電波暗室
【課題】電波暗室内で測定用アンテナに対して被測定体を測定位置に位置ズレすることなく高精度に設置することが難しかった。
【解決手段】本発明の電波暗室１０は、被測定アンテナ１９を設置するターンテーブル１５と、被測定アンテナ１９と対向するように被測定アンテナ１９から離間する位置に設置された測定用アンテナ１６と、を備え、ターンテーブル１５の中心を通るレーザ光Ｌを照射する第１の光照射機器２０を設け、第１の光照射機器２０からの光点を基準に被測定アンテナ１９を設置する。
【解決手段】本発明の電波暗室１０は、被測定アンテナ１９を設置するターンテーブル１５と、被測定アンテナ１９と対向するように被測定アンテナ１９から離間する位置に設置された測定用アンテナ１６と、を備え、ターンテーブル１５の中心を通るレーザ光Ｌを照射する第１の光照射機器２０を設け、第１の光照射機器２０からの光点を基準に被測定アンテナ１９を設置する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電波暗室に関し、更に詳しくは、例えば被測定体の測定位置に高精度に再現性良く設置することができる電波暗室に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
電波暗室においてアンテナの指向性等のアンテナ特性を測定し、あるいは電子機器から発生する不要電磁波（ノイズ）を測定する時には、ターンテーブル上に配置された設置体上にアンテナや電子機器等の被測定体を設置し、ターンテーブルを回転させて、３ｍまたは１０ｍ離れた距離に設置された測定用アンテナで測定している。
【０００３】
ところが、例えばアンテナや電子機器は、使用周波数が高周波化しているため、被測定体の設置位置が基準点から僅かでも位置ズレがあると、正確な測定結果を得ることができない。そこで、被測定体の位置を設定する場合には、従来は、電波暗室内で床面上にターンテーブルからアンテナポジショナまで直線を引き、この直線に合わせるように目視でアンテナの軸がターンテーブルを向くように調整している。また、電子機器については、ターンテーブル上で一定の高さに保持できるアームから水平方向に延びる棒の先端部に電子機器を取り付け、ターンテーブルの中心に電磁波の放射源が位置するように下げ振りなどを用いて電子機器の位置を合わせている。
【０００４】
また、特許文献１に記載の技術では、電波暗室内でＥＭＣ評価測定を行う際に、アンテナの搭載手段（アンテナポジショナ）または電子デバイスの搭載手段（ターンテーブル）を移動させて電波暗室の中心線からずらし、これら両者間の距離を規定の距離に設定している。特許文献２に記載の技術ではアンテナの水平方向軸の基端にレーザ発光器を取り付けると共に先端部に照準を取り付け、レーザ発光器から照準を通るようにレーザ光を発光し、そのレーザ光が所定の位置や線に沿うようにアンテナの水平方向軸の向きを調整している。更に、非特許文献１にはレーザマーカー等を用いてアンテナと被測定体を測定位置に正確に一致させる技術について記載されている。
【０００５】
【特許文献１】特開平０６−２３７０９０号公報
【特許文献２】特開平０９−２９８４１５号公報
【非特許文献１】ＥＭＣ、第１８巻第３号、第５８頁〜第６２頁
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、特許文献１の技術では、アンテナと電子デバイスとの距離を設定する方法や、アンテナや電子デバイスを電波暗室の中心線からずらし、アンテナの電子デバイスに対する方位を設定する方法について明らかでないため、従来の設定方法が用いられていると推定される。従来の距離設定方法や電気機器の放射源の位置設定方法では、電気機器の位置やアンテナの位置を設定するために多くの時間を要し、しかも同一の測定を行う場合に、設置位置を再現することが難しいという問題があった。特に、被測定体とアンテナ間の距離が短く、測定周波数がＧＨｚ帯になると、水平方向の僅かな位置ズレが放射源からの指向性やゲインの測定に大きく影響する。
【０００７】
また、特許文献２のアンテナ角度調整方法では、アンテナの水平方向軸の基端に取り付けられたレーザ発光器から先端部に取り付けられた照準を通るようにレーザ光を発光させるため、水平軸の短い線状アンテナ、レーザ光がアンテナの開口面で遮られるホーンアンテナ等の形状の複雑なアンテナには適用できず、適用できたとしても十分な測定精度を得ることができない。また、非特許文献１には、レーザマーカーを用いてアンテナと被測定体の位置を高精度に校正する技術について記載されているが、レーザマーカーについては具体的に開示されていない。
【０００８】
本発明は、上記課題を解決するためになされたもので、アンテナ等の被測定体の種類に制限されることなく、被測定体と測定用アンテナの位置関係を高精度で且つ短時間に再現性良く設定することができる電波暗室を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の請求項１に記載の電波暗室は、被測定体を設置するターンテーブルと、上記被測定体と対向するように上記被測定体から離間する位置に設置された測定用アンテナと、を備えた電波暗室において、上記ターンテーブルの軸芯を通る光を照射する第１の光照射手段を設け、第１の光照射手段からの光点を基準に上記被測定体を設置することを特徴とするものである。
【００１０】
また、本発明の請求項２に記載の電波暗室は、請求項１に記載の発明において、上記測定用アンテナの基準点の通る光を照射して上記ターンテーブルの中心と上記測定用アンテナとの間の距離を設定する第２の光照射手段を設けたことを特徴とするものである。
【００１１】
また、本発明の請求項３に記載の電波暗室は、請求項１または請求項２に記載の発明において、上記ターンテーブルの中心の真上または真下に上記第１の光照射手段を設けたことを特徴とするものである。
【００１２】
また、本発明の請求項４に記載の電波暗室は、請求項２に記載の発明において、上記測定用アンテナの基準点の真上または真下に上記第２の光照射手段を設けたことを特徴とするものである。
【００１３】
また、本発明の請求項５に記載の電波暗室は、請求項１または請求項２に記載の発明において、上記ターンテーブルの側方に上記第１の光照射手段を設けると共に上記ターンテーブルの中心に向けて上記第１の光照射手段からの光を反射する第１の反射鏡を設けたことを特徴とするものである。
【００１４】
また、本発明の請求項６に記載の電波暗室は、請求項２に記載の発明において、上記測定用アンテナの側方に上記第２の光照射手段を設けると共に上記測定用アンテナの基準点に向けて上記第２の光照射手段からの光を反射する第２の反射鏡を設けたことを特徴とするものである。
【００１５】
また、本発明の請求項７に記載の電波暗室は、請求項１〜請求項６のいずれか１項に記載の発明において、上記被測定体を監視する監視手段を設けたことを特徴とするものである。
【００１６】
また、本発明の請求項８に記載の電波暗室は、被測定体を設置するターンテーブルと、上記被測定体と対向するように上記被測定体から離間する位置に設置された測定用アンテナと、を備えた電波暗室において、光を上下方向に照射して垂直面光を形成する垂直面光形成手段を上記測定用アンテナ側または上記被測定体側に着脱自在に設け、上記垂直面光で少なくとも上記被測定体の方位を設定することを特徴とするものである。
【００１７】
