DVD−RAMのエラー数測定装置および方法
【課題】DVD−RAMディスクからデータを読み出す際などにサーボ特性を評価したり最適化を行なう方法として、複数の連続したECCブロックごとにエラー数の測定を行ない、その平均値を算出してサーボ特性を決定する場合にランドとグルーブの出現比率をほぼ一定とし、平均化したエラー数のデータの信頼性を上げる。
【解決手段】DVD−RAMディスクのエラー計数のためにランドとグルーブとの境界がECCブロックの境界でもあるランドとグルーブの境界を略中央とする連続した複数のECCブロックにわたってディスク上信号を取得することを特徴とするエラー数測定装置及び方法を提案する。
【解決手段】DVD−RAMディスクのエラー計数のためにランドとグルーブとの境界がECCブロックの境界でもあるランドとグルーブの境界を略中央とする連続した複数のECCブロックにわたってディスク上信号を取得することを特徴とするエラー数測定装置及び方法を提案する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
記録済みDVD−RAMディスクに対してサーボ特性の最適化等のために行なうエラー数の測定方法に関する。
【背景技術】
【0002】
従来、データを記録済みのDVD−R、DVD−RW、DVD−RAM等のDVDメディアからデータを読み出す際などサーボ特性を評価したり最適化を行なう方法として、複数の連続したECC(Error Check and Correct)ブロックごとにエラー数の測定を行ない、その平均値を算出してサーボ特性を決定する方法がある。また、特許文献1においては、主にDVD−RAMディスクなどを対象として、ランドとグルーブとにおいて別々にサーボ特性に関する設定値を測定し記憶しておく方法が開示されている。
【特許文献1】特開2000−222747号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0003】
ところで、DVD−R、DVD−RW、DVD−RAM等の記録型DVDにおいてはその構造上、ランドという畝状構造とグルーブという溝が存在し、DVD−RやDVD−RWの場合はグルーブのみにデータを記録するが、DVD−RAMにおいてはランドとグルーブの双方にデータを記録する記録方式を採用している。図14に一般的なDVD−RAMの構造を示す。DVD−RAM(1400)では略一周ごとにランド(1401)とグルーブ(1402)が出現するようになっており、ランド(1401)とグルーブ(1402)は接続領域(1403)において接続されてらせん状に形成されている。DVD−RAMのこのような構造により、上述のようなエラー数の測定を行なう場合、エラー測定範囲内においてランドとグルーブの出現比率が一定とならない場合がある。例えば、図13は一周が2.7ECCである場合であって連続した8ECCブロックのエラー数を測定する場合を模式的に示している((L)はランド、(G)はグルーブ)。(a)のように連続した8ECCブロックを選択すると、ランドとグルーブの出現比率は4.3ECC:3.7ECCであるので約7:6となり、(b)の場合にはランドとグルーブの出現比率は5.3ECC:2.7ECCであるので約2:1となる。このように、どの位置において連続したECCブロックを選択するかによってランドとグルーブの出現比率に偏りが出てしまう。つまり、ディスク上の任意のアドレスから連続した複数のECCブロックにおいてエラー数の測定をするとランドとグルーブの出現比率に偏りがあるために、特にランドとグルーブとにおいてエラー数に大差がある場合等ではエラー数の平均値は相対的なデータとして信頼性が低くなってしまう。また、常に同じアドレスの箇所でエラー数の測定を行なうという方法もあるが、たまたまそのアドレスが読めないディスクであった場合は評価ができなくなってしまう。また、特許文献1のように、ランドとグルーブとで別々にサーボ特性に関する設定値を測定する方法は処理負荷も大きく煩雑である。
【課題を解決するための手段】
【0004】
そこで本発明においては、DVD−RAMディスクのエラー計数のためにランドとグルーブとの境界がECCブロックの境界でもあるランドとグルーブの境界を略中央とする連続した複数のECCブロックにわたってディスク上信号を取得することを特徴とするエラー数測定装置及び方法を提案する。
【0005】
図1は、本発明に係るエラー数測定装置及び方法におけるエラー数測定方法の概念図である。なお、図13と同様に一周が2.7ECCである場合であって、(a)は連続した4ECCブロックのエラー数を測定する場合、(b)は連続した8ECCブロックのエラー数を測定する場合を模式的に示している((L)はランド、(G)はグルーブ)。境界Pは連続した複数ECCブロックの中央であり、かつランドとグルーブの境界に位置するようになっている。このような場合、(a)においても(b)においてもランドとグルーブの出現比率は常に1:1となるため、エラー数の平均値は相対的なデータとして信頼性が高くなる。なお本発明においては、ランドとグルーブの境界をほぼ中央とする連続した複数のECCブロックにおいてエラー数を測定すればよく、図1に示したように厳密に中央に位置せずとも同様の効果が期待できる。
【発明の効果】
【0006】
本発明のエラー数測定装置及び測定方法によれば、ランドとグルーブの出現比率がほぼ一定となるため、平均化したエラー数のデータの信頼性が高くなる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0007】
