、これらの機能を備えるが、これらの機能の一部がマイコン１３の外部に設けられてもよい。また、マイコン１３は、ＡＳＩＣ（application specific integrated circuit）等のロジックＩＣで構成してもよい。マイコン１３の具体的な動作については後述する。
【００２９】
図１の例において、電子制御装置１０は、水晶発振子１５及びＲＣ発振素子（ＣＲ発振回路）を備えることができる。水晶発振子１５は、セラミック発振子等の相対的に高い精度を有する発振素子で構成してもよい。ＲＣ発振素子は、図１の例において、抵抗Ｒ及びコンデンサＣを有し、周波数を変更可能な相対的に低い精度を有する発振素子で構成してもよい。また、電子制御装置１０は、端子Ｔを備えることができ、図示されない機能を備えることができる。電子制御装置１０は、図１の例に限定されず、必要に応じて、機能の一部を省略し、又は図示されない機能を追加することができる。水晶発振子１５、ＲＣ発振素子及び端子Ｔの具体的な使用方法については後述する。
【００３０】
１．２．動作状態
図２は、図１の電子制御装置１０の動作状態の概略説明図を示す。図２の例において、時刻Ｔ１でイグニッションがオンされ、定常的な起動状態が開始される。その後、時刻Ｔ２でイグニッションがオフされ、待機状態が開始される。その後、時刻Ｔ１１で再びイグニッションがオンされるまで、時刻Ｔ３，Ｔ５，Ｔ７，Ｔ９で、一時的な起動状態が開始される。一時的な起動状態は、時刻Ｔ４，Ｔ６，Ｔ８，Ｔ１０で終了する。時刻Ｔ１２でイグニッションが再びオフされ、その後、待機状態が開始される。
【００３１】
電子制御装置１０が例えばＦＩ（fuel injection）ＥＣＵである場合、定常的な起動状態（例えば時刻Ｔ１からＴ２まで）において、電子制御装置１０は、端子Ｔ又は他の端子（図示せず）を介して車両のエンジンへの燃料噴射量を制御することができ、一時的な起動状態（例えば時刻Ｔ３からＴ４まで）において、電子制御装置１０は、例えば端子Ｔを介して燃料漏れの有無を検査することができる。電子制御装置１０が例えば乗員検知ＥＣＵである場合、定常的な起動状態において、電子制御装置１０は、乗員状態の判断結果をエアバックＥＣＵに送ることができ、一時的な起動状態において、電子制御装置１０は、荷重センサのゼロ点補正を行うことができる。
【００３２】
電子制御装置１０は、待機状態（例えば時刻Ｔ２からＴ３まで）において、所定の期間を計測するタイマカウント機能を実行することができる。所定の期間が経過する時、電子制御装置１０は、一時的な起動状態に戻る。
【００３３】
１．３．定常的な起動状態
定常的な起動状態において、図１の第１の生成部１３２は、水晶発振子１５を用いて第１の周波数を有する第１のクロックを生成し、電子制御装置１０又はマイコン１３は、第１のクロックに基づき動作し、様々な処理を実行することができる。様々な処理の１例として、電子制御装置１０又はマイコン１３は、校正処理及び設定処理を実行するとともに、例えば燃料噴射量制御処理を実行する。なお、校正処理及び設定処理は、定常的な起動状態だけにおいて実行してもよく、定常的な起動状態及び一時的な起動状態の双方において実行してもよく、場合により、一次的な起動状態だけにおいて実行してもよい。
【００３４】
１．３．１．校正処理
少なくとも校正処理において、図１の第２の生成部１３１は、抵抗Ｒ及びコンデンサＣを用いて第２の周波数を有する第２のクロックを生成する。校正処理において、校正部２３１は、第１のクロック及び第２のクロックを入力し、第１のクロックに基づく第２のクロックの校正係数を求める。具体的には、校正部２３１は、第１のクロック及び第２のクロックの双方で同時に校正期間を計測し、第１のクロックでの第１の計測時間と第２のクロックでの第２の計測時間とを比較し、校正係数を求めることができる。図３（Ａ）、図３（Ｂ）、図３（Ｃ）及び図３（Ｄ）は、校正係数の算出例を示し、以下に算出方法を説明する。
【００３５】
校正期間が例えば第１のクロックを基準に決定される場合、校正期間は、第１のクロックでの第１の計測時間と一致する。例えば、第１のクロックで校正期間（例えば１０［ｍｓｅｃ］＝第１の計測時間）を計測した時、第２のクロックでの第２の計測時間が例えば１０［ｍｓｅｃ］である場合、校正係数は、１０／１０（＝1.000000000000000＝０［％］）を示し、これは第２のクロックを校正する必要がないことを意味する（図３（Ａ）参照）。
【００３６】
