【課題】電子部品の電気的特性を正確に測定できる方法を提供する。
【解決手段】測定用基板２２を、配線基板１１の第２の主面１１ｂ側に、端子電極１４と電気的に接続するように配置する一方、配線基板１１の第１の主面１１ａ側に圧接部材２１ａ〜２１ｄを配置する。圧接部材２１ａ〜２１ｄにより、電子部品１０のチップ部品１２ａ、１２ｂが設けられていない部分を測定用基板２２側に相対的に押圧することにより電子部品１０を測定用基板２２に圧接させた状態で電子部品１０の電気的特性の測定を行う。 （もっと読む）

【課題】高速サンプリングを実現しつつ簡素な構成で不良監視が可能なディジタル保護制御装置を提供することを目的とする。
【解決手段】上記課題は、高調波信号を発生させる高調波発生器と、電力系統のアナログ交流電気量と前記高調波信号とを重畳して取込みフィルタ処理を行う複数のアナログフィルタと、前記アナログフィルタの出力をディジタル電気量に変換する複数のＡ／Ｄ変換器と、前記Ａ／Ｄ変換器の出力から前記重畳された高調波信号の振幅値および位相値を算出するフーリエ変換手段と、前記フーリエ変換手段により算出された位相値および振幅値から位相偏差および振幅偏差を求め、前記位相偏差が既定値以下の場合は前記Ａ／Ｄ変換器の異常検出を行い、前記位相偏差が前記既定値より大きい場合は前記アナログフィルタの異常検出を行う監視手段と、を備えるディジタル保護制御装置によって解決される。 （もっと読む）

【課題】電子機器の使用状態でノイズフィルタの性能を最適化する電子機器のノイズ防止装置及び方法を提供することにある。
【解決手段】本発明に関わる電子機器のノイズ防止装置は、電子装置４と構成部品の電気特性を変更可能であるノイズを防止するフィルタ５とを備える電子機器２のノイズ防止装置Ｂであって、電子機器２が稼働中にフィルタ５の入力と出力間の伝搬特性を測定する伝搬特性測定手段７と、測定した伝搬特性と予め設定した伝搬特性の許容値とを比較する伝搬特性比較手段１０と、測定した伝搬特性が許容値を満たさない場合に、フィルタ５の構成部品Ｒ、Ｃ1〜Ｃ4、Ｌの特性を制御し、電子機器２の稼働状況下での当該フィルタ５の伝搬特性を、ノイズ防止機能を最適化するように変更する変更手段６とを備えている。 （もっと読む）

【課題】端子配置が非線対称形、且つ、鏡像関係にある２つの電子部品に対して、電気特性の測定ができる電気特性測定基板の提供を図る。
【解決手段】電気特性測定基板１は複数の誘電体層を積層してなり、表主面にコプレーナライン１４Ａ〜１４Ｄを備え、裏主面にコプレーナライン２４Ａ〜２４Ｄを備え、誘電体層間に層間アース電極３Ａ，３Ｂを備える。コプレーナライン１４Ａ〜１４Ｄの第一端が集まって構成される表主面の部品搭載電極１２と、コプレーナライン２４Ａ〜２４Ｄの第一端が集まって構成される裏主面の部品搭載電極２２とは、表主面法線方向から見て、互いに同一パターン、且つ、それぞれ表主面または裏主面の中心線に対して非線対称形な電極パターンである。 （もっと読む）

【課題】電子部品の測定対象の消費電流の大きさに対応して、安定した測定結果を得ること。
【解決手段】この電子部品検査用治具２は、積層された板状導体である複数のコンタクトプローブ４ａ，４ｂ，４ｃを、被検査電子部品Ａに接触させて該被検査電子部品Ａを検査するための電子部品検査用治具であって、コンタクトプローブ４ａに一体的に形成され、コンタクトプローブ４ａの積層面に沿ったＺ軸方向に延びる長尺状の接続用ブレード８ａと、コンタクトプローブ４ｃに一体的に形成され、Ｚ軸方向に沿って延びる長尺状の接続用ブレード８ｃと、被検査電子部品Ａの検査補助用の電気素子Ｂを、該電気素子Ｂの両端子と接続用ブレード８ａ，８ｃとのそれぞれを電気的に接続した状態で、着脱可能に把持する接続用ボックス１２とを備え、接続用ボックス１２は、Ｚ軸方向に沿って移動可能に構成されている。 （もっと読む）

