Fターム[2G041LA00]の内容

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Fターム[2G041LA00]に分類される特許

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【課題】測定時間の経過に伴って信号レベルが変化するようなイオン信号に対しても、全てのTOFスキャンにおいて、A/D変換器でのオーバーレンジを発生させず、かつ高いダイナミックレンジでの測定を行うことで、イオン信号の再現性が高く、かつ所望のマススペクトルを効率良く短時間で得るための質量分析用データ処理装置を提供する。
【解決手段】質量分析装置のデータ収集回路500において、イオン検出信号の最大電位差を測定して格納する電位差演算回路56と、次回測定時のゲイン量を決定して設定するゲイン制御回路57などを備え、1回前または複数回前のTOFスキャンデータからイオン検出信号の最大振幅値を抽出し、次のTOFスキャンが実行される前に、その最大振幅値を元に最適なゲイン量を決定し、入力信号のゲインを調整することにより、イオン信号をA/D変換器51でサンプリングする。 (もっと読む)


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