Ｘ線撮影装置
【課題】画像を適正に露出することが可能なＸ線撮影装置を提供することを目的とする。
【解決手段】Ｘ線撮影装置１において、第１，２領域抽出部２９，３０は、取得された画像の中央に位置する大きさの異なる２つの領域Ａ，Ｂを抽出する。第１，２平均画素値算出部３１，３２は、抽出された領域Ａ，Ｂごとに平均画素値を算出する。Ｘ線条件設定部３７は、抽出された複数の領域のいずれかの平均画素値に基づいてＸ線管５で照射するＸ線条件を設定する。このとき比較選択部３３は、領域Ａ，Ｂごとに算出された平均画素値を比較して最小の平均画素値を選択する。最小の平均画素値を選択することで、従来とは逆であるＸ線条件がより高くなるように設定されることとなる。しかしながら、最小の平均画素値を選択することで、領域Ａ，Ｂを正しく選択することができ、見たい部分が適正に露出された画像を取得することができる。
【解決手段】Ｘ線撮影装置１において、第１，２領域抽出部２９，３０は、取得された画像の中央に位置する大きさの異なる２つの領域Ａ，Ｂを抽出する。第１，２平均画素値算出部３１，３２は、抽出された領域Ａ，Ｂごとに平均画素値を算出する。Ｘ線条件設定部３７は、抽出された複数の領域のいずれかの平均画素値に基づいてＸ線管５で照射するＸ線条件を設定する。このとき比較選択部３３は、領域Ａ，Ｂごとに算出された平均画素値を比較して最小の平均画素値を選択する。最小の平均画素値を選択することで、従来とは逆であるＸ線条件がより高くなるように設定されることとなる。しかしながら、最小の平均画素値を選択することで、領域Ａ，Ｂを正しく選択することができ、見たい部分が適正に露出された画像を取得することができる。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、Ｘ線撮影装置の透視においてＸ線自動露出制御によりＸ線画像の明るさを適正にする技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来のＸ線撮影装置は、被検体にＸ線を照射するＸ線管と、被検体を透過したＸ線を検出するＸ線検出器とを備えている。Ｘ線管から照射されたＸ線は、被検体を透過してＸ線検出器に入射し、Ｘ線検出器はＸ線像の濃淡に応じてＸ線検出信号を出力する。このＸ線検出信号に基づいて画像を取得している。また、Ｘ線撮影装置は、自動露出制御部を備えている。自動露出制御部は、透視撮影中にＸ線検出器で検出して取得した画像から、画像の明るさ（輝度）が適正となるＸ線条件を求めて、Ｘ線管から照射されるＸ線を調整する（例えば特許文献１参照）。
【０００３】
従来のＸ線撮影装置における自動露出制御の動作は、具体的には次のように行われる。図８に示すように、画像の中央に大きさの異なる２つの固定の領域Ａ，Ｂを予め設定する。取得した透視画像の領域Ａ，Ｂから２つの領域Ａ，Ｂそれぞれの平均画像値を算出して比較する。２つの領域Ａ，Ｂのうち、Ｘ線条件がより低く抑えられる方、すなわち、平均画素値が高い方を制御値として採用し、採用された領域の平均画素値が目標画素値となるようにＸ線条件を設定する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００９−２６８６９９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
平均画素値が高い方を制御値として採用しているのは、被検体へのＸ線の被曝量を低く抑えたいとの考えによる。しかしながら、異なる大きさの２つの領域のうち、面積が小さい方の領域Ｂが図８の脚部の間や肺野などの輝度が高い部分に位置すると、領域Ｂが採用されてＸ線条件がより抑えられるように制御されるので、画像が暗く（低輝度）なってしまい見たい部分が見にくくなってしまう問題がある。この場合、例えば図８では、領域Ｂに脚部の一部を含むように被検体を移動させている。また、操作者が手動でＸ線条件を１段階上げるなどの調整を行っている。
【０００６】
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、画像を適正に露出することが可能なＸ線撮影装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。すなわち、本発明に係るＸ線撮影装置は、被検体にＸ線を照射するＸ線照射部と、被検体を透過したＸ線を検出するＸ線検出器と、前記Ｘ線検出器の出力に基づいて取得された画像から、前記画像の中央に位置する大きさの異なる複数の領域を抽出する領域抽出部と、抽出された領域ごとに画素値の代表値を算出する代表値算出部と、算出された領域ごとの代表値を比較して最小の代表値を選択する比較選択部と、選択された代表値に基づいて前記Ｘ線照射部で照射するＸ線条件を設定するＸ線条件設定部と、を備えていることを特徴とするものである。
【０００８】
本発明に係るＸ線撮影装置によれば、領域抽出部は、取得された画像の中央に位置する大きさの異なる複数の領域を抽出し、代表値算出部は、抽出された領域ごとに画素値の代表値を算出する。Ｘ線条件設定部は、抽出された複数の領域のいずれかの代表値に基づいてＸ線照射部で照射するＸ線条件を設定する。このとき、比較選択部は、領域ごとに算出された代表値を比較して最小の代表値を選択する。最小の代表値を選択することで、従来とは逆であるＸ線条件がより高くなるように設定されることとなる。しかしながら、最小の代表値を選択することで、領域を正しく選択することができ、見たい部分が適正に露出された画像を取得することができる。
【０００９】
また、本発明に係るＸ線撮影装置において、前記比較選択部で選択された代表値の領域のうち、予め設定された値以下の画素が予め設定された割合の領域以上で存在するかを判定し、存在する場合には他方の領域の代表値を選択する判定選択部を備えていることが好ましい。すなわち、選択した代表値の領域に、例えばコリメータ等の金属やペースメーカなどＸ線を遮蔽する物体を含んでいる場合、例えば、それらを含んでいない場合よりも代表値が低い値となる。そのため、Ｘ線条件を高く上げ過ぎて設定されてしまう。判定は、選択された代表値の領域のうち、予め設定された値以下の画素が予め設定された割合の領域以上で存在するか否かで行われる。存在する場合には、コリメータ等を含んでいるものとして判定され、他方の領域の代表値を選択するようになっている。これにより、Ｘ線条件を高く上げ過ぎてしまうことを防止している。よって、領域を正しく選択することができ、見たい部分が適正に露出された画像を取得することができる。
【００１０】