本発明を実施するための最良の形態について図面を用いて詳細に説明する。なお、本発明はこれら実施の形態に何ら限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において、種々なる態様で実施しうる。実施形態1は、主に請求項1、3などについて説明する。実施形態2は、主に請求項2などについて説明する。
(実施形態1)
【0008】
(実施形態1:概要)本実施形態は、DVD−RAMディスクのエラー計数のためにランドとグルーブとの境界がECCブロックの境界でもあるランドとグルーブの境界を略中央とする連続した複数のECCブロックにわたってディスク上信号を取得することを特徴とするエラー数測定装置及び方法について説明する。
【0009】
(実施形態1:構成)本実施形態に係るエラー数測定装置の機能ブロック図を図2に例示する。エラー数測定装置(0200)は、「連続信号取得部」(0201)を有する。また、図3はエラー数測定装置の概念図である。通常、光ディスク装置において光ディスクにデータを記録する場合、信号処理機構(0304)にてデータが記録するための信号に変換され、光ピックアップ(0301)からアクチュエータ(0302)を通してレーザ光が出力されて光ディスク(0303)に記憶される。この際、サーボ制御機構(0305)によってフォーカスサーボやトラッキングサーボなどの制御が行なわれる。また、光ディスクからデータを読み出す場合には、光ピックアップ(0301)からアクチュエータ(0302)を通して出力されたレーザ光は、光ディスク(0303)で反射され、光ピックアップ(0301)に戻り、光ピックアップ内の光ディテクタによって取り込まれる。光ディテクタによって取り込まれた光は、信号処理機構(0304)によって処理される。本実施形態に係るエラー数測定装置は、光ディスク(0303)からデータを読み出す場合などの前準備として適切なサーボ制御を行なうために、信号処理機構(0304)にて処理済みの光ディスク(0303)上の信号を連続信号取得部(0306)にて取得しエラー数の測定を行なうことを目的とする。また、エラー数測定装置は光ディスク装置と別体であってもよいが、光ディスク装置の内部に組み込まれていてもよい。
【0010】
なお、以下に詳述する本発明の構成要素である各部は、ハードウェア、ソフトウェア、ハードウェアとソフトウェアの両方のいずれかによって構成される。例えば、これらを実現する一例として、コンピュータを利用する場合には、CPU、バス、メモリ、インタフェース、周辺装置などで構成されるハードウェアと、それらハードウェア上で実行可能なソフトウェアがある。ソフトウェアとしては、メモリ上に展開されたプログラムを順次実行することで、メモリ上のデータや、インタフェースを介して入力されるデータの加工、保存、出力などにより各部の機能が実現される。(明細書の全体を通じて同様である。)
【0011】
「連続信号取得部」(0201)は、ランドとグルーブとの境界がECCブロックの境界でもあるランドとグルーブの境界を略中央とする連続した複数のECCブロックにわたってディスク上信号を取得する機能を有する。「ランドとグルーブとの境界がECCブロックの境界でもあるランドとグルーブの境界を略中央とする連続した複数のECCブロック」について図4を用いて説明する。図4は、一周が2.7ECCである場合において連続した10ECCブロックを選択する場合を模式的に示す。図4(a)は、ランドとグルーブとの境界がECCブロックの境界でもあるランドとグルーブの境界を略中央とする連続した10ECCブロックを選択する場合である。この場合の「略中央」とは、5番目と6番目のECCブロックの境界P(アドレス(論理アドレス、以下同様)‘117010h’)の位置が該当し、位置Pはランドとグルーブの境界となっている。このような位置において10ECCブロックを選択すると、10ECC中のランドとグルーブの出現比率は、5ECC:5ECC=1:1となる。よって、この10ECCの先頭Sのアドレス‘116FC0h’から信号を取得してエラー数の測定をしていけばよい。また、「略中央」とは厳密に中央ではなくともよいことを意味する。図4(b)は、取得する連続した複数のECCブロックの位置が図4(a)の位置から1ECC後方にずれている場合を示す。この場合、ランドとグルーブの境界は4番目と5番目のECCブロックの境界となっているが、ランドとグルーブの出現比率は、5.4ECC:4.6ECCであるので出現比率に大きな偏りはなく問題がない。また、通常の光ディスク装置においてはサーボの状態が安定してアドレスが読めるようになるまで多少の時間が必要であるため、例えば図4における先頭位置Sのアドレス‘116FC0h’の位置に読み取りヘッドをポジショニングしてもすぐにこのアドレスを読むことができない。よって、アドレス‘116FC0h’から読みたい場合には、さらに5ECC程度前のアドレスの位置に読み取りヘッドをポジショニングしなければならない。よって、このような事情を考慮すると、図4(a)の理想の先頭位置Sのアドレスから5ECC前にサーボを落としてサーボが最初に読めたアドレス位置から10ECCを選択する等となっていてもよい。この場合、実際にエラー数を測定する10ECCブロックは図4(a)のような理想の位置から前後に若干ずれることが予測されるが、図4(b)にて説明したような場合であれば前後にずれてもランドとグルーブの出現比率がほぼ同じであるので問題とならない。なお、図4(a)のような位置Pのアドレスは、通常、図5のような情報を光ディスク装置において取得できるため、エラー測定装置は図5の情報から位置Pのアドレス‘117010h’を知り、さらに先頭位置Sのアドレス‘116FC0h’を知ることができる。なお、図5において「L」はランド、「G」はグルーブを表し、「L→G」、「G→L」は一のECCブロックの途中でランドからグルーブ、若しくはグルーブからランドに切り換わっている場合を表す。
