【課題】回路動作に用いるクロックの周波数の設定自由度を従来よりも高めることができるとともに、生成されたデジタル信号を間断なく外部に出力することが可能な固体撮像装置を提供する。
【解決手段】固体撮像装置は、画素アレイ１１と、アナログ・デジタル変換部１４と、メモリ装置１１０と、データ出力部１１３とを備える。アナログ・デジタル変換部１４は、垂直走査回路によって選択された選択行の各画素が生成するアナログ信号をデジタルデータに変換する。メモリ装置は、複数のバンクを有し、複数のバンクを循環して順次切替えながら、アナログ・デジタル変換部１４によって生成された選択行の各画素に対応するデジタルデータを、所定数の画素ごとに各バンクに格納する。データ出力部１１３は、複数のバンクのうちデジタルデータを格納中のバンクとは異なるバンクから、格納済のデジタルデータを読み出して外部に出力する。 （もっと読む）

【課題】複数のＵＳＢデバイスをオンチップしたとき必要なＵＳＢインタフェース制御のための回路規模を縮小することができるデータプロセッサを提供する。
【解決手段】外部のＵＳＢホスト（１１）に接続されるＵＳＢインタフェース回路（６）を有するデータプロセッサ（１）において、前記ＵＳＢインタフェース回路は、ＣＰＵ（２）と所定の回路モジュールとを用いて実現される複数のＵＳＢデバイス毎にその属性を定義する情報を保有するためのデバイス制御レジスタ部（３０〜３３）を有し、ＵＳＢホストから入力されるパケットの情報に基づいて前記デバイス制御レジスタ部の中から一つのＵＳＢデバイスに対応する属性情報を選択し、選択した属性情報を用いて前記パケットの指示に応答するインタフェース制御を行い、これに用いるエンドポイントが割り当てられる通信バッファメモリを前記複数のＵＳＢデバイスで共有する。 （もっと読む）

【課題】ボンディングパッド１２の輪郭Ｘよりも内側で輪郭Ｘに沿った第１のラインＬ１より内側の第１領域に形成され、ボンディングパッド１２の表面が露出した第１の開口部２１Ａと、第１の開口部２１Ａ上に第１の開口部２１Ａよりも大きい開口面積で形成され、ボンディングパッド１２の輪郭Ｘよりも外側で輪郭Ｘに沿った第２のラインＬ２より内側の第２領域に形成された第２の開口部２１Ｂとからなる開口部２１を有する保護膜２１を備えた半導体装置を製造効率良く低コストに製造する。
【解決手段】露光工程において、フォトマスクとして、第１のラインＬ１より内側の領域と、第１のラインＬ１から第２のラインＬ２までの領域と、第２のラインＬ２より外側の領域の光透過量がそれぞれ異なるレチクル５１を用いる。 （もっと読む）

【課題】ｐチャネル型の電界効果トランジスタのしきい値電圧を確実に制御して所望の特性が得られる半導体装置と、その製造方法とを提供する。
【解決手段】温度約７００〜９００℃のもとで施す熱処理に伴い、素子形成領域ＲＰでは、アルミニウム（Ａｌ）膜７ａ中のアルミニウム（Ａｌ）がハフニウム酸窒化（ＨｆＯＮ）膜６へ拡散することによって、ハフニウム酸窒化（ＨｆＯＮ）膜６に元素としてアルミニウム（Ａｌ）が添加される。また、チタンアルミニウムナイトライド（ＴｉＡｌＮ）膜からなるハードマスク８ａ中のアルミニウム（Ａｌ）とチタン（Ｔｉ）とがハフニウム酸窒化（ＨｆＯＮ）膜６へ拡散することによって、ハフニウム酸窒化（ＨｆＯＮ）膜６に元素としてアルミニウム（Ａｌ）とチタン（Ｔｉ）とが添加される。 （もっと読む）