また、本発明に係るＸ線撮影装置において、前記領域抽出部は、前記Ｘ線検出器の出力に基づいて時間的に連続して取得された画像から領域を抽出することが好ましい。すなわち、時間的に連続して取得された透視画像から領域を抽出しているので、見たい部分が適正に露出された透視画像を取得することができる。
【００１１】
また、本発明に係るＸ線撮影装置において、前記領域抽出部は、前記Ｘ線検出器の出力に基づいて取得された画像から２つの領域を抽出することが好ましい。すなわち、領域数が少なければ、領域の選択を比較的速く行うことができるので、取得する画像への応答を速くすることができる。また、構成を簡単にすることができる。
【００１２】
また、本発明に係るＸ線撮影装置において、前記領域の少なくとも１つは、長方形であることが好ましい。それにより、領域を正しく選択することができるとともに、領域から算出され、Ｘ線条件を設定するための代表値を適正に取得することができる。
【発明の効果】
【００１３】
本発明に係るＸ線撮影装置によれば、領域抽出部は、取得された画像の中央に位置する大きさの異なる複数の領域を抽出し、代表値算出部は、抽出された領域ごとに画素値の代表値を算出する。Ｘ線条件設定部は、抽出された複数の領域のいずれかの代表値に基づいてＸ線照射部で照射するＸ線条件を設定する。このとき、比較選択部は、領域ごとに算出された代表値を比較して最小の代表値を選択する。最小の代表値を選択することで、従来とは逆であるＸ線条件がより高くなるように設定されることとなる。しかしながら、最小の代表値を選択することで、領域を正しく選択することができ、見たい部分が適正に露出された画像を取得することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】実施例に係るＸ線撮影装置のブロック図である。
【図２】抽出領域の説明に供する図である。
【図３】領域にコリメータを含む場合の動作の説明に供する図である。
【図４】判定選択部の説明に供する図である。
【図５】実施例に係るＸ線撮影装置の自動露出制御の動作を示すフローチャートである。
【図６】領域の平均画素値のいずれかを選択する動作の説明に供する図である。
【図７】変形例に係る抽出領域の説明に供する図である。
【図８】従来装置の動作の説明に供する図である。
【実施例】
【００１５】
以下、図面を参照して本発明の実施例を説明する。図１は、実施例に係るＸ線撮影装置のブロック図であり、図２は、抽出領域の説明に供する図である。図３は、領域にコリメータを含む場合の動作の説明に供する図であり、図４は、判定選択部の説明に供する図である。
【００１６】
図１を参照する。Ｘ線撮影装置１は、被検体Ｍを載置する天板３と、被検体ＭにＸ線を照射するＸ線管５と、被検体Ｍを挟んでＸ線管５と対向して配置され、被検体Ｍを透過したＸ線を検出するフラットパネル型Ｘ線検出器（以下、適宜「ＦＰＤ」と称する）７とを備えている。なお、Ｘ線管５は本発明におけるＸ線照射部に相当し、ＦＰＤ７はＸ線検出器に相当する。
【００１７】
Ｘ線管５は、その照射口に、Ｘ線の照射野を調整するコリメータ９が取り付けられている。Ｘ線管５は、Ｘ線管制御部１１によりＸ線照射に必要な制御が実行される。Ｘ線管制御部１１は、Ｘ線管５の管電圧や管電流を発生させる高電圧発生部１３を有している。Ｘ線管制御部１１は、後述する入力部２３や自動露出制御部２７などで設定された管電圧や管電流や照射時間等のＸ線条件に応じてＸ線管５からＸ線を照射させている。Ｘ線はパルス状に照射され、フレームレートは、例えば３０fps、１５fps、７．５fpsおよび３．７５fpsであり、時間的に連続した透視画像の取得が行われるようになっている。
【００１８】
また、Ｘ線撮影装置１は、ＦＰＤ７から出力されたＸ線検出信号をアナログ値からディジタル値に変換するＡ／Ｄ変換器１５と、Ａ／Ｄ変換器１５でディジタル変換されたＸ線検出信号に基づく画像に対して種々の処理を行う画像処理部１７と、Ｘ線撮影装置１の各構成を統括的に制御する主制御部１９とを備えている。また、Ｘ線撮影装置１は、画像処理部１７で処理された画像を表示する表示部２１と、操作者が入力設定や各種操作を行う入力部２３と、処理された画像を記憶するメモリ部２５とを備えている。
【００１９】
主制御部１９は、中央演算処理装置（ＣＰＵ）などで構成されている。主制御部２１は、天板３、Ｘ線管５、ＦＰＤ７等を任意の位置に移動させたり、コリメータ９の照射野を変更するようにさせたりする移動機構を制御している。表示部２１は、液晶モニタ等で構成される。入力部２３は、キーボードやマウス等で構成される。メモリ部２５は、ＲＯＭ（Read-only Memory）、ＲＡＭ（Random-Access Memory）またはハードディスク等の記憶媒体で構成される。
【００２０】
また、Ｘ線撮影装置１は、ＦＰＤ７から出力されて取得した透視画像から、Ｘ線管５から照射するＸ線の管電圧や管電流の条件（Ｘ線条件）を設定する自動露出制御部２７を備えている。自動露出制御部２７は、第１領域抽出部２９，第２領域抽出部３０，第１平均画素値算出部３１，第２平均画素値算出部３２，比較選択部３３，判定選択部３５およびＸ線条件設定部３７を備えている。なお、第１領域抽出部２９および第２領域抽出部３０は、本発明における領域抽出部に相当する。第１平均画素値算出部３１および第２平均画素値算出部３２は、本発明における代表値算出部に相当する。
【００２１】
第１領域抽出部２９および第２領域抽出部３０は、ＦＰＤ７の出力に基づいて取得された画像から、画像のほぼ中央に位置する大きさの異なる２つの領域を抽出する。図２に示すように、第１領域抽出部２９は、画面の中央に位置する正方形の領域Ａを抽出し、第２領域抽出部３０は、領域Ａより小さい面積であり、画面の中央に位置する縦長の長方形の領域Ｂを抽出する。領域Ａ，Ｂは、予め設定されており、固定の領域である。なお、カテーテル操作のための撮影や造影剤を服用して胃などの消化管の撮影などに応じて領域Ａ，Ｂの大きさ等を変更するようにしてもよい。また、領域Ａ，Ｂの形状は、正方形や長方形に限定されず、例えば円形など他の形状であってもよい。領域Ｂは、領域Ａからはみ出してもよい。
【００２２】
第１平均画素値算出部３１および第２平均画素値算出部３２は、抽出された領域ごとに画素値の平均値（平均画素値）を算出する。第１平均画素値算出部３１は、第１領域抽出部２９で画像から抽出された領域Ａの画素値から平均画素値を算出する。同様に、第２平均画素値算出部３２は、第２領域抽出部３０で画像から抽出された領域Ｂの画素値から平均画素値を算出する。
【００２３】
