【課題】被測定物質および測定誤差発生物質を含む媒体のサンプリングや前処理を必要とせず、媒体中の被測定物質濃度の直接測定を可能とする。
【解決手段】被測定物質と測定誤差発生物質からなる媒体にパルス光を照射し、媒体を通過したパルス光の受光光量とパルス光照射による被測定物質が蛍光する蛍光光量を検出し、検出されたパルス光の受光光量値を媒体が被測定物質のみから成り、測定誤差発生物質を含まない状態の媒体で作成した受光光量値と濃度との相関関係式から求めた、媒体が測定誤差発生物質を含まないと仮定した被測定物質の第１の見掛け濃度と、検出された蛍光光量値を媒体が被測定物質のみから成り測定誤差発生物質を含まない状態の媒体で作成した蛍光光量値と濃度との相関関係式から求めた、媒体が測定誤差発生物質を含まないと仮定した被測定物質の第２の見掛け濃度とを相殺演算して媒体中の真の被測定物質濃度を得る。 （もっと読む）

本発明は、ａ）均一に分布された少なくとも１つの化合物Ｖ’を含有する媒体に可変波長λの分析ビームを照射し、ｂ）スペクトル測定関数Ｉ’（λ）を吸収光、反射光、放出光および／または散乱光について測定することによって媒体中に均一に分布された少なくとも１つの化合物Ｖ’の同一性または非同一性を測定する方法であって、方程式（Ｉ）により、相関関数Ｋ（δλ, ｃ’, ｃ）を測定し、この場合Ｋ（δλ, ｃ’, ｃ）は、関数Ｉ’（λ, ｃ’）とＩ（λ, ｃ）との相対シフトδλおよび少なくとも１つの化合物Ｖ’およびＶの濃度ｃ’およびｃに依存する相関度を表わし、ｃ’は、公知の同一性を有するかまたは同一と推定される、媒体中に均一に分布された少なくとも１つの化合物Ｖ’の濃度を表わし、ｃは、公知の同一性を有する、媒体中に均一に分布された少なくとも１つの化合物Ｖの濃度を表わし、Ｉ’（λ, ｃ’）は、均一に分布された少なくとも１つの化合物Ｖ’を濃度ｃ’で含有する媒体の測定関数を表わし、Ｉ（λ, ｃ）は、均一に分布された少なくとも１つの化合物Ｖを濃度ｃで含有する媒体の比較関数を表わし、Ｎは、標準ファクターを表わし、相関関数Ｋ（δλ, ｃ’, ｃ）により、化合物Ｖ’とＶとの同一性または非同一性を算出することによって特徴付けられる、媒体中に均一に分布された少なくとも１つの化合物Ｖ’の同一性または非同一性を測定する方法に関する。 （もっと読む）

絶縁性材料で形成された流路に該流路の断面積よりも著しく小さい断面積を有する狭小部を設け、該流路および狭小部に導電性液体を満たした後、前記狭小部に電界が通過するように該狭小部に電界を印加し、前記狭小部でプラズマを発生させるプラズマの発生方法および元素分析方法。絶縁性材料で形成された流路に該流路の断面積よりも著しく小さい断面積を有する狭小部が配設され、前記狭小部に電界が通過するように該狭小部に電界を印加するための手段が配設されてなるプラズマの発生装置および前記プラズマの発生装置を有する発光分光分析装置。 （もっと読む）