説明

大日本スクリーン製造株式会社により出願された特許

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【課題】基板処理に繰り返し使用される薬液やその薬液中の異物を除去するためのフィルタの寿命を長期化できる薬液回収方法および基板処理装置を提供する。
【解決手段】ウエハへの薬液供給開始から所定時間が経過するまでの間は、ウエハの処理に用いられた薬液が、共用配管15から分岐廃棄配管24を通して高濃度廃液ドレンへ廃棄される。そして、所定時間の経過後にウエハの処理に用いられた薬液は、共用配管15から分岐回収配管23を通して回収タンク22に回収される。そのため、薬液の供給開始後の初期の段階で、ウエハからポリマなどの異物が多量に除去されても、その多量の異物が回収タンク22内の薬液に混入することを防止できる。その結果、再利用される薬液から異物を除去するための前段フィルタ35などの寿命を長期化することができ、また、繰り返し使用される薬液の寿命を長期化することができる。 (もっと読む)


【課題】基板と位置規制部との接触を防止することにより、フラッシュランプによる熱処理時における基板の破損を防止する。
【解決手段】熱処理装置は、基板9を保持する保持部7、保持部7を昇降する保持部昇降機構、基板9にフラッシュランプからの光を照射して加熱する光照射部、および、保持部7の上方にて基板9を支持する3本の支持ピン70を有する基板支持部700を備える。保持部7のサセプタ72は、基板9が載置される載置面722、および、載置面722の周囲に設けられた傾斜した側面723を備える。熱処理装置では、基板支持部700から保持部7への基板9の移載時に、極めて低速(秒速1mm以下)にて基板9を上昇させることにより、載置面722上における基板9の横滑りを防止して基板9と側面723との接触を防止し、熱処理時における基板9の破損を防止することができる。 (もっと読む)


【課題】基板表面から良好にリンス液を排除することにより、基板表面における筋状のパーティクルの発生を抑制または防止する。
【解決手段】この基板処理装置は、基板Wを保持して回転するスピンチャック1上の基板Wを角度θだけ傾斜させる基板傾斜機構25とを備えている。基板W上に純水を供給して純水液塊45を形成した後、基板傾斜機構25で、基板Wを微小角度θだけ傾斜させる。すると、純水液塊45は、分裂することなく、下方へと向かい、基板Wの上面に微小液滴を残すことなく落下する。その後、基板Wを水平姿勢に戻し、スピンチャック1を高速回転して、基板Wの周端面の微小液滴を振り切る。 (もっと読む)


【課題】 反応で生じる気泡を利用することにより、処理時間の短縮を図りつつも処理の面内均一性を高めることができる。
【解決手段】 インラインヒータ19で処理液を90℃に加熱して内槽3に供給し、その中に基板Wを浸漬する。すると、基板Wの回路等形成面側の反対側からは、処理液中に微小気泡が大量に発生し、起立姿勢の基板W面を上昇してゆく。したがって、激しい上昇液流が生じるので、基板Wの全面にわたり処理液が常に撹拌されることになり、基板Wが化学的に研磨されて均一性高く厚みが薄くされる。 (もっと読む)


【課題】複数の処理室を有する基板処理装置において、必要な排気用力容量を低減する。
【解決手段】搬送ユニット20が配置された搬送路30に沿って、複数の処理部41〜44をそれぞれ収容した複数の処理室21〜24が二階建て配置されている。一対の積層された処理室21,22と、他の一対の積層された処理室23,24との間に、処理部41〜44に接続された処理液配管を集中配置して収容するための配管室31が配置されている。この配管室31は、一階部分の処理部41,42の下方に配置された用力取合ボックスに接続されている。この用力取合ボックスは、排気集合室を介して、工場の排気用力に接続されている。 (もっと読む)