比較選択部３３は、算出された領域ごとの平均画素値を比較して最小の平均画素値を選択する。比較選択部３３は、領域Ａの平均画素値と領域Ｂの平均画素値とを比較して、小さい方の平均画素値を選択する。
【００２４】
判定選択部３５は、比較選択部３３で選択された平均画素値の領域のうち、予め設定された値以下（未満）の画素が予め設定された割合の領域以上で（領域を越えて）存在するかを判定し、存在する場合には他方の領域の平均画素値を選択する。図３に示すように、選択された平均画素値の領域Ａ，Ｂ内にコリメータ等の金属やペースメーカなどＸ線を遮蔽する物体がある場合、低輝度部分の画素値が占める割合が多くなり、平均画素値がより小さくなってしまう。なお、図３では、領域Ａにコリメータが存在する。その場合には、判定選択部３５は、他方の領域Ｂの平均画素値を選択する。すなわち、判定選択部３５は、図４に示すように、予め設定された画素値（符号Ｐ）以下の画素が、選択された平均画素値の領域Ａで、予め設定された割合（例えば領域の１０％）を占めるかどうかを判定する。占める場合は、他方の例えば領域Ｂを選択する。なお、領域Ｂにペースメーカ等が存在する場合は、領域Ａを選択する。
【００２５】
Ｘ線条件設定部３７は、比較選択部３３または判定選択部３５で選択された平均画素値に基づいてＸ線管５で照射するＸ線条件を設定する。Ｘ線条件の設定は、選択された平均画素値と画素値の適正な平均値である目標画素値（目標値）とを比較して、選択された平均画素値の領域が適正な平均画素値になるように管電圧や管電流の設定値が与えられる。管電圧や管電流の設定値は、例えば変換テーブルにより求められる。なお、管電流は、管電圧に連動して変化するようになっている。
【００２６】
Ｘ線条件設定部３７で設定された管電圧や管電流、すなわち、自動露出制御部２７から出力された管電圧や管電流のＸ線条件は、Ｘ線管制御部１１に送信される。Ｘ線管制御部１１は、送信されたＸ線条件に基づいてＸ線管５からＸ線を照射させる。
【００２７】
＜Ｘ線撮影装置１の動作＞
次に、Ｘ線撮影装置１の自動露出制御についてフローチャートに沿って説明する。図５は、実施例に係るＸ線撮影装置の自動露出制御の動作を示すフローチャートである。図６は、領域の平均画素値のいずれかを選択する動作の説明に供する図である。
【００２８】
被検体Ｍを天板３に載置させ、天板３、Ｘ線管５およびＦＰＤ７を任意の位置に移動させる。Ｘ線管制御部１１は、管電圧や管電流のＸ線条件線条件に基づいて、Ｘ線管５から被検体Ｍに向けてＸ線を照射し、透視撮影を行う。
【００２９】
〔ステップＳ０１〕画像の取得
被検体Ｍを透過したＸ線をＦＰＤ７で検出する。ＦＰＤ７から出力されたＸ線検出信号は、Ａ／Ｄ変換器１５によりアナログ値からディジタル値に変換され、画像処理部１７により必要な種々の処理（例えばオフセット補正）が行われる。このようにして、あるフレームの透視画像が取得される。
【００３０】
〔ステップＳ０２〕領域の抽出
取得した画像から領域Ａ，Ｂを抽出する。すなわち、第１領域抽出部２９および第２領域抽出部３０は、ＦＰＤ７の出力に基づいて取得された画像から、画像の中央に位置する大きさの異なる２つの領域Ａ，Ｂを抽出する。
【００３１】
〔ステップＳ０３〕各領域の平均画素値の算出
第１平均画素値算出部３１および第２平均画素値算出部３２は、抽出された領域Ａ，Ｂごとに平均画素値を算出する。
【００３２】
〔ステップＳ０４〕平均画素値のいずれかの選択
比較選択部３３は、領域Ａの平均画素値と領域Ｂの平均画素値とを比較して、小さい方の平均画素値を選択する。
【００３３】
図６を参照する。領域Ａ，Ｂの平均画素値が符号ａ、ｂで示すものとし、ａ＜ｂであるものとする。また、領域Ａの平均画素値が符号ａであり、領域Ｂの平均画素値が符号ｂであっても、その逆であってもよいものとする。図６（ａ）に示すように、目標値に対して、領域Ａ，Ｂの平均画素値ａ，ｂが共に高い場合は、目標値との差が小さい、すなわちＸ線条件をより下げない方ａを選択する。図６（ｂ）に示すように、目標値を挟んで領域Ａ，Ｂの平均画素値ａ，ｂが存在する場合は、Ｘ線条件を上げる方ａを選択する。また、図６（ｃ）に示すように、目標値に対して、領域Ａ，Ｂの平均画素値ａ，ｂが共に小さい場合は、目標値との差が大きい、すなわちＸ線条件をより上げる方ａを選択する。すなわち、比較選択部３３は、領域Ａ，Ｂの平均画素値ａ，ｂを比較して、小さい方の平均画素値ａを選択している。なお、従来装置は、大きい方の平均画素値ｂを選択している。
【００３４】
〔ステップＳ０５〕選択された平均画素値を有する領域が適正であるか否かの判定
判定選択部３５は、比較選択部３３で選択された平均画素値の領域が適正であるか否かを判定する。判定は、選択された平均画素値を有する領域が、予め設定された値以下の画素が予め設定された割合の領域以上で存在するか否かで行われる。存在しない場合、すなわち適正である場合は、ステップＳ０７へ進む。また、存在する場合、すなわち適正でない場合は、ステップＳ０６へ進む。
【００３５】
〔ステップＳ０６〕他方の領域の平均画素値の選択
選択された平均画素値を有する領域が、予め設定された値以下の画素が予め設定された割合の領域以上で存在する場合、すなわち適正でない場合は、コリメータ等の金属やペースメーカなどＸ線を遮蔽する物体が領域内にあるものとして判定する。例えば領域Ａが適正でないと判定された場合は、他方である領域Ｂを選択する。
【００３６】
〔ステップＳ０７〕Ｘ線条件設定
Ｘ線条件設定部３７は、比較選択部３３（ステップＳ０５）または判定選択部３５（ステップＳ０６）で選択された平均画素値に基づいてＸ線管５で照射するＸ線条件を設定する。平均画素値と目標値との関係から変換テーブル等により、管電圧や管電流のＸ線条件が設定される。
【００３７】
〔ステップＳ０８〕Ｘ線照射
設定されたＸ線条件は、Ｘ線管制御部１１に送信される。Ｘ線管制御部１１は、送信されたＸ線条件に基づいてＸ線管５からＸ線を照射させる。
【００３８】
本実施例に係るＸ線撮影装置１によれば、第１領域抽出部２９および第２領域抽出部３０は、取得した画像の中央に位置する大きさの異なる２つの領域Ａ，Ｂを抽出する。第１平均画素値算出部３１および第２平均画素値算出部３２は、抽出された領域Ａ，Ｂごとに画素値の平均値を算出する。Ｘ線条件設定部３７は、抽出された２つの領域Ａ，Ｂのいずれかの平均画素値に基づいてＸ線管５で照射するＸ線条件を設定する。このとき、比較選択部３３は、領域Ａ，Ｂごとに算出された平均画素値を比較して最小の平均画素値を選択する。最小の平均画素値を選択することで、従来とは逆であるＸ線条件がより高くなるように設定されることとなる。しかしながら、最小の平均画素値を選択することで、領域Ａ，Ｂを正しく選択することができ、見たい部分が適正に露出された画像を取得することができる。
