説明

東芝マイクロエレクトロニクス株式会社により出願された特許

61 - 70 / 376


【課題】信号処理部及びメモリ部を有する半導体集積回路の信号処理部の故障を救済する。
【解決手段】半導体集積回路50にはプロセッサ1、メモリ2、アナログコア3、IPコア4乃至6、外部バス7、主バス8、及びインターフェース部11乃至16が設けられる。プロセッサ1とインターフェース部11は第1のモジュール部を、メモリ2とインターフェース部12は第2のモジュール部を、アナログコア3とインターフェース部13は第3のモジュール部を、IPコア4とインターフェース部14は第4のモジュール部を、IPコア5とインターフェース部15は第5のモジュール部を、IPコア6とインターフェース部16は第6のモジュール部をそれぞれ構成する。外部バス7のモジュール選別回路22は、第1乃至6のモジュール部が不良の場合、遮断制御信号に基づいて第1乃至6のモジュール部への電源供給、クロック供給、及びバス接続を遮断する。 (もっと読む)


【課題】SRAMなどにおいて、従来のダイナミック・カラムシフト方式と同程度に面積ペナルティを削減でき、従来に比べて冗長数の拡張を簡単に行うことが可能にする。
【解決手段】アドレス入力が不良アドレスにヒットした時にダイナミック的にカラムシフトするカラムシフト冗長回路を有する半導体記憶装置であって、冗長カラムセルをN分割し、分割したセルに互いに異なるカラムアドレスを割り付けることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】多値データ記憶でのデータ保持特性改善を図った抵抗変化メモリ装置を提供する。
【解決手段】書き換え可能な抵抗値をデータとして不揮発に記憶するメモリセルが配列され、メモリセルは高抵抗側が安定状態であって、少なくとも3つの抵抗値R0,R1及びR2(但し、R0<R1<R2)が選択的に設定される多値データ記憶を行う抵抗変化メモリ装置において、抵抗値R0とR1の間及びR1とR2の間の抵抗値ギャップをそれぞれ、ΔR1及びΔR2として、ΔR1>ΔR2に設定される。 (もっと読む)


【課題】被テスト回路としての論理回路のシミュレーション検証を高速に実行する。
【解決手段】被テスト回路である論理回路4をテストするBIST回路3には、制御回路11、テストパターン発生回路12、第1のパターン生成回路13、第2のパターン生成回路14、信号圧縮パターン生成回路15、及び故障検出解析回路16が設けられる。テストパターン発生回路12で生成された論理回路4に対するテストパターンは、第1のテストパターン生成回路13でPLS用入力テストパターンを対応するスキャンフリップフロップに強制的に割り付けされる。割り付けられたテストパターンは、連動シミュレータ部5でディレイ付きのシミュレーションが実行される。第2のテストパターン生成回路14で取り込まれたディレイ付きのシミュレーション結果は、対応するスキャンフリップフロップに期待値付きPLS用テストパターンとして強制的に割り付けされる。 (もっと読む)


【課題】LSIテスタ機種ごとのテンプレートを自動的に生成することのできるテストプログラム生成システムを提供する。
【解決手段】テストプログラム生成システム1は、データベース作成部11が、読み込んだ共通テンプレートファイル100およびテスタマッピングファイル200から、テンプレート情報レコードおよびテスタマッピング情報レコードを抽出して、ステートメントデータベース12に格納し、テンプレート生成部13が、ステートメントデータベース12からテンプレート情報レコードおよびテスタマッピング情報レコードを読み出して、共通テンプレートに記載されたステートメントをテスタ機種ごとのステートメントにそれぞれ置換して、テスタ機種ごとのテスタ用テンプレート300を生成する。 (もっと読む)


【課題】素子分離絶縁膜によるストレスを緩和でき、駆動力の低減を防止できる半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置は、半導体基板10中に設けられた素子分離絶縁膜(STI)11と、前記素子分離絶縁膜とゲート長方向に隣接して配置され、前記半導体基板上に設けられたゲート絶縁膜12と、前記ゲート絶縁膜上に設けられたゲート電極13と、前記ゲート電極を挟むように前記半導体基板中に隔離して設けられた一対の不純物拡散層14と、前記素子分離絶縁膜と前記一対の不純物拡散層のいずれか一方との間に設けられた冗長不純物拡散層15とを備える絶縁ゲート型電界効果トランジスタTRとを具備する。 (もっと読む)


【課題】IC評価用プローブピンの耐久性を向上させる。
【解決手段】本発明のプローブピンおよびそれを用いた固定カードは、一端近傍の側面に導体固定部15が設けられた円柱状のプローブ支柱14と、一端からプローブ支柱14の他端が挿入されて伸縮自在にスライドする円筒状のスライド部16と、スライド部16の側面にスライド部16を挟んで対向して設けられた円筒状の第1および第2の導体支持部17a、17bと、スライド部16の他端に設けられた回転自在のプーリー18と、導電性および弾性を備え、一端が導体固定部15に固定され、導体支持部17aを貫通し、プーリー18の溝に沿って周回して導体支持部17bを貫通するように設置され、プローブ支柱14とスライド部16との伸縮動作に伴ってプーリー18を回転させながら移動するプローブ導体19を有する。 (もっと読む)


【課題】位相変換誤差を補正し、コンポジット映像信号を高品位に処理する映像信号処理装置を提供すること。
【解決手段】コンポジット映像信号のサンプリング位相を変換する第1の位相変換手段(4)と、この第1の位相変換手段からの信号をY信号とC信号に分離するYC分離手段(5)と、このYC分離手段からのC信号のサンプリング位相を逆変換する第2の位相変換手段(6)と、この第2の位相変換手段からのC信号をR−Y信号とB−Y信号にデコードするカラーデコード手段(7)と、このカラーデコード手段にデコードのための信号を発生する信号発生手段(8)と、前記第1の位相変換手段からの信号の位相誤差を検出する位相誤差検出手段(9)と、前記位相誤差検出手段で検出された位相誤差を補正し、前記第1の位相変換手段、前記第2の位相変換手段、及び前記信号発生手段を制御する制御手段(11)と、から構成されている。 (もっと読む)


【課題】モータ個別の製造ばらつき、負荷の変化、回転数の変化、制御用集積回路の内部に設けられたアンプ等のオフセットの影響を抑制して高効率な動作が可能なモータの進角制御装置を提供する。
【解決手段】第1の演算回路11は、基準電圧に基づき、モータの誘起電圧から波形整形された第1の信号、及びモータの相電流から波形整形された第2の信号を生成する。比較回路13は、第1の演算回路から供給される前記第1、第2の信号を比較する。第1の生成回路15は、前記比較回路の出力信号に応じて外部から供給される進角信号の増減を制御する信号を生成する。第2の生成回路19は、前記第1の生成回路の出力信号に基づき、前記進角信号を増減し、モータの制御信号を生成する。 (もっと読む)


【課題】電圧の異なる2つの高電位側電源の内、少なくとも1つが供給されないときに回路動作停止信号を出力する。
【解決手段】半導体集積回路30には、入力ドライバ部1、レベルシフト回路2、及び出力ドライバ部3が設けられる。半導体集積回路30には、第1の高電位側電源VddL及び第1の高電位側電源VddLと同じ電圧或いは第1の高電位側電源VddLよりも電圧の高い第2の高電位側電源VddHが供給され、第1の高電位側電源VddL及び第2の高電位側電源VddHの少なくとも1つが未供給の場合に半導体集積回路30からローレベルの回路動作停止信号が出力される。 (もっと読む)


61 - 70 / 376