【0012】
また、「複数のECCブロック」とは、主に偶数個のECCブロックを想定している。奇数個のECCブロックを選択すると、ランドとグルーブのいずれかが1ECC欠落することとなるため偏りが発生するからである。ただし、一つのECCブロックの真ん中、すなわち8セクタ目と9セクタ目(1ECCブロックは16のセクタによって構成される)の境界がランドとグルーブの境界となるような箇所がディスク上に存在する場合には奇数個のECCブロックを選択しても、ランドとグルーブの出現比率には偏りは発生しないため、奇数個のECCブロックを選択するようになっていてもよい。すなわち、ランドとグルーブの境界がECCブロックの中央となるランドとグルーブの境界を略中央とする連続した複数のECCブロックにわたってディスク上信号を取得するようになっていてもよい。また、「ディスク上信号」とは、DVD−RAM上に記録された情報を表す信号であってもよいし、記録された情報を表す信号から読み取ることが可能な各ECCブロックにおけるエラーの有無を表す情報であってもよい。
【0013】
図6は、連続信号取得部にて取得する情報の具体例である。連続信号取得部では、情報0601のように連続した複数のECCブロックについて、各ECCブロックにおけるエラー数についての情報が取得できる。また、連続信号取得部においては情報0601のような情報を例えばデータベース等としてハードディスク等の記憶装置に保持しておいてもよいが、エラー数測定装置の主な目的はエラー数の測定であるので、例えば情報0602のような情報のみを保持するようになっていてもよい。情報0602はエラー数をカウントするプログラム上の変数「err_count」であり、情報0601のようなエラー情報が先頭ブロック(「ID」=1のECCブロック)から順番に取得されていった場合に各ブロックのエラー数に応じてこの変数の値をカウントアップしていくことでエラー数がカウントできる。
【0014】
図7は、連続信号取得部のハードウェア上における処理の具体例を示す。まず、光ディスク装置が通常、保持している図5のような情報から理想であるエラー測定開始アドレスを入出力インタフェースを介して取得してメインメモリに格納する(0701)。次に、サーボが読めたアドレスとそのアドレスにおけるECCブロックのエラー数に関する情報を、入出力インタフェースを介して取得してアドレスをメインメモリに格納する(0702)。エラー測定開始アドレスと取得したアドレスを比較し(0703)、双方が一致すれば、それ以降に入出力インタフェースを介して取得されるエラー数に関する情報に基づいて、メインメモリの所定の記憶領域に格納されている変数「err_count」の値に取得したエラー数を加算していくように更新していく(0704)。所定のブロック数のエラー数に関する情報を取得したら処理を終了する。これにより、エラー数が取得できたことになる。なお、図7はハードウェアを用いた処理の大まかな流れを示したものであるので、実際の計算機における処理とは厳密には異なる場合がある。(明細書の全体を通じて同様である。)
【0015】
(実施形態1:処理の流れ)図8は、本実施形態に係るエラー数測定装置及び方法における処理の流れを示すフロー図を例示する。
【0016】
最初に、エラーを取得すべき連続したECCブロックのアドレスを取得する(S0801)。次に、取得したアドレスから順番に各ECCブロックにおける信号を取得する(S0802)。次に、処理を終了するか判断する(S0803)。なお、処理を終了する場合とは、主に所定数のECCブロックにおける信号をすべて取得した場合である。処理を終了しない場合にはステップS0802を繰り返す。
【0017】
なお、図8のフロー図は、計算機に実行させるプログラムの処理フロー図とみなすことも可能である。さらに、このようなプログラムをフレキシブルディスク等の媒体に記録することも可能である。(明細書の全体を通じて同様である。)
【0018】
(実施形態1:効果)本実施形態に係るエラー測定装置及び方法によれば、ランドとグルーブの出現比率がほぼ一定となるため、平均化したエラー数のデータの信頼性が高くなるという効果がある。
(実施形態2)
【0019】
(実施形態2:概要)本実施形態は、ディスク上信号を取得すべきECCブロックの数を定める連続ECCブロック数を保持し、この保持する連続ECCブロック数として、ディスク上信号を取得する領域の近傍に構成されているランド又はグルーブ略一周分に含まれているECCブロックの数(小数点以下も含む)の2倍以上の数を保持することを特徴とするエラー数測定装置及び方法について説明する。
【0020】
(実施形態2:構成)本実施形態に係るエラー数測定装置の機能ブロック図を図9に例示する。エラー数測定装置(0900)は、「連続信号取得部」(0901)を有する。また、連続信号取得部(0901)は、「連続ECCブロック数保持手段」(0902)を有する。
【0021】