【００３９】
すなわち、図８において、従来、比較選択部３３は、領域Ａ，Ｂの平均画素値のうち平均画素値が高い方の領域Ｂを選択していた。この場合、見たい部分である被検体Ｍの脚部ではなく、脚部の間の領域Ｂに基づき、Ｘ線条件設定部３７によりＸ線条件が設定されていた。それにより、脚部が暗い画像となっていた。この場合、従来では、脚部の位置を領域Ｂに一部を含むように移動している。また、操作者が手動で適正な画像になるようにＸ線条件を１段階上げるなどの調整を行っている。しかしながら、本実施例では、領域Ａ，Ｂの平均画素値のうち平均画素値が低い方（最小の平均画素値）の領域Ａを選択している。そのため、脚部分を含んだ領域Ａに基づき、Ｘ線条件が設定される。すなわち、平均画素値が低い方の領域を選択することにより、適正な領域を選択することができる。それにより、図８に示すように、脚部が画像の中央から外れていても、見たい部分が適正に露出された画像を取得することができる。
【００４０】
また、選択した平均画素値の領域に、例えばコリメータ等の金属やペースメーカなどＸ線を遮蔽する物体を含んでいる場合（図３）、例えば、平均画素値がそれらを含んでいない場合よりも低い値となる。そのため、Ｘ線条件を高く上げ過ぎて設定されてしまう。判定は、選択された平均画素値の領域のうち、予め設定された値以下の画素が予め設定された割合の領域以上で存在するか否かで行われる。存在する場合には、コリメータ等を含んでいるものとして判定され、他方の領域の代表値を選択するようになっている。これにより、Ｘ線条件を高く上げ過ぎてしまうことを防止している。よって、領域を正しく選択することができ、見たい部分が適正に露出された画像を取得することができる。
【００４１】
また、第１領域抽出部２９および第２領域抽出部３０は、ＦＰＤ７の出力に基づいて時間的に連続して取得された画像から領域Ａ，Ｂを抽出している。すなわち、時間的に連続して取得された透視画像から領域Ａ，Ｂを抽出しているので、見たい部分が適正に露出された透視画像を取得することができる。
【００４２】
また、第１領域抽出部２９および第２領域抽出部３０は、ＦＰＤ７の出力に基づいて取得された画像から２つの領域を抽出している。すなわち、領域数が少なければ、領域の選択を比較的速く行うことができるので、取得する画像への応答を速くすることができる。また、構成を簡単にすることができる。
【００４３】
また、領域Ａ，Ｂの少なくとも１つ（すなわち領域Ｂ）は、長方形である。それにより、領域を正しく選択することができるとともに、領域から算出された、Ｘ線条件を設定するための代表値を適正に取得することができる。例えば、図３に示すように、コリメータが画像の左右方向で移動して、画像の一部に含まれる場合があるとする。被検体Ｍは縦長であるので縦長の長方形にすることにより、画像の左右方向からのコリメータが領域内に含まれることを抑制するとともに、領域Ｂから算出される平均画素値を適正なものとすることができる。なお、コリメータが画像の上下方向に移動する場合は、領域Ｂを横長の長方形にしてもよく、コリメータが画像の上下左右方向に移動する場合は、領域Ｂは正方形にしてもよい。
【００４４】
本発明は、上記実施形態に限られることはなく、下記のように変形実施することができる。
【００４５】
（１）上述した実施例では、第１平均画素値算出部３１および第２平均画素値算出部３２は、代表値として画素値の平均値を算出していたがこれに限定されない。例えば、画素値の中央値であってもよい。
【００４６】
（２）上述した実施例では、画像から抽出する領域は２つに限定されない。すなわち、３個以上の領域を抽出するようにしてもよい。例えば、図７に示すように、画像の中央に位置する大きさの異なる３つの領域Ｃ，Ｄ，Ｅを抽出するとする。仮に領域Ｃにコリメータを含み、判定選択部３５で適正でないと判定された場合には、領域Ｃの内側の領域Ｄ，Ｅの平均画素値のいずれかでＸ線条件を設定するようにしてもよい。また、３個以上の領域を抽出する場合などは、比較と判定を繰り返すように構成してもよい。
【００４７】
（３）上述した実施例では、動画撮影である透視におけるＸ線条件の設定（自動露出制御）であったが、静止画撮影にも適用させてもよい。例えば、連続または１枚撮りで透視を行い、自動露出制御部２７により透視用のＸ線条件を設定する。この条件を例えばテーブル変換により静止画撮影用のＸ線条件に変換して設定し、静止画撮影を行うようにしてもよい。
【００４８】
（４）上述した実施例では、判定選択部３５で例えば領域Ａにコリメータが存在して適正でないと判定する場合、領域Ｂを選択していた。しかしながら、さらに領域Ｂに対しても判定するように構成してもよい。例えば、領域Ａにペースメーカが存在する場合には、領域Ａ，Ｂともに、算出された平均画素値が適正でないことになる。この場合は、例えば、通常より抑えたＸ線条件を与えるようにしてもよい。
【符号の説明】
【００４９】
１ … Ｘ線撮影装置
５ … Ｘ線管
７ … フラットパネル型Ｘ線検出器（ＦＰＤ）
９ … コリメータ
１１ … Ｘ線管制御部
１９ … 主制御部
２７ … 自動露出制御部
２９ … 第１領域抽出部
３０ … 第２領域抽出部
３１ … 第１平均画素値算出部
３２ … 第２平均画素値算出部
３３ … 比較選択部
３５ … 判定選択部
３７ … Ｘ線条件設定部
【技術分野】
【０００１】
本発明は、Ｘ線撮影装置の透視においてＸ線自動露出制御によりＸ線画像の明るさを適正にする技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来のＸ線撮影装置は、被検体にＸ線を照射するＸ線管と、被検体を透過したＸ線を検出するＸ線検出器とを備えている。Ｘ線管から照射されたＸ線は、被検体を透過してＸ線検出器に入射し、Ｘ線検出器はＸ線像の濃淡に応じてＸ線検出信号を出力する。このＸ線検出信号に基づいて画像を取得している。また、Ｘ線撮影装置は、自動露出制御部を備えている。自動露出制御部は、透視撮影中にＸ線検出器で検出して取得した画像から、画像の明るさ（輝度）が適正となるＸ線条件を求めて、Ｘ線管から照射されるＸ線を調整する（例えば特許文献１参照）。
【０００３】