代替的に、例えば、第１のクロックで校正期間（例えば１０［ｍｓｅｃ］＝第１の計測時間）を計測した時、第２のクロックでの第２の計測時間が例えば１１［ｍｓｅｃ］である場合、校正係数は、１１／１０（＝1.100000000000000＝１０［％］）を示し、これは第２のクロックが進んでいることを意味する（図３（Ｂ）参照）。校正係数が１．１０である場合、第２のクロックで所定の期間（例えば１［ｈ］）を１．１０倍した期間を計測する時、実際には、所定の期間（例えば１［ｈ］）が計測される。
【００３７】
校正期間が例えば第２のクロックを基準に決定される場合、校正期間は、第２のクロックでの第２の計測時間と一致する。例えば、第２のクロックで校正期間（例えば１０［ｍｓｅｃ］＝第２の計測時間）を計測した時、第１のクロックでの第１の計測時間が例えば９［ｍｓｅｃ］である場合、校正係数は、１０／９（＝1.111111111111111≒１１［％］）を示し、これは第２のクロックが進んでいることを意味する（図３（Ｃ）参照）。校正係数が１．１１である場合、第２のクロックで所定の期間（例えば１［ｈ］）を１．１１倍した期間を計測する時、実際には、所定の期間（例えば１［ｈ］）が計測される。
【００３８】
また、代替的に、例えば、第２のクロックで校正期間（例えば１０［ｍｓｅｃ］＝第２の計測時間）を計測した時、第１のクロックでの第１の計測時間が例えば１１［ｍｓｅｃ］である場合、校正係数は、１０／１１（＝0.9090909090909091≒−９［％］）を示し、これは第２のクロックが遅れていることを意味する（図３（Ｄ）参照）。校正係数が０．９１である場合、第２のクロックで所定の期間（例えば１［ｈ］）を０．９１倍した期間を計測する時、実際には、所定の期間（例えば１［ｈ］）が計測される。
【００３９】
校正部２３１は、例えば第１のカウンタ及び第２のカウンタで構成され、第１のカウンタは、第１のクロックでカウントアップされ、第２のカウンタは、第２のクロックでカウントアップされる。第１の周波数が例えば２０［ＭＨｚ］であり、第１の計測時間が例えば１０［ｍｓｅｃ］である場合、第２のカウンタのカウント値は、２０×1,000,000,000／（１０×1,000）＝2,000,000を示す。
【００４０】
第２の周波数が例えば１０［ＫＨｚ］であり、第２の計測時間が例えば１０［ｍｓｅｃ］である場合、第２のカウンタのカウント値は、１０×1,000,000／（１０×1,000）＝1,000を示す。
【００４１】
例えば、第１のクロック（例えば２０［ＭＨｚ］）で第１のカウンタのカウント値が2,000,000（校正期間＝１０［ｍｓｅｃ］）を示した時、第２のクロック（例えば１０［ＫＨｚ］）での第２のカウンタのカウント値が例えば1,000である場合、校正係数は、（1,000／１０×1,000）／（2,000,000／２０×1,000,000,000）（＝1.000000000000000＝０［％］）を示し、これは第２のクロックを校正する必要がないことを意味する（図３（Ａ）参照）。
【００４２】
代替的に、例えば、第１のクロック（例えば２０［ＭＨｚ］）で第１のカウンタのカウント値が2,000,000（校正期間＝１０［ｍｓｅｃ］）を示した時、第２のクロック（例えば１０［ＫＨｚ］）での第２のカウンタのカウント値が例えば1,100である場合、校正係数は、（1,100／１０×1,000）／（2,000,000／２０×1,000,000,000）（＝1.100000000000000＝１０［％］）を示し、これは第２のクロックが進んでいることを意味する（図３（Ｂ）参照）。校正係数が１．１０である場合、第２のクロック（例えば１０［ＫＨｚ］）で第２のカウンタのカウント値が（１０×1,000×3,600）（＝所定の期間＝１［ｈ］）を１．１０倍した値を示す時、実際には、所定の期間（例えば１［ｈ］）が計測される。
【００４３】
代替的に、例えば、第２のクロック（例えば１０［ＫＨｚ］）で第２のカウンタのカウント値が1,000（校正期間＝１０［ｍｓｅｃ］）を示した時、第１のクロック（例えば２０［ＭＨｚ］）での第１のカウンタのカウント値が例えば1,800,000である場合、校正係数は、（1,000／１０×1,000）／（1,800,000／２０×1,000,000,000）（＝1.111111111111111≒１１［％］）を示し、これは第２のクロックが進んでいることを意味する（図３（Ｃ）参照）。校正係数が１．１１である場合、第２のクロック（例えば１０［ＫＨｚ］）で第２のカウンタのカウント値が（１０×1,000×3,600）（＝所定の期間＝１［ｈ］）を１．１１倍した値を示す時、実際には、所定の期間（例えば１［ｈ］）が計測される。
【００４４】