「連続ECCブロック数保持手段」(0902)は、ディスク上信号を取得すべきECCブロックの数を定める。「ディスク上信号を取得すべきECCブロックの数」とは、図4にて説明した具体例においては‘10’である。図10は連続ECCブロック数保持手段にて保持する情報の具体例を示す。「block_num」とは、プログラム上の変数であって、ディスク上信号を取得すべきECCブロックの数を表す。また、この連続ECCブロック数は、ディスク上信号を取得する領域の近傍に構成されているランド又はグルーブ略一周分に含まれているECCブロックの数(小数点以下も含む)の2倍以上の数を保持することを特徴とする。「ディスク上信号を取得する領域の近傍に構成されているランド又はグルーブ略一周分に含まれているECCブロックの数」とは、例えば図4の具体例においては先頭アドレス‘116FC0h’が位置するディスク周回における1周当たりのECCブロック数を指す。つまり、図4の場合であれば‘2.7ECC’である。よって、2.7ECC×2=5.4ECC、であるので連続ECCブロック数保持手段において6ECC以上のECCブロック数を保持することとなる。連続ECCブロックの数をこのようなブロック数とする意義について、図11を用いて説明する。図11は連続ECCブロック数として4ECCブロックしか指定しない場合であり、(a)の場合は連続ECCの中央Pがランドとグルーブの境界となっている場合であり、ランドとグルーブの出現比率は1:1となるので取得する連続ECCとして理想的な位置である。しかし、図11(b)のように後方に1ECCずれた場合にはランドとグルーブの出現比率は、1.3ECC:2.7ECCであるので約1:2となってしまい、大きく偏ることとなる。これは特に1周当たりのECCブロック数(ここでは2.7ECC)に対して連続ECCブロック数の値が小さい場合に起こりやすく、図4の具体例のように1周当たりのECCブロック数に対して連続ECCブロック数の値が大きい場合にはこのような状況は起こりにくい(図4(b)においてはランドとグルーブの出現比率は5.4ECC:4.6ECCであり、大差がない)。よって、連続ECCブロック数保持手段においては最低でも1周当たりのECCブロック数の2倍以上の数を保持することとしている。また、図11(c)と(d)においては、連続した6ECCブロックを選択する場合であって、(c)は理想的な位置であり、(d)は連続した6ECCブロックの位置が(c)の位置から1ECC後方にずれた場合を示す。図11(d)においてはランドとグルーブの出現比率は、3.3ECC:2.7ECCとなり、それほど大差がないことがわかる。
【0022】
図12は、本実施形態に係るエラー数測定方法のハードウェア上における処理の具体例を示す。まず、ハードディスク等の記憶装置に保持している変数「block_num」の値をメインメモリに読み出す(1201)。以降の処理は図7において説明した処理と同様であるが、光ディスク装置が通常保持している図5のような情報から理想であるエラー測定開始アドレスを、入出力インタフェースを介して取得してメインメモリに格納する(1202)。次に、サーボが読めたアドレスとそのアドレスにおけるECCブロックのエラー数に関する情報を入出力インタフェースを介して取得してアドレスをメインメモリに格納する(1203)。エラー測定開始アドレスと取得したアドレスを比較し(1204)、双方が一致すれば、それ以降に入出力インタフェースを介して取得されるエラー数に関する情報に基づいて、メインメモリの所定の記憶領域に格納されている変数「err_count」の値に取得したエラー数を加算していくように更新していく(1205)。所定のブロック数のエラー数に関する情報を取得したら処理を終了する。これにより、エラー数が取得できたことになる。
【0023】
(実施形態2:処理の流れ)本実施形態に係るエラー数測定装置及び方法における処理の流れは、実施形態1に係るエラー数測定装置及び方法における処理の流れと同様である。
【0024】
(実施形態2:効果)本実施形態に係るエラー測定装置及び方法によれば、エラー数を測定する連続ECCブロックの位置がずれてもランドとグルーブの出現比率が大きく偏らないという効果が期待できる。
【図面の簡単な説明】
【0025】
【図1】本発明に係るエラー数測定方法の概念図
【図2】実施形態1に係るエラー数測定装置の機能ブロック図
【図3】実施形態1に係るエラー数測定装置の概念図
【図4】連続した複数のECCブロックの一例図
【図5】通常の光ディスク装置が保持する情報の一例図
【図6】連続信号取得部にて保持する情報の一例図
【図7】連続信号取得部におけるハードウェア上の処理動作の一例図
【図8】実施形態1に係るエラー数測定装置及び方法の処理の流れを示すフロー図
【図9】実施形態2に係るエラー数測定装置の機能ブロック図
【図10】連続ECCブロック数保持手段において保持する情報の一例図
【図11】連続ECCブロック数保持手段について説明する図
【図12】連続ECCブロック数保持手段におけるハードウェア上の処理動作の一例図
【図13】従来のエラー数測定方法の概念図
【図14】一般的なDVD−RAMの構造
【符号の説明】
【0026】
0200 エラー数測定装置
0201 連続信号取得部
0301 光ピックアップ
0302 アクチュエータ
0303 光ディスク
0304 信号処理機構
0305 サーボ制御機構
0306 連続信号取得部
【技術分野】
【0001】
記録済みDVD−RAMディスクに対してサーボ特性の最適化等のために行なうエラー数の測定方法に関する。
【背景技術】
【0002】
従来、データを記録済みのDVD−R、DVD−RW、DVD−RAM等のDVDメディアからデータを読み出す際などサーボ特性を評価したり最適化を行なう方法として、複数の連続したECC(Error Check and Correct)ブロックごとにエラー数の測定を行ない、その平均値を算出してサーボ特性を決定する方法がある。また、特許文献1においては、主にDVD−RAMディスクなどを対象として、ランドとグルーブとにおいて別々にサーボ特性に関する設定値を測定し記憶しておく方法が開示されている。
【特許文献1】特開2000−222747号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0003】