従来のＸ線撮影装置における自動露出制御の動作は、具体的には次のように行われる。図８に示すように、画像の中央に大きさの異なる２つの固定の領域Ａ，Ｂを予め設定する。取得した透視画像の領域Ａ，Ｂから２つの領域Ａ，Ｂそれぞれの平均画像値を算出して比較する。２つの領域Ａ，Ｂのうち、Ｘ線条件がより低く抑えられる方、すなわち、平均画素値が高い方を制御値として採用し、採用された領域の平均画素値が目標画素値となるようにＸ線条件を設定する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００９−２６８６９９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
平均画素値が高い方を制御値として採用しているのは、被検体へのＸ線の被曝量を低く抑えたいとの考えによる。しかしながら、異なる大きさの２つの領域のうち、面積が小さい方の領域Ｂが図８の脚部の間や肺野などの輝度が高い部分に位置すると、領域Ｂが採用されてＸ線条件がより抑えられるように制御されるので、画像が暗く（低輝度）なってしまい見たい部分が見にくくなってしまう問題がある。この場合、例えば図８では、領域Ｂに脚部の一部を含むように被検体を移動させている。また、操作者が手動でＸ線条件を１段階上げるなどの調整を行っている。
【０００６】
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、画像を適正に露出することが可能なＸ線撮影装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。すなわち、本発明に係るＸ線撮影装置は、被検体にＸ線を照射するＸ線照射部と、被検体を透過したＸ線を検出するＸ線検出器と、前記Ｘ線検出器の出力に基づいて取得された画像から、前記画像の中央に位置する大きさの異なる複数の領域を抽出する領域抽出部と、抽出された領域ごとに画素値の代表値を算出する代表値算出部と、算出された領域ごとの代表値を比較して最小の代表値を選択する比較選択部と、選択された代表値に基づいて前記Ｘ線照射部で照射するＸ線条件を設定するＸ線条件設定部と、を備えていることを特徴とするものである。
【０００８】
本発明に係るＸ線撮影装置によれば、領域抽出部は、取得された画像の中央に位置する大きさの異なる複数の領域を抽出し、代表値算出部は、抽出された領域ごとに画素値の代表値を算出する。Ｘ線条件設定部は、抽出された複数の領域のいずれかの代表値に基づいてＸ線照射部で照射するＸ線条件を設定する。このとき、比較選択部は、領域ごとに算出された代表値を比較して最小の代表値を選択する。最小の代表値を選択することで、従来とは逆であるＸ線条件がより高くなるように設定されることとなる。しかしながら、最小の代表値を選択することで、領域を正しく選択することができ、見たい部分が適正に露出された画像を取得することができる。
【０００９】
また、本発明に係るＸ線撮影装置において、前記比較選択部で選択された代表値の領域のうち、予め設定された値以下の画素が予め設定された割合の領域以上で存在するかを判定し、存在する場合には他方の領域の代表値を選択する判定選択部を備えていることが好ましい。すなわち、選択した代表値の領域に、例えばコリメータ等の金属やペースメーカなどＸ線を遮蔽する物体を含んでいる場合、例えば、それらを含んでいない場合よりも代表値が低い値となる。そのため、Ｘ線条件を高く上げ過ぎて設定されてしまう。判定は、選択された代表値の領域のうち、予め設定された値以下の画素が予め設定された割合の領域以上で存在するか否かで行われる。存在する場合には、コリメータ等を含んでいるものとして判定され、他方の領域の代表値を選択するようになっている。これにより、Ｘ線条件を高く上げ過ぎてしまうことを防止している。よって、領域を正しく選択することができ、見たい部分が適正に露出された画像を取得することができる。
【００１０】
また、本発明に係るＸ線撮影装置において、前記領域抽出部は、前記Ｘ線検出器の出力に基づいて時間的に連続して取得された画像から領域を抽出することが好ましい。すなわち、時間的に連続して取得された透視画像から領域を抽出しているので、見たい部分が適正に露出された透視画像を取得することができる。
【００１１】
また、本発明に係るＸ線撮影装置において、前記領域抽出部は、前記Ｘ線検出器の出力に基づいて取得された画像から２つの領域を抽出することが好ましい。すなわち、領域数が少なければ、領域の選択を比較的速く行うことができるので、取得する画像への応答を速くすることができる。また、構成を簡単にすることができる。
【００１２】
また、本発明に係るＸ線撮影装置において、前記領域の少なくとも１つは、長方形であることが好ましい。それにより、領域を正しく選択することができるとともに、領域から算出され、Ｘ線条件を設定するための代表値を適正に取得することができる。
【発明の効果】
【００１３】
本発明に係るＸ線撮影装置によれば、領域抽出部は、取得された画像の中央に位置する大きさの異なる複数の領域を抽出し、代表値算出部は、抽出された領域ごとに画素値の代表値を算出する。Ｘ線条件設定部は、抽出された複数の領域のいずれかの代表値に基づいてＸ線照射部で照射するＸ線条件を設定する。このとき、比較選択部は、領域ごとに算出された代表値を比較して最小の代表値を選択する。最小の代表値を選択することで、従来とは逆であるＸ線条件がより高くなるように設定されることとなる。しかしながら、最小の代表値を選択することで、領域を正しく選択することができ、見たい部分が適正に露出された画像を取得することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】実施例に係るＸ線撮影装置のブロック図である。
【図２】抽出領域の説明に供する図である。
【図３】領域にコリメータを含む場合の動作の説明に供する図である。
【図４】判定選択部の説明に供する図である。
【図５】実施例に係るＸ線撮影装置の自動露出制御の動作を示すフローチャートである。
【図６】領域の平均画素値のいずれかを選択する動作の説明に供する図である。
【図７】変形例に係る抽出領域の説明に供する図である。
【図８】従来装置の動作の説明に供する図である。
【実施例】
【００１５】
以下、図面を参照して本発明の実施例を説明する。図１は、実施例に係るＸ線撮影装置のブロック図であり、図２は、抽出領域の説明に供する図である。図３は、領域にコリメータを含む場合の動作の説明に供する図であり、図４は、判定選択部の説明に供する図である。
【００１６】
図１を参照する。Ｘ線撮影装置１は、被検体Ｍを載置する天板３と、被検体ＭにＸ線を照射するＸ線管５と、被検体Ｍを挟んでＸ線管５と対向して配置され、被検体Ｍを透過したＸ線を検出するフラットパネル型Ｘ線検出器（以下、適宜「ＦＰＤ」と称する）７とを備えている。なお、Ｘ線管５は本発明におけるＸ線照射部に相当し、ＦＰＤ７はＸ線検出器に相当する。