また、本発明の請求項９に記載の電波暗室は、被測定体を設置するターンテーブルと、上記被測定体と対向するように上記被測定体から離間する位置に設置された測定用アンテナと、を備えた電波暗室において、光を水平方向に照射して水平面光を形成する水平面光形成手段を上記測定用アンテナまたは上記被測定体の側方に着脱自在に設け、上記水平面光で少なくとも上記被測定体の高さを設定することを特徴とするものである。
【００１８】
また、本発明の請求項１０に記載の電波暗室は、請求項１〜請求項９のいずれか１項に記載の発明において、上記光は、レーザ光であることを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００１９】
本発明の請求項１〜請求項１０に記載の発明によれば、アンテナ等の被測定体の種類に制限されることなく、被測定体と測定用アンテナの位置関係を高精度で且つ短時間に再現性良く設定することができる電波暗室を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
以下、図１〜図５に示す実施形態に基づいて本発明を説明する。
【００２１】
第１の実施形態
本実施形態の電波暗室１０は、例えば図１の（ａ）、（ｂ）に示すように、シールド構造の側壁面１１と、側壁面１１の上下両端に形成されたシールド構造の天井１２及び床面１３と、側壁面１１及び天井１２それぞれの内面に被覆されたピラミッド型の電波吸収体１４と、電波吸収体１４で包囲された室内の所定位置に配置された回転可能なターンテーブル１５と、ターンテーブル１５に対して所定の距離を隔てて配置され且つ測定用アンテナ１６をアーム１７Ａによって支持する柱状の第１アンテナポジショナ１７と、を備えている。
【００２２】
シールド構造の側壁面１１、シールド構造の天井１２及びシールド構造の床面１３は、いずれも外来電磁波を遮断するように従来公知の金属材料によって形成されている。また、電波吸収体１４は、従来公知の材料、例えばウレタンフォームやスチロール等の樹脂にカーボンを含浸させた樹脂材料等によって形成されている。
【００２３】
図示してないが、電波暗室１０の側壁面１１には開閉扉が設けられ、開閉扉が被測定体等の搬出入口として形成されている。また、電波暗室１０には測定室が隣接して設けられており、この測定室において被測定体の送受信特性の測定を行う。測定結果は、測定室に設けられたパーソナルコンピュータ（パソコン）の記憶装置に格納する。
【００２４】
ターンテーブル１５には柱状の第２アンテナポジショナ１８が中心から離間して立設され、このアンテナポジショナ１８には被測定体（例えば、被測定用アンテナ）１９を支持するアーム１８Ａが取り付けられている。測定用アンテナ１６の基準点（例えば、アンテナ先端で幅方向の中心）とターンテーブル１５の中心との距離は予め設定されている。従って、被測定用アンテナ１９の基準点（例えば、アンテナ先端で幅方向の中心）をターンテーブル１５の中心に位置合わせすれば、測定用アンテナ１６と被測定用アンテナ１９との間の距離を正確に設定することができる。第１、第２アンテナポジショナ１７、１８のアーム１７Ａ、１８Ａは、いずれも上下方向及び水平方向に移動可能に取り付けられ、測定用アンテナ１６及び被測定用アンテナ１９の位置を正確に設定できるようになっている。
【００２５】
而して、図１の（ｂ）に示すように、天井１２にはターンテーブル１５の中心の真上に位置させた第１の光照射機器２０が設置され、第１の光照射機器２０からターンテーブル１５の中心に向けて光（例えば、レーザ光）Ｌを照射し、レーザ光Ｌによってターンテーブル１５の中心を規定するようにしている。第２アンテナポジショナ１８に被測定用アンテナ１９を設置する場合に、所定の高さに設定されたアーム１８Ａに被測定用アンテナ１９を取り付け、第１の光照射機器２０からレーザ光Ｌを照射した後、レーザ光Ｌに被測定用アンテナ１９の基準点を合わせると、被測定用アンテナ１９の基準点をターンテーブル１５の中心に対して自動的に位置決めすることができ、測定用アンテナ１６と被測定用アンテナ１９との間の距離を自動的に設定することができる。
【００２６】
また、天井１２には第１の光照射機器２０から所定距離離間した位置に第２の光照射機器２１が設置されている。第２の光照射機器２１は、第１の光照射機器２０と同様にレーザ光を真下に照射し、照射光が測定用アンテナ１６の基準点を通るように設置されている。測定用アンテナ１６は、ターンテーブル１５の中心から予め設定された距離に設定されている。しかし、新たに測定用アンテナ１６を第１アンテナポジショナ１７に設置する場合や、測定用アンテナ１６が位置ズレした場合には、ターンテーブル１５の中心から測定用アンテナ１６の基準点までの距離が不明であるため、第２の光照射機器２１から照射するレーザ光Ｌに測定用アンテナ１６の基準点を合わせることで、ターンテーブル１５の中心と測定用アンテナ１６の基準点との距離を設定することができる。第１、第２の光照射機器２０、２１は、必要に応じて測定結果に影響しないように電波吸収体で被覆される。
【００２７】
以上説明したように本実施形態によれば、被測定アンテナ１９を設置するターンテーブル１５と、被測定用アンテナ１９と対向するように被測定用アンテナ１９から所定距離だけ離間する位置に設置された測定用アンテナ１６と、を備え、ターンテーブル１５の中心を通るレーザ光Ｌを照射する第１の光照射機器２０を設け、第１の光照射機器２０からの光点を基準に被測定アンテナ１９を設置するようにしたため、第１の光照射機器２０から照射されるレーザ光Ｌに被測定用アンテナ１９の基準点を合わせるだけで、測定用アンテナ１６と被測定用アンテナ１９との間の距離を正確に設定することができる。従って、被測定用アンテナ１９を再設置する場合にも第１の光照射機器２０を用いることによって極めて簡単且つ迅速に所定の位置に再現性良く設置することができる。また、測定用アンテナ１６が位置ズレするなどして測定用アンテナ１６のターンテーブル１５中心からの距離が不明になった場合には、第２の光照射機器２１から照射されるレーザ光Ｌに測定用アンテナ１６の基準点を合わせるだけで、測定用アンテナ１６を測定位置に正確に設定することができる。
【００２８】
第２の実施形態
本実施形態においても第１の実施形態と同一または相当部分には同一符号を付し、本発明の特徴についてのみ説明する。本実施形態の電波暗室１０Ａでは、図２に示すように、第１の光照射機器２０がターンテーブル１５の中心に設置されて、レーザ光Ｌを真上に向けて照射するようにしてある。第１の光照射機器２０の光軸は、ターンテーブル１５の軸芯と一致するように配置され、レーザ光Ｌがターンテーブル１５の軸芯の延長線上を通るようにしてある。従って、第１の光照射機器２０から照射されたレーザ光Ｌに被測定用アンテナ１９の基準点を合わせることで、測定用アンテナ１６に対する被測定用アンテナ１９の位置を正確に位置決めして設置することができる。
【００２９】
また、第２の光照射機器２１は、測定用アンテナ１６の基準点の真下で、第１の光照射機器２０から所定の距離を隔てた床面１３上に設置されている。第２の光照射機器２１から照射したレーザ光Ｌは、測定用アンテナ１６の基準点を通るようにしてある。その他は、第１の実施形態に準じて構成さている。
【００３０】
従って、本実施形態においても上記実施形態と同様の作用効果を期することたできる。
【００３１】
第３の実施形態