また、代替的に、例えば、第２のクロック（例えば１０［ＫＨｚ］）で第２のカウンタのカウント値が1,000（校正期間＝１０［ｍｓｅｃ］）を示した時、第１のクロック（例えば２０［ＭＨｚ］）での第１のカウンタのカウント値が例えば2,200,000である場合、校正係数は、（1,000／１０×1,000）／（2,200,000／２０×1,000,000,000）（＝0.9090909090909091≒−９［％］）を示し、これは第２のクロックが遅れていることを意味する（図３（Ｄ）参照）。校正係数が０．９１である場合、第２のクロック（例えば１０［ＫＨｚ］）で第２のカウンタのカウント値が（１０×1,000×3,600）（＝所定の期間＝１［ｈ］）を０．９１倍した値を示す時、実際には、所定の期間（例えば１［ｈ］）が計測される。
【００４５】
校正処理において、校正部２３１は、求めた校正係数を評価することができる。具体的には、校正部２３１又はマイコン１３は、校正係数が第１の所定値（例えば１．２）以上である場合、ＲＣ発振素子又は第２の生成部１３１が劣化していると推定できる。好ましくは、校正部２３１又はマイコン１３は、校正係数が第１の所定値よりも大きい第２の所定値（例えば１．３）以上である場合、ＲＣ発振素子又は第２の生成部１３１が故障していると推定できる。
【００４６】
同様に、校正部２３１又はマイコン１３は、校正係数が第１の所定値よりも小さい第３の所定値（例えば０．８）以下である場合、ＲＣ発振素子又は第２の生成部１３１が劣化していると推定できる。好ましくは、校正部２３１又はマイコン１３は、校正係数が第３の所定値よりも小さい第４の所定値（例えば０．７）以下である場合、ＲＣ発振素子又は第２の生成部１３１が故障していると推定できる。
【００４７】
校正部２３１又はマイコン１３は、校正係数が第１の所定値（例えば１．２）よりも小さく、且つ校正係数が第３の所定値（例えば０．８）よりも大きい場合、ＲＣ発振素子又は第２の生成部１３１が正常であると推定できる。ＲＣ発振素子又は第２の生成部１３１が正常であると推定できる時、校正処理において、校正部２３１は、求めた校正係数を例えば記憶部２３６に記憶することができる。図４は、校正係数の評価例を示す。
【００４８】
１．３．２．設定処理
校正係数が第１の所定値（例えば１．２）以上である場合、設定処理において、設定部２３２は、第２の生成部１３１で生成される第２のクロックの第２の周波数を高める。好ましくは、校正係数が第１の所定値（例えば１．２）以上であり、且つ校正係数が第２の所定値（例えば１．３）よりも小さい場合、設定部２３２は、第２の周波数を高める。具体的には、設定部２３２は、例えば抵抗Ｒの抵抗値を調整して、第２の周波数を高めることができる。例えば、抵抗Ｒの抵抗値を小さくすることにより、第２の周波数を大きくすることができる。
【００４９】
同様に、校正係数が第３の所定値（例えば０．８）以下である場合、設定部２３２は、第２の周波数を高める。好ましくは、校正係数が第３の所定値（例えば０．８）以下であり、且つ校正係数が第４の所定値（例えば０．７）よりも大きい場合、設定部２３２は、第２の周波数を高める。このように、ＲＣ発振素子又は第２の生成部１３１が劣化していると推定できる時、設定部２３２は、第２の生成部１３１で生成される第２のクロックの第２の周波数を高める。第２の周波数が高くなれば、コンデンサＣの容量が減少することに起因する発振周期の乱れを抑制し、第２のクロックの精度が高くなる。
【００５０】
第２の周波数を高める時、設定部２３２は、例えば１０［ＫＨｚ］から１００［ＫＨｚ］に変更又は再設定することができる。この時、設定部２３２は、校正係数に応じて第２の周波数を高める程度を決定してもよい。例えば、校正係数が１．２１又は０．７９である場合、設定部２３２は、第２の周波数を例えば２００［ＫＨｚ］に再設定することができる。校正係数が１．２５又は０．７５である場合、設定部２３２は、第２の周波数を例えば５００［ＫＨｚ］に再設定することができる。校正係数が１．２９又は０．７１である場合、設定部２３２は、第２の周波数を例えば９００［ＫＨｚ］に再設定することができる。
【００５１】
１．４．待機状態
待機状態において、図１の第２の生成部１３１は、抵抗Ｒ及びコンデンサＣを用いて第２の周波数を有する第２のクロックを生成する。設定部２３２によって例えば抵抗Ｒの抵抗値を小さく設定される場合、第２の生成部１３１は、高められた第２の周波数を有する第２のクロックを生成する。ＲＣ発振素子又は第２の生成部１３１が正常であると推定できる時、待機状態において、第１の生成部１３２は、第２の周波数又は高められた第２の周波数よりも高い第１の周波数を有する第１のクロックの生成を停止することが好ましい。ＲＣ発振素子又は第２の生成部１３１が劣化していると推定できる時も、待機状態において、第１の生成部１３２は、第１のクロックの生成を停止することが好ましい。
【００５２】
