【課題】シースガス流を用いることなく、試料ガスに含まれる粒子について粒子数と粒径を測定する。
【解決手段】粒子測定装置は、試料ガスに含まれる粒子を帯電させるための荷電機構３と、荷電機構３で帯電した粒子を捕集するための捕集用電極９と、荷電機構３を通過した試料ガスを捕集用電極９の絶縁体表面に流すための試料ガス導入機構１，７，１５，１７，１９と、捕集用電極９に捕集用電圧と放出用電圧を切り替えて印加するための捕集用電極電位切替え機構２１と、捕集用電極９とは所定の間隔をもって捕集用電極９に対向して配置された対向電極１１と、捕集用電極９から放出された帯電粒子の付着に起因して対向電極１１に流れる電流を検出することによって粒子を検出する電流検出器２３と、電流検出器２３によって検出される粒子ごとに、捕集用電極９から対向電極１１までの粒子飛行時間を求める飛行時間測定部２７，２９と、を備えている。 （もっと読む）

【課題】基板上に形成されたアクティブエリアと共にアクティブエリア外に設けられたＴＦＴ駆動回路の欠陥を検出する。
【解決手段】ＴＦＴアレイ検査装置は、ＴＦＴ駆動回路に検査信号を供給するＴＦＴ駆動回路用ドライバ部と、アクティブエリアの走査画像に基づいて、ＴＦＴ駆動回路およびアクティブエリアの駆動状態を検出する検出部とを備える。ＴＦＴ駆動回路用ドライバ部は、基板上のＴＦＴ駆動回路に検査信号を供給することによってＴＦＴ駆動回路のＴＦＴアレイを駆動し、基板上のアクティブエリアに形成されたＴＦＴアレイを駆動する。検出部は、アクティブエリアの走査画像を用いて、アクティブエリア上で駆動していない非駆動部位を検出する。 （もっと読む）

【課題】冷却部の冷却性能を低下させることなく冷却部のクーリングコイルや継ぎ手部分からの錆の発生を防止する。
【解決手段】冷却部４７は冷却ユニット４７ａと冷却ファン８０により構成されている。冷却ユニット４７ａは非金属製配管がコイル状に巻かれたクーリングコイル７６とそのクーリングコイル７６の周囲を囲うカバー７２により構成されている。カバー７２の前面７２ａには複数の開口部７４ａがスリット状に設けられ、背面７２ｂの中央部に開口部７４ｂが設けられている。冷却ユニット４７ａの背面側に冷却ファン８０が配置されており、冷却ファン８０からの冷却風が開口部７４ｂから冷却ユニット４７ａ内に取り込まれ、クーリングコイル７６の周囲を通って開口部７４ａから排出されるようになっている。 （もっと読む）

【課題】散乱線による影響やリーク電流による影響を軽減させることができる二次元画像撮影装置を提供する。
【解決手段】駆動制御部２５は、選択スイッチＳｅｌおよびリセットスイッチＲｓｔにより、Ｘ線を照射する蓄積期間では、変換層３１と蓄積容量Ｃとを接続させることで、変換層３１で変換された電荷を蓄積容量Ｃに蓄積させることができる。一方、蓄積期間以外では、変換層３１と電荷除去部３５とを接続させることで、変換層３１からの電荷を蓄積容量Ｃに蓄積させずに電荷除去線４１を通じて除去させることができる。そのため、蓄積期間以外に散乱線が入射しても、変換された不要な電荷は蓄積容量Ｃに蓄積されないようにすることができ、散乱線による影響を軽減させることができる。また、蓄積期間のみに変換層３１と蓄積容量Ｃとを接続させているので、リーク電流による影響を軽減させることができる。 （もっと読む）

【課題】回転角度の制限を解消することができる補償フィルタ装置およびそれを用いたＸ線撮影装置を提供することを目的とする。
【解決手段】ギア１および補償フィルタ板Ｆが、突起１ａ・穴Ｆａがある支持箇所を中心にして回転可能になるように、それぞれを構成する。さらに、ギア１１に突起１１ｂを設けるとともに、補償フィルタ板Ｆに当該突起１１ｂに嵌合して当該突起１１ｂが移動可能な長穴Ｆｂを設けることで、ギア１１によって補償フィルタ板Ｆが、突起１１ｂが設けられた箇所で保持されつつ、長穴Ｆｂの範囲内で移動可能となる。その結果、２つのギア１，１１をそれぞれ一方向に回転駆動させ続けることが可能であるので、回転角度の制限を解消することができる。 （もっと読む）