【００１７】
Ｘ線管５は、その照射口に、Ｘ線の照射野を調整するコリメータ９が取り付けられている。Ｘ線管５は、Ｘ線管制御部１１によりＸ線照射に必要な制御が実行される。Ｘ線管制御部１１は、Ｘ線管５の管電圧や管電流を発生させる高電圧発生部１３を有している。Ｘ線管制御部１１は、後述する入力部２３や自動露出制御部２７などで設定された管電圧や管電流や照射時間等のＸ線条件に応じてＸ線管５からＸ線を照射させている。Ｘ線はパルス状に照射され、フレームレートは、例えば３０fps、１５fps、７．５fpsおよび３．７５fpsであり、時間的に連続した透視画像の取得が行われるようになっている。
【００１８】
また、Ｘ線撮影装置１は、ＦＰＤ７から出力されたＸ線検出信号をアナログ値からディジタル値に変換するＡ／Ｄ変換器１５と、Ａ／Ｄ変換器１５でディジタル変換されたＸ線検出信号に基づく画像に対して種々の処理を行う画像処理部１７と、Ｘ線撮影装置１の各構成を統括的に制御する主制御部１９とを備えている。また、Ｘ線撮影装置１は、画像処理部１７で処理された画像を表示する表示部２１と、操作者が入力設定や各種操作を行う入力部２３と、処理された画像を記憶するメモリ部２５とを備えている。
【００１９】
主制御部１９は、中央演算処理装置（ＣＰＵ）などで構成されている。主制御部２１は、天板３、Ｘ線管５、ＦＰＤ７等を任意の位置に移動させたり、コリメータ９の照射野を変更するようにさせたりする移動機構を制御している。表示部２１は、液晶モニタ等で構成される。入力部２３は、キーボードやマウス等で構成される。メモリ部２５は、ＲＯＭ（Read-only Memory）、ＲＡＭ（Random-Access Memory）またはハードディスク等の記憶媒体で構成される。
【００２０】
また、Ｘ線撮影装置１は、ＦＰＤ７から出力されて取得した透視画像から、Ｘ線管５から照射するＸ線の管電圧や管電流の条件（Ｘ線条件）を設定する自動露出制御部２７を備えている。自動露出制御部２７は、第１領域抽出部２９，第２領域抽出部３０，第１平均画素値算出部３１，第２平均画素値算出部３２，比較選択部３３，判定選択部３５およびＸ線条件設定部３７を備えている。なお、第１領域抽出部２９および第２領域抽出部３０は、本発明における領域抽出部に相当する。第１平均画素値算出部３１および第２平均画素値算出部３２は、本発明における代表値算出部に相当する。
【００２１】
第１領域抽出部２９および第２領域抽出部３０は、ＦＰＤ７の出力に基づいて取得された画像から、画像のほぼ中央に位置する大きさの異なる２つの領域を抽出する。図２に示すように、第１領域抽出部２９は、画面の中央に位置する正方形の領域Ａを抽出し、第２領域抽出部３０は、領域Ａより小さい面積であり、画面の中央に位置する縦長の長方形の領域Ｂを抽出する。領域Ａ，Ｂは、予め設定されており、固定の領域である。なお、カテーテル操作のための撮影や造影剤を服用して胃などの消化管の撮影などに応じて領域Ａ，Ｂの大きさ等を変更するようにしてもよい。また、領域Ａ，Ｂの形状は、正方形や長方形に限定されず、例えば円形など他の形状であってもよい。領域Ｂは、領域Ａからはみ出してもよい。
【００２２】
第１平均画素値算出部３１および第２平均画素値算出部３２は、抽出された領域ごとに画素値の平均値（平均画素値）を算出する。第１平均画素値算出部３１は、第１領域抽出部２９で画像から抽出された領域Ａの画素値から平均画素値を算出する。同様に、第２平均画素値算出部３２は、第２領域抽出部３０で画像から抽出された領域Ｂの画素値から平均画素値を算出する。
【００２３】
比較選択部３３は、算出された領域ごとの平均画素値を比較して最小の平均画素値を選択する。比較選択部３３は、領域Ａの平均画素値と領域Ｂの平均画素値とを比較して、小さい方の平均画素値を選択する。
【００２４】
判定選択部３５は、比較選択部３３で選択された平均画素値の領域のうち、予め設定された値以下（未満）の画素が予め設定された割合の領域以上で（領域を越えて）存在するかを判定し、存在する場合には他方の領域の平均画素値を選択する。図３に示すように、選択された平均画素値の領域Ａ，Ｂ内にコリメータ等の金属やペースメーカなどＸ線を遮蔽する物体がある場合、低輝度部分の画素値が占める割合が多くなり、平均画素値がより小さくなってしまう。なお、図３では、領域Ａにコリメータが存在する。その場合には、判定選択部３５は、他方の領域Ｂの平均画素値を選択する。すなわち、判定選択部３５は、図４に示すように、予め設定された画素値（符号Ｐ）以下の画素が、選択された平均画素値の領域Ａで、予め設定された割合（例えば領域の１０％）を占めるかどうかを判定する。占める場合は、他方の例えば領域Ｂを選択する。なお、領域Ｂにペースメーカ等が存在する場合は、領域Ａを選択する。
【００２５】
Ｘ線条件設定部３７は、比較選択部３３または判定選択部３５で選択された平均画素値に基づいてＸ線管５で照射するＸ線条件を設定する。Ｘ線条件の設定は、選択された平均画素値と画素値の適正な平均値である目標画素値（目標値）とを比較して、選択された平均画素値の領域が適正な平均画素値になるように管電圧や管電流の設定値が与えられる。管電圧や管電流の設定値は、例えば変換テーブルにより求められる。なお、管電流は、管電圧に連動して変化するようになっている。
【００２６】
Ｘ線条件設定部３７で設定された管電圧や管電流、すなわち、自動露出制御部２７から出力された管電圧や管電流のＸ線条件は、Ｘ線管制御部１１に送信される。Ｘ線管制御部１１は、送信されたＸ線条件に基づいてＸ線管５からＸ線を照射させる。
【００２７】
＜Ｘ線撮影装置１の動作＞
次に、Ｘ線撮影装置１の自動露出制御についてフローチャートに沿って説明する。図５は、実施例に係るＸ線撮影装置の自動露出制御の動作を示すフローチャートである。図６は、領域の平均画素値のいずれかを選択する動作の説明に供する図である。
【００２８】
被検体Ｍを天板３に載置させ、天板３、Ｘ線管５およびＦＰＤ７を任意の位置に移動させる。Ｘ線管制御部１１は、管電圧や管電流のＸ線条件線条件に基づいて、Ｘ線管５から被検体Ｍに向けてＸ線を照射し、透視撮影を行う。
【００２９】
〔ステップＳ０１〕画像の取得
被検体Ｍを透過したＸ線をＦＰＤ７で検出する。ＦＰＤ７から出力されたＸ線検出信号は、Ａ／Ｄ変換器１５によりアナログ値からディジタル値に変換され、画像処理部１７により必要な種々の処理（例えばオフセット補正）が行われる。このようにして、あるフレームの透視画像が取得される。
【００３０】
〔ステップＳ０２〕領域の抽出