待機状態において、計測部２３３は、第２のクロック（例えば１０［ＫＨｚ］）で校正係数に基づく所定の期間（例えば１［ｈ］）の経過を計測する。校正係数（例えば１．１０）は、例えば記憶部２３６に記憶されている。計測部２３３は、例えば第２のカウンタを用いて、所定の期間が経過した時刻又は一時的な起動状態に戻る時刻を計測することができる。具体的には、イグニッションのオフが検出された時（例えば図２の時刻Ｔ２）、計測部２３３は、第２のカウンタをリセットする。その後、計測部２３３は、第２のクロック（例えば１０［ＫＨｚ］）で第２のカウンタをカウントアップさせ、第２のカウンタのカウント値が（１０×1,000×3,600）×１．１０を示す時（例えば図２の時刻Ｔ３）、計測部２３３は、起動信号を実行部２３４に送る。
【００５３】
ＲＣ発振素子又は第２の生成部１３１が故障であると推定できる時、待機状態において、第１の生成部１３２は、第１のクロックの生成を継続する。加えて、計測部２３３は、第１のクロック（例えば２０［ＭＨｚ］）で所定の期間（例えば１［ｈ］）の経過を計測する。ＲＣ発振素子又は第２の生成部１３１が故障であると推定できる時にイグニッションのオフが検出された場合、計測部２３３は、第１のクロック（例えば２０［ＭＨｚ］）で第１のカウンタをカウントアップさせ、第１のカウンタのカウント値が（２０×1,000,000×3,600）を示す時（例えば図２の時刻Ｔ３）、計測部２３３は、起動信号を実行部２３４に送る。
【００５４】
１．５．一時的な起動状態
待機状態において、第１の生成部１３２が第１のクロックの生成を停止している場合、一時的な起動状態において、第１の生成部１３２は、第１のクロックの生成を再開する。一時的な起動状態において、電子制御装置１０又はマイコン１３は、第１のクロックに基づき動作し、様々な処理のうちの所定の処理だけを実行することができる。所定の処理の１例として、例えば実行部２３４は、燃料漏れの有無を検査する。電子制御装置１０又はマイコン１３は、所定の処理を完了する時（例えば図２の時刻Ｔ４）、一時的な起動状態から待機状態に移行する。
【００５５】
１．６．動作例
図５は、図１の電子制御装置１０の動作例を示すフローチャートを示す。以下に、図５を参照しながら、電子制御装置１０が定常的な起動状態（例えば図２の時刻Ｔ１）から待機状態（例えば図２の時刻Ｔ２）に移行するまでの動作例について説明する。定常的な起動状態が開始される時、図１のマイコン１３又は例えば実行部２３４は、イグニッションがオフされているか否かを判定する（図５のステップＳ２１０）。図５のステップＳ２１０において、イグニッションがオフされた時、例えば実行部２３４は、計測部２３３に第２のクロックで所定の期間の経過を計測するように指示し、電子制御装置１０又はマイコン１３は、待機状態に移行する。電子制御装置１０又はマイコン１３は、図５のステップＳ２１０において、イグニッションがオフされていない時、電子制御装置１０又はマイコン１３は、校正処理及び設定処理を実行することができる（図５のステップＳ２４０及びステップＳ２９０）。
【００５６】
校正処理を実行する前に、マイコン１３又は例えば実行部２３４は、学習条件が満足されているか否かを判定することが好ましい（図５のステップＳ２２０）。学習条件は、例えば、バッテリ電源２の電圧又は供給部１１からの一定電圧が安定していることを含む。電子制御装置１０又はマイコン１３は、必要に応じて例えば通信部２３７を用いて、バッテリ電源２の電圧を直接に検出してもよく、ある期間においてバッテリ電源２の電圧が常にある値を超えていることを確認した時、学習条件が満足される。学習条件は、例えば、車両が停止していることをさらに含む。電子制御装置１０又はマイコン１３は、必要に応じて例えば通信部２３７を用いて、車速センサ（図示せず）からの車両の速度を検出してもよく、車両の速度がある値よりも小さいことを確認した時、学習条件が満足される。
【００５７】
学習条件が満足された時、マイコン１３又は検出部２３５は、第２の生成部１３１の近傍の温度（環境温度又は周辺温度）を検出することが好ましい（図５のステップＳ２３０）。第２のクロックの精度は、温度にも依存するので、校正部２３１は、検出部２３５で検出された温度毎に又は温度範囲毎に校正係数を求めることができる。第２の生成部１３１の近傍の温度を検出するセンサ（図示せず）は、好ましくは抵抗Ｒ及びコンデンサＣの近傍に設定され、例えば、電子制御装置１０の内部に組み込まれる。第２の生成部１３１の近傍の温度を検出するセンサは、例えばサーミスタで構成される。
【００５８】
