説明

東芝マイクロエレクトロニクス株式会社により出願された特許

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【課題】本発明は、セルフ・リフレッシュ機能を備える擬似SRAMにおいて、セルフ・リフレッシュ動作時のアドレス・セットアップのマージンを拡げ、かつ、外部・リフレッシュ動作におけるバースト・アクセスを高速化できるようにする。
【解決手段】たとえば、複数のメモリセル24a,24bに記憶されているデータを保持するためのリフレッシュ・サイクル動作が必要なメモリ部と、バースト動作のためのトリガ信号bCLKTDを生成する第1クロック・トランジションディテクタ回路15と、アドレス取り込みのタイミングを制御するバンク・アドレス・セレクタ回路20と、動作モードに応じて、バンク・アドレス・セレクタ回路20におけるアドレス取り込みのタイミングを切り替えるリフレッシュ・ディテクタ回路16とを備える。 (もっと読む)


【課題】本発明は、擬似SRAMの、コア・アクセスを高速化できるようにする。
【解決手段】たとえば、同期モード時においては、チップイネーブル信号/CE1の立ち上がりに応じて、メモリ装置の制御回路12による、メモリ装置11のコア部のプリチャージ動作を実行する。セルフ・リフレッシュ動作の要求がない場合は、アドレス取り込み信号/ADVの立ち下がり後の、クロックCLKの最初の立ち上がりにしたがって、コア・アクセス前のプリチャージ動作を行うことなしに、メモリ装置の制御回路12による、メモリ装置11に対するリード動作を実行する。 (もっと読む)


【課題】コストの上昇を抑制しながら、樹脂封止半導体装置の偽造や模倣を防止する。
【解決手段】表示マーク4は、樹脂封止型半導体装置30上に設けられ、凹部11と溝12が設けられる。表示マーク4は1番端子表示マークとして使用され、モールド金型で一体形成される。凹部11は、円柱形状を有し、凹部の幅がW1(mm)で、凹部の深さがD1(mm)である。溝12は、凹部11の両端部に設けられ、溝の幅がW2(mm)で、溝の深さがD2で、底部が平坦である。 (もっと読む)


【課題】メモリセルから読み出されたビットデータを出力しつつ、該ビットデータの信頼性を含む情報を出力することが可能な不揮発性半導体メモリを提供する。
【解決手段】不揮発性半導体メモリは、ビット線と、ビット線を第1の設定電位に充電する充電回路と、ワード線とビット線とに接続され、読み出し電位がワード線に印可されることにより、読み出し電位と設定されたしきい値電圧との大小関係に応じてビット線を放電させ、読み出し電位印加後のビット線の電位に基づいて情報を読み出し可能なメモリセルと、ビット線の電位と基準電位とを比較した結果に応じた信号を出力するコンパレータと、クロック信号の入力に応じて、充電された電荷を段階的に放電可能なキャパシタを有し、コンパレータの出力信号に基づいてキャパシタの放電が制御され、キャパシタの電位を出力可能なスイッチト・キャパシタ回路と、を備える。 (もっと読む)


【課題】本発明は、A/DQ De−Mux動作とA/DQ Mux動作とが可能な擬似SRAMにおいて、入力回路のレイアウトを最適化できるようにする。
【解決手段】たとえば、複数のアドレスピン用の入力回路(A0’〜A23’)15を、その他の制御回路が配置されているチップ11の他端側(下側)に、それぞれ、複数のDQピン用の入力回路(DQ0’〜DQ23’)16に隣接させて配置する。また、複数のアドレスピン用の入力回路15と、チップ11の一端側(上側)に配置された複数のアドレスパッド13との間を、メタル配線LA0〜LA23を介して相互に接続してなる構成とされている。 (もっと読む)


【課題】デスクランブル処理またはEDC計算処理を高速に行い、計算処理の回路規模を小型化する。
【解決手段】デスクランブル回路10は、×αの計算を行うスクランブル値生成部21、×α140の計算を行うスクランブル値生成部22、×α160の計算を行うスクランブル値生成部23、×α20の計算を行うスクランブル値生成部24、×α32の計算を行うスクランブル値生成部25、スイッチSW1〜SW4、FF26,27、EOR演算器28とを有する。EDC計算回路は、次数差X1の累積加算を行う第1の累積加算器、第1の累積加算器の出力を一時的に格納するFF、次数差X1376の累積加算を行う第2の累積加算器、第2の累積加算器の出力を一時的に格納するFF、次数差X256またはX96の累積加算を行う第3の累積加算器、セクタごとに累積加算値を一時的に格納するFF、セクタ選択器とを有する。 (もっと読む)


【課題】モード切り替えを行うための専用ピンを不要にでき、ピン数を低減できる半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】半導体記憶装置は、複数のメモリセルMCを備えたメモリセルアレイ10と、モード制御信号BSTを生成するバースト回路31と、前記モード制御信号が送信される信号線34を前記バースト回路と共有するリフレッシュコマンド検出回路33とを備える制御回路19とを具備し、前記リフレッシュコマンド検出回路33は、前記モード制御信号が第1レベルの際に、前記メモリセルアレイにリフレッシュ動作を行う。 (もっと読む)


【課題】映像信号の動きに対応する応答性が良く、且つ、メモリ容量を削減することができる3次元Y/C分離回路を提供する。
【解決手段】色信号をその反転周期だけ遅延させて遅延複合映像信号を得る2フレームメモリ14と、遅延複合映像信号と複合映像信号との差分処理により第1のフレーム相関信号を得る輝度動き検出部と、遅延複合映像信号と複合映像信号との加算処理により混合映像信号を得る加算回路23と、混合映像信号を1フレーム期間遅延させるフレームメモリ24と、混合映像信号と1フレーム期間遅延された混合映像信号との差分処理により第2のフレーム相関信号を得る差分回路25と、第1及び第2のフレーム相関信号から動きを判定し、混合比制御信号を得る判定回路26と、混合比制御信号に基づき、輝度信号及び色信号を出力するミックス回路とを具備する。 (もっと読む)


【課題】周辺トランジスタの駆動特性の劣化を抑制できる不揮発性半導体メモリを提供する。
【解決手段】不揮発性半導体メモリは、第1の領域を取り囲む有機物を含む第1の素子分離絶縁膜9と、第1の領域内に配置されるメモリセルと、第2の領域を取り囲む有機物を含む第2の素子分離絶縁膜9と、第2の領域内に配置される周辺トランジスタHVTrと、第2の素子分離絶縁膜9の側面に沿って、半導体基板1内に設けられる不純物層7と、素子分離絶縁膜9の底面に沿って、p型の第1の不純物層8とを備える。素子分離絶縁膜9の側面に沿って不純物層7を設けることで、有機物に起因する固定電荷トラップの影響を緩和でき、不揮発性半導体メモリに用いられる周辺トランジスタ、例えばイントリンシック領域内に設けられるnチャネル型の高耐圧系MISトランジスタの逆ナローチャネル効果を抑制できる。 (もっと読む)


【課題】電源クリップにおけるノイズ対策とESD対策を両立させることができる半導体装置を実現する。
【解決手段】本発明の半導体装置は、主電源配線から電源電圧が供給される共通電源領域12と、主電源配線から分離された副電源配線を備え、動作停止時に電源供給が遮断される電源分離領域11a〜11cと、共通電源領域12において回路素子の入力端子を主電源配線に第1のインピーダンスで接続するダイレクトクリップセル14と、電源分離領域11a〜11cにおいて回路素子の入力端子を副電源配線に第1のインピーダンスと異なる第2のインピーダンスで接続するクリップセル13a〜13cを有する。 (もっと読む)


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