本実施形態においても第１の実施形態と同一または相当部分には同一符号を付し、本発明の特徴についてのみ説明する。本実施形態の電波暗室１０Ｂでは、図３に示すように、第１の光照射機器２０は、被測定用アンテナ１９に近い側壁１１の天井１２の近傍で幅方向中央に設置されて、レーザ光Ｌを被測定用アンテナ１９側の側壁１１側から対向する壁面１１側に向けて照射するようにしてある。レーザ光Ｌの光路上にはターンテーブル１５の中心の真上に位置させた第１の反射鏡２０Ａが設置され、その反射面が４５°の角度で傾斜している。第１の光照射機器２０からのレーザ光Ｌは、第１の反射鏡２０Ａで反射してターンテーブル１５の中心を照射するようにしてある。従って、第１の光照射機器２０から照射されたレーザ光Ｌに被測定用アンテナ１９の基準点を合わせることで、測定用アンテナ１６に対する被測定用アンテナ１９の位置を正確に位置決めして設置することができる。電波吸収体１４にはレーザ光Ｌが通る通路（図示せず）が形成されている。また、図２に示す位置より低い位置に第１の光照射機器２０を設置して、電波吸収体１４の真下をレーザ光Ｌが通るようにしても良い。第２の光照射機器２１についても同様のことが云える。
【００３２】
また、第２の光照射機器２１は、第１の光照射機器２０が設置された側壁１１と対向する側壁１１に、第１の光照射機器２０と対向させて設置されて、レーザ光Ｌを側壁１１から対向壁面１１に向けて照射するようにしてある。レーザ光Ｌの照射方向には第２の反射鏡２１Ａが設置され、第２の反射鏡２１Ａで第２の光照射機器２１からのレーザ光Ｌを測定用アンテナ１６の基準点に向けて反射するようにしてある。尚、第２の反射鏡２１Ａは、第１の反射鏡２０Ａとは逆向きの反射面を有している。その他は、第１の実施形態に準じて構成さている。
【００３３】
本実施形態においても上記各実施形態と同様の作用効果を期することたできる。
【００３４】
第４の実施形態
本実施形態においても第１の実施形態と同一または相当部分には同一符号を付し、本発明の特徴についてのみ説明する。本実施形態の電波暗室１０Ｃは、図４に示すように、光照射機器２０と、被測定体（例えば、電子機器）２２を設置するためにターンテーブル１５上に設けられた設置台２３と、設置台２３上の電子機器２２を撮像する監視カメラ２４Ａと、監視カメラ２４Ａの撮像画像を映し出すモニタ２４と、を備えて構成されている。設置台２３は、ターンテーブル１５と軸芯を共有するように配置されている。尚、光照射機器２０は、上記各実施形態の第１の光照射機器に相当する。
【００３５】
また、光照射機器２０は、レーザ光Ｌを設置台２３の中心、即ちターンテーブル１５の中心を照射するように設置台２３の真上に配置され、上記各実施形態と同様の働きをする。従って、電気機器２２を設置台２３上に設置する場合は、上記各実施形態と同様に光照射機器２０からのレーザ光Ｌの照射スポットＳを基準にすることで、電子機器２２を設置台２３上の測定位置に正確に設置することができる。
【００３６】
監視カメラ２４Ａは、電波吸収体で表面が被覆された金属ケースによって覆われ、内部から外部へ電磁波ノイズを放射せず、外部からの電磁波を反射しないように構成され、例えば測定用アンテナ１６側の側壁１１と天井１２のコーナー部に設置されている。モニタ２４は、電波暗室１０Ｃに隣接する測定室に配置されている。そして、モニタ２４と監視カメラ２４Ａは、ケーブル２４Ｂを介して互いに接続され。載置台２３上の電子機器２２を監視する監視手段として設けられ、測定中時にターンテーブル１５を介して回転する電子機器２２を常時監視し、ターンテーブル１５の回転中に電子機器２２の基準点がレーザ光Ｌから位置ズレするか否かを監視する。
【００３７】
従って、電子機器２２を設置台２３上に設置する場合には、光照射機器２０から設置台２３の中心に照射されたスポットＳに電子機器２２の基準点を合わせて設置台２３上に設置する。そして、ターンテーブル１５を回転させ、監視カメラ２４Ａで電子機器２２を監視し、電子機器２２の基準点とレーザ光ＬのスポットＳとが一致しているか否かを確認する。一致していないことが判れば、ターンテーブル１５を止めて、電子機器２２を再設置し、同様の操作を繰り返す。ターンテーブル１５の回転中に電子機器２２の基準点がスポットＳから外れなくなった場合には、電子機器２２の基準点とターンテーブル１５の中心が一致したことになり、測定用アンテナ１６による指向性測定等を開始することができる。測定開始後は、監視カメラ２４Ａ及びモニタ２４によって電子機器２２とレーザ光ＬのスポットＳとの位置ズレを確認しながら測定することができる。
【００３８】
以上説明したように本実施形態によれば、測定中にもターンテーブル１５の中心と電子機器２２の基準点の位置ズレを監視カメラ２４Ａ及びモニタ２４によって常時監視することができ、正確な測定を行うことができる。電子機器２２の基準点がターンテーブル１５の中心から外れた場合には、その位置ズレを修正することができるため、測定結果であるアンテナ指向性パターンの測定精度や繰り返し精度を上げることができ、正確な測定を行うことができる。
【００３９】
第５の実施形態
本実施形態においても第１の実施形態と同一または相当部分には同一符号を付し、本発明の特徴についてのみ説明する。本実施形態の電波暗室１０Ｄは、図５の（ａ）、（ｂ）に示すように、レーザ光を上下方向に照射して垂直面光Ｌ１を形成する垂直面光形成機器２５を備え、垂直面光形成機器２５によって測定用アンテナ１６の方位角と被測定アンテナ１９の方位角とを設定できるように構成されている。電波暗室１０Ｄ自体は上記各実施形態と同一の構成を有している。
【００４０】
垂直面形成機器２５は、第１アンテナポジショナ１７のアーム１７Ａに対してマスト２５Ａを介して着脱自在に取り付けるように構成されている。マスト２５Ａは、アーム１７Ａの基端部（測定用アンテナ１６とは反対側に位置）に対して垂直に着脱自在に取り付けられ、その上端に固定された垂直光形成機器２５は、測定用アンテナ１６の後方でこれよりも高い位置にある。また、垂直面光形成機器２５にはケーブル２６Ａを介してコントローラ２６が接続され、垂直面光形成機器２５はコントローラ２６の制御下でレーザ光を被測定用アンテナ１９に向けて照射し、振り子の原理でレーザ光を上下方向に照射してレーザ光の垂直面光（同図の（ｂ）では斜線領域）Ｌ１を形成するようにしてある。垂直面形成機器２５をアーム１７Ａに取り付ける場合には、垂直面形成機器２５をマスト２５Ａに取り付けた後、その垂直面光Ｌ１が測定用アンテナ１６の基準点と一致するように照射方向を調整する。
【００４１】
また、被測定用アンテナ１９を第２アンテナポジショナ１８のアーム１８Ａに取り付ける場合には、コントローラ２６の制御下で垂直光形成機器２５から被測定用アンテナ１９に向けて垂直面光Ｌ１を照射し、この垂直面光Ｌ１に被測定用アンテナ１９の基準点が合うようにアーム１８Ａの向きを調整する。被測定用アンテナ１９の基準点が垂直面光Ｌ１と一致すると、測定用アンテナ１６の方位角と被測定用アンテナ１９の方位角が正確に一致することになる。その後は、垂直面光形成機器２５及びマスト２５Ａを第１アンテナポジショナ１７から取り外し、所定の測定を実施する。
【００４２】
本実施形態によれば、測定用アンテナ１６より高い位置から被測定用アンテナ１９の方位を正確に設定することができるため、水平方向が短い線状アンテナや、レーザ光がアンテナの開口面で遮られるホーンアンテナ、あるいは形状が複雑なアンテナであっても、測定用アンテナ１６の方位角と被測定用アンテナ１９の方位角を正確に一致させることができる。
【００４３】
第６の実施形態
