【課題】各々の光出射部の光量が異なり、かつ微弱な光量を安定して得ることができる複数の光出射部を備えた光量安定化光源装置を提供すること。
【解決手段】ＬＥＤ２６Ｇから出射された光束をピンホール２８で絞り、光源部１６で積分し、更に出射ポート３２、及び拡散透過部材４４を介して分岐光出射部１８内で更に積分する。ＬＥＤ２６Ｇの光量は受光センサ３０でモニタされているので、安定した光量が得られる。分岐光出射部１８に形成した複数の発光窓４６Ｂ〜発光窓４６Ｅの内側に透過率の異なる第１の光量減衰フィルター４８〜第４の光量減衰フィルター５４が貼り付けられており、発光窓４６Ａから出射される光の光量に対して、各発光窓４６Ｂから出射される光の光量が略１／１０づつ異なるように設定されている。これにより、各々発光窓において、各々の光量が異なり、かつ微弱な光量を安定して得ることができる。 （もっと読む）

【課題】ＬＥＤチップの発光の指向性や光の入射角度に関係なく、ＬＥＤチップの光の強度及び／又は波長を正確に測定することができようにする。
【解決手段】電極が外面に設けられたＬＥＤチップ１０から出力された光の光学特性を測定する光学特性測定装置であって、ＬＥＤチップ１０を搬入位置、測定位置、搬出位置へと搬送する搬送手段１００と、測定位置に位置するＬＥＤチップ１０に対向配置され且つＬＥＤチップ１０の光を集めて受光手段３００に入射させる集光器５００とを具備する。集光器５００受光手段３００が覗いており且つ内壁面に拡散反射性を有した略球面状の凹部５１０を備えている。 （もっと読む）

【課題】上面発光構造やフリップチップ構造の種類に関係なく、各光学素子の光学特性を簡単に測定することを可能にする。
【解決手段】上面発光チップ１０１Ａ又はフリップチップ１０１Ｂが計測ステージ１０に置かれ、同チップ１０１Ａ等の電極にプローブ２０の先端が接触すると、同チップ１０１Ａ等が発光する。上面発光チップ１０１Ａの場合、電極同一面から光が出力され、上側反射板３０の光拡散反射面３１等で散乱反射を繰り返し、その全光束の殆どが光ファイバ５０の先端部に入射する。フリップチップ１０１Ｂの場合、電極反対面から光が出力され、透明な計測ステージ１０を透過し、下側反射板４０の光拡散反射面４１で散乱反射し、その後、上側反射板３０の光拡散反射面３１等で散乱反射を繰り返し、その全光束の殆どが光ファイバ５０の先端部に入射する。 （もっと読む）

【課題】光量が周期的に変動する被測定光を短時間で適切に測定することができる光量測定装置を提供する。
【解決手段】測定期間にフォトダイオード１２８が発生及び蓄積した電荷は、複数回に分けて読み出され、制御演算部１２２は、測定期間ＭＰを分割した複数個の蓄積期間ＳＰ（１），ＳＰ（２），・・・，ＳＰ（Ｍ）の各々にフォトダイオード１２８が発生及び蓄積した電荷の量Ｑ（１，ｉ），Ｑ（２，ｉ），・・・，Ｑ（Ｍ，ｉ）（ｉ＝１，２，・・・，Ｎ）に応じた画素データＤ（１，ｉ），Ｄ（２，ｉ），・・・，Ｄ（Ｍ，ｉ）を取得する。さらに、制御演算部１２２は、複数の画素データＤ（１，ｉ），Ｄ（２，ｉ），・・・，Ｄ（Ｍ，ｉ）を積算し、測定期間ＭＰにフォトダイオード１２８が発生及び蓄積した電荷の量Ｑ（１），Ｑ（２），・・・，Ｑ（Ｎ）に応じた画素データＤ（１），Ｄ（２），・・・，Ｄ（Ｎ）を算出する。 （もっと読む）

【課題】低輝度測定時においても測定精度を高めることが可能な測光装置および測光方法を提供する。
【解決手段】測定動作（ライト測定およびダーク測定）の前後において、それぞれ、イニシャル動作が行われ、電荷が吐き出されている。ライト測定動作およびダーク測定動作の各測定動作においても、それぞれ、イニシャル動作と同様に、電荷が吐き出されている。ライト測定の前のイニシャル動作が終了する少し前にシャッター５を開けた後かつライト測定動作を行う前に、シャッター５を開けた状態でビニング動作を行うプレ蓄積期間を設けることにより、電位のディップ等を埋める。 （もっと読む）