温度が検出された時、電子制御装置１０又はマイコン１３は、校正処理を実行する（図５のステップＳ２４０）。具体的には、例えば図３（Ａ）及び図３（Ｂ）に示されるように、校正部２３１は、例えば第１のクロックを基準に校正期間（１０［ｍｓｅｃ］）を決定し、第１のクロックに基づく第２のクロックの校正係数を求める。この時、校正係数のばらつきを考慮して、図５のステップＳ２４０において、校正作業を複数回実施することが好ましく、校正部２３１は、校正作業を複数回実施した校正係数の平均値又は中央値を算出する。
【００５９】
校正係数の平均値又は中央値が得られた時、校正部２３１は、求めた校正係数の平均値又は中央値を評価する（図５のステップＳ２５０及びステップＳ２７０）。具体的には、図５のステップＳ２５０において、校正部２３１は、求めた校正係数の平均値が第１の所定値（例えば１．２）を超えるか否かを判定し、加えて、校正部２３１は、求めた校正係数の平均値が第１の所定値よりも小さい第３の所定値（例えば０．８）を超えていないか否かを判定する。
【００６０】
ステップＳ２５０が否定的な結果を示した時、求めた校正係数の平均値は、第１の所定値と第３の所定値との間に位置し、校正部２３１は、第２のクロック又は第２の生成部１３１が正常であると推定できる。第２のクロック又は第２の生成部１３１が正常であると推定できる時、校正部２３１は、検出された温度又はその温度を含む温度範囲に基づき、例えば記憶部２３６に記憶される校正係数を更新する（図５のステップＳ２６０）。
【００６１】
例えば校正係数の初期値として１．０が記憶部２３６に記憶され、検出された温度が例えば１０［℃］であり、例えば校正作業を２回実施した校正係数の平均値が例えば１．１（＝（１．０＋１．２）／２）である場合、校正部２３１は、記憶部２３６に記憶されている温度１０［℃］に対応する校正係数１．０（初期値）を校正係数の平均値１．１に書き換える（図５のステップＳ２６０）。
【００６２】
ステップＳ２６０が実施された後、その後も、ステップＳ２１０，Ｓ２２０，Ｓ２３０，Ｓ２４０，Ｓ２５０，Ｓ２６０が実施され得る。例えば校正係数として１．１（前回値）が記憶部２３６に記憶され、検出された温度が例えば１０［℃］（今回値）であり、例えば校正作業を２回実施した校正係数の平均値（今回値）が例えば１．１５（＝（１．２＋１．１）／２）である場合、校正部２３１は、記憶部２３６に記憶されている温度１０［℃］に対応する校正係数１．１（前回値）を校正係数の平均値１．１５（今回値）に書き換える（図５のステップＳ２６０）。
【００６３】
なお、ステップＳ２６０において、検出した温度が例えば０［℃］〜２０［℃］の温度範囲にある場合、温度範囲毎に、記憶部２３６に記憶される校正係数を更新してもよい。例えば校正係数として１．１（前回値）が記憶部２３６に記憶され、検出された温度範囲が例えば０［℃］〜２０［℃］（今回値）であり、例えば校正作業を２回実施した校正係数の平均値（今回値）が例えば１．１５（＝（１．２＋１．１）／２）である場合、校正部２３１は、記憶部２３６に記憶されている温度範囲０［℃］〜２０［℃］に対応する校正係数１．１（前回値）を校正係数の平均値１．１５（今回値）に書き換えてもよい（図５のステップＳ２６０）。
【００６４】
ステップＳ２５０が肯定的な結果を示した時、校正部２３１は、求めた校正係数の平均値又は中央値の評価を継続する（図５のステップＳ２７０）。具体的には、図５のステップＳ２７０において、校正部２３１は、求めた校正係数の平均値が第１の所定値よりも大きい第２の所定値（例えば１．３）を超えるか否かを判定し、加えて、校正部２３１は、求めた校正係数の平均値が第３の所定値よりも小さい第４の所定値（例えば０．７）を超えていないか否かを判定する。
【００６５】
ステップＳ２７０が否定的な結果を示した時、求めた校正係数の平均値は、第１の所定値と第２の所定値との間に位置し、又は第３の所定値と第４の所定値との間に位置する。この時、校正部２３１は、第２のクロック又は第２の生成部１３１が劣化していると即座に推定できるが、第２の生成部が劣化していることを確実に推定するために、ステップＳ２８０を実施することが好ましい。具体的には、ステップＳ２７０において否定的な結果が１回だけ示された時、校正部２３１は、第２のクロック又は第２の生成部１３１が劣化していると推定しないで、ステップＳ２８０は、否定的な結果を示す。
【００６６】
ステップＳ２８０が否定的な結果を示した後、その後も、ステップＳ２１０，Ｓ２２０，Ｓ２３０，Ｓ２４０，Ｓ２５０，Ｓ２７０が実施され得る。ステップＳ２７０において否定的な結果が例えば２回示された時、校正部２３１は、第２のクロック又は第２の生成部１３１が劣化していると推定でき、ステップＳ２８０は、肯定的な結果を示す。
【００６７】
