説明

東芝マイクロエレクトロニクス株式会社により出願された特許

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【課題】狭いピッチの半導体装置の配線およびその形成方法を提供する。
【解決手段】基板11に形成され、基板11側から上方に向かって末広がり状に傾斜した側面を有する第1配線13と、絶縁膜14によって第1配線13と分離され、上方から基板11側に向かって末広がり状に傾斜した側面を有する第2配線15と、を具備する。マスクパターンピッチの1/2の配線ピッチL1を得る。 (もっと読む)


【課題】汎用的に使用することのできるホールドフリーレジスタセルを提供する。
【解決手段】ホールドフリーレジスタセル1は、クロック信号CKを切り替え信号として2つの入力信号の切り換えを行うマルチプレクサ11と、マルチプレクサ11の出力遅延時間に応じてクロック信号CKを遅延させ、クロック信号CKdとして出力する遅延回路12と、遅延回路12から出力されたクロック信号CKdの立ち下りでマルチプレクサ11から出力されるデータをラッチするラッチ回路13と、を備える。マルチプレクサ11は、クロック信号CKがデータ取り込みエッジ前のレベルである‘1’のときはデータ入力信号Dを出力し、クロック信号CKがデータ取り込みエッジ後のレベルである‘0’のときはラッチ回路の出力信号Q1を出力する。 (もっと読む)


【課題】確実な書き込み及び消去を可能とした不揮発性メモリ装置とそのデータ書き込み方法を提供する。
【解決手段】互いに交差する第1の配線と第2の配線及び、それらの各交差部に配置された、電気的書き換え可能な抵抗値をデータとして不揮発に記憶する可変抵抗素子と整流素子を直列接続したメモリセルとを有する不揮発性メモリ装置のデータ書き込み方法であって、選択された第1の配線の立ち上げに先立って、全ての第2の配線を各メモリセルの整流素子が逆バイアスとなるように整流素子のしきい値以上の所定電圧に充電し、前記選択された第1の配線を書き込み又は消去に必要な電圧に充電した後、選択された第2の配線を放電させる。 (もっと読む)


【課題】リフレッシュ時の消費電流を削減でき、パーシャルリフレッシュ時のポーズ時間を短縮してデータの信頼性を確保することが可能な半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】保持回路は、メモリセルアレイの全体的なセルフレッシュを行うフルセルフリフレッシュ(FSR)と、メモリセルアレイの部分的なリフレッシュを行うパーシャルアレイセルフリフレッシュ(PASR)とを切替える制御信号を保持する。リフレッシュアドレスカウンタは、リフレッシュアドレスを発生する。アドレス切替回路は、保持回路から供給される制御信号に応じて外部から供給される外部アドレスの上位ビットを単位セルブロック内のワード線の選択アドレスとし、FSR及びPASRのどちらにおいても、リフレッシュアドレスカウンタにより発生されたリフレッシュアドレスの下位ビットを前記単位セルブロック内のワード線の選択アドレスとする。 (もっと読む)


【課題】復調部の素子ペア同士の特性のずれに拘わらず、一定振幅のAGC制御を可能にする。
【解決手段】 受信したアナログ映像信号を同期検波する同期検波部と前記同期検波部の出力を増幅すると共に第1の基準電圧を印加して前記同期検波部の直流レベルを規定して復調出力として出力する増幅手段とを有する復調部17と、前記同期検波部の入力が無入力の場合の前記復調部の出力である無入力時復調出力収束電圧を取り込み、取り込んだ前記無入力時復調出力収束電圧と前記第1の基準電圧との差に基づく補正信号を発生し、発生した前記補正信号を前記復調部に与えて前記同期検波部の出力の直流レベルを調整して、前記復調部からの無入力時復調出力収束電圧を前記第1の基準電圧に基づく一定値に補正する補正手段18とを具備したことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】いわゆる側壁残しプロセスを適用して微細なパターンを備える半導体装置を効率良く、かつ、容易に製造することができる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】被処理基板1上に被加工層2およびマスク層を挟んで設けられた感光性部材からなる層に第1のパターンをパターニングする。第1のパターンをマスクとしてマスク層をエッチングしてマスク層に第1のパターンを転写する。第1のパターンが転写されたマスク層をエッチングして第1のパターンを縮小させた第2のパターン7aを形成する。第2のパターン7aの側壁部を囲んで側壁パターン8a,8bを設けた後に第2のパターン7aの少なくとも一部を除去する。側壁パターン8a,8bをマスクとして被加工層2をエッチングして被加工層2に側壁パターン8a,8bを転写する。 (もっと読む)


【課題】メモリにおいて新しい記憶領域が確保され、空き領域のなくなった記憶領域から新しい記憶領域にデータがコピーされる処理の1回当たりの実行時間を短縮化する。
【解決手段】本発明の一態様に係るメモリ制御装置2は、メモリ3において、複数の記憶領域を確保する確保手段7と、複数の記憶領域の中の第1記憶領域の空き領域に対してデータを記憶し、当該第1記憶領域に空き領域がなくなった場合に、次の第2記憶領域の空き領域に対してデータを記憶する空き領域記憶手段8と、第1記憶領域の空き領域がなくなった後、第1記憶領域に記憶されているが第2記憶領域に記憶されていない複数のコピー対象データを、複数回に分けて第2記憶領域に記憶するコピー手段9とを具備する。 (もっと読む)


【課題】クロック信号の異常を精度良く検出することができるクロック異常検知回路を提供する。
【解決手段】クロック信号CKを検出してパルスを生成するパルス生成回路11と、電流源18から出力される電流を充電する充電回路13と、パルス生成回路11からのパルスによって、充電回路13に充電された電圧を放電する放電回路12と、充電回路13に充電された電圧を検知し、その電圧に応じた信号を出力する第1の電圧レベル検知回路15と、第1の電圧レベル検知回路15の出力に応じて制御された制御電圧を出力するピークホールド回路17と、充電回路13に充電された電圧を降圧し、降圧電圧を生成する電圧シフト回路14と、電圧シフト回路14により降圧された降圧電圧を検知する第2の電圧レベル検知回路16とを備える。ピークホールド回路17から出力された制御電圧に応じて電流源18は充電回路13に電流を出力する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、定電流駆動制御用の電流検出用抵抗を用いて過電流保護動作を行なうことを特徴とする。
【解決手段】出力スイッチM1〜M4によってスイッチング制御される誘導性負荷L1と、誘導性負荷に接続された電流検出用抵抗RS1と、電流検出用抵抗に発生する電圧を検知し、誘導性負荷を定電流駆動するための第1の制御信号S1を生成するコンパレータ回路X1と、電流検出用抵抗に発生する電圧を検知し、出力スイッチの定常状態/過電流状態に応じた第2の制御信号S2を生成するコンパレータ回路X2と、第1、第2の制御信号S1、S2を受け、出力スイッチの定電流駆動制御及び過電流制御を行う信号G1〜G4を生成する制御回路10を具備する。 (もっと読む)


【課題】性能補正を行うための基板バイアスを印加する場合に、チップ面積への影響を最小限に留める。
【解決手段】機能ブロックを有する半導体集積回路装置であって、前記機能ブロックは、所定の動作を行う複数のプリミティブセル31がそれぞれに配置される複数のロー及び前記ロー内に設けられて前記複数のプリミティブセル31のそれぞれに基板電位を供給する複数の基板コンタクトセル32を有し、前記複数の基板コンタクトセル32は、それぞれ、前記基板電位が供給される近隣のプリミティブセル31に対して一定の距離基準を満たすように設けられ、前記ローと直交する方向に対して直線状に配置される。 (もっと読む)


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