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Fターム[2G053CA09]の内容

磁気的手段による材料の調査、分析 (13,064) | 磁気変量の測定 (1,673) | 検出手段 (1,162) | 磁気光学効果 (7)

Fターム[2G053CA09]に分類される特許

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【課題】被検査物を治具などで掴んだり吸着することなく、円筒状の被検査物を、決まったセンサ位置にて、中心軸の周りで回転させ、全周面にわたって、また必要に応じて端部も同時に、欠陥検査が行えるようにする。
【解決手段】磁性材料からなる被検査物に磁界を印加し、その表面の欠陥部に生じた漏洩磁界の乱れを磁気センサを用いて検出する磁気探傷方法である。被検査物10は円筒状であって、その外周面が回転用ベルト12に接触しており、回転用ベルトを介して被検査物に対向している永久磁石14によって被検査物に磁界が印加されると共にその磁力により被検査物が回転用ベルトに引き付けられ、磁石をセンサ位置に停滞させた状態で回転用ベルトを動かすことにより、被検査物がセンサ位置に止まったままで回転用ベルトとの摩擦力で中心軸の周りに回転し、磁気16センサによって被検査物の周面を検査する。 (もっと読む)


【課題】円筒状の被検査物の表面欠陥を、磁気光学膜を用いて容易に且つ効率よく短時間で検出できるようにする。
【解決手段】被検査物10に磁界を印加し、その表面の欠陥部に生じた漏洩磁界を、被検査物に近接配置した磁気光学膜20に磁気転写し、磁気光学効果を利用して検出する探傷方法である。ここで前記被検査物は円筒状をなし、磁気光学膜の上面に反射膜22を設けた磁気光学素子12の上部で前記円筒状の被検査物を横方向に転動させ、磁気光学素子の下方から偏光子を通した光を入射し、反射した光を検光子を通して観察することにより、被検査物の側面を全周にわたって展開し前記漏洩磁界により磁気光学膜の磁化方向を局所的に変化させ、それを磁気光学的に2次元の光強度分布として検出する。 (もっと読む)


【課題】磁場の測定精度を向上させる。
【解決手段】液晶パネル62の液晶層620は、電圧の印加により配向が変化する液晶622を有し、液晶622に電圧が印加されない期間T1においては、セルを透過したプローブ光の偏光面を液晶622により回転させ、液晶622に電圧が印加される期間T2においては、このプローブ光の偏光面を回転させない。液晶パネル62の偏光板625は、液晶層620を透過したプローブ光のうち、予め決められた方向の偏光成分を通過させる。検出部は、期間T1においては、偏光板625を通過したプローブ光のs偏光成分を検出し、期間T2においては、偏光板625を通過したプローブ光のp偏光成分を検出する。 (もっと読む)


【課題】精度よく微小磁場を測定することが可能な、構造の簡素化を図った磁気センサーを提供する。
【解決手段】価電子が奇数個の原子又はイオンからなる第1ガスと、第1ガスに対して第1の円偏光を入射させるプローブ光源11と、第1ガスを透過した第2の円偏光の光路上に配置された第2ガスと、第1ガス及び第2ガスに対して第1の円偏光及び第2の円偏光の光軸と交差する方向に交流磁場Brfを発生させ、磁気共鳴を生じさせる交流磁場発生器22と、第1ガス及び第2ガスに対して第1の円偏光及び第2の円偏光の光軸と平行な方向にそれぞれ異なる強さのバイアス磁場Bb1,Bb2を発生させ、第1ガスにおける第1の円偏光の光透過率と第2ガスにおける第2の円偏光の光透過率とを異ならせるバイアス磁場発生器21と、第1の円偏光及び第2ガスを透過した第2の円偏光である第3の円偏光の光量を検出する検出器14と、を有する。 (もっと読む)


【課題】 連続型磁束観察装置および方法において、長尺の超電導体からなる試料であっても、一定温度下の磁束密度分布を長手方向に連続して効率的に測定することができるようにする。
【解決手段】 連続型磁束観察装置を、超電導線材7を間欠的に搬送する線材供給部、線材巻取り部と、超電導線材7を保持する線材保持部13と、超電導線材7のテープ面に垂直方向に磁界を発生する電磁マグネット19と、MO膜と、MO膜を超電導線材7の表面に着脱可能とするMO膜ホルダ12と、MO膜に直線偏光光を照射する照明光学系と、MO膜による偏光分布を観察する撮像部と、線材保持部13を温度制御することにより、超電導線材7を観察位置で一定温度に設定する冷凍機10とから構成する。 (もっと読む)


【課題】磁束密度の変化を、ファラデー効果を利用して偏光面の回転角の変化として検出することにより、磁性体である被探傷部材の傷を検出する場合において、磁束密度の測定領域を高分解能化して高精度の探傷を実現し得る探傷装置を提供する。
【解決手段】磁性体である被探傷部材2に渦電流を流すための交番磁界を発生するコイル1と、被探傷部材2の表面と相対向する端面に反射膜を有して前記コイル1の内周部の中心に配設した磁気光学素子3と、光源5からの光を前記反射膜に向けサーキュレータ9を介して前記磁気光学素子3に入射させる光ファイバ4と、反射膜で反射した反射光をサーキュレータ9を介して検光子10に入射させる光ファイバ4と、前記検光子10の出力光を電気信号に変換する光電変換素子11と、この光電変換素子11の出力信号を処理して前記反射光の偏向面の回転角に基づき前記被探傷部材2の傷を検出する演算処理装置12とを有する。 (もっと読む)


【課題】 ナノスケールの保磁力分布を画像化可能な保磁力分布解析法並びにその解析装置を提供するにある。
【解決手段】 保磁力分布解析装置では、垂直磁気記録可能な磁性薄膜を備える試料に略垂直に磁界が印加され、試料が平面移動されながら、試料表面の磁区から発生される漏れ磁束に応じて磁束検出信号が発生される。試料の平均的磁化に対応するヒステリシス特性から選定された第1及び第2の閾値に対応する第1及び第2の外部磁界が試料に印加されて第1及び第2の磁区画像データが生成さる。この第1及び第2の画像データが第1及び第2の閾値で2値化処理され、その差分が第1の保磁力分布パターンとして生成される。 (もっと読む)


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