取得した画像から領域Ａ，Ｂを抽出する。すなわち、第１領域抽出部２９および第２領域抽出部３０は、ＦＰＤ７の出力に基づいて取得された画像から、画像の中央に位置する大きさの異なる２つの領域Ａ，Ｂを抽出する。
【００３１】
〔ステップＳ０３〕各領域の平均画素値の算出
第１平均画素値算出部３１および第２平均画素値算出部３２は、抽出された領域Ａ，Ｂごとに平均画素値を算出する。
【００３２】
〔ステップＳ０４〕平均画素値のいずれかの選択
比較選択部３３は、領域Ａの平均画素値と領域Ｂの平均画素値とを比較して、小さい方の平均画素値を選択する。
【００３３】
図６を参照する。領域Ａ，Ｂの平均画素値が符号ａ、ｂで示すものとし、ａ＜ｂであるものとする。また、領域Ａの平均画素値が符号ａであり、領域Ｂの平均画素値が符号ｂであっても、その逆であってもよいものとする。図６（ａ）に示すように、目標値に対して、領域Ａ，Ｂの平均画素値ａ，ｂが共に高い場合は、目標値との差が小さい、すなわちＸ線条件をより下げない方ａを選択する。図６（ｂ）に示すように、目標値を挟んで領域Ａ，Ｂの平均画素値ａ，ｂが存在する場合は、Ｘ線条件を上げる方ａを選択する。また、図６（ｃ）に示すように、目標値に対して、領域Ａ，Ｂの平均画素値ａ，ｂが共に小さい場合は、目標値との差が大きい、すなわちＸ線条件をより上げる方ａを選択する。すなわち、比較選択部３３は、領域Ａ，Ｂの平均画素値ａ，ｂを比較して、小さい方の平均画素値ａを選択している。なお、従来装置は、大きい方の平均画素値ｂを選択している。
【００３４】
〔ステップＳ０５〕選択された平均画素値を有する領域が適正であるか否かの判定
判定選択部３５は、比較選択部３３で選択された平均画素値の領域が適正であるか否かを判定する。判定は、選択された平均画素値を有する領域が、予め設定された値以下の画素が予め設定された割合の領域以上で存在するか否かで行われる。存在しない場合、すなわち適正である場合は、ステップＳ０７へ進む。また、存在する場合、すなわち適正でない場合は、ステップＳ０６へ進む。
【００３５】
〔ステップＳ０６〕他方の領域の平均画素値の選択
選択された平均画素値を有する領域が、予め設定された値以下の画素が予め設定された割合の領域以上で存在する場合、すなわち適正でない場合は、コリメータ等の金属やペースメーカなどＸ線を遮蔽する物体が領域内にあるものとして判定する。例えば領域Ａが適正でないと判定された場合は、他方である領域Ｂを選択する。
【００３６】
〔ステップＳ０７〕Ｘ線条件設定
Ｘ線条件設定部３７は、比較選択部３３（ステップＳ０５）または判定選択部３５（ステップＳ０６）で選択された平均画素値に基づいてＸ線管５で照射するＸ線条件を設定する。平均画素値と目標値との関係から変換テーブル等により、管電圧や管電流のＸ線条件が設定される。
【００３７】
〔ステップＳ０８〕Ｘ線照射
設定されたＸ線条件は、Ｘ線管制御部１１に送信される。Ｘ線管制御部１１は、送信されたＸ線条件に基づいてＸ線管５からＸ線を照射させる。
【００３８】
本実施例に係るＸ線撮影装置１によれば、第１領域抽出部２９および第２領域抽出部３０は、取得した画像の中央に位置する大きさの異なる２つの領域Ａ，Ｂを抽出する。第１平均画素値算出部３１および第２平均画素値算出部３２は、抽出された領域Ａ，Ｂごとに画素値の平均値を算出する。Ｘ線条件設定部３７は、抽出された２つの領域Ａ，Ｂのいずれかの平均画素値に基づいてＸ線管５で照射するＸ線条件を設定する。このとき、比較選択部３３は、領域Ａ，Ｂごとに算出された平均画素値を比較して最小の平均画素値を選択する。最小の平均画素値を選択することで、従来とは逆であるＸ線条件がより高くなるように設定されることとなる。しかしながら、最小の平均画素値を選択することで、領域Ａ，Ｂを正しく選択することができ、見たい部分が適正に露出された画像を取得することができる。
【００３９】
すなわち、図８において、従来、比較選択部３３は、領域Ａ，Ｂの平均画素値のうち平均画素値が高い方の領域Ｂを選択していた。この場合、見たい部分である被検体Ｍの脚部ではなく、脚部の間の領域Ｂに基づき、Ｘ線条件設定部３７によりＸ線条件が設定されていた。それにより、脚部が暗い画像となっていた。この場合、従来では、脚部の位置を領域Ｂに一部を含むように移動している。また、操作者が手動で適正な画像になるようにＸ線条件を１段階上げるなどの調整を行っている。しかしながら、本実施例では、領域Ａ，Ｂの平均画素値のうち平均画素値が低い方（最小の平均画素値）の領域Ａを選択している。そのため、脚部分を含んだ領域Ａに基づき、Ｘ線条件が設定される。すなわち、平均画素値が低い方の領域を選択することにより、適正な領域を選択することができる。それにより、図８に示すように、脚部が画像の中央から外れていても、見たい部分が適正に露出された画像を取得することができる。
【００４０】
また、選択した平均画素値の領域に、例えばコリメータ等の金属やペースメーカなどＸ線を遮蔽する物体を含んでいる場合（図３）、例えば、平均画素値がそれらを含んでいない場合よりも低い値となる。そのため、Ｘ線条件を高く上げ過ぎて設定されてしまう。判定は、選択された平均画素値の領域のうち、予め設定された値以下の画素が予め設定された割合の領域以上で存在するか否かで行われる。存在する場合には、コリメータ等を含んでいるものとして判定され、他方の領域の代表値を選択するようになっている。これにより、Ｘ線条件を高く上げ過ぎてしまうことを防止している。よって、領域を正しく選択することができ、見たい部分が適正に露出された画像を取得することができる。
【００４１】
また、第１領域抽出部２９および第２領域抽出部３０は、ＦＰＤ７の出力に基づいて時間的に連続して取得された画像から領域Ａ，Ｂを抽出している。すなわち、時間的に連続して取得された透視画像から領域Ａ，Ｂを抽出しているので、見たい部分が適正に露出された透視画像を取得することができる。
【００４２】
また、第１領域抽出部２９および第２領域抽出部３０は、ＦＰＤ７の出力に基づいて取得された画像から２つの領域を抽出している。すなわち、領域数が少なければ、領域の選択を比較的速く行うことができるので、取得する画像への応答を速くすることができる。また、構成を簡単にすることができる。
【００４３】
また、領域Ａ，Ｂの少なくとも１つ（すなわち領域Ｂ）は、長方形である。それにより、領域を正しく選択することができるとともに、領域から算出された、Ｘ線条件を設定するための代表値を適正に取得することができる。例えば、図３に示すように、コリメータが画像の左右方向で移動して、画像の一部に含まれる場合があるとする。被検体Ｍは縦長であるので縦長の長方形にすることにより、画像の左右方向からのコリメータが領域内に含まれることを抑制するとともに、領域Ｂから算出される平均画素値を適正なものとすることができる。なお、コリメータが画像の上下方向に移動する場合は、領域Ｂを横長の長方形にしてもよく、コリメータが画像の上下左右方向に移動する場合は、領域Ｂは正方形にしてもよい。