ところで、DVD−R、DVD−RW、DVD−RAM等の記録型DVDにおいてはその構造上、ランドという畝状構造とグルーブという溝が存在し、DVD−RやDVD−RWの場合はグルーブのみにデータを記録するが、DVD−RAMにおいてはランドとグルーブの双方にデータを記録する記録方式を採用している。図14に一般的なDVD−RAMの構造を示す。DVD−RAM(1400)では略一周ごとにランド(1401)とグルーブ(1402)が出現するようになっており、ランド(1401)とグルーブ(1402)は接続領域(1403)において接続されてらせん状に形成されている。DVD−RAMのこのような構造により、上述のようなエラー数の測定を行なう場合、エラー測定範囲内においてランドとグルーブの出現比率が一定とならない場合がある。例えば、図13は一周が2.7ECCである場合であって連続した8ECCブロックのエラー数を測定する場合を模式的に示している((L)はランド、(G)はグルーブ)。(a)のように連続した8ECCブロックを選択すると、ランドとグルーブの出現比率は4.3ECC:3.7ECCであるので約7:6となり、(b)の場合にはランドとグルーブの出現比率は5.3ECC:2.7ECCであるので約2:1となる。このように、どの位置において連続したECCブロックを選択するかによってランドとグルーブの出現比率に偏りが出てしまう。つまり、ディスク上の任意のアドレスから連続した複数のECCブロックにおいてエラー数の測定をするとランドとグルーブの出現比率に偏りがあるために、特にランドとグルーブとにおいてエラー数に大差がある場合等ではエラー数の平均値は相対的なデータとして信頼性が低くなってしまう。また、常に同じアドレスの箇所でエラー数の測定を行なうという方法もあるが、たまたまそのアドレスが読めないディスクであった場合は評価ができなくなってしまう。また、特許文献1のように、ランドとグルーブとで別々にサーボ特性に関する設定値を測定する方法は処理負荷も大きく煩雑である。
【課題を解決するための手段】
【0004】
そこで本発明においては、DVD−RAMディスクのエラー計数のためにランドとグルーブとの境界がECCブロックの境界でもあるランドとグルーブの境界を略中央とする連続した複数のECCブロックにわたってディスク上信号を取得することを特徴とするエラー数測定装置及び方法を提案する。
【0005】
図1は、本発明に係るエラー数測定装置及び方法におけるエラー数測定方法の概念図である。なお、図13と同様に一周が2.7ECCである場合であって、(a)は連続した4ECCブロックのエラー数を測定する場合、(b)は連続した8ECCブロックのエラー数を測定する場合を模式的に示している((L)はランド、(G)はグルーブ)。境界Pは連続した複数ECCブロックの中央であり、かつランドとグルーブの境界に位置するようになっている。このような場合、(a)においても(b)においてもランドとグルーブの出現比率は常に1:1となるため、エラー数の平均値は相対的なデータとして信頼性が高くなる。なお本発明においては、ランドとグルーブの境界をほぼ中央とする連続した複数のECCブロックにおいてエラー数を測定すればよく、図1に示したように厳密に中央に位置せずとも同様の効果が期待できる。
【発明の効果】
【0006】
本発明のエラー数測定装置及び測定方法によれば、ランドとグルーブの出現比率がほぼ一定となるため、平均化したエラー数のデータの信頼性が高くなる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0007】
本発明を実施するための最良の形態について図面を用いて詳細に説明する。なお、本発明はこれら実施の形態に何ら限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において、種々なる態様で実施しうる。実施形態1は、主に請求項1、3などについて説明する。実施形態2は、主に請求項2などについて説明する。
(実施形態1)
【0008】
(実施形態1:概要)本実施形態は、DVD−RAMディスクのエラー計数のためにランドとグルーブとの境界がECCブロックの境界でもあるランドとグルーブの境界を略中央とする連続した複数のECCブロックにわたってディスク上信号を取得することを特徴とするエラー数測定装置及び方法について説明する。
【0009】
(実施形態1:構成)本実施形態に係るエラー数測定装置の機能ブロック図を図2に例示する。エラー数測定装置(0200)は、「連続信号取得部」(0201)を有する。また、図3はエラー数測定装置の概念図である。通常、光ディスク装置において光ディスクにデータを記録する場合、信号処理機構(0304)にてデータが記録するための信号に変換され、光ピックアップ(0301)からアクチュエータ(0302)を通してレーザ光が出力されて光ディスク(0303)に記憶される。この際、サーボ制御機構(0305)によってフォーカスサーボやトラッキングサーボなどの制御が行なわれる。また、光ディスクからデータを読み出す場合には、光ピックアップ(0301)からアクチュエータ(0302)を通して出力されたレーザ光は、光ディスク(0303)で反射され、光ピックアップ(0301)に戻り、光ピックアップ内の光ディテクタによって取り込まれる。光ディテクタによって取り込まれた光は、信号処理機構(0304)によって処理される。本実施形態に係るエラー数測定装置は、光ディスク(0303)からデータを読み出す場合などの前準備として適切なサーボ制御を行なうために、信号処理機構(0304)にて処理済みの光ディスク(0303)上の信号を連続信号取得部(0306)にて取得しエラー数の測定を行なうことを目的とする。また、エラー数測定装置は光ディスク装置と別体であってもよいが、光ディスク装置の内部に組み込まれていてもよい。
