【解決手段】 対象物のデジタル画像は、隠され、遮られ、又は視認できない対象物の部分の表示を含んでいる。画像は、歯群の多次元の視覚的表示である。歯群とその表面、輪郭及び形状の特性が判定及び／又は分析される。光は、歯群に向けて送られ、そこから反射される。反射光は基準光と組み合わせられ、歯肉下組織のような隠された領域を含む歯群の特性が判定される。 （もっと読む）

【課題】 表面プラズモン共鳴測定装置等の、全反射減衰を利用した測定装置に用いられる測定チップにおいて、その樹脂製誘電体ブロックの薄膜層が形成される一面の平面度を高く保ち、また、樹脂の合流面ができることによる強度低下を防止する。
【解決手段】 誘電体ブロックを樹脂を用いて射出成形する際に、薄膜層が形成される一面を規定する型面４ａに対向する位置に樹脂導入用ゲートＧを配して射出成形する。 （もっと読む）

【課題】形成したポリシリコン膜の状態を、客観的に、非接触で、精度良く、自動的に評価することができるポリシリコン膜評価装置の提供を目的としている。
【解決手段】 アモルファスシリコン膜をアニール処理することによって形成されたポリシリコン膜を評価するポリシリコン膜評価装置１である。ステージ上のポリシリコン膜が形成された基板Ｗに可視光を照射することによって基板Ｗ上のポリシリコン膜の表面画像を撮像してオーフォーカスする可視光観察光学系４や紫外光の照射による紫外光観察光学系６などを備える。そして、紫外光観察光学系によって得られたポリシリコン膜の表面画像からポリシリコン膜の膜表面の空間構造の直線性および周期性を評価し、この直線性および周期性の評価結果に基づき、ポリシリコン膜の状態を評価する。 （もっと読む）

【課題】 光断層画像を用いた光断層画像診断情報出力装置において、病理医による病理診断が不可能または困難であっても、迅速な病理診断を可能とする。
【解決手段】 ファイバカプラ121 において、光源部100 から出射された低コヒーレンス光を、被測定組織10に照射する信号光とピエゾ素子124 で周波数シフトされる参照光とに分割し、また被測定組織10の所定の深部で反射された信号光と参照光とを合波する。この合波された干渉光の信号強度をバランス差分検出部150 で検出し、信号処理部160 で画像処理を行い、被測定組織10の光断層画像を取得し、モニタ13および診断情報出力部180 に出力する。診断情報出力部180 ではこの光断層画像と、予め正常組織から取得して記憶部170 に記憶された基準光断層画像のパターンマッチングを行い、両形状パターンがほぼ一致する場合には被測定組織10が正常組織であるとモニタ13に出力し、表示する。 （もっと読む）

【課題】 液晶表示パネルのイオン密度を非破壊で測定できるようにする。液晶表示パネルのイオン密度分布を把握できるようにする。
【解決手段】 １Ｈｚ程度の低い周波数の矩形波を印加して、フリッカーを観測する（ステップＳ３０３）。観測されたフリッカーの振幅又はフリッカー面積を測定する（ステップＳ３０８）。予め求めてある検量線（フリッカーの振幅又は面積とイオン密度との相関関係を示す線図）から液晶パネル内のイオン密度を算出する（ステップＳ３０９）。 （もっと読む）

【課題】 液晶分子が存在する液晶層のみのリタデーション（ｄＬＣ・△ｎ）を求めることができ、セル厚を求めることができる液晶表示装置、そのセル厚測定装置及び測定法並びに位相差板を提供する。
【解決手段】 液晶領域中の液晶分子が電圧無印加時に略垂直に配向する液晶層と、液晶層を挾持する１対の基板と、を備える液晶表示装置の液晶セル５の厚さを測定するセル厚測定装置において、面内にリタデーションを有する１対の１軸性位相差板をその遅相軸方向をそろえて両外側表面に取付けた液晶セルを搭載するステージ１と、偏光子２３を有し、かつ、位相差板の遅相軸方向に対して方位角方向４４°〜４６°の偏光光を出射する光源２と、偏光光に対して偏光子とクロスニコルに配設された検光子３１を有し、かつ、偏光光の透過光量を検出する光検出器３と、位相差板に垂直な方向から偏光光の極角方向入射角を変化させる回転装置４と、を備える。 （もっと読む）