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Fターム[2G001BA26]の内容

放射線を利用した材料分析 (46,695) | 利用、言及された生起現象、分折手法 (5,017) | 回折 (542) | 他の特定の方法、カメラ等 (4)

Fターム[2G001BA26]に分類される特許

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【課題】基板上に形成されたアクティブエリアと共にアクティブエリア外に設けられたTFT駆動回路の欠陥を検出する。
【解決手段】TFTアレイ検査装置は、TFT駆動回路に検査信号を供給するTFT駆動回路用ドライバ部と、アクティブエリアの走査画像に基づいて、TFT駆動回路およびアクティブエリアの駆動状態を検出する検出部とを備える。TFT駆動回路用ドライバ部は、基板上のTFT駆動回路に検査信号を供給することによってTFT駆動回路のTFTアレイを駆動し、基板上のアクティブエリアに形成されたTFTアレイを駆動する。検出部は、アクティブエリアの走査画像を用いて、アクティブエリア上で駆動していない非駆動部位を検出する。 (もっと読む)


【課題】2次元検出器を用いた場合であっても極点図測定を正確に行うことが可能なX線回折装置を提供する。
【解決手段】X線回折装置は、X線源と、試料を保持し、移動可能な保持台と、試料から回折により出射されるX線を検出する2次元検出器と、X線源と保持台と2次元検出器とを制御する制御処理部とを備える。制御処理部は、記憶手段と演算手段(工程(S50))と極点図作成手段(工程(S70))とを含む。記憶部は、2次元検出器により複数の条件下で検出されたX線の複数の強度データを記憶する。演算手段(工程(S50))は、複数の強度データについて、それぞれの強度データに対応するX線の試料における吸収量の差を補正するように、強度データに対する補正演算を行う。極点図作成手段(工程(S70))は、補正演算された補正後の複数の強度データを用いて試料の極点図データを作成する。 (もっと読む)


【課題】SAXSおよび/またはSAXS−WAXSに適したX線散乱チャンバを提供する。
【解決手段】X線散乱チャンバ12は、X線回折機器内に設置されたハウジング14を有し、このハウジングは、X線源2とX線検出器4の間に配置され、例えばゴニオメータアーム6上に配置される。ハウジング14は、サンプルホルダ16と、ビーム調整光学素子22、24とを有する。このシステムでは、ハウジングの外側に、一次光学素子10が使用されても良い。本機器は、SAXSおよび/またはSAXS−WAXSに適している。 (もっと読む)


【課題】ビーム照射を行う軟質材料の試料を測定装置に動かないように簡易に固定することができ、さらに試料に溶液を均一になるように流した状態を簡易に維持して計測を行うビーム照射による軟質材料の構造解析方法及び軟質材料保持装置を提供する。
【解決手段】軟質材料の皮膚1が溶液透過性を有する板状の試料収容部材22の試料収容孔23に挿入され、試料収容部材22が保持金具25の保持孔27aに保持され、保持金具25の両面に薄肉の被覆材38を被せられ、さらに一対のケース金具41,42が保持金具25に固定されることにより、皮膚1が試料収容孔23内に動かない状態で固定される。さらに、ペリスタポンプ装置55によって保持孔内に溶液を所定の割合で流通させることにより、試料収容部材22を溶液が流れて皮膚1を均一に溶液が流れる。X線回折装置によってビーム通過孔47を通して皮膚1にX線を照射して計測が行われる。 (もっと読む)


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