【0010】
なお、以下に詳述する本発明の構成要素である各部は、ハードウェア、ソフトウェア、ハードウェアとソフトウェアの両方のいずれかによって構成される。例えば、これらを実現する一例として、コンピュータを利用する場合には、CPU、バス、メモリ、インタフェース、周辺装置などで構成されるハードウェアと、それらハードウェア上で実行可能なソフトウェアがある。ソフトウェアとしては、メモリ上に展開されたプログラムを順次実行することで、メモリ上のデータや、インタフェースを介して入力されるデータの加工、保存、出力などにより各部の機能が実現される。(明細書の全体を通じて同様である。)
【0011】
「連続信号取得部」(0201)は、ランドとグルーブとの境界がECCブロックの境界でもあるランドとグルーブの境界を略中央とする連続した複数のECCブロックにわたってディスク上信号を取得する機能を有する。「ランドとグルーブとの境界がECCブロックの境界でもあるランドとグルーブの境界を略中央とする連続した複数のECCブロック」について図4を用いて説明する。図4は、一周が2.7ECCである場合において連続した10ECCブロックを選択する場合を模式的に示す。図4(a)は、ランドとグルーブとの境界がECCブロックの境界でもあるランドとグルーブの境界を略中央とする連続した10ECCブロックを選択する場合である。この場合の「略中央」とは、5番目と6番目のECCブロックの境界P(アドレス(論理アドレス、以下同様)‘117010h’)の位置が該当し、位置Pはランドとグルーブの境界となっている。このような位置において10ECCブロックを選択すると、10ECC中のランドとグルーブの出現比率は、5ECC:5ECC=1:1となる。よって、この10ECCの先頭Sのアドレス‘116FC0h’から信号を取得してエラー数の測定をしていけばよい。また、「略中央」とは厳密に中央ではなくともよいことを意味する。図4(b)は、取得する連続した複数のECCブロックの位置が図4(a)の位置から1ECC後方にずれている場合を示す。この場合、ランドとグルーブの境界は4番目と5番目のECCブロックの境界となっているが、ランドとグルーブの出現比率は、5.4ECC:4.6ECCであるので出現比率に大きな偏りはなく問題がない。また、通常の光ディスク装置においてはサーボの状態が安定してアドレスが読めるようになるまで多少の時間が必要であるため、例えば図4における先頭位置Sのアドレス‘116FC0h’の位置に読み取りヘッドをポジショニングしてもすぐにこのアドレスを読むことができない。よって、アドレス‘116FC0h’から読みたい場合には、さらに5ECC程度前のアドレスの位置に読み取りヘッドをポジショニングしなければならない。よって、このような事情を考慮すると、図4(a)の理想の先頭位置Sのアドレスから5ECC前にサーボを落としてサーボが最初に読めたアドレス位置から10ECCを選択する等となっていてもよい。この場合、実際にエラー数を測定する10ECCブロックは図4(a)のような理想の位置から前後に若干ずれることが予測されるが、図4(b)にて説明したような場合であれば前後にずれてもランドとグルーブの出現比率がほぼ同じであるので問題とならない。なお、図4(a)のような位置Pのアドレスは、通常、図5のような情報を光ディスク装置において取得できるため、エラー測定装置は図5の情報から位置Pのアドレス‘117010h’を知り、さらに先頭位置Sのアドレス‘116FC0h’を知ることができる。なお、図5において「L」はランド、「G」はグルーブを表し、「L→G」、「G→L」は一のECCブロックの途中でランドからグルーブ、若しくはグルーブからランドに切り換わっている場合を表す。
【0012】
また、「複数のECCブロック」とは、主に偶数個のECCブロックを想定している。奇数個のECCブロックを選択すると、ランドとグルーブのいずれかが1ECC欠落することとなるため偏りが発生するからである。ただし、一つのECCブロックの真ん中、すなわち8セクタ目と9セクタ目(1ECCブロックは16のセクタによって構成される)の境界がランドとグルーブの境界となるような箇所がディスク上に存在する場合には奇数個のECCブロックを選択しても、ランドとグルーブの出現比率には偏りは発生しないため、奇数個のECCブロックを選択するようになっていてもよい。すなわち、ランドとグルーブの境界がECCブロックの中央となるランドとグルーブの境界を略中央とする連続した複数のECCブロックにわたってディスク上信号を取得するようになっていてもよい。また、「ディスク上信号」とは、DVD−RAM上に記録された情報を表す信号であってもよいし、記録された情報を表す信号から読み取ることが可能な各ECCブロックにおけるエラーの有無を表す情報であってもよい。
【0013】
図6は、連続信号取得部にて取得する情報の具体例である。連続信号取得部では、情報0601のように連続した複数のECCブロックについて、各ECCブロックにおけるエラー数についての情報が取得できる。また、連続信号取得部においては情報0601のような情報を例えばデータベース等としてハードディスク等の記憶装置に保持しておいてもよいが、エラー数測定装置の主な目的はエラー数の測定であるので、例えば情報0602のような情報のみを保持するようになっていてもよい。情報0602はエラー数をカウントするプログラム上の変数「err_count」であり、情報0601のようなエラー情報が先頭ブロック(「ID」=1のECCブロック)から順番に取得されていった場合に各ブロックのエラー数に応じてこの変数の値をカウントアップしていくことでエラー数がカウントできる。