【課題】 基板の他方主面の損傷を避けつつ、基板の他方主面の処理液による汚染を効果的に防止して基板処理を良好に行うことができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】 基板Wの他方主面W2の略中央部に対向配置された基板支持ヘッド71の先端部から基板Wの他方主面W2に向けて基板Wの端縁側に不活性ガスが吐出されることで、基板Wはベルヌーイ効果により基板支持ヘッド71に非接触で略水平状態に吸着支持される。制御ユニット80がアクチュエータ74を駆動させると、基板支持ヘッド71とヘッド支持アーム72が一体的に昇降されて、基板支持ヘッド71に略水平状態に吸着支持された基板Wは昇降移動される。このため、基板支持ヘッド71を昇降させることで、スピンベース5の対向面5bと基板Wの他方主面W2の周縁部とのギャップを任意に、しかも基板Wの全周にわたって均一に調整することができる。 (もっと読む)


【課題】 適切な装置タクトを基板処理装置に設定するための算出装置及び設定装置、並びに適切な装置タクトを設定することのできる基板処理装置を提供する。
【解決手段】 基板処理装置の装置タクトを設定する設定装置2に、各処理ユニット12〜15の動作機構のパラメータの値を記憶するパラメータ値記憶部34と、パラメータ値記憶部34に記憶されたパラメータの値を操作者が変更するための入力部36と、パラメータ値記憶部34に記憶されたパラメータの値を用いた場合の各処理ユニット12〜15の処理時間を求める処理時間算出部222と、処理時間算出部222により求められた処理時間を操作者に報知する表示部31と、操作者が装置タクトを入力するための入力部36と、入力部36により入力された装置タクトを処理ユニット群12〜15に基板を投入する装置11,21に設定する装置タクト送信部38とを備える。 (もっと読む)


【課題】 不良基板を正常基板と分別すると共に不良基板を基板の種類等ごとに分別して格納又は受け渡す基板処理装置を提供する。
【解決手段】 異なる種類の基板に対して所定の処理を施す基板処理装置1に、前記所定の処理を実行するための処理ユニット12〜18と、前記基板を処理ユニット18から取り出し、カセット61〜64のいずれかに収納するインデクサーロボット2aと、処理ユニット12〜18で処理された基板が不良基板であるか否かを検出するスレーブコントローラ22〜28と、不良基板を当該不良基板の種類に応じたカセット61〜64のいずれか収納するようインデクサーロボット2aを制御するマスタコントローラ3とを備える。 (もっと読む)


【課題】 処理液のミストの飛散による汚染を防止することができる基板処理装置および基板処理方法を提供することである。
【解決手段】 洗浄処理装置MPC1においては、スピンチャック21により基板Wが保持される。遮蔽板22によりスプラッシュガード24の開口部24bがクリアランスC1の間隙を持って閉塞されるように、遮蔽板昇降駆動機構37により遮蔽板22がスプラッシュガード24の上端部24aに移動される。それにより、基板Wの上方および周囲が所定の間隙を持って閉塞される。次に、処理液吐出口51からレジスト剥離液が基板Wの表面に吐出されるとともに、窒素ガス吐出口50から窒素が吐出される。それにより、基板W上のレジスト剥離処理が行われる。 (もっと読む)


【課題】新規なインキプリセット方法を含む印刷装置の動作方法を提供する。
【解決手段】ステップS1からS6までの第1の印刷工程では、測定した印刷濃度Vnを第1の目標印刷濃度V1に一致させるようインキ供給を制御する。これにより第1の印刷工程後には,インキローラ上には均一なインキ量が残留している。この後、ステップS20においてインキの供給および印刷用紙の供給を停止し、ステップS21において版胴とブランケット胴にインキを転移させる。これによりインキローラ上には、若干減少した均一なインキ量が残留することになる。従って、次印刷作業開始時には新たなインキ量の分布形成が容易であり、早期に刷り出しを安定させることができる。さらに、ステップS22においてブランケット胴の洗浄と印刷版の排出とを行う。その際、ブランケット胴を版胴に当接させたまま洗浄することで、印刷版も間接的に洗浄される。 (もっと読む)


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