【課題】プローバフレームのコンタクトピンの設置位置と、プローバフレームの内部配線およびコンタクトピンとＴＦＴ基板の電極との導通とを同時に検査し、コンタクトピンの設置位置と、プローバフレームの内部配線およびコンタクトピンとＴＦＴ基板の電極との導通とが共に良であるか、あるいは少なくとも何れか一つが不良であるかを同時に検査する。
【解決手段】ＴＦＴ基板検査装置用プローバフレームのコンタクトピンを上方に向けて載置する検査ステージと、検査ステージと対向して配置される検査用センサヘッドと、一端を検査用センサヘッドに接続し、他端を検査ステージ上に載置したＴＦＴ基板検査装置用プローバフレームの内部配線に接続し、この接続端間の導通状態を検査する検査部と、検査用センサヘッドを、検査ステージに対してＸ軸方向、Ｙ軸方向、およびＺ軸方向の３次元方向にそれぞれ独立して移動自在とする駆動機構を備える。 （もっと読む）

【課題】溶着作業中に発生する絶縁破壊やコロナ放電が、被加熱体の品質に影響を与えない一時的な場合には、溶着作業を継続することが可能な誘電加熱用高周波電源装置を提供する。
【解決手段】高周波出力部１０は、所定の周波数を有する高周波を生成して出力する。高周波印加部２０は、高周波出力部１０が出力する高周波を、加工部６０の一対の電極６１及び６２に印加する。加工部６０は、高周波印加部２０によって一対の電極６１及び６２に印加される高周波を利用して、被加熱体６３を加工する。絶縁破壊検出部３０は、加工部６０で生じる絶縁破壊現象を検出する。放電検出部４０は、加工部６０で生じる放電現象を検出する。出力制御部５０は、絶縁破壊検出部３０及び放電検出部４０における検出結果に基づいて、高周波出力部１０からの高周波出力を一時的停止又は完全停止によって制御する。 （もっと読む）

【課題】 太陽電池モジュール内部の断線や接触不良等の不具合箇所を外側から非接触に、且つ、高い精度で見つけ出すことのできる太陽電池モジュール不具合検出装置を提供する。
【解決手段】 検査対象とする太陽電池モジュールＭの受光面または裏面に平行に設定したＸＹ平面内で、Ｘ軸方向、Ｙ軸方向、及びこれらに垂直なＺ軸方向の成分をそれぞれ検出する磁気センサ２を、当該太陽電池モジュールＭに対して相対的にＸ軸、Ｙ軸両方向に移動させつつ、太陽電池モジュールＭ内部を流れる電流により誘起される磁界の、Ｘ方向、Ｙ方向、及びこれらに垂直なＺ方向の成分をデータ収集し、それぞれの方向の磁界分布を可視化して画像表示する。 （もっと読む）

【課題】 液晶パネル、プリント基板等（被検査体）の電極と、検査装置または実装品の電極との導通を確実にとった上で、被検査体の電極に損傷を生じるおそれのない、異方性導電シート等を提供する。
【解決手段】 絶縁性で厚み方向にクッション性を有するシート１と、シートの一方の表面である第１面１ａ上に形成された第１面配線パターン３ａと、第１面と反対側の表面である第２面１ｂに位置する第２面端子部３ｂと、第１面配線パターンと第２面端子部とを導通するためのシート面間導通部３ｃとを備えることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】正極板および負極板をセパレータを介して巻回してなる電極群に混入した異物やセパレータの欠陥などによる内部短絡につながる欠陥を確実に検出することができ、且つ、セパレータのダメージを最小限にとどめることの可能な二次電池用電極群を検査する安全性に優れた方法を提供することを目的とする。
【解決手段】正極板４および負極板８をセパレータ２を介して巻回してなる二次電池用電極群１３を不活性ガス中に設置し、正極板４と負極板８からなる一対の電極板の間に検査用電圧を印加しながら、その電圧の印加に伴って流れる電流を測定し、予め設定した電流と比較して、二次電池用電極群１３の内部短絡につながる欠陥を判定する。 （もっと読む）

【課題】耐圧試験回路と機能試験回路の接続切換えを安価に実現し、インバータ試験の生産性の向上を目的とする。
【解決手段】複数の制御回路用プローブの位置に対応して配置される複数の制御回路用パッドを絶縁支持部材に配設したコンタクトパッド部５０、及びコンタクトパッド部５０に対して、機能試験用及び耐圧試験用コンタクトプローブ部３０，４０を相対的に移動当接させて切換え接続する接続切換機構１０を備え、機能試験時には機能試験用コンタクトプローブ部３０とコンタクトパッド部５０とを当接させて接続し、耐圧試験時には耐圧試験用コンタクトプローブ部４０とコンタクトパッド部５０を当接させて接続して、試験にて使用する機能試験回路及び耐圧試験回路と被試験体であるインバータ１００との接続を切換える。 （もっと読む）

【課題】容易に画素内に発生するリーク欠陥を検出可能なリーク欠陥検出方法を提供する。
【解決手段】リーク欠陥検出方法では、複数のソース検査線Ｈのうちいずれか１つに電流計Ａを接続して他のソース検査線Ｈに所定のソース電圧を印加するとともに、複数のゲート検査線Ｉのうちいずれか１つにオン電圧を印加して、他のゲート検査線Ｉにオフ電圧を印加する電圧印加工程と、電流計Ａを流れるリーク電流を測定するリーク電流測定工程と、測定されたリーク電流に基づいてリーク欠陥を検出するリーク欠陥検出工程とを備え、電圧印加工程およびリーク電流測定工程は、電流計Ａを接続するソース検査線Ｈおよびオン電圧を印加するゲート検査線Ｉをそれぞれ１つずつ選択する全組み合わせに対して実施され、前記リーク欠陥検出工程は、これらの全組み合わせに対して測定されたリーク電流に基づいてリーク欠陥を検出する。 （もっと読む）