好ましくは、ステップＳ２８０が肯定的な結果を示す時の条件として、複数の温度範囲で、ステップＳ２７０が否定的な結果を示すことを追加する。例えば温度範囲−２０［℃］〜０［℃］（第１の温度範囲）では、ステップＳ２７０（第１の訂正係数）が否定的な結果を複数回示しているが、例えば温度範囲０［℃］〜２０［℃］（第２の温度範囲）では、ステップＳ２７０（第２の訂正係数）が依然として否定的な結果を示さない場合がある。このような場合、実際には、第２のクロック又は第２の生成部１３１が劣化していないと推定することができる。従って、例えば温度範囲−２０［℃］〜０［℃］（第１の温度範囲）でステップＳ２７０（第１の訂正係数）が否定的な結果を示し、且つ例えば温度範囲０［℃］〜２０［℃］（第２の温度範囲）でもステップＳ２７０（第２の訂正係数）が否定的な結果を示す場合に限り、校正部２３１は、第２のクロック又は第２の生成部１３１が劣化していると推定でき、ステップＳ２８０は、肯定的な結果を示すことが好ましい。
【００６８】
ステップＳ２８０が肯定的な結果を示した時、設定部２３２は、第２のクロックの元である第２の周波数を高める（図５のステップＳ２９０）。具体的には、例えば第２の周波数の初期値として１０［ＫＨｚ］が抵抗Ｒ又は第２の生成部１３１に設定されている場合、設定部２３２は、抵抗Ｒ又は第２の生成部１３１に設定されている１０［ＫＨｚ］（初期値）を例えば１００［ＫＨｚ］に再設定する（図５のステップＳ２９０）。
【００６９】
この時、設定部２３２は、１０［ＫＨｚ］（初期値）に対応して記憶部２３６に記憶されていた全ての温度に対応する校正係数を校正係数１．０（初期値）にリセットすることができる（図５のステップＳ２９０）。即ち、ステップＳ２９０の実施後に再びステップＳ２６０が最初に実施される時、１００［ＫＨｚ］（再設定値）に対応して記憶部２３６に記憶されている校正係数は、１．０（初期値）を示すことになる。
【００７０】
ステップＳ２７０が肯定的な結果を示した時、求めた校正係数の平均値は、第４の所定値と第１の所定値との間に位置しない。この時、校正部２３１は、第２のクロック又は第２の生成部１３１が故障していると即座に推定できるが、第２の生成部が故障していることを確実に推定するために、ステップＳ３００を実施することが好ましい。具体的には、ステップＳ２７０において肯定的な結果が１回だけ示された時、校正部２３１は、第２のクロック又は第２の生成部１３１が故障していると推定しないで、ステップＳ３００は、否定的な結果を示す。
【００７１】
ステップＳ３００が否定的な結果を示した後、その後も、ステップＳ２１０，Ｓ２２０，Ｓ２３０，Ｓ２４０，Ｓ２５０，Ｓ２７０が実施され得る。ステップＳ２７０において肯定的な結果が例えば２回示された時、校正部２３１は、第２のクロック又は第２の生成部１３１が故障していると推定でき、ステップＳ３００は、肯定的な結果を示す。好ましくは、ステップＳ３００が肯定的な結果を示す時の条件として、複数の温度範囲で、ステップＳ２７０が肯定的な結果を示すことを追加する。
【００７２】
ステップＳ３００が肯定的な結果を示した時、マイコン１３又は例えば実行部２３４は、第２のクロックの故障をユーザに報知することができる（図５のステップＳ３１０）。マイコン１３又は例えば実行部２３４は、必要に応じて例えば通信部２３７を用いて、例えばスピーカ（図示せず）を用いて第２のクロックが故障していることを音声でユーザに知らせることができる。
【００７３】
第２のクロック又は第２の生成部１３１が故障していると推定できる時、マイコン１３又は例えば実行部２３４は、イグニッションがオフされているか否かを判定する（図５のステップＳ３２０）。図５のステップＳ３２０において、イグニッションがオフされた時、例えば実行部２３４は、計測部２３３に第１のクロックで所定の期間の経過を計測するように指示し、電子制御装置１０又はマイコン１３は、待機状態に移行し、この時、計測部２３３は、第１のクロックで所定の期間の経過を計測する。
【００７４】
なお、図５のステップＳ２１０が肯定的な結果を示した後に、電子制御装置１０又はマイコン１３は、待機状態に移行する直前で、定常的な起動状態において、マイコン１３又は検出部２３５は、温度を検出してもよい。代替的に、図５のステップＳ２１０が肯定的な結果を示した後に、電子制御装置１０又はマイコン１３は、待機状態に移行した直後で、待機状態において、マイコン１３又は検出部２３５は、温度を検出することができる。待機状態において、計測部２３３が第２のクロックで校正係数に基づく所定の期間の経過を計測する時、例えば記憶部２３６に記憶される温度又は温度範囲毎の校正係数を用いることが好ましい。校正係数を適切に用いることで、一時的な起動状態に戻る時刻の信頼性をさらに向上させることができる。