【００４４】
本発明は、上記実施形態に限られることはなく、下記のように変形実施することができる。
【００４５】
（１）上述した実施例では、第１平均画素値算出部３１および第２平均画素値算出部３２は、代表値として画素値の平均値を算出していたがこれに限定されない。例えば、画素値の中央値であってもよい。
【００４６】
（２）上述した実施例では、画像から抽出する領域は２つに限定されない。すなわち、３個以上の領域を抽出するようにしてもよい。例えば、図７に示すように、画像の中央に位置する大きさの異なる３つの領域Ｃ，Ｄ，Ｅを抽出するとする。仮に領域Ｃにコリメータを含み、判定選択部３５で適正でないと判定された場合には、領域Ｃの内側の領域Ｄ，Ｅの平均画素値のいずれかでＸ線条件を設定するようにしてもよい。また、３個以上の領域を抽出する場合などは、比較と判定を繰り返すように構成してもよい。
【００４７】
（３）上述した実施例では、動画撮影である透視におけるＸ線条件の設定（自動露出制御）であったが、静止画撮影にも適用させてもよい。例えば、連続または１枚撮りで透視を行い、自動露出制御部２７により透視用のＸ線条件を設定する。この条件を例えばテーブル変換により静止画撮影用のＸ線条件に変換して設定し、静止画撮影を行うようにしてもよい。
【００４８】
（４）上述した実施例では、判定選択部３５で例えば領域Ａにコリメータが存在して適正でないと判定する場合、領域Ｂを選択していた。しかしながら、さらに領域Ｂに対しても判定するように構成してもよい。例えば、領域Ａにペースメーカが存在する場合には、領域Ａ，Ｂともに、算出された平均画素値が適正でないことになる。この場合は、例えば、通常より抑えたＸ線条件を与えるようにしてもよい。
【符号の説明】
【００４９】
１ … Ｘ線撮影装置
５ … Ｘ線管
７ … フラットパネル型Ｘ線検出器（ＦＰＤ）
９ … コリメータ
１１ … Ｘ線管制御部
１９ … 主制御部
２７ … 自動露出制御部
２９ … 第１領域抽出部
３０ … 第２領域抽出部
３１ … 第１平均画素値算出部
３２ … 第２平均画素値算出部
３３ … 比較選択部
３５ … 判定選択部
３７ … Ｘ線条件設定部
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検体にＸ線を照射するＸ線照射部と、
被検体を透過したＸ線を検出するＸ線検出器と、
前記Ｘ線検出器の出力に基づいて取得された画像から、前記画像の中央に位置する大きさの異なる複数の領域を抽出する領域抽出部と、
抽出された領域ごとに画素値の代表値を算出する代表値算出部と、
算出された領域ごとの代表値を比較して最小の代表値を選択する比較選択部と、
選択された代表値に基づいて前記Ｘ線照射部で照射するＸ線条件を設定するＸ線条件設定部と、
を備えていることを特徴とするＸ線撮影装置。
【請求項２】
請求項１に記載のＸ線撮影装置において、
前記比較選択部で選択された代表値の領域のうち、予め設定された値以下の画素が予め設定された割合の領域以上で存在するかを判定し、存在する場合には他方の領域の代表値を選択する判定選択部を備えていることを特徴とするＸ線撮影装置。
【請求項３】
請求項１または２に記載のＸ線撮影装置において、
前記領域抽出部は、前記Ｘ線検出器の出力に基づいて時間的に連続して取得された画像から領域を抽出することを特徴とするＸ線撮影装置。
【請求項４】
請求項１から３のいずれかに記載のＸ線撮影装置において、
前記領域抽出部は、前記Ｘ線検出器の出力に基づいて取得された画像から２つの領域を抽出することを特徴とするＸ線撮影装置。
【請求項５】
請求項１から４のいずれかに記載のＸ線撮影装置において、
前記領域の少なくとも１つは、長方形であることを特徴とするＸ線撮影装置。
【請求項１】
被検体にＸ線を照射するＸ線照射部と、
被検体を透過したＸ線を検出するＸ線検出器と、
前記Ｘ線検出器の出力に基づいて取得された画像から、前記画像の中央に位置する大きさの異なる複数の領域を抽出する領域抽出部と、
抽出された領域ごとに画素値の代表値を算出する代表値算出部と、
算出された領域ごとの代表値を比較して最小の代表値を選択する比較選択部と、
選択された代表値に基づいて前記Ｘ線照射部で照射するＸ線条件を設定するＸ線条件設定部と、
を備えていることを特徴とするＸ線撮影装置。
【請求項２】
請求項１に記載のＸ線撮影装置において、
前記比較選択部で選択された代表値の領域のうち、予め設定された値以下の画素が予め設定された割合の領域以上で存在するかを判定し、存在する場合には他方の領域の代表値を選択する判定選択部を備えていることを特徴とするＸ線撮影装置。
【請求項３】
請求項１または２に記載のＸ線撮影装置において、
前記領域抽出部は、前記Ｘ線検出器の出力に基づいて時間的に連続して取得された画像から領域を抽出することを特徴とするＸ線撮影装置。
【請求項４】
請求項１から３のいずれかに記載のＸ線撮影装置において、
前記領域抽出部は、前記Ｘ線検出器の出力に基づいて取得された画像から２つの領域を抽出することを特徴とするＸ線撮影装置。
【請求項５】
請求項１から４のいずれかに記載のＸ線撮影装置において、
前記領域の少なくとも１つは、長方形であることを特徴とするＸ線撮影装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【公開番号】特開２０１２−２３５９４８（Ｐ２０１２−２３５９４８Ａ）
【公開日】平成２４年１２月６日（２０１２．１２．６）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−１０７８５５（Ｐ２０１１−１０７８５５）
【出願日】平成２３年５月１３日（２０１１．５．１３）
【出願人】（０００００１９９３）株式会社島津製作所 (3,708)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２４年１２月６日（２０１２．１２．６）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年５月１３日（２０１１．５．１３）
【出願人】（０００００１９９３）株式会社島津製作所 (3,708)
【Ｆターム（参考）】
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