【課題】画素内の微小なリーク電流の計測が可能な表示パネル、および表示パネルのリーク欠陥検出方法を提供する。
【解決手段】表示パネルとしての液晶パネル１００は、赤色液晶セルが配設される画素１０に沿って配線される複数の赤色データ線２０Ｒを結線する赤色共通データ線２１Ｒ、緑色液晶セルが配設される画素１０に沿って配線される複数の緑色データ線２０Ｇを結線する緑色共通データ線２１Ｇ、および青色液晶セルが配設される画素１０に沿って配線される複数の青色データ線２０Ｂを結線する青色共通データ線２１Ｂを備えた。そして、これらの赤色共通データ線２１Ｒ、緑色共通データ線２１Ｇ、および青色共通データ線２１Ｂは、それぞれ独立して対向電極Ｖｃｏｍに接続された。 （もっと読む）

【課題】ＩＣチップや電極を破損させることなく、負荷がかかっている状態での動作を確認できるＩＣ部品検査装置を提供する。
【解決手段】ＩＣ部品検査装置は、ＩＣチップ２３が電極２４ａ，２４ｂを介して接続されたストラップ基板２２に超音波振動子４１によって振動負荷をかけながら、アンテナ部３１を介してリーダ／ライタ３２と交信する。この交信の可否によってＩＣチップ２３とストラップ基板２２との接続状態を判断する。 （もっと読む）

【課題】 基板の回路構成によらず、電気的な検査が可能となる検査装置を提供する。
【解決手段】上述した課題は、各画素が、保持容量と、前記保持容量と直列に接続された半導体スイッチ素子とを備えた複数の画素を有するアクティブマトリクス基板の検査装置であって、前記保持容量を充電する電圧を供給する電源と、任意の画素の前記スイッチ素子を照射する光源と、前記保持容量から放出された電荷量を測定する電荷量測定装置と、を備えたことを特徴とする検査装置等により解決することができる。 （もっと読む）

【課題】コロナ放電型イオナイザのエミッタから発生するイオンによる真電流のみを検出し、更には、この真電流のうち実際に被除電物の除電に寄与する除電電流を検出可能として、エミッタの汚れや劣化程度、除電性能等を確認可能とする。
【解決手段】高電圧が印加されるエミッタの近傍に接地電極が配置されたコロナ放電型イオナイザにおいて、接地電極に流れる全電流と、エミッタに印加される高電圧による第１の誘導電流とを同時に測定し、第１の誘導電流から、前記全電流の成分であってエミッタが形成する電界によって接地電極に流れる第２の誘導電流を推定し、前記全電流と第２の誘導電流との差分から、エミッタが生成するイオンによって生じる真電流を測定する。 （もっと読む）

【課題】液晶パネルの電極の清掃のために専用の駆動源を必要とすることなく、検査ステージでの検査の直前に電極を清掃し得る検査装置のためのプローブ組立体を提供する。
【解決手段】被検査体の電極に接触可能のプローブが設けられ、該プローブと該プローブに対応する電極との接触のために被検査体に相近づく方向およびこれから相離れる方向へ相対移動が可能のプローブ組立体。電極のための清掃手段と、該清掃手段を支持する揺動アームを備える。該揺動アームは、被検査体およびプローブ組立体の相近づく相対移動によって揺動し、この揺動に伴って清掃手段が電極上を掃く。 （もっと読む）

【課題】本発明は検査工程の検出力を向上させることができる表示パネルの検査装置を提供する。
【解決手段】本発明による表示パネルの検査装置は、表示パネルに形成された複数の信号パッドに電気的信号を印加する複数のプローブピンを有するプローブユニット１２０と、前記プローブユニット下端で前後に移動可能な導電フィルム１１０と、を含み、前記導電フィルムが前方に移動した場合前記複数の信号パッドと前記プローブピンとの間に前記導電フィルムが介在される第１モードと、前記導電フィルムが後方に移動した場合、前記複数の信号パッドに前記プローブピンが直接接続する第２モードを有することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】フラットパネル表示装置用直接検出センサーを提供する。
【解決手段】センサーの線形アレイにおける各センサーには、部分的に、検知電極と対応するフィードバック回路が含まれる。検知電極は、多数の画素電極が形成されたフラットパネルの近傍へと運ばれて画素電極の電圧を容量測定するよう構成されている。各フィードバック回路は、フィードバック信号により対応する電極をアクティブ状態に駆動して対応する電極の電圧を実質的に固定のバイアスに維持するよう構成されている。各フィードバック回路には、第１入力端子が検知電極に接続され、第２入力端子がバイアス電圧を受け取るよう接続された増幅器を含めてよい。増幅回路の出力信号は、検知電極をアクティブ状態に駆動するフィードバック信号を生成するために用いられる。バイアス電圧は接地電位であってよい。 （もっと読む）

【課題】 液晶アレイ検査装置において、プローバフレームのプローブピンと液晶ガラス基板の電極との接触不良を、測定信号を信号処理することでソフトウエアによって検出する。欠陥分析を行う前の測定信号の段階で接触不良を検出する。
【解決手段】 液晶アレイ検査装置は、ローバフレームのプローブピンを液晶基板の電極に接触させて検査信号を供給して当該液晶基板上に形成された液晶アレイを検査する液晶アレイ検査装置において、液晶アレイの各ラインの測定信号強度を用いて不良ラインを抽出し、各電極に接続されるライン中の不良ラインの本数を求める不良ライン抽出手段１２と、不良ライン数を用いて電極とプローブピンとの接触状態の良・不良を判定する接触状態判定手段１３とを備える。 （もっと読む）