本実施形態においても第１の実施形態と同一または相当部分には同一符号を付し、本発明の特徴についてのみ説明する。本実施形態の電波暗室１０Ｅは、図６の（ａ）、（ｂ）に示すように、レーザ光を水平方向に照射して水平面光Ｌ２を形成する水平面光形成機器２７を備え、水平面光形成機器２７によって測定用アンテナ１６の高さと被測定アンテナ１９の高さとを設定できるように構成されている。電波暗室１０Ｅ自体は上記各実施形態と同一の構成を有している。
【００４４】
水平面光形成機器２７は、図６の（ａ）、（ｂ）に示すように、例えば柱状のマスト２７Ａを介してターンテーブル１５の斜め後方の床面１３に着脱自在に設置できるようになっている。水平面光形成機器２７は、マスト２７Ａに対して昇降可能に取り付けられ、高さを調整できるようになっている。また、水平面光形成機器２７にはケーブル２８Ａを介してコントローラ２８が接続され、水平面光形成機器２７はコントローラ２８の制御下でレーザ光を被測定用アンテナ１９に向けて照射し、振り子の原理でレーザ光を上下方向に照射して水平面光（同図の（ａ）では斜線領域）Ｌ２を形成するようにしてある。そして、測定用アンテナ１６及び被測定用アンテナ１９は、水平面光Ｌ２を基準にして高さが調整される。
【００４５】
測定用アンテナ１６の高さを調整する場合には、コントローラ２８の制御下で、予め所定の高さに設定された水平面光形成機器２７から測定用アンテナ１６に向けて水平面光Ｌ２を照射し、水平面光Ｌ２に測定用アンテナ１６の基準点が合うように測定用アンテナ１６を第１アンテナポジショナ１７において調整する。また、被測定用アンテナ１９を第２アンテナポジショナ１８の高さを調整する場合には、コントローラ２８の制御下で水平面光形成機器２７から被測定用アンテナ１９に向けて水平面光Ｌ２を照射し、この水平面光Ｌ２に被測定用アンテナ１９の基準点が合うようにアーム１８Ａの高さを調整する。被測定用アンテナ１９の基準点が水平面光Ｌ２と一致すると、測定用アンテナ１６の高さと被測定用アンテナ１９の高さが正確に一致することになる。その後は、水平面光形成機器２７及びマスト２７Ａを床面１３から取り外し、所定の測定を実施する。
【００４６】
本実施形態によれば、ターンテーブル１５の斜め後方から測定用アンテナ１６及び被測定用アンテナ１９の高さを正確に設定することができるため、水平方向が短い線状アンテナや、レーザ光がアンテナの開口面で遮られるホーンアンテナ、あるいは形状が複雑なアンテナであっても、測定用アンテナ１６の高さと被測定用アンテナ１９の高さを正確に一致させることができる。
【００４７】
また、第１〜第６の実施形態を適宜組み合わせることによって、測定用アンテナ１６に対する被測定アンテナ１９の位置（距離、高さ）及び方位を高精度で再現性良く設定し、信頼性の高い測定を繰り返し行うことができる。
【００４８】
尚、本発明は上記実施形態に何等制限されるものではなく、本発明の各構成要素は必要に応じて適宜設計変更することができる。例えば、第５、第６の実施形態では垂直面光形成機器２５及び水平面光形成機器２７がそれぞれ本体とは別にコントローラ２６、２８を備えたものについて説明したが、垂直面光形成手段及び水平面光形成手段はそれぞれコントローラを内蔵したものであっても良い。
【産業上の利用可能性】
【００４９】
本発明は、例えば測定用アンテナに対して被測定体を測定位置に正確にと場合に好適に利用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００５０】
【図１】（ａ）、（ｂ）はそれぞれ本発明の電波暗室の一実施形態を示す図で、（ａ）はその内部を示す平面、（ｂ）はその内部を示す側面図である。
【図２】本発明の電波暗室の他の実施形態の内部を示す側面図である。
【図３】本発明の電波暗室の更に他の実施形態の内部を示す側面図である。
【図４】（ａ）、（ｂ）はそれぞれ本発明の電波暗室の一実施形態を示す図で、（ａ）はその内部を示す平面図、（ｂ）はその内部を示す側面図である。
【図５】（ａ）、（ｂ）はそれぞれ本発明の電波暗室の更に他の実施形態を示す図で、（ａ）はその内部を示す平面図、（ｂ）はその内部を示す側面図である。
【図６】（ａ）、（ｂ）はそれぞれ本発明の電波暗室の更に他の実施形態を示す図で、（ａ）はその内部を示す平面図、（ｂ）はその内部を示す側面図である。
【符号の説明】
【００５１】
１０、１０Ａ、１０Ｂ、１０Ｃ、１０Ｄ、１０Ｅ 電波暗室
１５ ターンテーブル
１６ 測定用アンテナ
１９ 被測定用アンテナ（被測定体）
２０ 第１の光照射機器（第１の光照射手段）
２０Ａ 第１の反射鏡
２１ 第２の光照射機器（第２１の光照射手段）
２１Ａ 第２の反射鏡
２２ 電子機器（被測定体）
２４ モニタ（監視手段）
２４Ａ 監視カメラ（監視手段）
２５ 垂直面光形成機器
２７ 水平面光形成機器
Ｌ レーザ光
Ｌ１ 垂直面光
Ｌ２ 水平面光
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電波暗室に関し、更に詳しくは、例えば被測定体の測定位置に高精度に再現性良く設置することができる電波暗室に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
電波暗室においてアンテナの指向性等のアンテナ特性を測定し、あるいは電子機器から発生する不要電磁波（ノイズ）を測定する時には、ターンテーブル上に配置された設置体上にアンテナや電子機器等の被測定体を設置し、ターンテーブルを回転させて、３ｍまたは１０ｍ離れた距離に設置された測定用アンテナで測定している。
【０００３】
ところが、例えばアンテナや電子機器は、使用周波数が高周波化しているため、被測定体の設置位置が基準点から僅かでも位置ズレがあると、正確な測定結果を得ることができない。そこで、被測定体の位置を設定する場合には、従来は、電波暗室内で床面上にターンテーブルからアンテナポジショナまで直線を引き、この直線に合わせるように目視でアンテナの軸がターンテーブルを向くように調整している。また、電子機器については、ターンテーブル上で一定の高さに保持できるアームから水平方向に延びる棒の先端部に電子機器を取り付け、ターンテーブルの中心に電磁波の放射源が位置するように下げ振りなどを用いて電子機器の位置を合わせている。
【０００４】
また、特許文献１に記載の技術では、電波暗室内でＥＭＣ評価測定を行う際に、アンテナの搭載手段（アンテナポジショナ）または電子デバイスの搭載手段（ターンテーブル）を移動させて電波暗室の中心線からずらし、これら両者間の距離を規定の距離に設定している。特許文献２に記載の技術ではアンテナの水平方向軸の基端にレーザ発光器を取り付けると共に先端部に照準を取り付け、レーザ発光器から照準を通るようにレーザ光を発光し、そのレーザ光が所定の位置や線に沿うようにアンテナの水平方向軸の向きを調整している。更に、非特許文献１にはレーザマーカー等を用いてアンテナと被測定体を測定位置に正確に一致させる技術について記載されている。
【０００５】
【特許文献１】特開平０６−２３７０９０号公報
【特許文献２】特開平０９−２９８４１５号公報
【非特許文献１】ＥＭＣ、第１８巻第３号、第５８頁〜第６２頁
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、特許文献１の技術では、アンテナと電子デバイスとの距離を設定する方法や、アンテナや電子デバイスを電波暗室の中心線からずらし、アンテナの電子デバイスに対する方位を設定する方法について明らかでないため、従来の設定方法が用いられていると推定される。従来の距離設定方法や電気機器の放射源の位置設定方法では、電気機器の位置やアンテナの位置を設定するために多くの時間を要し、しかも同一の測定を行う場合に、設置位置を再現することが難しいという問題があった。特に、被測定体とアンテナ間の距離が短く、測定周波数がＧＨｚ帯になると、水平方向の僅かな位置ズレが放射源からの指向性やゲインの測定に大きく影響する。
