説明

国立大学法人金沢大学により出願された特許

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【課題】耐熱性に優れ、経時変化による変色や品質の低下の問題が改善された、定量的にフェノール性水酸基が修飾された変性フェノ−ル樹脂を、簡便な製造方法により提供する。
【解決手段】予めフェノール性水酸基が修飾されている式(I)で表される化合物及び式(II)で表されるフェノール化合物と、アルデヒド類とを酸触媒の存在化で反応させる。
【化1】
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【課題】 快削鋼を高速の切削速度で切削しても、快削鋼の被削性を向上させ、切削工具を長寿命化させることができる鋼の切削方法及び切削装置を提供する。
【解決手段】 装置本体60に取付けられた被削材10を回転させながら切削工具30で切削する鋼の切削方法であって、前記被削材10は、B、N、及びAlを少なくとも含む快削鋼であり、前記装置本体60と前記切削工具30との間を電気絶縁状態として、前記切削工具30と前記快削鋼10との間に所定値の電流を流して切削する。 (もっと読む)


【課題】 優れた抗クリプトスポリジウム作用を有するクリプトスポリジウム症の治療又は予防薬を提供する。
【解決手段】 次式(I):
【化1】


(式中、Xはフッ素原子又は塩素原子を表す。)
で示される化合物又はその薬学的に許容される塩もしくはプロドラッグを含有するクリプトスポリジウム症の治療又は予防薬。 (もっと読む)


【課題】照射計画に従った照射部位の位置照合を支援するための照射位置照合システムの提供
【解決手段】DRRとLGの画像を取り込み(S102)、サイズ調整(S104)、エッジ強調(S108)等を行い、アイソセンタのずれを補正して(S110)、DRRとLGのサイズや位置を合わせる。照合の妨げとなるLGのFOVエッジを除去する(S112)。その後、2値化して(S116)、LGの雑音処理後(S118)、照合対象のエッジをラベルにより選択して(S120,S122)、エッジを細線とする(S124)。DRRのエッジから作成したマスクにより、LGの照合対象であるランドマークを選択し(S126)、照合する探索範囲を決定して(S128)、照合を行う(S130)。照合した結果得られた照射位置のずれを表示する(S132)。 (もっと読む)


【課題】 エコー画像データを用いて、画像信号強度変化の位相周期を高精度に求めることが可能であり、また、T2減衰による誤差の補正が可能であり、これらにより脂肪含有率を高精度に算出可能であり、さらに、脂肪含有率が50%を超える場合にも脂肪含有率が算出可能なデータ処理装置、そのエコー画像データを得ることが可能な磁気共鳴撮像装置、及び、そのエコー画像データを得ることが可能な磁気共鳴画像装置の撮像方法を提供する。
【解決手段】 特定位置につきエコー時間の異なる三つ以上のエコー画像データを用いる。その三つ以上の各エコー画像データの画像信号強度の変化について、所定の理論式によりカーブフィッティングを行う。さらに、T2減衰の影響を補正したり、求められる位相周期/2における画像信号強度や実数値画像を用いて脂肪含有率を算出したりする。 (もっと読む)


【課題】抵抗変化メモリを用いた不揮発性メモリの提供
【解決手段】P0,N0とP1,N1とを相互に接続して、通常のCMOSによるSRAMの1ビット分の回路を構成している。これに抵抗変化メモリ素子(相変化メモリ素子)Rr,Rmをそれぞれ、P0,N0及びP1,N1に直列に接続している。Na0,Na1は、ワード線WLに接続されているゲート回路を構成しており、各SRAM回路部への入出力制御を行っている。
Rrは参照抵抗であり、他の一方のRmが高抵抗(論理値1)と低抵抗(論理値0)との間を変化する。読み出し書き込み時は、点線で示したSRAM回路部は通常のSRAMとして動作させている。電源が消える前に、ストア線STRの電圧を変化させ、NsによりRmに電流を流すことで、SRAM回路部に記憶されている論理値を移す。電源が入ると、Rmに移された記憶内容を、SRAM回路部に戻す。 (もっと読む)


【課題】再生不良性貧血の検査方法および検査用試薬を提供する。
【解決手段】モエシンを特異的に認識する自己抗体を検出することを含む、再生不良性貧血の検査方法を提供する。また、モエシンを特異的に認識する抗体を検出する物質を含む、再生不良性貧血の検査用試薬を提供する。 自己免疫性再生不良性貧血と造血幹細胞異常性再生不良性貧血とを判別できるため、免疫病態の存在を検出する極めて有用な検査方法であり、利用価値が高い。 (もっと読む)


【課題】本発明は、置換基を有するノボラック誘導体の製造方法とそれにより得られる新規ノボラック誘導体の提供を目的とする。
【解決手段】本発明は、溶媒中に助触媒として酢酸を加え、下記の反応式(1)、(6)、(8)のいずれかにて製造することを特徴とするノボラック誘導体の製造方法。
【化1】


【化2】


【化3】
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【課題】本発明は高い耐熱性、耐久性、機械的強度を持つ、クロロメチル基等の反応性の高い基を有するノボラック誘導体の提供を目的とする。
【解決手段】本発明に係るノボラック誘導体は、反応性の高いX基を有する下記の一般式(1)によって表される数平均分子量200〜10,000,000の範囲であることを特徴とする。
【化1】


但し、式中、R、Rは水素、炭素数1〜18のアルキル基、炭素数2〜18のアルケニル基、フェニル基のいずれかである。
〜Rは、水素またはメチル基である。
、Rは水素、炭素数1〜18のアルキル基、フェニル基のいずれかである。
Xは塩素、臭素、ヨウ素、水酸基のいずれかである。
nは1以上の整数、mは0以上の整数である。 (もっと読む)


【課題】高分子量でかつ線状(一次元直鎖状)構造であることを特徴とするレゾルシノールノボラック誘導体を提供する。
【解決手段】下記の一般式(1)で表されるくり返し単位からなり線状であることを特徴とするレゾルシノールノボラック誘導体。


ただし、式中R,R及びR〜Rは、炭素数1〜18のアルキル基、炭素数2〜18のアルケニル基、フェニル基、炭素数1〜18のアルコキシ基、ハロゲン等。Rは、ニトロ基、炭素数4以上のかさ高いアルキル基、フェニル基、アルコキシ基、エステル基等のいずれかである。 (もっと読む)


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