【００７５】
２．変形例
第２のクロック又は第２の生成部１３１が故障していると推定できる時、待機状態において、計測部２３３は、第１のクロックで所定の期間の経過を計測することができる。この時、変形例では、電子制御装置１０又はマイコン１３は、計測部２３３の動作の代わりに、通信部２３７を動作させてもよい。好ましくは、第２のクロック又は第２の生成部１３１が故障していると推定できる時、計測部２３３は、第２のクロックに基づく所定の期間の経過の計測も、第１のクロックに基づく所定の期間の経過の計測も、実行せず、待機状態において、消費電流又は消費電力を低減するために第１の生成部１３２及び第２の生成部１３１の動作を停止する。変形例では、待機状態において、計測部２３３（及び第１の生成部１３２及び第２の生成部１３１）の動作の代わりに、通信部２３７、特に通信部２３７のうちの受信部が、所定の期間の経過を表す起動信号を他の電子制御装置（図示せず）から受信する。
【００７６】
変形例では、例えばナビゲーション、オーディオ、メータ等の計時機能を有する他の電子制御装置が、所定の期間の経過を表す起動信号を生成し、この起動信号を所定の通信方式で通信部２３７の受信部に送る。具体的には、他の電子制御装置が常に第３のクロック（好ましくは第２のクロックよりも精度の高い第３のクロック）で動作している時、他の電子制御装置は、第３のクロックで所定の期間の経過を計測する。電子制御装置１０は、他の電子制御装置からの起動信号を受信し、受信した起動信号に基づき、一時的な起動状態に移行することができる。なお、他の電子制御装置が所定の期間を把握していない場合、通信部２３７のうちの送信部が、所定の期間を他の電子制御装置に送ることができる。また、電子制御装置１０は、例えばＣＡＮ（Controller Area Network）等の車両内のネットワークを介して、車両内に搭載される他の電子制御装置と相互に通信することができる。
【００７７】
なお、本発明は、上述の例示的な実施形態に限定されず、また、当業者は、上述の例示的な実施形態を特許請求の範囲に含まれる範囲まで、容易に変更することができるであろう。
【符号の説明】
【００７８】
２・・・バッテリ電源、３・・・イグニッションスイッチ、１０・・・電子制御装置、１１・・・供給部、１２・・・比較部、１３・・・マイコン、１５・・・水晶発振子、１３１・・・第２の生成部、１３２・・・第１の生成部、２３１・・・校正部、２３２・・・設定部、２３３・・・計測部、２３４・・・実行部、２３５・・・検出部、２３６・・・記憶部、２３７・・・通信部、Ｃ・・・コンデンサ、ＧＮＤ・・・接地電圧、ＩＧ・・・イグニッション端子、Ｒ・・・抵抗、Ｔ・・・端子、＋Ｂ・・・バッテリ端子
【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定の期間が経過する時に待機状態から一時的な起動状態に戻る電子制御装置であって、
前記一時的な起動状態及び定常的な起動状態において、第１の周波数を有する第１のクロックを生成する第１の生成部と、
前記定常的な起動状態及び前記待機状態において、前記第１の周波数よりも低い第２の周波数を有する第２のクロックを生成する第２の生成部と、
前記定常的な起動状態及び前記一時的な起動状態の少なくとも一方において、前記第１のクロックに基づく前記第２のクロックの校正係数を求める校正部と、
前記定常的な起動状態及び前記一時的な起動状態の少なくとも一方において、前記校正係数が第１の所定値以上である場合、前記第２の周波数を高める設定部と、
前記待機状態において、前記第２のクロックで前記校正係数に基づく前記所定の期間の経過を計測する計測部と、
を備えることを特徴とする電子制御装置。
【請求項２】
前記校正係数が前記第１の所定値よりも大きい第２の所定値以上である場合、前記第１の生成部は、前記待機状態において前記第１のクロックの生成を継続し、且つ、前記計測部は、前記待機状態において、前記第１のクロックで前記所定の期間の経過を計測することを特徴とする請求項１に記載の電子制御装置。
【請求項３】
前記校正部は、前記校正係数として、校正作業を複数回実施した校正係数の平均値又は中央値を算出することを特徴とする請求項１又は２に記載の電子制御装置。
【請求項４】
前記第２の生成部の近傍の温度を検出する検出部を
さらに備え、
前記校正部は、前記検出部で検出した前記温度又は前記温度を含む温度範囲に対応付けて前記校正係数を求めることを特徴とする請求項１乃至３の何れか１項に記載の電子制御装置。
【請求項５】
前記校正部は、前記検出部で検出した前記温度を含む前記温度範囲に対応付けて前記校正係数を求め、
前記温度範囲は、第１の温度範囲と第２の温度範囲とを有し、