【課題】所定の光軸にマルチキャピラリＸ線レンズを設置する際、保護ケースの中心軸に合わせて設置することが可能なマルチキャピラリＸ線レンズ用の保護ケースを提供する。
【解決手段】本発明に係るマルチキャピラリＸ線レンズ用保護ケースは、マルチキャピラリＸ線レンズの周囲を覆う保護管１０と、保護管１０の外周に設けた外管１２と、該外管１２の内側の保護管１０の傾きを調整する調整手段としての調整ねじ１３と、有することを特徴とする。本発明の保護ケースは、調整ねじ１３を用いて外管１２の内側の保護管１０の傾きを調整することで、保護管１０の内部のマルチキャピラリＸ線レンズ７の実効軸Ａ₁と外管１２の中心軸Ａ₄の相対的傾きを調整することができる。そのため、調整ねじ１３を用いて予めこれらの軸を調整しておけば、最も外側に位置する外管１２の中心軸Ａ₄を、光軸を合わせる際の基準にすることができる。 （もっと読む）

【課題】ランダムな量子ノイズによる悪影響を抑制しつつ、同期型グリッドの歪みによるノイズを除去することができる同期型グリッドの箔影除去方法を提供する。
【解決手段】抽出ステップ（ステップＳ１）により比較的確度高く、しかもランダムな量子ノイズの影響をできるだけ回避して抽出した非影響画素に基づき近似透視画像（ステップＳ２）を求めているので、近似透視画像の精度を従来に比較して向上させることができる。したがって、近似透視画像に基づき順次に算出されるグリッド箔影画像（ステップＳ３）、箔影標準画像（ステップ４）の精度を従来に比較して向上させることができる。その結果、ランダムな量子ノイズの影響を抑制しつつ、箔影除去画像における同期型グリッドの歪みによるノイズを除去することができる。 （もっと読む）

【課題】測定中に分析条件を変化させた場合でも、異なる条件間でマススペクトルを比較することができる液体クロマトグラフ質量分析装置を提供する。
【解決手段】本発明に係る液体クロマトグラフ質量分析装置では、ＬＣ／ＭＳ分析部１０から取得される検出信号に基づいてマススペクトルを作成するマススペクトル作成部１２と、作成されたマススペクトルの全イオン強度を各時刻毎に算出してトータルイオンクロマトグラムを作成するＴＩＣ作成部１３と、ＴＩＣ作成部１３で作成されたＴＩＣからピークを検出するピーク検出部１４と、各ピーク内に含まれる複数の時刻のマススペクトルを、全イオン強度を基準に正規化するマススペクトル正規化部１５と、を有する。 （もっと読む）

【課題】直管型のヒータを備える加熱乾燥式水分計において、試料を載置する秤量皿上の温度ムラが生じないようにする。
【解決手段】本発明に係る加熱乾燥式水分計では、チャンバ１の蓋３に、直管型ヒータ４と、該直管型ヒータ４から上部に放射された輻射熱を反射させるための反射板６が取り付けられ、さらに反射板６には、直管型ヒータ４の直上において輻射熱を拡散させるためのＶ字形の拡散部７が設けられている。この拡散部７を設けることにより、直管型ヒータ４の直下における反射板６を介した温度上昇が抑えられると共に、拡散された方向での温度上昇が促進される。その結果、秤量皿２上の温度上昇を均一化することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】１台の表面波プラズマＣＤＶ装置を用いて、組成および厚さの異なる薄膜を基板に連続成膜し、高スループットで超構造膜を形成する。
【解決手段】本発明は、共通の真空室内において基板に複数の薄膜を成膜する表面波プラズマＣＶＤ装置であって、この基板に成膜を行う複数のプラズマ生成ユニットと、各々のプラズマ生成ユニットに設けられた、プラズマ生成ガスを放出するプラズマ生成ガス放出口と成膜ガスを放出する成膜ガス放出口と、これら複数のプラズマ生成ユニットで成膜を行う成膜領域を真空室内で互いに隔てる隔壁と、各々のプラズマ生成ユニットの成膜領域の間で基板を移動可能に戴置可能とする移動手段とを備える。 （もっと読む）