【課題】めっき厚を確実に測定することが可能な電着超砥粒工具を提供することを目的とする。
【解決手段】すなわち、ＣＭＰコンディショナ１は、台金１０と、台金１０の表面に形成された超砥粒層２０とを備え、超砥粒層２０ではダイヤモンド砥粒２２がニッケルめっき層２１により台金１０に固定されており、さらに超砥粒層２０のめっき厚を測定するために台金１０の表面に設けられためっき厚測定部３０を備える。めっき厚測定部３０は、ニッケルめっき層３１のみで構成されている。めっき厚測定部３０は、超砥粒層２０から離隔して設けられる。 （もっと読む）

【課題】工具寿命を長くすることが可能な超砥粒工具を提供することを目的とする。
【解決手段】ダイヤモンドロータリードレッサー１は、台金１０と、台金１０に配置された柱状ダイヤモンド２０とを備える。柱状ダイヤモンド２０の表面が露出している先端部２５にはＲ０．０５ｍｍ〜Ｒ１ｍｍの丸みが設けられている。 （もっと読む）

【課題】アルミ合金鋳物の湯口、または、押湯の重切削に用いる高性能の回転切削工具を提供する。
【解決手段】サーキュラーソーは、電気ニッケルめっきによる基板被膜１１１が形成された基板１１０と、基板被膜１１１の表面にロウ付けにより固定された、超硬質材料層１０１を含むチップ１００とを備える。 （もっと読む）

【課題】重切削加工に適用できる、高性能の回転切削工具を提供する。
【解決手段】サーキュラーソーは、基板被膜１１１が形成された基板１１０と、基板被膜１１１の表面にロウ付けにより固定された、超硬質材料層１０１を含むチップ１００とを備える。チップ１００は、チップ被膜１０３を有する。 （もっと読む）

【課題】測定値のばらつきを抑えることができる、ダイヤモンド圧子を提供する。
【解決手段】ダイヤモンド圧子１は、試験材料に当接する先端部材１０を備え、その先端部材１０が合成単結晶ダイヤモンドからなる。先端部材１０を保持する保持部材２０をさらに備え、先端部材の底部には平面１３が形成されており、底部は保持部材２０内で先端部材１０のうち最も深い部分に位置する。 （もっと読む）

【課題】切り屑の排出をスムーズに行うことが可能な超砥粒ホイールおよびその製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】超砥粒ホイール１０は、超砥粒２ｃを結合材２ｄにより結合した超砥粒層のみからなる円環板状の超砥粒ホイールであって、超砥粒層は、ワークに接触する作用部２と、作用部２より内側に位置する内周部３とを備え、作用部２は、半径方向に一定の幅を有し、かつ、板厚方向に一定の厚みを有し、内周部３は、作用部２よりも薄い一定の厚みを有する。 （もっと読む）

【課題】切断粉の飛散を防止し得る有効適切な乾式ワイヤーソー切断装置を提供する。
【解決手段】被切断物１０から駆動プーリーに向かって走行する切断ワイヤー工具１の走行方向を案内する複数のガイドプーリー（第１ガイドプーリー１２ａ〜第３ガイドプーリー１２ｃ）を防塵カバー１３内に収容する。防塵カバー内において切断ワイヤー工具に向けてその走行方向に対して逆方向から圧縮空気を吹き付けて切断ワイヤー工具に付着している切断粉を吹き飛ばして除去するエアノズル１４を設ける。エアノズルにより防塵カバー内に吹き飛ばした切断粉を吸引口１５内から吸引して回収する排気装置を具備する。被切断物の表面に切断部を隠蔽する切断部カバー１６を装着してその内部において切断ワイヤー工具を走行させ、切断部カバーの内部を防塵カバー内に連通させる。 （もっと読む）

【課題】高精度で超砥粒の脱落が起こらない長寿命のロータリードレッサを提供することを目的とする。
【解決手段】ダイヤモンドロータリードレッサ１は、溶射により形成されて、気孔率が３％以下である溶射層２３と、溶射層２３上に形成されて、１層の超砥粒２１が結合材２２により保持されている超砥粒層２０とを備える。 （もっと読む）

【課題】超砥粒の脱落を抑制することが可能な超砥粒工具を提供する。
【解決手段】超砥粒ホイール１は、超砥粒層２０を有し、超砥粒２０は、複数の超砥粒２１と、複数の超砥粒２１を互いに結合させる結合材２２とを有し、超砥粒層２０は溶射により形成されて、超砥粒層２０の気孔率は３体積％以下である。 （もっと読む）

【課題】良好な切削面を得ることができる切削工具を提供する。
【解決手段】第一横切れ刃２３ａおよび第二横切れ刃２３ｂはＸ軸に沿って延在し、第一前切れ刃２２ａおよび第二前切れ刃２２ｂは、Ｙ軸に沿って延在し、第一横切れ刃２３ａおよび第二横切れ刃２３ｂはＸ軸に対して横切れ刃後退角θ１を有し、第一前切れ刃２２ａおよび第二前切れ刃２２ｂは、Ｙ軸に対して前切れ刃傾斜角θ２を有する。第一前切れ刃および第一Ｒ状切れ刃のＸ軸方向の最大ｘ座標値ｘ１と、第二前切れ刃２２ｂおよび第二Ｒ状切れ刃２４ｂのＸ軸方向の最大ｘ座標値ｘ２との間の差は５０μｍ以下である。 （もっと読む）