【課題】マルチコーデック対応の動き補償装置の回路規模を抑制する。
【解決手段】補間画素を求める際に、制御部１１０は、圧縮規格または目標位置によって、水平方向における補間を行う水平フィルタ１３０に、必要な参照画素を適切な入力口に出力するように制御する。その後、制御部１１０は、水平フィルタ１３０により得られた補間値を、垂直方向における補間を行う垂直フィルタ１５０の適切な入力口に出力するように制御する。これにより、同一の水平フィルタ、垂直フィルタで、２次元の線形補間や圧縮規格固有の処理を実現できる。 （もっと読む）

【課題】特定のプログラムがバスアクセスを占有するのを回避する。
【解決手段】マルチスレッドプロセッサ１０は、少なくとも第１及び第２のプログラムを含む複数のプログラムを切り替えて実行するプロセッサであって、複数のプログラムによる外部資源へのアクセスを制御するコントロールユニットと、複数のプログラムの実行権を制御するディスパッチユニット１２を備える。ディスパッチユニット１２は、少なくともコントロールユニットによる第１のプログラムにかかる外部資源との第１のアクセスの開始から、第１のアクセスの終了後に引き続き行われる第２のプログラムにかかるアクセスの開始後までの間、第１のプログラムの実行を停止させる、 （もっと読む）

【課題】従来においては、基板の表面に付着する異物によって反応容器に接続される複数の配管が閉塞しつつあるか否かを判定する方法がなかった。
【解決手段】データ処理装置４０において、複数の配管が接続される成膜装置１に関して、直近のメンテナンス後の累積成膜量又は累積稼働時間と成膜過程で前記基板に付着する異物密度との関係において、１個の変曲点を有し、かつ、累積成膜量又は累積稼働時間の増加に対して異物密度の最大値が一定値に飽和する漸近線で近似可能か否かを判定する判定手段３３と、漸近線で近似できる場合に、直近のメンテナンス時期から変曲点を得た時期に至るまでの間隔と、登録された過去のメンテナンスした配管に係るメンテナンス時期から変曲点を得た時期に至るまでの間隔と、を比較することにより、異物によって閉塞しつつある配管の候補を特定する候補特定手段３５と、を備える。 （もっと読む）

【課題】データの先頭タイミングの検出に必要な演算処理量を低減することが可能な受信装置を提供すること。
【解決手段】相関部２１は、受信信号に対して、１つのエッジ前後の参照信号との相関演算を行なう。演算処理部２２は、相関部２１による相関演算結果からピーク値を検出する。先頭タイミング検出部２３は、演算処理部２２によって検出されたピーク値の中から受信信号の先頭タイミングを検出する。そして、ビット判定部１３は、先頭タイミング検出部２３によって検出された先頭タイミングに基づいてビット判定を行なうことにより、受信信号からデータを復調する。したがって、データの先頭タイミングの検出に必要な演算処理量を低減することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】ＥＥＰＲＯＭエミュレーション時のエミュレーション書き込み単位（データ群）を構成するデータ数が各データ群で共通（固定値）にしなくてはならなかった。
【解決手段】本発明は、第１のデータをフラッシュメモリ４に書き込むときには、第１のデータを識別するための第１の付加ビットを書き込み、第２のデータをフラッシュメモリ４に書き込むときには、第２のデータを識別するための第１の付加ビットとは異なる第２の付加ビットを書き込む、ことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】縮退故障テストだけでなく遅延故障テストまでも視野に入れた、制御性向上の為のテストポイントを挿入するスキャンテスト回路を提供すること。
【解決手段】本発明に係るスキャンテスト回路は、論理回路から出力された信号が入力される、スキャンチェーンを構成するスキャンレジスタ１１と、スキャンレジスタ１１の後段に設けられ、スキャンレジスタ１１からの出力信号を反転するインバータ１２と、スキャンレジスタ１１の前段に設けられ、外部から入力される入力信号又はインバータ１２から出力される信号のいずれかを選択する第１セレクタ１３と、インバータ１２の後段に設けられ、入力信号又はインバータから出力される信号のいずれかを選択する第２セレクタ１４とを備える。 （もっと読む）