前記校正係数は、前記第１の温度範囲に対応する第１の校正係数と、前記第２の温度範囲に対応する第２の校正係数と、を有し、
前記第１の校正係数が前記第１の所定値以上であり、且つ前記第２の校正係数も前記第１の所定値以上である場合、前記設定部は、前記第２の周波数を高めることを特徴とする請求項４に記載の電子制御装置。
【請求項６】
前記校正係数が前記第１の所定値よりも大きい第２の所定値以上である場合、前記待機状態において、車両内に搭載されて計時機能を有する他の電子制御装置であって前記計時機能により前記所定の期間の経過を表す起動信号を生成する他の電子制御装置から、前記起動信号を前記車両内のネットワークを介して受信する受信部を
さらに備え、
前記起動信号に基づき前記一時的な起動状態に戻ることを特徴とする請求項１に記載の電子制御装置。
【請求項１】
所定の期間が経過する時に待機状態から一時的な起動状態に戻る電子制御装置であって、
前記一時的な起動状態及び定常的な起動状態において、第１の周波数を有する第１のクロックを生成する第１の生成部と、
前記定常的な起動状態及び前記待機状態において、前記第１の周波数よりも低い第２の周波数を有する第２のクロックを生成する第２の生成部と、
前記定常的な起動状態及び前記一時的な起動状態の少なくとも一方において、前記第１のクロックに基づく前記第２のクロックの校正係数を求める校正部と、
前記定常的な起動状態及び前記一時的な起動状態の少なくとも一方において、前記校正係数が第１の所定値以上である場合、前記第２の周波数を高める設定部と、
前記待機状態において、前記第２のクロックで前記校正係数に基づく前記所定の期間の経過を計測する計測部と、
を備えることを特徴とする電子制御装置。
【請求項２】
前記校正係数が前記第１の所定値よりも大きい第２の所定値以上である場合、前記第１の生成部は、前記待機状態において前記第１のクロックの生成を継続し、且つ、前記計測部は、前記待機状態において、前記第１のクロックで前記所定の期間の経過を計測することを特徴とする請求項１に記載の電子制御装置。
【請求項３】
前記校正部は、前記校正係数として、校正作業を複数回実施した校正係数の平均値又は中央値を算出することを特徴とする請求項１又は２に記載の電子制御装置。
【請求項４】
前記第２の生成部の近傍の温度を検出する検出部を
さらに備え、
前記校正部は、前記検出部で検出した前記温度又は前記温度を含む温度範囲に対応付けて前記校正係数を求めることを特徴とする請求項１乃至３の何れか１項に記載の電子制御装置。
【請求項５】
前記校正部は、前記検出部で検出した前記温度を含む前記温度範囲に対応付けて前記校正係数を求め、
前記温度範囲は、第１の温度範囲と第２の温度範囲とを有し、
前記校正係数は、前記第１の温度範囲に対応する第１の校正係数と、前記第２の温度範囲に対応する第２の校正係数と、を有し、
前記第１の校正係数が前記第１の所定値以上であり、且つ前記第２の校正係数も前記第１の所定値以上である場合、前記設定部は、前記第２の周波数を高めることを特徴とする請求項４に記載の電子制御装置。
【請求項６】
前記校正係数が前記第１の所定値よりも大きい第２の所定値以上である場合、前記待機状態において、車両内に搭載されて計時機能を有する他の電子制御装置であって前記計時機能により前記所定の期間の経過を表す起動信号を生成する他の電子制御装置から、前記起動信号を前記車両内のネットワークを介して受信する受信部を
さらに備え、
前記起動信号に基づき前記一時的な起動状態に戻ることを特徴とする請求項１に記載の電子制御装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【公開番号】特開２０１２−２２０２７６（Ｐ２０１２−２２０２７６Ａ）
【公開日】平成２４年１１月１２日（２０１２．１１．１２）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−８４５８９（Ｐ２０１１−８４５８９）
【出願日】平成２３年４月６日（２０１１．４．６）
【出願人】（０００００５３２６）本田技研工業株式会社 (23,863)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２４年１１月１２日（２０１２．１１．１２）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年４月６日（２０１１．４．６）
【出願人】（０００００５３２６）本田技研工業株式会社 (23,863)
【Ｆターム（参考）】
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