【課題】参照画素の出力をフィードバックすることにより、駆動線での電圧降下によるオフセット分布と、素子温度変動による温度ドリフトの抑制を実現する、熱型赤外線固体撮像素子において、参照画素に欠陥画素が生じても、製造歩留りの低下・コスト増大を引き起こさないようにする。
【解決手段】参照画素の出力に対し、電圧比較回路を用いた欠陥判定回路により、欠陥画素であればフィードバック信号に反映させない。または、複数個の参照画素の出力を平均回路により平均する。 （もっと読む）

【課題】ＡＤコンバータ（ＡＤＣ）内蔵のマイコンに適したスポットＡＥ機能を搭載し、ＡＥ精度と動作速度を向上させ、チップサイズが小さく、かつ、低コストのスポットＡＥ機能を搭載したＡＥＡＦ用固体撮像装置を実現する。
【解決手段】ＡＥＡＦ用固体撮像装置は、ＡＦを行うためのフォトダイオード列とこれに蓄積された電荷量に応じたＡＦ信号をマルチプレクサ（ＭＰＸ）１０４を介してマイコン１０９のＡＤコンバータ１１２に出力する駆動回路、検出回路、シフトレジスタを有するＡＦ回路ブロック１０１と、ＡＥを行うためのフォトダイオードを含みこれで光電変換されたＡＥ信号をＭＰＸ１０４を介してマイコン１０９のＡＤＣ１１２に出力するＡＥ回路ブロック１０２とが同一半導体基板１００上に形成され、ＡＦ回路ブロック１０１のモニタ信号（最大値信号）をスポットＡＥ信号としてＭＰＸ１０４を介してマイコン１０９のＡＤＣ１１２に出力する。 （もっと読む）

【課題】 たとえ高感度でないセンサを用いても、時間をかけずに輝度の測定が行なえるようにする。
【解決手段】 光学測定装置１は、光を内部に入れるための開口部１７と光を反射可能な内面１８とを有する積分球１０と、複数の測定スポット１４，１５，１６からそれぞれ進行してきた光を、開口部１７に導くための複数の光誘導手段と、内面１８によって反射された光を積分球１０の内部で受光することによって光量を測定するための測定器１１とを備える。 （もっと読む）

【目的】 本発明の目的は、ＬＥＤチップの発光の指向性や光の入射角度に関係なく、ＬＥＤチップの光の強度及び／又は波長を正確に測定することができる光学特性測定装置を提供する。
【構成】 ＬＥＤチップ１０の光を受光手段３００で受光し、この受光手段３００の出力結果に基いてＬＥＤチップ１０の光の光学特性を測定する装置であって、ＬＥＤチップ１０の発光面に対向しており且つＬＥＤチップ１０の各方向の光を受光手段３００に集めるための集光器５００を備え、集光器５００は、受光手段３００が覗いており且つＬＥＤチップ１０の光を反射して受光手段３００に入射させるために拡散反射性を有した略球面状の凹部５１０が設けられている。 （もっと読む）

a）光に応答して、時間経過に伴って蓄積した光を表わす変動電圧信号を発生させる光積分光センサー回路と；b）時間測定信号と上記変動電圧信号を受信し、その変動電圧信号が所定の電圧レベルに到達するのに必要な時間を表わす出力値を発生させる測定回路とを備えていて、その出力値が上記必要な時間の間に蓄積された光に比例する光検出回路。
（もっと読む）

本発明は、放射線を測定する装置及び該装置を有して測定する方法、並びに該装置を有する制御可能な照明システムを与える。当該装置（１’）は、センサ（５，５’）を有する側壁（２）、放射線入射開口部（４’）、及び、任意により上部壁（９）及び下部キャップ（１０）を有する。該センサは、リング（１２ａ−１２ｂ）等である反射範囲において反射される間接放射線に対してのみ感応性がある。大半の塵埃は側壁（２）によって遮断され、他の塵埃は、センサ表面及び反射範囲をそこに対して平行である空気流にのって通過するため、塵埃又は汚れが堆積することなく、該装置は、塵埃の堆積に対する感応性はない。したがってセンサは、塵埃の多い環境においてもより信頼性の高い測定を与える。方法は、測定される光及び可能な空気流に対して装置の向きを定める段階を有する。制御可能な照明システムは、装置を有して光源レベルを測定する段階を有し、また、制御ユニットがかかる測定に基づいて１つ又はそれ以上のランプを制御するようにさせる。
（もっと読む）