【０００７】
また、特許文献２のアンテナ角度調整方法では、アンテナの水平方向軸の基端に取り付けられたレーザ発光器から先端部に取り付けられた照準を通るようにレーザ光を発光させるため、水平軸の短い線状アンテナ、レーザ光がアンテナの開口面で遮られるホーンアンテナ等の形状の複雑なアンテナには適用できず、適用できたとしても十分な測定精度を得ることができない。また、非特許文献１には、レーザマーカーを用いてアンテナと被測定体の位置を高精度に校正する技術について記載されているが、レーザマーカーについては具体的に開示されていない。
【０００８】
本発明は、上記課題を解決するためになされたもので、アンテナ等の被測定体の種類に制限されることなく、被測定体と測定用アンテナの位置関係を高精度で且つ短時間に再現性良く設定することができる電波暗室を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の請求項１に記載の電波暗室は、被測定体を設置するターンテーブルと、上記被測定体と対向するように上記被測定体から離間する位置に設置された測定用アンテナと、を備えた電波暗室において、上記ターンテーブルの軸芯を通る光を照射する第１の光照射手段を設け、第１の光照射手段からの光点を基準に上記被測定体を設置することを特徴とするものである。
【００１０】
また、本発明の請求項２に記載の電波暗室は、請求項１に記載の発明において、上記測定用アンテナの基準点の通る光を照射して上記ターンテーブルの中心と上記測定用アンテナとの間の距離を設定する第２の光照射手段を設けたことを特徴とするものである。
【００１１】
また、本発明の請求項３に記載の電波暗室は、請求項１または請求項２に記載の発明において、上記ターンテーブルの中心の真上または真下に上記第１の光照射手段を設けたことを特徴とするものである。
【００１２】
また、本発明の請求項４に記載の電波暗室は、請求項２に記載の発明において、上記測定用アンテナの基準点の真上または真下に上記第２の光照射手段を設けたことを特徴とするものである。
【００１３】
また、本発明の請求項５に記載の電波暗室は、請求項１または請求項２に記載の発明において、上記ターンテーブルの側方に上記第１の光照射手段を設けると共に上記ターンテーブルの中心に向けて上記第１の光照射手段からの光を反射する第１の反射鏡を設けたことを特徴とするものである。
【００１４】
また、本発明の請求項６に記載の電波暗室は、請求項２に記載の発明において、上記測定用アンテナの側方に上記第２の光照射手段を設けると共に上記測定用アンテナの基準点に向けて上記第２の光照射手段からの光を反射する第２の反射鏡を設けたことを特徴とするものである。
【００１５】
また、本発明の請求項７に記載の電波暗室は、請求項１〜請求項６のいずれか１項に記載の発明において、上記被測定体を監視する監視手段を設けたことを特徴とするものである。
【００１６】
また、本発明の請求項８に記載の電波暗室は、被測定体を設置するターンテーブルと、上記被測定体と対向するように上記被測定体から離間する位置に設置された測定用アンテナと、を備えた電波暗室において、光を上下方向に照射して垂直面光を形成する垂直面光形成手段を上記測定用アンテナ側または上記被測定体側に着脱自在に設け、上記垂直面光で少なくとも上記被測定体の方位を設定することを特徴とするものである。
【００１７】
また、本発明の請求項９に記載の電波暗室は、被測定体を設置するターンテーブルと、上記被測定体と対向するように上記被測定体から離間する位置に設置された測定用アンテナと、を備えた電波暗室において、光を水平方向に照射して水平面光を形成する水平面光形成手段を上記測定用アンテナまたは上記被測定体の側方に着脱自在に設け、上記水平面光で少なくとも上記被測定体の高さを設定することを特徴とするものである。
【００１８】
また、本発明の請求項１０に記載の電波暗室は、請求項１〜請求項９のいずれか１項に記載の発明において、上記光は、レーザ光であることを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００１９】
本発明の請求項１〜請求項１０に記載の発明によれば、アンテナ等の被測定体の種類に制限されることなく、被測定体と測定用アンテナの位置関係を高精度で且つ短時間に再現性良く設定することができる電波暗室を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
以下、図１〜図５に示す実施形態に基づいて本発明を説明する。
【００２１】
第１の実施形態
本実施形態の電波暗室１０は、例えば図１の（ａ）、（ｂ）に示すように、シールド構造の側壁面１１と、側壁面１１の上下両端に形成されたシールド構造の天井１２及び床面１３と、側壁面１１及び天井１２それぞれの内面に被覆されたピラミッド型の電波吸収体１４と、電波吸収体１４で包囲された室内の所定位置に配置された回転可能なターンテーブル１５と、ターンテーブル１５に対して所定の距離を隔てて配置され且つ測定用アンテナ１６をアーム１７Ａによって支持する柱状の第１アンテナポジショナ１７と、を備えている。
【００２２】
シールド構造の側壁面１１、シールド構造の天井１２及びシールド構造の床面１３は、いずれも外来電磁波を遮断するように従来公知の金属材料によって形成されている。また、電波吸収体１４は、従来公知の材料、例えばウレタンフォームやスチロール等の樹脂にカーボンを含浸させた樹脂材料等によって形成されている。
【００２３】
図示してないが、電波暗室１０の側壁面１１には開閉扉が設けられ、開閉扉が被測定体等の搬出入口として形成されている。また、電波暗室１０には測定室が隣接して設けられており、この測定室において被測定体の送受信特性の測定を行う。測定結果は、測定室に設けられたパーソナルコンピュータ（パソコン）の記憶装置に格納する。
【００２４】
ターンテーブル１５には柱状の第２アンテナポジショナ１８が中心から離間して立設され、このアンテナポジショナ１８には被測定体（例えば、被測定用アンテナ）１９を支持するアーム１８Ａが取り付けられている。測定用アンテナ１６の基準点（例えば、アンテナ先端で幅方向の中心）とターンテーブル１５の中心との距離は予め設定されている。従って、被測定用アンテナ１９の基準点（例えば、アンテナ先端で幅方向の中心）をターンテーブル１５の中心に位置合わせすれば、測定用アンテナ１６と被測定用アンテナ１９との間の距離を正確に設定することができる。第１、第２アンテナポジショナ１７、１８のアーム１７Ａ、１８Ａは、いずれも上下方向及び水平方向に移動可能に取り付けられ、測定用アンテナ１６及び被測定用アンテナ１９の位置を正確に設定できるようになっている。
【００２５】
而して、図１の（ｂ）に示すように、天井１２にはターンテーブル１５の中心の真上に位置させた第１の光照射機器２０が設置され、第１の光照射機器２０からターンテーブル１５の中心に向けて光（例えば、レーザ光）Ｌを照射し、レーザ光Ｌによってターンテーブル１５の中心を規定するようにしている。第２アンテナポジショナ１８に被測定用アンテナ１９を設置する場合に、所定の高さに設定されたアーム１８Ａに被測定用アンテナ１９を取り付け、第１の光照射機器２０からレーザ光Ｌを照射した後、レーザ光Ｌに被測定用アンテナ１９の基準点を合わせると、被測定用アンテナ１９の基準点をターンテーブル１５の中心に対して自動的に位置決めすることができ、測定用アンテナ１６と被測定用アンテナ１９との間の距離を自動的に設定することができる。
