【課題】測光装置および測光方法において、測定可能波長領域の全域にわたって測定精度を向上することができるようにする。
【解決手段】測光装置は、蓄積時間を変えて１次元撮像素子を駆動する制御回路１３と、光強度データを取得するデータ取得部１０２と、未飽和蓄積時間を蓄積時間に設定した際に、データ取得部１０２が取得した被測定試料および基準試料による光強度データから最大光強度を求めて、最大光強度をＮ分割（ただし、Ｎは２以上の整数）した光強度範囲に対応するＮ群の分割波長領域を設定する波長領域分割部１０３と、Ｎ群の分割波長領域ごとに異なる蓄積時間を設定する蓄積時間設定部１０４と、被測定試料および基準試料からの測定光の光強度データを用いて、Ｎ群の分割波長領域ごとに、光強度データの比率を求めて被測定試料の相対測光値を算出する相対測光値算出部１０５と、を備える。 （もっと読む）

【課題】測定現場での検出装置の交換を容易に短時間で行うことができるようにする。
【解決手段】検出装置２は試料の成分濃度を検出する検出器４と、検出器の動作を制御する駆動制御部２２及び検出器４による検出信号を処理する処理部を含む制御装置６と、分析装置との間で信号及びデータの授受を行う入出力部３０を備えている。さらに、制御装置６は検出器４の校正データを含むその検出器４に固有の情報を記憶した不揮発性記憶媒体２８を備え、入出力部３０は検出器４の調整時には調整用の外部装置３２に接続でき、通常測定時には分析装置に接続できて処理部により処理された検出信号のほかに不揮発性記憶媒体２８に記憶されている検出器４に固有の情報も出力できるものとなっている。 （もっと読む）

【課題】大型化及び作業性を低下させることなく、高い画像品質を維持することができる画像形成装置を提供する。
【解決手段】 反射型光学センサは、１１個の発光部及び１１個の受光部などを備えている。プリンタ制御装置は、第１の基準受光量Ｄｓ１、第２の基準受光量Ｄｓ２、及びそれぞれ０以上で１以下の係数αとβを用いて、矩形パターン毎に、該矩形パターンで反射された光を受光した受光部の受光量をα×Ｄｓ１＋β×Ｄｓ２で表し、該矩形パターンで反射された光を受光した受光部の受光量の実測値と、第１の基準受光量Ｄｓ１と、第２の基準受光量Ｄｓ２とから係数αと係数βを同時に算出する（ステップＳ４１９）。 （もっと読む）

レーザと共振光キャビティとを用いて、気体または液体の媒体中に低濃度で存在する1つまたは複数の分析対象種を光音響によって識別および定量化するための方法および装置であり、該共振光キャビティが、該媒体を収容し、かつ少なくとも2つの部分的に透明なミラーを該キャビティの内部に有し、該ミラーのうちの1つがキャビティ結合ミラーであり、かつ、該ミラーのうちの1つが入力信号に応答するアセンブリに移動可能に取り付けられている。

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【課題】測定対象物のスペクトラムを高い精度で分析することができるスペクトラム分析装置を提供する。
【解決手段】測定対象物のスペクトラムを分析するスペクトラム分析装置であって、測定対象物のスペクトラムを測定する測定部と、測定部が測定したスペクトラムをｎ次元ベクトルで表現したベクトルを測定ベクトルとし、参照スペクトラムをｎ次元ベクトルで表現したベクトルを参照ベクトルとすると、参照ベクトルを含む線型独立なｎ個のｎ次元ベクトルから生成される直交系の各基底ベクトルと測定ベクトルとの内積を求める演算部と、演算部が求めた内積を出力する出力部と、を有することを特徴とするスペクトラム分析装置。 （もっと読む）

【課題】
光学的セッティングが不要で、応答速度が早く、高感度で、量産容易な水素センサおよび水素検知システムを実現する。
【解決手段】
部分的に細くなった括れ部１２と、括れ部１２を含む長手方向にわたり、側面の一部に付着させた水素吸蔵膜１３と、括れ部１２に近い端面に反射手段１４を具備する光ファイバ１１により、水素吸蔵膜１３の水素吸蔵による体積膨張によって括れ部１２で発生する曲げ損失変化を検出するようにした。 （もっと読む）

【課題】本発明は、不連続な吸光度変化を示す特異物質に対してでも、高精度な定量を行うことができる分析装置用の多段検量線を作成することを目的とする。
【解決手段】本発明は、濃度及び吸光度を低濃度側から高濃度側に亘り測定し、夫々の測定点の検量に基づいて作成する多段検量線作成方法において、検量測定点群の相関係数を低濃度側から高濃度側に向けて順じ検量測定点毎に求め、求めた相関係数が予め設定されたしきい値から外れた場合には、一つ手前の前点まででその検量測定の区間検量線を確定し、この確定した前点を次の検量測定の始点として更に高濃度側に向け、順じ検量測定点毎に相関関係を求めながら次々と区間検量線の作成を繰返すことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】テラヘルツ波の周波数帯の固有振動スペクトルの有無に関わらず物質の状態の変化を、テラヘルツ波を用いて検出することができる検出方法及び装置を提供する。
【解決手段】検出装置は、物質8を保持する検体保持部と、照射手段1、6と、検出手段1、7と、算出手段と、評価手段を有する。照射手段1、6は、検体保持部に保持される物質8にテラヘルツ波を照射する。検出手段1、7は、物質8から透過又は反射してきたテラヘルツ波を検出する。算出手段は、照射したテラヘルツ波に対する物質8の性質の周波数依存性を求め、物質8の性質の周波数依存性の、直線近似したときの直線の傾き又は直線の傾きを算出する。評価手段は、予め求められた基準状態の物質の性質の周波数依存性の直線の傾きと算出手段で算出した物質8の直線の傾きとを比較し、物質の状態の変化を評価する。 （もっと読む）