【0014】
図7は、連続信号取得部のハードウェア上における処理の具体例を示す。まず、光ディスク装置が通常、保持している図5のような情報から理想であるエラー測定開始アドレスを入出力インタフェースを介して取得してメインメモリに格納する(0701)。次に、サーボが読めたアドレスとそのアドレスにおけるECCブロックのエラー数に関する情報を、入出力インタフェースを介して取得してアドレスをメインメモリに格納する(0702)。エラー測定開始アドレスと取得したアドレスを比較し(0703)、双方が一致すれば、それ以降に入出力インタフェースを介して取得されるエラー数に関する情報に基づいて、メインメモリの所定の記憶領域に格納されている変数「err_count」の値に取得したエラー数を加算していくように更新していく(0704)。所定のブロック数のエラー数に関する情報を取得したら処理を終了する。これにより、エラー数が取得できたことになる。なお、図7はハードウェアを用いた処理の大まかな流れを示したものであるので、実際の計算機における処理とは厳密には異なる場合がある。(明細書の全体を通じて同様である。)
【0015】
(実施形態1:処理の流れ)図8は、本実施形態に係るエラー数測定装置及び方法における処理の流れを示すフロー図を例示する。
【0016】
最初に、エラーを取得すべき連続したECCブロックのアドレスを取得する(S0801)。次に、取得したアドレスから順番に各ECCブロックにおける信号を取得する(S0802)。次に、処理を終了するか判断する(S0803)。なお、処理を終了する場合とは、主に所定数のECCブロックにおける信号をすべて取得した場合である。処理を終了しない場合にはステップS0802を繰り返す。
【0017】
なお、図8のフロー図は、計算機に実行させるプログラムの処理フロー図とみなすことも可能である。さらに、このようなプログラムをフレキシブルディスク等の媒体に記録することも可能である。(明細書の全体を通じて同様である。)
【0018】
(実施形態1:効果)本実施形態に係るエラー測定装置及び方法によれば、ランドとグルーブの出現比率がほぼ一定となるため、平均化したエラー数のデータの信頼性が高くなるという効果がある。
(実施形態2)
【0019】
(実施形態2:概要)本実施形態は、ディスク上信号を取得すべきECCブロックの数を定める連続ECCブロック数を保持し、この保持する連続ECCブロック数として、ディスク上信号を取得する領域の近傍に構成されているランド又はグルーブ略一周分に含まれているECCブロックの数(小数点以下も含む)の2倍以上の数を保持することを特徴とするエラー数測定装置及び方法について説明する。
【0020】
(実施形態2:構成)本実施形態に係るエラー数測定装置の機能ブロック図を図9に例示する。エラー数測定装置(0900)は、「連続信号取得部」(0901)を有する。また、連続信号取得部(0901)は、「連続ECCブロック数保持手段」(0902)を有する。
【0021】
「連続ECCブロック数保持手段」(0902)は、ディスク上信号を取得すべきECCブロックの数を定める。「ディスク上信号を取得すべきECCブロックの数」とは、図4にて説明した具体例においては‘10’である。図10は連続ECCブロック数保持手段にて保持する情報の具体例を示す。「block_num」とは、プログラム上の変数であって、ディスク上信号を取得すべきECCブロックの数を表す。また、この連続ECCブロック数は、ディスク上信号を取得する領域の近傍に構成されているランド又はグルーブ略一周分に含まれているECCブロックの数(小数点以下も含む)の2倍以上の数を保持することを特徴とする。「ディスク上信号を取得する領域の近傍に構成されているランド又はグルーブ略一周分に含まれているECCブロックの数」とは、例えば図4の具体例においては先頭アドレス‘116FC0h’が位置するディスク周回における1周当たりのECCブロック数を指す。つまり、図4の場合であれば‘2.7ECC’である。よって、2.7ECC×2=5.4ECC、であるので連続ECCブロック数保持手段において6ECC以上のECCブロック数を保持することとなる。連続ECCブロックの数をこのようなブロック数とする意義について、図11を用いて説明する。図11は連続ECCブロック数として4ECCブロックしか指定しない場合であり、(a)の場合は連続ECCの中央Pがランドとグルーブの境界となっている場合であり、ランドとグルーブの出現比率は1:1となるので取得する連続ECCとして理想的な位置である。しかし、図11(b)のように後方に1ECCずれた場合にはランドとグルーブの出現比率は、1.3ECC:2.7ECCであるので約1:2となってしまい、大きく偏ることとなる。これは特に1周当たりのECCブロック数(ここでは2.7ECC)に対して連続ECCブロック数の値が小さい場合に起こりやすく、図4の具体例のように1周当たりのECCブロック数に対して連続ECCブロック数の値が大きい場合にはこのような状況は起こりにくい(図4(b)においてはランドとグルーブの出現比率は5.4ECC:4.6ECCであり、大差がない)。よって、連続ECCブロック数保持手段においては最低でも1周当たりのECCブロック数の2倍以上の数を保持することとしている。また、図11(c)と(d)においては、連続した6ECCブロックを選択する場合であって、(c)は理想的な位置であり、(d)は連続した6ECCブロックの位置が(c)の位置から1ECC後方にずれた場合を示す。図11(d)においてはランドとグルーブの出現比率は、3.3ECC:2.7ECCとなり、それほど大差がないことがわかる。
【0022】