【００２６】
また、天井１２には第１の光照射機器２０から所定距離離間した位置に第２の光照射機器２１が設置されている。第２の光照射機器２１は、第１の光照射機器２０と同様にレーザ光を真下に照射し、照射光が測定用アンテナ１６の基準点を通るように設置されている。測定用アンテナ１６は、ターンテーブル１５の中心から予め設定された距離に設定されている。しかし、新たに測定用アンテナ１６を第１アンテナポジショナ１７に設置する場合や、測定用アンテナ１６が位置ズレした場合には、ターンテーブル１５の中心から測定用アンテナ１６の基準点までの距離が不明であるため、第２の光照射機器２１から照射するレーザ光Ｌに測定用アンテナ１６の基準点を合わせることで、ターンテーブル１５の中心と測定用アンテナ１６の基準点との距離を設定することができる。第１、第２の光照射機器２０、２１は、必要に応じて測定結果に影響しないように電波吸収体で被覆される。
【００２７】
以上説明したように本実施形態によれば、被測定アンテナ１９を設置するターンテーブル１５と、被測定用アンテナ１９と対向するように被測定用アンテナ１９から所定距離だけ離間する位置に設置された測定用アンテナ１６と、を備え、ターンテーブル１５の中心を通るレーザ光Ｌを照射する第１の光照射機器２０を設け、第１の光照射機器２０からの光点を基準に被測定アンテナ１９を設置するようにしたため、第１の光照射機器２０から照射されるレーザ光Ｌに被測定用アンテナ１９の基準点を合わせるだけで、測定用アンテナ１６と被測定用アンテナ１９との間の距離を正確に設定することができる。従って、被測定用アンテナ１９を再設置する場合にも第１の光照射機器２０を用いることによって極めて簡単且つ迅速に所定の位置に再現性良く設置することができる。また、測定用アンテナ１６が位置ズレするなどして測定用アンテナ１６のターンテーブル１５中心からの距離が不明になった場合には、第２の光照射機器２１から照射されるレーザ光Ｌに測定用アンテナ１６の基準点を合わせるだけで、測定用アンテナ１６を測定位置に正確に設定することができる。
【００２８】
第２の実施形態
本実施形態においても第１の実施形態と同一または相当部分には同一符号を付し、本発明の特徴についてのみ説明する。本実施形態の電波暗室１０Ａでは、図２に示すように、第１の光照射機器２０がターンテーブル１５の中心に設置されて、レーザ光Ｌを真上に向けて照射するようにしてある。第１の光照射機器２０の光軸は、ターンテーブル１５の軸芯と一致するように配置され、レーザ光Ｌがターンテーブル１５の軸芯の延長線上を通るようにしてある。従って、第１の光照射機器２０から照射されたレーザ光Ｌに被測定用アンテナ１９の基準点を合わせることで、測定用アンテナ１６に対する被測定用アンテナ１９の位置を正確に位置決めして設置することができる。
【００２９】
また、第２の光照射機器２１は、測定用アンテナ１６の基準点の真下で、第１の光照射機器２０から所定の距離を隔てた床面１３上に設置されている。第２の光照射機器２１から照射したレーザ光Ｌは、測定用アンテナ１６の基準点を通るようにしてある。その他は、第１の実施形態に準じて構成さている。
【００３０】
従って、本実施形態においても上記実施形態と同様の作用効果を期することたできる。
【００３１】
第３の実施形態
本実施形態においても第１の実施形態と同一または相当部分には同一符号を付し、本発明の特徴についてのみ説明する。本実施形態の電波暗室１０Ｂでは、図３に示すように、第１の光照射機器２０は、被測定用アンテナ１９に近い側壁１１の天井１２の近傍で幅方向中央に設置されて、レーザ光Ｌを被測定用アンテナ１９側の側壁１１側から対向する壁面１１側に向けて照射するようにしてある。レーザ光Ｌの光路上にはターンテーブル１５の中心の真上に位置させた第１の反射鏡２０Ａが設置され、その反射面が４５°の角度で傾斜している。第１の光照射機器２０からのレーザ光Ｌは、第１の反射鏡２０Ａで反射してターンテーブル１５の中心を照射するようにしてある。従って、第１の光照射機器２０から照射されたレーザ光Ｌに被測定用アンテナ１９の基準点を合わせることで、測定用アンテナ１６に対する被測定用アンテナ１９の位置を正確に位置決めして設置することができる。電波吸収体１４にはレーザ光Ｌが通る通路（図示せず）が形成されている。また、図２に示す位置より低い位置に第１の光照射機器２０を設置して、電波吸収体１４の真下をレーザ光Ｌが通るようにしても良い。第２の光照射機器２１についても同様のことが云える。
【００３２】
また、第２の光照射機器２１は、第１の光照射機器２０が設置された側壁１１と対向する側壁１１に、第１の光照射機器２０と対向させて設置されて、レーザ光Ｌを側壁１１から対向壁面１１に向けて照射するようにしてある。レーザ光Ｌの照射方向には第２の反射鏡２１Ａが設置され、第２の反射鏡２１Ａで第２の光照射機器２１からのレーザ光Ｌを測定用アンテナ１６の基準点に向けて反射するようにしてある。尚、第２の反射鏡２１Ａは、第１の反射鏡２０Ａとは逆向きの反射面を有している。その他は、第１の実施形態に準じて構成さている。
【００３３】
本実施形態においても上記各実施形態と同様の作用効果を期することたできる。
【００３４】
第４の実施形態
本実施形態においても第１の実施形態と同一または相当部分には同一符号を付し、本発明の特徴についてのみ説明する。本実施形態の電波暗室１０Ｃは、図４に示すように、光照射機器２０と、被測定体（例えば、電子機器）２２を設置するためにターンテーブル１５上に設けられた設置台２３と、設置台２３上の電子機器２２を撮像する監視カメラ２４Ａと、監視カメラ２４Ａの撮像画像を映し出すモニタ２４と、を備えて構成されている。設置台２３は、ターンテーブル１５と軸芯を共有するように配置されている。尚、光照射機器２０は、上記各実施形態の第１の光照射機器に相当する。
【００３５】
また、光照射機器２０は、レーザ光Ｌを設置台２３の中心、即ちターンテーブル１５の中心を照射するように設置台２３の真上に配置され、上記各実施形態と同様の働きをする。従って、電気機器２２を設置台２３上に設置する場合は、上記各実施形態と同様に光照射機器２０からのレーザ光Ｌの照射スポットＳを基準にすることで、電子機器２２を設置台２３上の測定位置に正確に設置することができる。
【００３６】
監視カメラ２４Ａは、電波吸収体で表面が被覆された金属ケースによって覆われ、内部から外部へ電磁波ノイズを放射せず、外部からの電磁波を反射しないように構成され、例えば測定用アンテナ１６側の側壁１１と天井１２のコーナー部に設置されている。モニタ２４は、電波暗室１０Ｃに隣接する測定室に配置されている。そして、モニタ２４と監視カメラ２４Ａは、ケーブル２４Ｂを介して互いに接続され。載置台２３上の電子機器２２を監視する監視手段として設けられ、測定中時にターンテーブル１５を介して回転する電子機器２２を常時監視し、ターンテーブル１５の回転中に電子機器２２の基準点がレーザ光Ｌから位置ズレするか否かを監視する。
【００３７】