【課題】被測定対象の色領域が複雑な形状をしている場合においても、他の色を含まないように、正確に測定領域を設定する。
【解決手段】被測定対象のカラー画像情報ａａから指定された色を有する色領域情報ｅｅを抽出する色領域抽出部２０と、該色領域抽出部２０により抽出された色領域情報ｅｅの特徴情報ｆｆを抽出する色領域特徴抽出部２１と、該色領域特徴抽出部２１により抽出された特徴情報ｆｆに基づき、色領域情報ｅｅから測定領域位置情報ｈｈを決定するための探索領域情報ｇｇを抽出する探索領域抽出部２２と、該探索領域抽出部２２により抽出された探索領域情報ｇｇの中から測定領域位置情報ｈｈを決定する測定領域決定部２３とを有する測定領域設定装置１を提供する。 （もっと読む）

【課題】容易に測定値の直線性特性を調整でき、測定値の直線性特性が向上できる濁度計を実現する。
【解決手段】透明容器中の微粒子を含む測定液に光を照射する光照射手段と、前記測定液を透過した光の光量を測定する透過光検出器と、前記微粒子によって散乱した光の光量を測定する散乱光検出器とを具備し濁度を測定する濁度計において、透過光のみ入射する透過光検出器と、散乱光のみ入射する散乱光検出器と、この散乱光検出器の検出信号に所定係数を掛けて前記透過光検出器の検出信号の直線性を補正する直線性補正演算手段とを具備したことを特徴とする濁度計である。 （もっと読む）

一次または二次元分光計の典型的な使用法は、検出器領域（１０２）を露光した後にデバイスから光電荷を連続的にシフトさせることである。照明信号（１１８）がアレイのサイズに対して空間的に狭い場合には、比較的少ない数のピクセルのみを用いてビームを検出するため、利用される検出器の割合を引き下げることになる。本発明は、この空間低利用を利用するとともに、クロック手法を変更して信号情報を含むピクセルの読み出し速度を最大化する方法を提案する。このタイプのクロック手法は分光計の光パワー飽和レベルを上げる。このようなシステムでは性能が分光計飽和により限定されることが多いため、光パワー処理のこのような改善は、共振導波路格子生化学結合の分光計による検出に有益である。
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【課題】 測定者が計数値を監視し続ける必要がなく、測定者の負担を軽減することができる粒子計数器を提供する。
【解決手段】 試料中に含まれる浮遊粒子の個数を測定し、試料中の粒子濃度を求める粒子計数器において、予め仕様によって定められる最大定格粒子濃度に基づく単位時間当たりの計数値Ｃを記憶する記憶部１１と、この記憶部１１に記憶されている単位時間当たりの計数値Ｃと実際にカウントされる単位時間当たりの計数値Ｍを比較する演算処理部１２と、この演算処理部１２による比較結果に基づく情報を出力する出力部４を備えた。 （もっと読む）

【課題】 試料の２つのレイヤ間のオーバレイ誤差を決定するための技術、装置、およびターゲットを提供する。
【解決手段】 ある実施形態において、試料の第１レイヤ内の複数の第１構造群、および前記試料の第２レイヤ内の複数の第２構造群の間のオーバレイを決定する方法が開示される。前記第１および第２構造群の一部を含むターゲットＡ、Ｂ、ＣおよびＤが提供される。前記ターゲットＡは、その第１および第２構造部分の間にオフセットＸａを有するよう設計され、前記ターゲットＢは、その第１および第２構造部分の間にオフセットＸｂを有するよう設計され、前記ターゲットＣは、その第１および第２構造部分の間にオフセットＸｃを有するよう設計され、前記ターゲットＤは、その第１および第２構造部分の間にオフセットＸｄを有するよう設計される。前記オフセットＸａ、Ｘｂ、ＸｃおよびＸｄのそれぞれは好ましくはゼロとは異なる。ＸａはＸｂとは反対の符号で異なり、ＸｃはＸｄとは反対の符号で異なる。ターゲットＡ、Ｂ、ＣおよびＤを電磁放射で照射されることによって、ターゲットＡ、Ｂ、ＣおよびＤからそれぞれスペクトルＳ_A、Ｓ_B、Ｓ_C、およびＳ_Dを得る。前記得られたスペクトルＳ_A、Ｓ_B、Ｓ_C、およびＳ_Dに基づいて線形近似を用いて前記第１および第２構造群の間の任意のオーバレイ誤差が決定される。
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