図12は、本実施形態に係るエラー数測定方法のハードウェア上における処理の具体例を示す。まず、ハードディスク等の記憶装置に保持している変数「block_num」の値をメインメモリに読み出す(1201)。以降の処理は図7において説明した処理と同様であるが、光ディスク装置が通常保持している図5のような情報から理想であるエラー測定開始アドレスを、入出力インタフェースを介して取得してメインメモリに格納する(1202)。次に、サーボが読めたアドレスとそのアドレスにおけるECCブロックのエラー数に関する情報を入出力インタフェースを介して取得してアドレスをメインメモリに格納する(1203)。エラー測定開始アドレスと取得したアドレスを比較し(1204)、双方が一致すれば、それ以降に入出力インタフェースを介して取得されるエラー数に関する情報に基づいて、メインメモリの所定の記憶領域に格納されている変数「err_count」の値に取得したエラー数を加算していくように更新していく(1205)。所定のブロック数のエラー数に関する情報を取得したら処理を終了する。これにより、エラー数が取得できたことになる。
【0023】
(実施形態2:処理の流れ)本実施形態に係るエラー数測定装置及び方法における処理の流れは、実施形態1に係るエラー数測定装置及び方法における処理の流れと同様である。
【0024】
(実施形態2:効果)本実施形態に係るエラー測定装置及び方法によれば、エラー数を測定する連続ECCブロックの位置がずれてもランドとグルーブの出現比率が大きく偏らないという効果が期待できる。
【図面の簡単な説明】
【0025】
【図1】本発明に係るエラー数測定方法の概念図
【図2】実施形態1に係るエラー数測定装置の機能ブロック図
【図3】実施形態1に係るエラー数測定装置の概念図
【図4】連続した複数のECCブロックの一例図
【図5】通常の光ディスク装置が保持する情報の一例図
【図6】連続信号取得部にて保持する情報の一例図
【図7】連続信号取得部におけるハードウェア上の処理動作の一例図
【図8】実施形態1に係るエラー数測定装置及び方法の処理の流れを示すフロー図
【図9】実施形態2に係るエラー数測定装置の機能ブロック図
【図10】連続ECCブロック数保持手段において保持する情報の一例図
【図11】連続ECCブロック数保持手段について説明する図
【図12】連続ECCブロック数保持手段におけるハードウェア上の処理動作の一例図
【図13】従来のエラー数測定方法の概念図
【図14】一般的なDVD−RAMの構造
【符号の説明】
【0026】
0200 エラー数測定装置
0201 連続信号取得部
0301 光ピックアップ
0302 アクチュエータ
0303 光ディスク
0304 信号処理機構
0305 サーボ制御機構
0306 連続信号取得部
【特許請求の範囲】
【請求項1】
DVD−RAMディスクのエラー計数のために
ランドとグルーブとの境界がECCブロックの境界でもあるランドとグルーブの境界を略中央とする連続した複数のECCブロックにわたってディスク上信号を取得する連続信号取得部を有するエラー数測定装置。
【請求項2】
連続信号取得部は、ディスク上信号を取得すべきECCブロックの数を定める連続ECCブロック数保持手段を有し、この連続ECCブロック数保持手段に保持する連続ECCブロック数として、ディスク上信号を取得する領域の近傍に構成されているランド又はグルーブ略一周分に含まれているECCブロックの数(小数点以下も含む)の2倍以上の数を保持する請求項1に記載のエラー数測定装置。
【請求項3】
ランドとグルーブとの境界がECCブロックの境界でもあるランドとグルーブの境界を略中央とする連続した複数のECCブロックにわたってディスク上信号を取得する連続信号取得ステップを有するDVD−RAMディスクのエラー数測定方法。
【請求項1】
DVD−RAMディスクのエラー計数のために
ランドとグルーブとの境界がECCブロックの境界でもあるランドとグルーブの境界を略中央とする連続した複数のECCブロックにわたってディスク上信号を取得する連続信号取得部を有するエラー数測定装置。
【請求項2】
連続信号取得部は、ディスク上信号を取得すべきECCブロックの数を定める連続ECCブロック数保持手段を有し、この連続ECCブロック数保持手段に保持する連続ECCブロック数として、ディスク上信号を取得する領域の近傍に構成されているランド又はグルーブ略一周分に含まれているECCブロックの数(小数点以下も含む)の2倍以上の数を保持する請求項1に記載のエラー数測定装置。
【請求項3】
ランドとグルーブとの境界がECCブロックの境界でもあるランドとグルーブの境界を略中央とする連続した複数のECCブロックにわたってディスク上信号を取得する連続信号取得ステップを有するDVD−RAMディスクのエラー数測定方法。
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【公開番号】特開2008−159108(P2008−159108A)
【公開日】平成20年7月10日(2008.7.10)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2006−344340(P2006−344340)
【出願日】平成18年12月21日(2006.12.21)
【出願人】(000005049)シャープ株式会社 (33,933)
【Fターム(参考)】
【公開日】平成20年7月10日(2008.7.10)
【国際特許分類】
【出願日】平成18年12月21日(2006.12.21)
【出願人】(000005049)シャープ株式会社 (33,933)
【Fターム(参考)】
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