【課題】負荷に動作電力を供給する電源部に対する電源異常検出回路に関し、電源部のフィルタ回路のコンデンサの短絡障害を検出する。
【解決手段】複数のスイッチング素子Ｑ１〜Ｑ４と、複数のコンデンサＣ１〜Ｃ３を含むフィルタ回路とを有し、スイッチング素子Ｑ１〜Ｑ４のオン、オフ制御に従った直流又は交流の電圧を、フィルタ回路を介して負荷３に供給する電源部１の異常発生を検出する電源異常検出回路であって、電源部１の出力電圧に含まれるスイッチング周波数のリップル成分を検出する出力電圧検出部１１とＡＣ検出部１２，１３とを含む検出手段と、該検出手段により検出したリップル成分を整流して平滑化する整流平滑部１４，１５による整流平滑手段と、該整流平滑手段の出力信号が基準電圧Ｖｒ１，Ｖｒ２以下に低下した時に、電源部１のフィルタ回路のコンデンサの短絡障害発生検出信号を出力する比較検出手段とを備えている。 （もっと読む）

【課題】 デバイスの動特性の検査を行う際に、正常範囲を適切に設定して、適切な検査を行うことが可能な技術を提供する。
【解決手段】 本発明はデバイスの動特性を検査する方法として具現化される。その検査方法は、デバイスに入力信号を与える工程と、デバイスの出力信号の過渡的な変化を取得する工程と、デバイスの出力信号の過渡的な変化がデバイスの正常範囲に属するか否かを判断して、デバイスの動特性が正常であるか否かを判定する工程を備えている。その検査方法では、デバイスの正常範囲が、そのデバイスの代表的な出力信号の過渡的な変化と、同型のデバイスについての公差倍率に基いて設定される。 （もっと読む）

【課題】 大容量のコンデンサＣ１と小容量のコンデンサＣ２が並列して存在するアナログ回路１４では、合成容量の検査を行っても、小容量のコンデンサＣ２の正常・異常を判定することができない。
【解決方法】 信号発生手段２からコンデンサＣ２が接続されている信号線４に所定の周波数を持ったスパイク状電圧波形を入力する。スパイク状電圧波形の周波数は、コンデンサＣ２が正常であるときに除去可能な周波数帯域に設定されているので、アナログ回路１４から出力される信号ｖ２にスパイク状電圧波形が残っているかをカウント手段６及び判定手段８を用いて確認することで、コンデンサＣ２の正常・異常の判定をすることができる。
コンデンサＣ１及びＣ２が並列して存在する場合でも、除去可能な周波数帯域が異なっていれば、それぞれの周波数帯域に設定されたスパイク状電圧波形を用いることで、個々のコンデンサについて検査することができる。 （もっと読む）

【課題】検査に要するコストを低減しつつ検査時間を短縮する。
【解決手段】所定の共振周波数を有する電子回路２１に所定の周波数の検査用信号を供給しつつ電子回路２１を流れる交流電流と検査用信号の交流電圧との間の位相差θを測定する測定部２と、電子回路２１の良否を判別する判別部３とを備え、測定部２は、所定の周波数の検査用信号として共振周波数よりも低い周波数の検査用信号および共振周波数よりも高い周波数の検査用信号を供給し、判別部３は、各検査用信号の供給時に測定された各位相差θの極性の違いの有無に基づいて電子回路２１の良否を判別する。 （もっと読む）