従って、電子機器２２を設置台２３上に設置する場合には、光照射機器２０から設置台２３の中心に照射されたスポットＳに電子機器２２の基準点を合わせて設置台２３上に設置する。そして、ターンテーブル１５を回転させ、監視カメラ２４Ａで電子機器２２を監視し、電子機器２２の基準点とレーザ光ＬのスポットＳとが一致しているか否かを確認する。一致していないことが判れば、ターンテーブル１５を止めて、電子機器２２を再設置し、同様の操作を繰り返す。ターンテーブル１５の回転中に電子機器２２の基準点がスポットＳから外れなくなった場合には、電子機器２２の基準点とターンテーブル１５の中心が一致したことになり、測定用アンテナ１６による指向性測定等を開始することができる。測定開始後は、監視カメラ２４Ａ及びモニタ２４によって電子機器２２とレーザ光ＬのスポットＳとの位置ズレを確認しながら測定することができる。
【００３８】
以上説明したように本実施形態によれば、測定中にもターンテーブル１５の中心と電子機器２２の基準点の位置ズレを監視カメラ２４Ａ及びモニタ２４によって常時監視することができ、正確な測定を行うことができる。電子機器２２の基準点がターンテーブル１５の中心から外れた場合には、その位置ズレを修正することができるため、測定結果であるアンテナ指向性パターンの測定精度や繰り返し精度を上げることができ、正確な測定を行うことができる。
【００３９】
第５の実施形態
本実施形態においても第１の実施形態と同一または相当部分には同一符号を付し、本発明の特徴についてのみ説明する。本実施形態の電波暗室１０Ｄは、図５の（ａ）、（ｂ）に示すように、レーザ光を上下方向に照射して垂直面光Ｌ１を形成する垂直面光形成機器２５を備え、垂直面光形成機器２５によって測定用アンテナ１６の方位角と被測定アンテナ１９の方位角とを設定できるように構成されている。電波暗室１０Ｄ自体は上記各実施形態と同一の構成を有している。
【００４０】
垂直面形成機器２５は、第１アンテナポジショナ１７のアーム１７Ａに対してマスト２５Ａを介して着脱自在に取り付けるように構成されている。マスト２５Ａは、アーム１７Ａの基端部（測定用アンテナ１６とは反対側に位置）に対して垂直に着脱自在に取り付けられ、その上端に固定された垂直光形成機器２５は、測定用アンテナ１６の後方でこれよりも高い位置にある。また、垂直面光形成機器２５にはケーブル２６Ａを介してコントローラ２６が接続され、垂直面光形成機器２５はコントローラ２６の制御下でレーザ光を被測定用アンテナ１９に向けて照射し、振り子の原理でレーザ光を上下方向に照射してレーザ光の垂直面光（同図の（ｂ）では斜線領域）Ｌ１を形成するようにしてある。垂直面形成機器２５をアーム１７Ａに取り付ける場合には、垂直面形成機器２５をマスト２５Ａに取り付けた後、その垂直面光Ｌ１が測定用アンテナ１６の基準点と一致するように照射方向を調整する。
【００４１】
また、被測定用アンテナ１９を第２アンテナポジショナ１８のアーム１８Ａに取り付ける場合には、コントローラ２６の制御下で垂直光形成機器２５から被測定用アンテナ１９に向けて垂直面光Ｌ１を照射し、この垂直面光Ｌ１に被測定用アンテナ１９の基準点が合うようにアーム１８Ａの向きを調整する。被測定用アンテナ１９の基準点が垂直面光Ｌ１と一致すると、測定用アンテナ１６の方位角と被測定用アンテナ１９の方位角が正確に一致することになる。その後は、垂直面光形成機器２５及びマスト２５Ａを第１アンテナポジショナ１７から取り外し、所定の測定を実施する。
【００４２】
本実施形態によれば、測定用アンテナ１６より高い位置から被測定用アンテナ１９の方位を正確に設定することができるため、水平方向が短い線状アンテナや、レーザ光がアンテナの開口面で遮られるホーンアンテナ、あるいは形状が複雑なアンテナであっても、測定用アンテナ１６の方位角と被測定用アンテナ１９の方位角を正確に一致させることができる。
【００４３】
第６の実施形態
本実施形態においても第１の実施形態と同一または相当部分には同一符号を付し、本発明の特徴についてのみ説明する。本実施形態の電波暗室１０Ｅは、図６の（ａ）、（ｂ）に示すように、レーザ光を水平方向に照射して水平面光Ｌ２を形成する水平面光形成機器２７を備え、水平面光形成機器２７によって測定用アンテナ１６の高さと被測定アンテナ１９の高さとを設定できるように構成されている。電波暗室１０Ｅ自体は上記各実施形態と同一の構成を有している。
【００４４】
水平面光形成機器２７は、図６の（ａ）、（ｂ）に示すように、例えば柱状のマスト２７Ａを介してターンテーブル１５の斜め後方の床面１３に着脱自在に設置できるようになっている。水平面光形成機器２７は、マスト２７Ａに対して昇降可能に取り付けられ、高さを調整できるようになっている。また、水平面光形成機器２７にはケーブル２８Ａを介してコントローラ２８が接続され、水平面光形成機器２７はコントローラ２８の制御下でレーザ光を被測定用アンテナ１９に向けて照射し、振り子の原理でレーザ光を上下方向に照射して水平面光（同図の（ａ）では斜線領域）Ｌ２を形成するようにしてある。そして、測定用アンテナ１６及び被測定用アンテナ１９は、水平面光Ｌ２を基準にして高さが調整される。
【００４５】
測定用アンテナ１６の高さを調整する場合には、コントローラ２８の制御下で、予め所定の高さに設定された水平面光形成機器２７から測定用アンテナ１６に向けて水平面光Ｌ２を照射し、水平面光Ｌ２に測定用アンテナ１６の基準点が合うように測定用アンテナ１６を第１アンテナポジショナ１７において調整する。また、被測定用アンテナ１９を第２アンテナポジショナ１８の高さを調整する場合には、コントローラ２８の制御下で水平面光形成機器２７から被測定用アンテナ１９に向けて水平面光Ｌ２を照射し、この水平面光Ｌ２に被測定用アンテナ１９の基準点が合うようにアーム１８Ａの高さを調整する。被測定用アンテナ１９の基準点が水平面光Ｌ２と一致すると、測定用アンテナ１６の高さと被測定用アンテナ１９の高さが正確に一致することになる。その後は、水平面光形成機器２７及びマスト２７Ａを床面１３から取り外し、所定の測定を実施する。
【００４６】
本実施形態によれば、ターンテーブル１５の斜め後方から測定用アンテナ１６及び被測定用アンテナ１９の高さを正確に設定することができるため、水平方向が短い線状アンテナや、レーザ光がアンテナの開口面で遮られるホーンアンテナ、あるいは形状が複雑なアンテナであっても、測定用アンテナ１６の高さと被測定用アンテナ１９の高さを正確に一致させることができる。
【００４７】
また、第１〜第６の実施形態を適宜組み合わせることによって、測定用アンテナ１６に対する被測定アンテナ１９の位置（距離、高さ）及び方位を高精度で再現性良く設定し、信頼性の高い測定を繰り返し行うことができる。
【００４８】
尚、本発明は上記実施形態に何等制限されるものではなく、本発明の各構成要素は必要に応じて適宜設計変更することができる。例えば、第５、第６の実施形態では垂直面光形成機器２５及び水平面光形成機器２７がそれぞれ本体とは別にコントローラ２６、２８を備えたものについて説明したが、垂直面光形成手段及び水平面光形成手段はそれぞれコントローラを内蔵したものであっても良い。
【産業上の利用可能性】
【００４９】
本発明は、例えば測定用アンテナに対して被測定体を測定位置に正確にと場合に好適に利用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００５０】
【図１】（ａ）、（ｂ）はそれぞれ本発明の電波暗室の一実施形態を示す図で、（ａ）はその内部を示す平面、（ｂ）はその内部を示す側面図である。
【図２】本発明の電波暗室の他の実施形態の内部を示す側面図である。
【図３】本発明の電波暗室の更に他の実施形態の内部を示す側面図である。
【図４】（ａ）、（ｂ）はそれぞれ本発明の電波暗室の一実施形態を示す図で、（ａ）はその内部を示す平面図、（ｂ）はその内部を示す側面図である。
【図５】（ａ）、（ｂ）はそれぞれ本発明の電波暗室の更に他の実施形態を示す図で、（ａ）はその内部を示す平面図、（ｂ）はその内部を示す側面図である。
【図６】（ａ）、（ｂ）はそれぞれ本発明の電波暗室の更に他の実施形態を示す図で、（ａ）はその内部を示す平面図、（ｂ）はその内部を示す側面図である。
【符号の説明】
【００５１】
１０、１０Ａ、１０Ｂ、１０Ｃ、１０Ｄ、１０Ｅ 電波暗室
１５ ターンテーブル
１６ 測定用アンテナ
１９ 被測定用アンテナ（被測定体）
２０ 第１の光照射機器（第１の光照射手段）
２０Ａ 第１の反射鏡
２１ 第２の光照射機器（第２１の光照射手段）
２１Ａ 第２の反射鏡
２２ 電子機器（被測定体）
２４ モニタ（監視手段）
２４Ａ 監視カメラ（監視手段）
２５ 垂直面光形成機器
２７ 水平面光形成機器
Ｌ レーザ光
Ｌ１ 垂直面光
Ｌ２ 水平面光
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被測定体を設置するターンテーブルと、上記被測定体と対向するように上記被測定体から離間する位置に設置された測定用アンテナと、を備えた電波暗室において、上記ターンテーブルの軸芯を通る光を照射する第１の光照射手段を設け、第１の光照射手段からの光点を基準に上記被測定体を設置することを特徴とする電波暗室。
【請求項２】
上記測定用アンテナの基準点の通る光を照射して上記ターンテーブルの中心と上記測定用アンテナとの間の距離を設定する第２の光照射手段を設けたことを特徴とする請求項１に記載の電波暗室。
【請求項３】
上記ターンテーブルの中心の真上または真下に上記第１の光照射手段を設けたことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の電波暗室。
【請求項４】
上記測定用アンテナの基準点の真上または真下に上記第２の光照射手段を設けたことを特徴とする請求項２に記載の電波暗室。
【請求項５】
上記ターンテーブルの側方に上記第１の光照射手段を設けると共に上記ターンテーブルの中心に向けて上記第１の光照射手段からの光を反射する第１の反射鏡を設けたことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の電波暗室。
【請求項６】
上記測定用アンテナの側方に上記第２の光照射手段を設けると共に上記測定用アンテナの基準点に向けて上記第２の光照射手段からの光を反射する第２の反射鏡を設けたことを特徴とする請求項２に記載の電波暗室。
【請求項７】
上記被測定体を監視する監視手段を設けたことを特徴とする請求項１〜請求項６のいずれか１項に記載の電波暗室。
【請求項８】
被測定体を設置するターンテーブルと、上記被測定体と対向するように上記被測定体から離間する位置に設置された測定用アンテナと、を備えた電波暗室において、光を上下方向に照射して垂直面光を形成する垂直面光形成手段を上記測定用アンテナ側または上記被測定体側に着脱自在に設け、上記垂直面光で少なくとも上記被測定体の方位を設定することを特徴とする電波暗室。
【請求項９】
被測定体を設置するターンテーブルと、上記被測定体と対向するように上記被測定体から離間する位置に設置された測定用アンテナと、を備えた電波暗室において、光を水平方向に照射して水平面光を形成する水平面光形成手段を上記測定用アンテナまたは上記被測定体の側方に着脱自在に設け、上記水平面光で少なくとも上記被測定体の高さを設定することを特徴とする電波暗室。
【請求項１０】
上記光は、レーザ光であることを特徴とする請求項１〜請求項９のいずれか１項に記載の電波暗室。
【請求項１】
被測定体を設置するターンテーブルと、上記被測定体と対向するように上記被測定体から離間する位置に設置された測定用アンテナと、を備えた電波暗室において、上記ターンテーブルの軸芯を通る光を照射する第１の光照射手段を設け、第１の光照射手段からの光点を基準に上記被測定体を設置することを特徴とする電波暗室。
【請求項２】
上記測定用アンテナの基準点の通る光を照射して上記ターンテーブルの中心と上記測定用アンテナとの間の距離を設定する第２の光照射手段を設けたことを特徴とする請求項１に記載の電波暗室。
【請求項３】
上記ターンテーブルの中心の真上または真下に上記第１の光照射手段を設けたことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の電波暗室。
【請求項４】
上記測定用アンテナの基準点の真上または真下に上記第２の光照射手段を設けたことを特徴とする請求項２に記載の電波暗室。
【請求項５】
上記ターンテーブルの側方に上記第１の光照射手段を設けると共に上記ターンテーブルの中心に向けて上記第１の光照射手段からの光を反射する第１の反射鏡を設けたことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の電波暗室。
【請求項６】
上記測定用アンテナの側方に上記第２の光照射手段を設けると共に上記測定用アンテナの基準点に向けて上記第２の光照射手段からの光を反射する第２の反射鏡を設けたことを特徴とする請求項２に記載の電波暗室。
【請求項７】
上記被測定体を監視する監視手段を設けたことを特徴とする請求項１〜請求項６のいずれか１項に記載の電波暗室。
【請求項８】
被測定体を設置するターンテーブルと、上記被測定体と対向するように上記被測定体から離間する位置に設置された測定用アンテナと、を備えた電波暗室において、光を上下方向に照射して垂直面光を形成する垂直面光形成手段を上記測定用アンテナ側または上記被測定体側に着脱自在に設け、上記垂直面光で少なくとも上記被測定体の方位を設定することを特徴とする電波暗室。
【請求項９】
被測定体を設置するターンテーブルと、上記被測定体と対向するように上記被測定体から離間する位置に設置された測定用アンテナと、を備えた電波暗室において、光を水平方向に照射して水平面光を形成する水平面光形成手段を上記測定用アンテナまたは上記被測定体の側方に着脱自在に設け、上記水平面光で少なくとも上記被測定体の高さを設定することを特徴とする電波暗室。
【請求項１０】
上記光は、レーザ光であることを特徴とする請求項１〜請求項９のいずれか１項に記載の電波暗室。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【公開番号】特開２００７−３３２５４（Ｐ２００７−３３２５４Ａ）
【公開日】平成１９年２月８日（２００７．２．８）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００５−２１７４９７（Ｐ２００５−２１７４９７）
【出願日】平成１７年７月２７日（２００５．７．２７）
【出願人】（０００００６２３１）株式会社村田製作所 (3,635)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成１９年２月８日（２００７．２．８）
【国際特許分類】
【出願日】平成１７年７月２７日（２００５．７．２７）
【出願人】（０００００６２３１）株式会社村田製作所 (3,635)
【Ｆターム（参考）】
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